JISC5003:1974 本文1
電子部品の故障率試験方法通則
JISC5005-2:2010 本文1
品質評価システム－第２部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
JISC5010:1994 本文1
プリント配線板通則
JISC5012:1993 本文1
プリント配線板試験方法
JISC5013:1996 本文1
片面及び両面プリント配線板
JISC5014:1994 本文1
多層プリント配線板
JISC5016:1994 本文1
フレキシブルプリント配線板試験方法
JISC5017:1994 本文1
フレキシブルプリント配線板－片面・両面
JISC5064:2020 本文1
電子機器及び通信機器用固定インダクタ－表示記号
JISC5070:2009 本文1
表面実装技術－表面実装部品（ＳＭＤ）の輸送及び保管条件－指針
JISC5101-1:2019 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１部：品目別通則
JISC5101-2-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２－１部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ　評価水準Ｅ及びＥＺ
JISC5101-2:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ
JISC5101-3-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第３－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ　評価水準ＥＺ
JISC5101-3:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第３部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ
JISC5101-4-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第４－１部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5101-4-2:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第４－２部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5101-4:2019 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第４部：品種別通則－固定アルミニウム固体（ＭｎＯ₂）及び非固体電解コンデンサ
JISC5101-8-1:2008 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第８－１部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ　種類１　評価水準ＥＺ
JISC5101-8:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ　種類1
JISC5101-9-1:2008 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第９－１部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類２　評価水準ＥＺ
JISC5101-9:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ　種類2
JISC5101-11-1:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１１－１部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ　評価水準ＥＺ
JISC5101-11:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１１部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ
JISC5101-13-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１３－１部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ　評価水準Ｅ及びＥＺ
JISC5101-13:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１３部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JISC5101-14-1:2020 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１４－１部：ブランク個別規格－電源用電磁障害防止固定コンデンサ－評価水準ＤＺ
JISC5101-14-2:2020 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１４－２部：ブランク個別規格－電源用電磁障害防止固定コンデンサ－安全性試験
JISC5101-14:2019 本文1 本文2
電子機器用固定コンデンサ－第１４部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JISC5101-15-1:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１５部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ　評価水準Ｅ
JISC5101-15-2:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１５部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ　評価水準Ｅ
JISC5101-15-3:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１５部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ　評価水準Ｅ
JISC5101-15:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１５部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JISC5101-16-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１６－１部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ　評価水準Ｅ及びＥＺ
JISC5101-16:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１６部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JISC5101-17-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１７－１部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ　評価水準Ｅ及びＥＺ
JISC5101-17:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１７部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ
JISC5101-18-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１８－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5101-18-2:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１８－２部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5101-18:2019 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第１８部：品種別通則－表面実装用固定アルミニウム固体（ＭｎＯ₂）及び非固体電解コンデンサ
JISC5101-20-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２０－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ　評価水準ＥＺ
JISC5101-20:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２０部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ
JISC5101-21-1:2006 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２１－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１　評価水準ＥＺ
JISC5101-21:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２１部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１
JISC5101-22-1:2006 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２２－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２　評価水準ＥＺ
JISC5101-22:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２２部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２
JISC5101-23-1:2008 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２３－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ　評価水準ＥＺ
JISC5101-23:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２３部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ
JISC5101-24-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２４－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5101-24:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２４部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JISC5101-25-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２５－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5101-25:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２５部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JISC5101-26-1:2012 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２６－１部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ　評価水準ＥＺ
JISC5101-26:2012 本文1
電子機器用固定コンデンサ－第２６部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JISC5160-1:2018 本文1
電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ－第１部：品目別通則
JISC5160-2-1:2009 本文1
電子機器用固定電気二重層コンデンサ－第２－１部：ブランク個別規格－パワー用電気二重層コンデンサ－評価水準ＥＺ
JISC5160-2:2009 本文1
電子機器用固定電気二重層コンデンサ－第２部：品種別通則－パワー用電気二重層コンデンサ
JISC5201-1:2011 本文1
電子機器用固定抵抗器－第１部：品目別通則
JISC5201-2-1:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器－第２部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5201-2:2014 本文1
電子機器用固定抵抗器－第２部：品種別通則：低電力皮膜固定抵抗器
JISC5201-4-1:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器－第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5201-4:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器－第４部：品種別通則：電力形固定抵抗器
JISC5201-5-1:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器－第５部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5201-5:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器－第５部：品種別通則：精密級固定抵抗器
JISC5201-6-1:1999 本文1
電子機器用固定抵抗器－第６部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器　同一抵抗値及び同一定格電力　評価水準Ｅ
JISC5201-6:1999 本文1 本文2
電子機器用固定抵抗器－第６部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
JISC5201-8-1:2014 本文1
電子機器用固定抵抗器－第８－１部：ブランク個別規格：一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器，製品性能水準Ｇ
JISC5201-8:2014 本文1
電子機器用固定抵抗器－第８部：品種別通則：表面実装用固定抵抗器
JISC5201-9-1:2006 本文1
電子機器用固定抵抗器－第９－１部：ブランク個別規格：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器－評価水準ＥＺ
JISC5201-9:2006 本文1
電子機器用固定抵抗器－第９部：品種別通則：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
JISC5260-1:2014 本文1
電子機器用可変抵抗器－第１部：品目別通則
JISC5260-2-1:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器－第２部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5260-2-2:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器－第２部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器　評価水準Ｆ
JISC5260-2:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器－第２部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JISC5260-3-1:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器－第３部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5260-3:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器－第３部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JISC5260-4-1:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器－第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5260-4-2:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器－第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器　評価水準Ｆ
JISC5260-4:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器－第４部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JISC5260-5-1:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器－第５部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器　評価水準Ｅ
JISC5260-5-2:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器－第５部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器　評価水準Ｆ
JISC5260-5:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器－第５部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JISC5270:2011 本文1
電子機器用コンデンサ及び抵抗器－軸操作形部品の操作軸，取付ねじ及び取付孔の形状並びに推奨寸法
JISC5310:1997 本文1
電子機器用電源変圧器品目別通則
JISC5311:1994 本文1
電子機器用電源変圧器試験方法
JISC5320:1994 本文1
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則
JISC5321:1997 本文1
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法
JISC5381-11:2014 本文1
低圧サージ防護デバイス－第１１部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
JISC5381-12:2014 本文1
低圧サージ防護デバイス－第１２部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準
JISC5381-21:2014 本文1
低圧サージ防護デバイス－第２１部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（ＳＰＤ）の要求性能及び試験方法
JISC5381-22:2018 本文1
低圧サージ防護デバイス－第２２部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（SPD）の選定及び適用基準
JISC5381-31:2020 本文1
低圧サージ防護デバイス－第３１部：太陽電池設備の直流側に接続するサージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
JISC5381-32:2020 本文1
低圧サージ防護デバイス－第３２部：太陽電池設備の直流側に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準
JISC5381-311:2016 本文1
低圧サージ防護デバイス用部品－第３１１部：ガス入り放電管（ＧＤＴ）の要求事項及び試験回路
JISC5381-312:2016 本文1
低圧サージ防護デバイス用部品－第３１２部：ガス入り放電管（ＧＤＴ）の選定及び適用基準
JISC5381-321:2004 本文1
低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード（ＡＢＤ）の試験方法
JISC5381-331:2006 本文1
低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ（ＭＯＶ）の試験方法
JISC5381-341:2005 本文1
低圧サージ防護デバイス用サージ防護サイリスタ（ＴＳＳ）の試験方法
JISC5381-351:2019 本文1
低圧サージ防護用部品－第３５１部：通信・信号回線に接続するサージアイソレーショントランス（ＳＩＴ）の要求性能及び試験方法
JISC5381-352:2020 本文1
低圧サージ防護用部品－第３５２部：通信・信号回線に接続するサージアイソレーショントランス（ＳＩＴ）の選定及び適用基準
JISC5401-1:2015 本文1
電子機器用コネクタ－製品要求事項－第１部：品目別通則
JISC5401-2-001:2005 本文1
電子機器用コネクタ－第２－００１部：丸形コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格
JISC5401-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－第２部：品種別通則－丸形コネクタ－品質評価付
JISC5401-3-001:2005 本文1
電子機器用コネクタ－第３－００１部：角形コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格
JISC5401-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ－第３部：品種別通則－角形コネクタ－品質評価付
JISC5401-4-001:2005 本文1
電子機器用コネクタ－第４－００１部：プリント配線板用コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格
JISC5401-4:2005 本文1
電子機器用コネクタ－第４部：品種別通則－プリント配線板用コネクタ－品質評価付
JISC5402-1-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１部：一般試験－試験１ａ：外観
JISC5402-1-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－２部：一般試験－試験１ｂ：寸法及び質量
JISC5402-1-3:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－３部：一般検査－試験１ｃ：電気的接触長
JISC5402-1-4:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－４部：一般検査－試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）
JISC5402-1-100:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１－１００部：一般－試験方法規格一覧
JISC5402-1:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１部：一般
JISC5402-2-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－１部：導通及び接触抵抗試験－試験２ａ：接触抵抗－ミリボルトレベル法
JISC5402-2-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－２部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｂ：接触抵抗－規定電流法
JISC5402-2-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－３部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｃ：接触抵抗の変動
JISC5402-2-5:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２－５部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｅ：コンタクトディスターバンス
JISC5402-2-6:2005 本文1
電子機器用コネクタ―試験及び測定－第２－６部：導通及び接触抵抗試験－試験２ｆ：ハウジング（シェル）の導通性
JISC5402-3-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第３－１部：絶縁試験－試験３ａ：絶縁抵抗
JISC5402-4-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－１部：電圧ストレス試験－試験４ａ：耐電圧
JISC5402-4-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－２部：電圧ストレス試験－試験４ｂ：部分放電
JISC5402-4-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第４－３部：電圧ストレス試験－試験４ｃ：耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル）
JISC5402-5-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第５－１部：電流容量試験－試験５ａ：温度上昇
JISC5402-5-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第５－２部：電流容量試験－試験５ｂ：電流・温度の軽減
JISC5402-6-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－１部：動的ストレス試験－試験６ａ：加速度（定常）
JISC5402-6-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－２部：動的ストレス試験－試験６ｂ：バンプ
JISC5402-6-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－３部：動的ストレス試験－試験６ｃ：衝撃
JISC5402-6-4:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第６－４部：動的ストレス試験－試験６ｄ：正弦波振動
JISC5402-7-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第７－１部：衝撃試験（可動形コネクタ）－試験７ａ：自由落下（繰返し）
JISC5402-7-2:2019 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第７－２部：衝撃試験（可動形コネクタ）－試験７ｂ：機械的衝撃強さ
JISC5402-8-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第８－１部：静的な力試験（固定形コネクタ）－試験８ａ：静的な力，横方向
JISC5402-8-2:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第８－２部：静的な力試験（固定形コネクタ）－試験８ｂ：静的な力，軸方向
JISC5402-8-3:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第８－３部：静的な力試験（固定形コネクタ）－試験８ｃ：操作レバーの強度
JISC5402-9-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第９－１部：耐久試験－試験９ａ：機械的動作
JISC5402-9-2:2019 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第９－２部：耐久試験－試験９ｂ：電気的負荷及び温度
JISC5402-10-4:2006 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１０－４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験－試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ）
JISC5402-11-1:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１部：耐候性試験－試験１１ａ：一連耐候性
JISC5402-11-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－２部：耐候性試験－試験１１ｂ：低温・減圧・湿度複合シーケンス
JISC5402-11-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－３部：耐候性試験－試験１１ｃ：高温高湿（定常）
JISC5402-11-4:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－４部：耐候性試験－試験１１ｄ：温度急変
JISC5402-11-5:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－５部：耐候性試験－試験１１ｅ：かびの成長
JISC5402-11-6:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－６部：耐候性試験－試験１１ｆ：腐食，塩水噴霧
JISC5402-11-7:2006 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－７部：耐候性試験－試験１１ｇ：混合ガス流腐食
JISC5402-11-8:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－８部：耐候性試験－試験１１ｈ：砂じん
JISC5402-11-9:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－９部：耐候性試験－試験１１ｉ：高温
JISC5402-11-10:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１０部：耐候性試験－試験１１ｊ：低温
JISC5402-11-11:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１１部：耐候性試験－試験１１ｋ：減圧
JISC5402-11-12:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１２部：耐候性試験－試験１１ｍ：温湿度サイクル
JISC5402-11-13:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１３部：耐候性試験－試験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接続
JISC5402-11-14:2006 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－１４部：耐候性試験－試験１１ｐ：単一ガス流腐食
JISC5402-12-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－１部：はんだ付け試験－試験１２ａ：はんだ付け性，ぬれ（ウェッティング），はんだ槽法
JISC5402-12-2:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－２部：はんだ付け試験－試験１２ｂ：はんだ付け性，ぬれ（ウェッティング），はんだこて法
JISC5402-12-4:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－４部：はんだ付け試験－試験１２ｄ：はんだ耐熱性，はんだ槽法
JISC5402-12-5:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－５部：はんだ付け試験－試験１２ｅ：はんだ耐熱性，はんだこて法
JISC5402-12-6:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－６部：はんだ付け試験－試験１２ｆ：自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
JISC5402-12-7:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－７部：はんだ付け試験－試験１２ｇ：はんだ付け性，平衡法
JISC5402-13-1:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１３－１部：機械的動作試験－試験１３ａ：結合力及び離脱力
JISC5402-13-2:2012 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１３－２部：機械的動作試験－試験１３ｂ：挿入力及び引抜力
JISC5402-13-5:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１３－５部：機械的動作試験－試験１３ｅ：極性及びキーイング
JISC5402-14-2:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－２部：封止（気密性）試験－試験１４ｂ：封止（気密性）－微小エアリーク
JISC5402-14-4:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－４部：封止（気密性）試験－試験１４ｄ：浸せき－防水
JISC5402-14-5:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－５部：封止（気密性）試験－試験１４ｅ：浸せき（減圧）
JISC5402-14-6:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－６部：封止（気密性）試験－試験１４ｆ：インタフェーシャルシーリング
JISC5402-14-7:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１４－７部：封止（気密性）試験－試験１４ｇ：噴射水
JISC5402-15-1:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－１部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ａ：インサート内のコンタクト保持
JISC5402-15-2:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－２部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｂ：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
JISC5402-15-3:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－３部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｃ：ハウジング内のインサート保持（ねじれ方向）
JISC5402-15-4:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－４部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｄ：コンタクトの挿入，解放及び引抜力
JISC5402-15-5:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－５部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｅ：インサート内のコンタクト保持，ケーブルの回転（ｎｕｔａｔｉｏｎ）
JISC5402-15-6:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－６部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｆ：コネクタカップリング機構の効果
JISC5402-15-8:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５－８部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｈ：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性
JISC5402-16-1:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－１部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ａ：プローブダメージ
JISC5402-16-2:2012 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－２部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｂ：リストリクテッドエントリ
JISC5402-16-3:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－３部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｃ：コンタクト曲げ強度
JISC5402-16-4:2012 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－４部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｄ：引張強度（圧着接続）
JISC5402-16-5:2012 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－５部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｅ：ゲージ保持力（弾性コンタクト）
JISC5402-16-6:2014 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－６部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｆ：ターミネーション強度
JISC5402-16-7:2012 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定
JISC5402-16-8:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－８部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｈ：インシュレーショングリップの有効性（圧着接続）
JISC5402-16-9:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－９部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｉ：接地コンタクトスプリングの保持力
JISC5402-16-13:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－１３部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｍ：ラッピングの巻き戻し，無はんだラッピング接続
JISC5402-16-20:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１６－２０部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験１６ｔ：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション）
JISC5402-17-1:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１７－１部：ケーブルクランプ試験－試験１７ａ：ケーブルクランプ強度
JISC5402-17-2:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１７－２部：ケーブルクランプ試験－試験１７ｂ：ケーブルクランプ強度（ケーブルの回転）
JISC5402-17-3:2018 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１７－３部：ケーブルクランプ試験－試験１７ｃ：ケーブルクランプ強度（ケーブルの引張り)
JISC5402-17-4:2015 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１７－４部：ケーブルクランプ試験－試験１７ｄ：ケーブルクランプ強度（ケーブルのねじり）
JISC5402-19-3:2002 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１９－３部：耐化学薬品試験－試験１９ｃ：耐液性
JISC5402-20-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２０－２部：耐火性試験－試験２０ｂ：耐火性
JISC5402-22-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２２－１部：静電容量試験－試験２２ａ：静電容量
JISC5402-23-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２３－３部：スクリーニング及びフィルタリング試験－試験２３ｃ：コネクタ及びアクセサリのシールド効果
JISC5402-23-4:2006 本文1
電子機器用コネクタ－試験及び測定－第２３－４部：スクリーニング及びフィルタリング試験－試験２３ｄ：時間領域での伝送線路の反射
JISC5410:1991 本文1
高周波同軸コネクタ通則
JISC5411:1995 本文1
高周波同軸Ｃ０１形コネクタ
JISC5412:1995 本文1
高周波同軸Ｃ０２形コネクタ
JISC5413:1995 本文1
高周波同軸Ｃ０３形コネクタ
JISC5414:1995 本文1
高周波同軸Ｃ０４形コネクタ
JISC5415:1995 本文1
高周波同軸Ｃ０５形コネクタ
JISC5419:1995 本文1
高周波同軸Ｃ１１形コネクタ
JISC5432:1994 本文1
電子機器用丸形Ｒ０１コネクタ
JISC5442:1996 本文1
制御用小形電磁リレーの試験方法
JISC5445:2012 本文1
電子機器用スイッチ－第1部：通則
JISC5502:1991 本文1
マイクロホン
JISC5504:2016 本文1
ホーンスピーカ
JISC5512:2015 本文1
補聴器
JISC5516:2015 本文1
音声に近い試験信号による補聴器の信号処理特性の測定方法
JISC5532:2014 本文1
音響システム用スピーカ
JISC5533-1:2008 本文1
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器－デジタルオーディオ部－音響特性の基本測定方法－第１部：一般事項
JISC5533-2:2008 本文1
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器－デジタルオーディオ部－音響特性の基本測定方法－第２部：一般消費者用機器
JISC5533-4:2008 本文1
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器－デジタルオーディオ部－音響特性の基本測定方法－第４部：パーソナルコンピュータ
JISC5562:1996 本文1
磁気テープ録音再生システム　第１部　一般条件及び要求事項
JISC5563:1996 本文1
磁気テープ録音再生システム　第２部　キャリブレーションテープ
JISC5564:1991 本文1
磁気テープ録音再生システム　第３部　磁気テープ録音再生機器の特性測定方法
JISC5565:1996 本文1
磁気テープ録音再生システム　第４部　磁気テープの機械的特性
JISC5566:1997 本文1
磁気テープ録音再生システム　第５部　磁気テープの電気的特性
JISC5567:1989 本文1
磁気テープ録音再生システム　第６部　リール・ツー・リールシステム
JISC5568:1997 本文1
磁気テープ録音再生システム　第７部　テープレコード用及び民生用カセット
JISC5569:1991 本文1
録音再生機器における速さ変動の測定方法
JISC5581:1987 本文1
ＶＨＳ方式１２．６５ｍｍ（０．５ｉｎ）磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム
JISC5583:1992 本文1
８ｍｍビデオ－８ｍｍ磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム
JISC5600:2006 本文1
電子技術基本用語
JISC5601:1975 本文1
電子通信用語（無線通信編その１）
JISC5602:1986 本文1
電子機器用受動部品用語
JISC5603:1993 本文1
プリント回路用語
JISC5610:1996 本文1
集積回路用語
JISC5630-1:2017 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１部：マイクロマシン及びＭＥＭＳに関する用語
JISC5630-2:2009 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第２部：薄膜材料の引張強さ試験方法
JISC5630-3:2009 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第３部：薄膜材料の標準試験片
JISC5630-6:2011 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第６部：薄膜材料の軸荷重疲労試験方法
JISC5630-12:2014 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１２部：ＭＥＭＳ構造体の共振振動を用いた薄膜材料の曲げ荷重疲労試験方法
JISC5630-13:2014 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１３部：ＭＥＭＳ構造体のための曲げ及びせん断試験による接合強度試験方法
JISC5630-18:2014 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１８部：薄膜曲げ試験方法
JISC5630-19:2014 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第１９部：電子コンパス
JISC5630-20:2015 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第２０部：小型ジャイロ
JISC5630-26:2017 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第２６部：マイクロトレンチ構造及びマイクロニードル構造の寸法，形状表示及び計測法
JISC5630-28:2020 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第２８部：ＭＥＭＳエレクトレット振動発電デバイスの性能試験方法
JISC5630-30:2020 本文1
マイクロマシン及びＭＥＭＳ－第３０部：ＭＥＭＳ圧電薄膜の電気機械的変換特性の測定方法
JISC5750-1:2010 本文1
ディペンダビリティ マネジメント－第１部：ディペンダビリティ マネジメントシステム
JISC5750-2:2010 本文1
ディペンダビリティ マネジメント－第２部：ディペンダビリティ マネジメントのための指針
JISC5750-3-1:2006 本文1
ディペンダビリティ管理－第３－１部：適用の指針－ディペンダビリティ解析手法の指針
JISC5750-3-2:2008 本文1
ディペンダビリティ管理－第３－２部：適用の指針－フィールドからのディペンダビリティデータの収集
JISC5750-3-3:2008 本文1
ディペンダビリティ管理－第３－３部：適用の指針－ライフサイクル　コスティング
JISC5750-3-4:2011 本文1
ディペンダビリティ　マネジメント－第３－４部：適用の指針－ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針
JISC5750-3-5:2006 本文1
ディペンダビリティ管理－第３－５部：適用の指針－信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則
JISC5750-4-1:2008 本文1
ディペンダビリティ管理－第４－１部：適用の指針－リユース部品を含む製品のディペンダビリティ－機能性及び試験に関する要求事項
JISC5750-4-3:2011 本文1
ディペンダビリティ　マネジメント－第４－３部：システム信頼性のための解析技法－故障モード・影響解析（ＦＭＥＡ）の手順
JISC5750-4-4:2011 本文1
ディペンダビリティ　マネジメント－第４－４部：システム信頼性のための解析技法－故障の木解析（ＦＴＡ）
JISC5860:2012 本文1
空間ビーム光用受動部品通則
JISC5870:2009 本文1
干渉フィルタ通則
JISC5871:2011 本文1
干渉フィルタ試験方法
JISC5876-1:2009 本文1
位相子通則
JISC5877-1:2015 本文1
偏光子－第１部：通則
JISC5877-2:2012 本文1
偏光子試験方法
JISC5900:2019 本文1
光伝送用受動部品通則
JISC5910-1:2019 本文1
波長選択性のない光ブランチングデバイス－第１部：通則
JISC5910-3:2015 本文1
波長選択性のない光ブランチングデバイス－第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形１×Ｎ及び２×Ｎ光ブランチングデバイス
JISC5912:2006 本文1
波長スイッチ通則
JISC5914-3:2017 本文1
光伝送用サーキュレータ－第3部：シングルモード光ファイバピッグテール形光サーキュレータ
JISC5914:2013 本文1
光サーキュレータ通則
JISC5916-3:2013 本文1
光ファイバ形分散補償器
JISC5916:2012 本文1
光伝送用分散補償器通則
JISC5920-1:2015 本文1
光伝送用パワー制御受動部品－第１部：通則
JISC5920-3:2017 本文1
光伝送用パワー制御受動部品－第3部：シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器
JISC5920-4:2019 本文1
光伝送用パワー制御受動部品－第４部：シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器
JISC5921:2009 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器
JISC5925-1:2016 本文1
光伝送用ＷＤＭデバイス－第１部：通則
JISC5925-3:2011 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール形Ｃ／ＬバンドＷＤＭデバイス
JISC5925-4:2011 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール形９８０／１５５０ｎｍＷＷＤＭデバイス
JISC5925-5:2020 本文1
光伝送用ＷＤＭデバイス－第５部：シングルモード光ファイバピッグテール形中規模１×Ｎ ＤＷＤＭデバイス
JISC5926-1:2014 本文1
光伝送用光フィルタ－第１部：通則
JISC5930-1:2016 本文1
光伝送用スイッチ－第１部：通則
JISC5930-2:2019 本文1
光伝送用スイッチ－第２部：試験方法
JISC5932-1:2019 本文1
光アイソレータ－第１部：通則
JISC5932-2:2019 本文1
光アイソレータ－第２部：試験方法
JISC5932-3:2018 本文1
光アイソレータ－第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ
JISC5934:1999 本文1
光伝送用レンズ通則
JISC5935:2005 本文1
光伝送用レンズ試験方法
JISC5940:1997 本文1 本文2
光伝送用半導体レーザ通則
JISC5941:1997 本文1 本文2
光伝送用半導体レーザ測定方法
JISC5942:2010 本文1
再生用及び記録用半導体レーザ通則
JISC5943:2010 本文1
再生用及び記録用半導体レーザ測定方法
JISC5944:2005 本文1
光伝送用半導体レーザモジュール通則
JISC5945:2005 本文1 本文2
光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
JISC5946:2005 本文1
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則
JISC5947:2005 本文1
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法
JISC5948:2017 本文1
光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法
JISC5950:1997 本文1 本文2
光伝送用発光ダイオード通則
JISC5951:1997 本文1 本文2
光伝送用発光ダイオード測定方法
JISC5952-1:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１部：総則
JISC5952-2:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第２部：ＭＴ-ＲＪ（Ｆ１９形）コネクタ付１０ピンＳＦＦ形光トランシーバ
JISC5952-3:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第３部：ＭＴ－ＲＪ（Ｆ１９形）コネクタ付２０ピンＳＦＦ形光トランシーバ
JISC5952-4:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第４部：ＰＮコネクタ付１×９ピンプラスチック光ファイバ光トランシーバ
JISC5952-5:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第５部：ＳＣ（Ｆ０４形）コネクタ付１×９ピン光送信・受信モジュール及び光トランシーバ
JISC5952-6:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第６部：ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ
JISC5952-7:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第７部：ＬＣコネクタ付１０ピンＳＦＦ形光トランシーバ
JISC5952-8:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第８部：ＬＣコネクタ付２０ピンＳＦＦ形光トランシーバ
JISC5952-9:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第９部：ＭＵ（Ｆ１４形）コネクタ付１０ピンＳＦＦ形光トランシーバ
JISC5952-10:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１０部：ＭＵ（Ｆ１４形）コネクタ付２０ピンＳＦＦ形光トランシーバ
JISC5952-11:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１１部：１４ピン変調器集積形半導体レーザ送信モジュール
JISC5952-12:2008 本文1
光伝送用能動部品－パッケージ及びインタフェース標準－第１２部：同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュール
JISC5953-1:2016 本文1
光伝送用能動部品－性能標準－第１部：総則
JISC5953-3:2019 本文1
光伝送用能動部品－性能標準－第３部：４０ Ｇｂｉｔ／ｓ帯変調器集積形半導体レーザモジュール
JISC5953-4:2008 本文1
光伝送用能動部品－性能標準－第４部：１３００ｎｍギガビットイーサネット用光トランシーバ
JISC5953-5:2008 本文1
光伝送用能動部品－性能標準－第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ
JISC5953-6:2009 本文1
光伝送用能動部品－性能標準－第６部：６５０ｎｍ，２５０Ｍｂｉｔ／ｓプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバ
JISC5953-7:2017 本文1
光伝送用能動部品－性能標準－第７部：ＧＰＯＮ用光トランシーバ
JISC5954-1:2008 本文1
光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第１部：総則
JISC5954-2:2008 本文1
光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第２部：ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トランシーバ
JISC5954-3:2013 本文1
光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第３部：単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
JISC5954-4:2017 本文1
光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第４部：ＧＰＯＮ用光トランシーバ
JISC5954-5:2019 本文1
光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第５部：光トランシーバの光レセプタクル部の機械的外乱（ウィグル）による光出力変動
JISC5955-1:2016 本文1
光伝送用能動部品－性能標準テンプレート－第１部：単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
JISC5962:2018 本文1
光ファイバコネクタ通則
JISC5964-4-100:2018 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第４－１００部：SC形光ファイバコネクタ類－SC-PC簡易レセプタクル（F16形）
JISC5964-4:2014 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第４部：ＳＣ形光ファイバコネクタ類（Ｆ０４形）
JISC5964-5:2012 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第５部：ＭＴコネクタ類（Ｆ１２形）
JISC5964-6-100:2018 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第６－１００部：MU形光ファイバコネクタ類－MU-PC簡易レセプタクル（F17形）
JISC5964-6:2014 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第６部：ＭＵ形光ファイバコネクタ類（Ｆ１４形）
JISC5964-7-1:2020 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第７－１部：ＭＰＯコネクタ類（Ｆ１３形）－１列
JISC5964-7-2:2020 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第７－２部：ＭＰＯコネクタ類（Ｆ１３形）－２列
JISC5964-13:2015 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第１３部：ＦＣ－ＰＣ形光ファイバコネクタ類（Ｆ０１形）
JISC5964-18:2014 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第１８部：ＭＴ－ＲＪコネクタ類（Ｆ１９形）
JISC5964-20:2015 本文1
光ファイバコネクタかん合標準－第２０部：ＬＣ形光ファイバコネクタ類
JISC5965-1:2009 本文1
光ファイバコネクタ光学互換－第１部：シングルモード（１３１０ｎｍゼロ分散形）光ファイバ用光学互換標準の通則
JISC5965-2-1:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換－第２－１部：シングルモード直角ＰＣ端面光ファイバ光学互換標準の指針
JISC5965-2-2:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換－第２－２部：シングルモード斜めＰＣ端面光ファイバ光学互換標準の指針
JISC5965-2-4:2016 本文1
光ファイバコネクタ光学互換標準－第２－４部：基準接続用シングルモード直角ＰＣ端面光ファイバの接続パラメータ
JISC5965-2-5:2016 本文1
光ファイバコネクタ光学互換標準－第２－５部：基準接続用シングルモード斜めＰＣ端面光ファイバの接続パラメータ
JISC5965-3-1:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換－第３－１部：シングルモード光ファイバ用直径２．５ｍｍ及び１．２５ｍｍ円筒形全ジルコニア直角ＰＣ端面フェルール光学互換標準
JISC5965-3-2:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換－第３－２部：シングルモード光ファイバ用直径２．５ｍｍ及び１．２５ｍｍ円筒形全ジルコニア８度斜めＰＣ端面フェルール光学互換標準
JISC5965-3-31:2018 本文1
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－光ファイバコネクタ光学互換標準－第３－３１部：シングルモード光ファイバ用１列多心角形ポリフェニレンスルフィド（ＰＰＳ）８度斜めＰＣ端面フェルールの接続部パラメータ
JISC5970:2015 本文1
Ｆ０１形単心光ファイバコネクタ（ＦＣコネクタ）
JISC5973:2014 本文1
Ｆ０４形光ファイバコネクタ（ＳＣコネクタ）
JISC5974:1998 本文1
Ｆ０５形単心光ファイバコネクタ
JISC5976:2001 本文1
Ｆ０７形２心光ファイバコネクタ
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Ｆ１１形光ファイバコネクタ
JISC5981:2012 本文1
Ｆ１２形多心光ファイバコネクタ（ＭＴコネクタ）
JISC5982:2020 本文1
Ｆ１３形多心光ファイバコネクタ（ＭＰＯコネクタ）
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Ｆ１４形光ファイバコネクタ（ＭＵコネクタ）
JISC5985:2018 本文1 本文2
Ｆ１６形光ファイバコネクタ（ＳＣ－ＳＲコネクタ）
JISC5986:2018 本文1 本文2
Ｆ１７形光ファイバコネクタ（ＭＵ－ＳＲコネクタ）
JISC5987:2005 本文1
Ｆ１８形光ファイバコネクタ
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Ｆ１９形光ファイバコネクタ（ＭＴ－ＲＪコネクタ）
JISC5990:1997 本文1 本文2
光伝送用フォトダイオード通則
JISC5991:1997 本文1 本文2
光伝送用フォトダイオード測定方法