JISC5101-18:2019 電子機器用固定コンデンサ－第１８部：品種別通則－表面実装用固定アルミニウム固体（ＭｎＯ₂）及び非固体電解コンデンサ

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 一般事項························································································································· 1

1.1 適用範囲 ······················································································································ 1

1.2 目的 ···························································································································· 1

1.3 引用規格 ······················································································································ 2

1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2

1.5 用語及び定義 ················································································································ 3

1.6 表示 ···························································································································· 3

2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4

2.1 推奨特性 ······················································································································ 4

2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4

3 品質評価手順 ··················································································································· 5

3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5

3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 5

3.3 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 5

3.4 品質認証（QA）試験 ······································································································ 5

3.5 品質確認検査 ··············································································································· 14

4 試験及び測定手順 ············································································································ 16

4.1 乾燥 ··························································································································· 16

4.2 測定条件 ····················································································································· 16

4.3 取付け ························································································································ 16

4.4 外観検査及び寸法検査 ··································································································· 16

4.5 電気的試験 ·················································································································· 17

4.6 はんだ耐熱性 ··············································································································· 18

4.7 はんだ付け性 ··············································································································· 18

4.8 固着性 ························································································································ 18

4.9 耐プリント板曲げ性 ······································································································ 18

4.10 温度急変 ···················································································································· 18

4.11 一連耐候性 ················································································································· 19

4.12 高温高湿（定常） ········································································································ 19

4.13 高温及び低温特性 ········································································································ 20

4.14 サージ ······················································································································· 20

4.15 耐久性 ······················································································································· 20

4.16 逆電圧（要求がある場合） ···························································································· 21

4.17 高温保存 ···················································································································· 21

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

（3）

まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子

情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって，JIS C 5101-18:2010は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1 第1部：品目別通則

JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ

JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン

サ評価水準EZ

JIS C 5101-4 第4部：品種別通則−固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水

準EZ

JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ

JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ

JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準D

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016) 目次

（4）

JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ安全性を要求

する試験

JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準DZ

JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価

水準E

JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準

JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E

JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-18 第18部：品種別通則−表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ

ンデンサ

JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ

ンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準EZ

JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ

JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ

JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ

JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解

コンデンサ−評価水準EZ

日本工業規格 JIS

C 5101-18：2019

(IEC 60384-18：2016)

電子機器用固定コンデンサ−

第18部：品種別通則−

表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び

非固体電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 18: Sectional specification-

Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO2) and

non-solid electrolyte

序文

この規格は，2016年に第3版として発行されたIEC 60384-18を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は，JIS C 5101-1:2019を品目別通則とする品種別通則で，主に電子機器用の直流回路に用いる

表面実装用の固定アルミニウム固体（MnO2）及び固定アルミニウム非固体電解コンデンサ（以下，コンデ

ンサという。）について規定する。

この規格は，表面実装用でない固定アルミニウム固体（MnO2）及び固定アルミニウム非固体電解コンデ

ンサには適用しない。これらのコンデンサは，JIS C 5101-4に規定されている。

この規格は，ハイブリッド回路又はプリント配線板に直接取り付けるコンデンサに適用する。

特殊な用途のコンデンサの場合には，その用途で求める要求事項を追加してもよい。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60384-18:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 18: Sectional specification

−Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO2) and non-solid

electrolyte（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

1.2

目的

この規格は，この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1から適

切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般的要求事項を規定することを目的とする。この

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は，この規格よりも低い水準であっ

てはならず，この規格と同等か又は高い水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）

注記対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）

JIS C 5101-1:2019 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則

注記対応国際規格：IEC 60384-1:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification（IDT）

JIS C 60063:2018 抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記対応国際規格：IEC 60063:2015，Preferred number series for resistors and capacitors（IDT）

JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部：通則及び指針

注記対応国際規格：IEC 60068-1:2013，Environmental testing−Part 1: General and guidance（IDT）

JIS C 60068-2-58:2016 環境試験方法−電気・電子−第2-58部：表面実装部品（SMD）のはんだ付け

性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-58:2015，Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD)（MOD）

JIS Z 8601 標準数

注記対応国際規格：ISO 3，Preferred numbers−Series of preferred numbers（MOD）

IEC 60417，Graphical symbols for use on equipment

1.4

個別規格に規定する事項

1.4.1

一般事項

個別規格は，ブランク個別規格の様式による。

個別規格には，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を

規定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9（品目別通則及び

／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項）に記載し，更に，試験計画の中に，例えば，アステ

リスク（*）を付けて明示する。

1.4.2に規定する外形図及び寸法は，一覧表に示してもよい。

個別規格には，1.4.2〜1.4.5の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する

ことが望ましい。

1.4.2

外形図及び寸法

外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。

コンデンサの互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。全ての寸法値

は，ミリメートル（mm）で規定する。

本体寸法は，次の事項を規定する。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

− 一般（円筒形以外）：幅，長さ及び高さ

− 円筒形：直径及び長さ

端子寸法は，次の事項を規定する。

− 端子：幅，長さ及び間隔

形状が上記のコンデンサと異なる場合は，個別規格に，そのコンデンサを適切に示す寸法情報を規定す

る。

1.4.3

取付け

試験及び測定のための取付方法は，4.3による。通常用いる取付方法を個別規格に規定する。

1.4.4

定格及び特性

1.4.4.1

一般事項

定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。

1.4.4.2

公称静電容量範囲

公称静電容量範囲は，2.2.1による。

IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが

異なるとき，次の文章を追加することが望ましい。

“各電圧範囲での公称静電容量範囲は，認証登録によって，例えば，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）

のオンライン認証システム（ウェブサイト：www.iecq.org）が利用できる。”

1.4.4.3

特殊な特性

設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，その規定事項を追加してもよい。

1.4.4.4

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験に適用する試験方法，厳しさ及び要求事項は，個別規格に規定する。

1.4.5

表示

コンデンサの本体及びその包装への表示事項は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる事項は，

個別規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1:2019によるほか，次による。

1.5.1

静電容量（capacitance）

電解コンデンサの中で，規定する測定周波数の近似的な正弦波交流を用いて測定した静電容量値と抵抗

値とで等価直列回路を構成した場合の容量。

1.6

表示

1.6.1

一般事項

表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，1.6.2〜1.6.4による。

1.6.2

表示の内容

表示の内容は，次の事項から選定する。表示の優先順位は，記載の順による。

a) 端子の極性（構造によって極性を示す場合を除く。）

b) 公称静電容量

c) 定格電圧（直流電圧を表す記号は，IEC 60417-5031:2002による記号又はで表してもよ

い。）

d) カテゴリ温度

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

e) 公称静電容量許容差

製造年月（又は年週）

g) 製造業者名及び／又はその商標

h) 製造業者の形名

適用する個別規格

1.6.3

コンデンサ本体への表示

コンデンサ本体には，極性表示を行う。極性表示以外の項目は必要に応じて表示する。

全ての表示は，明瞭であり，指でこすった場合に，容易に不鮮明になったり又は消えたりしてはならな

い。

1.6.4

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装には，1.6.2の全ての事項の内容を明瞭に表示することが望ましい。

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

推奨耐候性カテゴリは，推奨特性によって付与される。

この規格に規定するコンデンサは，JIS C 60068-1の附属書A（部品の耐候性カテゴリー）に規定する一

般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度は，次の中から選定する。

− カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃

− カテゴリ上限温度：＋85 ℃，＋100 ℃，＋105 ℃及び＋125 ℃

低温及び高温の試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

公称静電容量（CN）

公称静電容量の推奨値は，マイクロファラド（μF）の単位で表す。

公称静電容量の推奨値は，JIS C 60063に規定するE12の標準数列（1.0，1.2，1.5，1.8，2.2，2.7，3.3，

3.9，4.7，5.6，6.8及び8.2）及びそれらの10n倍（nは整数とする。）の中から選定する。

2.2.2

公称静電容量許容差

公称静電容量許容差の推奨値は，−10 %〜＋10 %又は−20 % 〜＋20 %とする。

2.2.3

定格電圧（UR）

定格直流電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR 10，及びR 20並びにそれらの10n倍（nは整数とす

る。）の中から選定する。

− R 10標準数列：1.0，1.25，1.6，2.0，2.5，3.15，4.0，5.0，6.3及び8.0

− R 20標準数列：3.5及び4.5

注記 JIS Z 8601では，R 20標準数列としては 3.55であるが，市場では数値を丸めて3.5を用いてい

る。

2.2.4

カテゴリ電圧（UC）

カテゴリ電圧は，定格電圧と同じになる。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

2.2.5

サージ電圧

サージ電圧は，定格電圧の1.15倍に最も近い値に丸めた電圧とし，表1による。

表1−サージ電圧

単位 V

定格電圧

2.5

4.0

6.3

12.5

サージ電圧

2.9

4.6

7.2

14.4

2.2.6

定格温度

定格温度は，＋85 ℃，＋100 ℃，＋105 ℃又は＋125 ℃とする。

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は，固体電解コンデンサの場合，酸化皮膜の化成工程とし，非固体電解コンデンサの場

合，コンデンサ製造業者での化成済陽極はくの検査工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ製造工程及び材

料で製造したコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合，出荷者は，JIS C 5101-1のQ.1.5（出

荷ロット成績証明書）によって，出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求

する特性値は，静電容量値の変化，損失角の正接（tan δ）及び漏れ電流とする。

3.4

品質認証（QA）試験

3.4.1

一般事項

品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.2（品質認証手順）による。

ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.2

及び3.4.3による。

3.4.2

定数抜取手順に基づく品質認証

定数抜取手順は，JIS C 5101のQ.2.4（初期生産品の品質認証用試験手順）による。試料は，認証を取得

しようとするコンデンサの全ての範囲を代表し，認証範囲は，個別規格に規定する全ての範囲又はその一

部でもよい。試料は，最大定格電圧及び最小定格電圧と，それぞれの電圧での最大外形寸法と最小外形寸

法とで構成する4組合せとする。外形寸法が4種類を超える場合には，中間の外形寸法のものも試験する。

これらの外形寸法と定格電圧との組合せにおいて，最大の公称静電容量を試料に選定する。したがって，

範囲認証の場合，試験は，4組合せ又は6組合せについて行う。認証範囲が4組合せ未満の場合，試料数

は，4組合せの場合と同数とする。

予備試料は，製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換え用として，1組合せごとに2個（6

組合せの場合）又は3個（4組合せの場合）とする。

群0に規定する試料数は，全ての群の試験を適用する場合の試料数であり，適用しない試験がある場合，

適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表2−品質認証試験の抜取計画，評価水準EZ

群

試験項目

細分箇条番号

試料数

nd)

許容不適合数

大電流サージb)

4.22

112＋8e)＋12g)

外観

4.4

寸法

4.4

漏れ電流

4.5.1

静電容量

4.5.2

損失角の正接（tan δ）又は
等価直列抵抗（ESR）

4.5.3

インピーダンスc)

4.5.4

予備試料

はんだ耐熱性

4.6

部品の耐溶剤性c)

4.20

はんだ付け性

4.7

表示の耐溶剤性c)

4.21

耐プリント板曲げ性

4.9

3a)

取付け

4.3

76＋8e)

0f)

外観

4.4

漏れ電流

4.5.1

静電容量

4.5.2

損失角の正接（tan δ）

4.5.3

インピーダンスc)

4.5.4

3.1

固着性

4.8

温度急変

4.10

一連耐候性

4.11

3.2

高温高湿（定常）

4.12

3.3A

高温及び低温特性

4.13

充放電c)

4.19

3.3B

逆電圧c)

4.16

8e)

3.4

耐久性

4.15

3.5

高温保存

4.17

低温保存c)

4.18

サージ

4.14

注a) これらの取付け後の測定値は，群3の後に行う各副群の初期値とする。

b) 固体電解コンデンサで，かつ，要求のある場合

c) 要求のある場合

d) 外形寸法及び定格電圧の組合せは，3.4.2による。

e) 副群3.3Bの試験がある場合の追加試料数

f) 取付け後の不適合品は，以降の不合格数の計算には含まず，予備試料と取り替える。

g) 予備試料

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群0

表2による

4.22

大電流サージc)

JIS C 5101-1
の4.39による

4.4

外観

4.4.2による

表示は明瞭であり，かつ，個別規格の規定
による

4.4

寸法（詳細）

4.4.2による

個別規格の規定による

4.5.1

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

4.5.2

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.5.3

損失角の正接（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

4.5.4

インピーダンスd)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定による

群1A

表2による

4.6

はんだ耐熱性

4.6.2による

4.6.3

後処理

4.6.3による

4.6.4

最終検査

4.6.4による

外観

4.4.2による

外観に損傷がない
電極の角部のはんだ食われによる電極の消
失は，電極のりょう（稜）の全長の25 %以
下

静電容量

4.5.2.2による

個別規格の規定による

損失角の正接（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

4.20

部品の耐溶剤性d)

JIS C
5101-1の4.31
による

個別規格の規定による
JIS C 5101-1の4.31による

群1B

表2による

4.7

はんだ付け性

JIS C
5101-1の4.15
による

4.7.3

最終検査

外観

4.4.2による

はんだぬれ性の要求事項は，端子部分だけ
評価する
（JIS C 60068-2-58:2016の9.3による）

4.21

表示の耐溶剤性d)

JIS C
5101-1の4.32
による

JIS C 5101-1の4.32による

群2

表2による

4.9

耐プリント板曲げ性

JIS C
5101-1の4.35
による

4.9.2

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コン
デンサの場合は，電解液の漏れがない

静電容量

4.5.2.2による

個別規格の規定による

インピーダンスd)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定による

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画（続き）

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群3

表2による

4.3

取付け

4.3.3による

4.3.4

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コン
デンサの場合は，電解液の漏れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.5.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦5 %

損失角の正接（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

インピーダンスd)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

初期規定値以下

群3.1

表2による

4.8

固着性

JIS C
5101-1の4.34
による

4.8.2

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がない

4.10

温度急変

4.10.3による

4.10.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.10.4

後処理

4.10.4による

4.10.5

最終検査

固体電解コンデンサの場合：

漏れ電流

4.5.1.2による

≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.10.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦5 %

損失角の正接（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

インピーダンスd)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定による

非固体電解コンデンサの場合：

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，電解液の漏れが
ない

4.11

一連耐候性

JIS C
5101-1の4.21
による

4.11.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.11.3

高温

4.11.3による

4.11.4

温湿度サイクル（試験
Db），最初のサイクル

JIS C
5101-1の
4.21.4による

4.11.5

低温

4.11.5による

4.11.6

温湿度サイクル（試験
Db），残りのサイクル

JIS C
5101-1の
4.21.7による

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画（続き）

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群3.1

（続き）

表2による

4.11.7

後処理

4.11.7による

4.11.8

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭で
ある
非固体電解コンデンサの場合は，電解液の
漏れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.11.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接（tan δ）

4.5.3.2による

初期規定値の1.2倍以下

群3.2

表2による

4.12

高温高湿（定常）

JIS C
5101-1の4.22
による

4.12.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.12.4

後処理

4.12.4による

4.12.5

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭で
ある
非固体電解コンデンサの場合，電解液の漏
れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

固体電解コンデンサの場合：
4.12.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
4.12.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦20 %

損失角の正接（tan δ）

4.5.3.2による

初期規定値の1.2倍以下

インピーダンスd)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定値の1.2倍以下

群3.3A

表2による

4.13

高温及び低温特性

JIS C
5101-1の4.29
による

固体電解コンデンサの場合：

段階1

：20 ℃

静電容量c) h)

4.5.2.2による

規定する許容差以内

インピーダンス
（段階2と同じ測定
周波数）c) h)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定による

損失角の正接（tan δ）
c)

4.5.3.2による

個別規格の規定による

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画（続き）

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群3.3A （続き）

表2による

4.13

高温及び低温特性（続
き）

段階2

：カテゴリ下限温度

静電容量c)

4.5.2.2による

段階1の測定値に対して，|ΔC/C|≦20 %

インピーダンスc)

4.5.4.3及び
4.5.4.4による

段階1の測定値の2倍以下

損失角の正接
（tan δ）c)

4.5.3.2による

初期規定値の2倍以下

段階3

：カテゴリ上限温度

漏れ電流

4.5.1.2による

125 ℃で，4.5.1に規定の値の15倍以下
105 ℃で，4.5.1に規定の値の12.5倍以下
100 ℃で，4.5.1に規定の値の12.5倍以下
85 ℃で，4.5.1に規定の値の10倍以下

静電容量c)

4.5.2.2による

段階1の測定値に対して，|ΔC/C|≦20 %

損失角の正接
（tan δ）c)

4.5.3.2による

初期規定値以下

非固体電解コンデンサの場合：

段階1

：20 ℃

静電容量e) h)

4.5.2.2による

規定する許容差以内

損失角の正接
（tan δ）e)

4.5.3.2による

個別規格の規定による

インピーダンス
（段階2と同じ測定
周波数）e) h)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定による

段階2

：カテゴリ下限温度

インピーダンスe)

4.5.4.3及び
4.5.4.4による

段階1の測定値に対する比：

定格電圧

インピーダンス比

UR≦6.3

≦10

6.3＜UR≦16

≦8

16＜UR≦63

≦6

63＜UR

個別規格の規定による

段階3

：カテゴリ上限温度

漏れ電流

4.5.1.2による

125 ℃で，4.5.1に規定の値の10倍以下
105 ℃で，4.5.1に規定の値の8倍以下
100 ℃で，4.5.1に規定の値の8倍以下
85 ℃で，4.5.1に規定の値の5倍以下

静電容量e)

4.5.2.2による

個別規格の規定による

損失角の正接
（tan δ）e)

4.5.3.2による

個別規格の規定による

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画（続き）

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群3.3A （続き）

表2による

4.19

充放電d)

4.19.3による

4.19.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.19.4

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コン
デンサの場合は，電解液の漏れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

固体電解コンデンサの場合：
4.19.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦5 %
非固体電解コンデンサの場合：
4.19.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %

群3.3B

表2による

4.16

逆電圧d)

4.16.2による

4.16.1

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.16.3

後処理

4.16.3による

4.16.4

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コン
デンサの場合，電解液の漏れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

固体電解コンデンサの場合：
4.16.1の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
4.16.1の測定値に対して，個別規格の規定に
よる

損失角の正接
（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

群3.4

表2による

4.15

耐久性

4.15.3による

4.15.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.15.4

後処理

4.15.4による

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画（続き）

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群3.4

（続き）

表2による

4.15.5

最終検査

固体電解コンデンサの場合：

外観

4.4.2による

外観に損傷がない
表示は明瞭である

漏れ電流

4.5.1.2による

≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.15.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接
（tan δ）

4.5.3.2による

初期規定値の1.2倍以下

インピーダンスc)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定値の1.2倍以下

非固体電解コンデンサの場合：

外観

4.4.2による

電解液の漏れ又は外観に損傷がない
表示は明瞭である

漏れ電流

4.5.1.2による

≦0.025 CNUR又は1μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.15.2の測定値に対して，

定格電圧

ΔC/C

UR≦6.3

＋25〜−40

6.3＜UR≦63

±30

63＜UR

個別規格の規定による

損失角の正接
（tan δ）

4.5.3.2による

初期規定値の2倍又は0.4の，いずれか大き
い値以下

インピーダンスc)

4.5.4.2及び
4.5.4.3による

個別規格の規定値の4倍以下

群3.5

表2による

4.17

高温保存

4.17.3による

4.17.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.17.4

後処理

4.17.4による

4.17.5

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コン
デンサの場合，電解液の漏れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：初期規定値以
下
非固体電解コンデンサの場合：初期規定値
の2倍以下

静電容量

4.5.2.2による

固体電解コンデンサの場合：
4.17.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦5 %
非固体電解コンデンサの場合：
4.17.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接
（tan δ）

4.5.3.2による

固体電解コンデンサの場合：初期規定値以
下
非固体電解コンデンサの場合：初期規定値
の1.2倍以下

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表3−品質認証試験計画（続き）

細分箇条番号，

試験及び検査項目a)

又は
NDb)

試験及び

測定条件a)

試料数（n）

及び許容不

適合数（c）

要求事項a)

群3.5

（続き）

表2による

4.18

低温保存f)

JIS C
5101-1

の

4.25.2.2によ
る

4.18.2

初期検査

静電容量

4.5.2.2による

規定する許容差以内

4.18.4

後処理

4.18.4による

4.18.5

最終検査

外観

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，表示は明瞭であ
る
非固体電解コンデンサの場合，電解液の漏
れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.18.2の測定値に対して，|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接
（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

4.14

サージ

4.14.3による

4.14.4

後処理

4.14.4による

4.14.5

最終検査

外観e)

4.4.2による

外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コン
デンサの場合，電解液の漏れがない

漏れ電流

4.5.1.2による

固体電解コンデンサの場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）g)
非固体電解コンデンサの場合：
≦0.025 CNUR又は1 μAの，
いずれか大きい値（＋20 ℃±2 ℃）g)

静電容量

4.5.2.2による

4.17.2又は4.18.2の測定値に対して，
固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦15 %

損失角の正接
（tan δ）

4.5.3.2による

個別規格の規定による

注a) これらの取付け後の測定値は，群3の後に行う各副群の初期値とする。

b) この表で，Dは破壊試験，NDは非破壊試験を示す。

c) 固体電解コンデンサで，かつ，要求のある場合だけに適用する。

d) 要求のある場合だけに適用する。

e) 非固体電解コンデンサで，かつ，要求のある場合だけに適用する。

f) 非固体電解コンデンサで，かつ，カテゴリ下限温度が−10 ℃及び−25 ℃の場合に適用する。

g) CN＝公称静電容量，UR＝定格電圧を示す。

h) 比較用の値として用いる。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

3.5.1.1

群A及び群B検査

これらの検査は，ロットごとに行う。

製造業者は，次の条件の下に，製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

a) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。

b) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び公称静電容量）と外形寸法とによる組合せ

を代表とし，次の事項を考慮する。

− 組合せ数

− 1組合せ当たり5個以上

c) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合，1組合せ当たり抜取数が5個未満のとき，製造業者は，

認証機関（CB）からの承認を必要とする。

3.5.1.2

群C検査

この検査は，定期的に行う。

試料は，規定する期間に製造工程に流れている製品を代表とし，かつ，定格電圧の高，中及び低電圧，

を選定する。いずれの期間でも認証の範囲を対象とするために，定格電圧群ごとに一つの外形寸法の試料

を試験する。その後の期間では，製造の全ての範囲を対象とするために，その他の外形寸法及び／又は定

格電圧の試料を試験する。

3.5.2

試験計画

ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格に規定する。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1のQ.1.7（長期保管後の出荷）の規定によって，群A及び群B検査に基づくはんだ付け性

及び静電容量について再検査を行う。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は，表4及び表5の中から選定することが望ましい。

表4−ロットごとの品質検査

検査副群a)

ILb)

nb)

cb)

A0e)

100 %c)

S-3

注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。

b) この表の記号は次による。IL＝検査水準，n＝試料数，c＝許容不適合数

c) この検査は，製造工程内での全数検査で不適合品を取り除いた後に実施する。抜取水準は部品製造業者が

設定するが，JIS C 5005-2の附属書A［信頼水準60 %における100万個当たりの不適合品率（ppm）で示
す統計的工程品質限界（SVQL）の推定］に準じることが望ましい。
不適合品数の百万分率（ppm，×10−6）による出荷品質水準を監視するために，ロットの合格又は不合格
にかかわらず，抜取試料は全て検査し，不適合品数を数える。
抜取試料中に1個以上の不適合品がある場合，そのロットは不合格とするが，不適合品数は数え，品質水
準を算出する。
百万分率（ppm，×10−6）で示す出荷品質水準は，JIS C 5005-2の6.2（SVQLの算出）に示す方法によっ
て累積した検査データから算出する。

d) 試料数は，JIS C 5005-2の4.3.2（なみ検査による抜取検査方式）による。

e) 固体電解コンデンサで，かつ，要求のある場合だけ適用する。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

表5−定期的な品質検査

検査副群a)

pb)

nb)

cb)

C3.1

C3.2

C3.3

C3.4

C3.5A

C3.5B

注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。

b) この表の記号は次による。p＝検査周期（月），n＝試料数，c＝許容不適合数

試験及び測定手順

注記この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足するものである。

4.1

乾燥

乾燥条件は，JIS C 5101-1の4.3（乾燥）による。

4.2

測定条件

測定は，次の条件で行う。

− 相対湿度：25 %〜75 %

4.3

取付け

4.3.1

一般事項

取付けは，JIS C 5101-1の4.33［取付け（表面実装用コンデンサに適用）］によるほか，次による。

4.3.2

初期検査

静電容量を，4.5.2によって測定する。

4.3.3

試験条件

試験条件は，リフロー法とし，リフロー温度プロファイルは個別規定による。

4.3.4

最終検査

コンデンサは，表3の外観及び電気的性能の測定を行う。

4.4

外観検査及び寸法検査

4.4.1

一般事項

外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）によるほか，次による。

4.4.2

外観及び寸法

外観は，供試品が要求する品質水準に適した，照明付きの倍率約10倍の拡大鏡を用いて検査する。

作業者には，適切な測定装置に加えて，直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。

コンデンサは，材料，設計，構造及び外径寸法が，個別規格の要求事項を満足していることを証明する

ために検査する。

4.4.3

要求事項

要求事項は，表3による。でき栄え（ワークマンシップ）は，個別規格に規定する要求事項を満足しな

ければならない。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

4.5

電気的試験

4.5.1

漏れ電流

4.5.1.1

一般事項

漏れ電流は，JIS C 5101-1の4.9（漏れ電流）によるほか，次による。

4.5.1.2

測定条件

コンデンサに，充電電流を制限する保護抵抗器を直列に接続し，その両端に定格電圧を印加する。

保護抵抗器の値は，1 000 Ωとする。

4.5.1.3

要求事項

要求事項は，表3による。

4.5.2

静電容量

4.5.2.1

一般事項

静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。

4.5.2.2

測定条件

個別規格に規定がない場合，静電容量の測定周波数は，100 Hz又は120 Hzとする。

実際のコンデンサ端子間に印加する交流電圧は，0.5 V（実効値）以下とする。

基本的に，測定の間，コンデンサに直流電圧は印加しないほうがよい。

なお，交流電圧によって，コンデンサに逆電圧が印加されないように，測定の間，0.7 V〜1.0 Vの直流

バイアス電圧を印加してもよい。

測定機器の確度は，絶対値又は静電容量の変化として個別規格に規定する値の±2 %以下とする。

4.5.2.3

要求事項

要求事項は，表3による。

4.5.3

損失角の正接（tan δ）又は等価直列抵抗（ESR）

4.5.3.1

一般事項

損失角の正接（tan δ）又は等価直列抵抗（ESR）は，JIS C 5101-1の4.8［誘電正接（損失角の正接）及

び等価直列抵抗（ESR）］によるほか，次による。

損失角の正接（tan δ）又は等価直列抵抗（ESR）の規定値は，個別規格による。

非固体電解コンデンサの場合は，損失角の正接（tan δ）の代わりに，等価直列抵抗（ESR）を個別規格

に規定してもよい。

4.5.3.2

測定条件

測定は，4.5.2.2の条件下で行う。

測定機器の確度は，絶対値で0.01以下とする。

4.5.3.3

要求事項

要求事項は，表3による。

4.5.4

インピーダンス（要求がある場合）

4.5.4.1

一般事項

インピーダンスは，JIS C 5101-1の4.10（インピーダンス）によるほか，次による。

4.5.4.2

測定周波数

測定周波数は，100 Hz，120 Hz，1 kHz，10 kHz，100 kHz及びl MHzの中から，コンデンサが最も低い

インピーダンスになるような周波数を選定する。測定周波数の許容差は±20 %以内とする。測定する周波

数の値は，個別規格の規定による。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

4.5.4.3

測定条件

測定電圧は，測定中にコンデンサが発熱しない，十分に低い値とし，コンデンサに1分間印加したとき，

インピーダンスの変化が認められないものとする。

測定誤差は，インピーダンスの規定値の5 %又は0.02 Ωのいずれか大きい値以下とする。

4.5.4.4

カテゴリ下限温度での測定

個別規格に規定がない場合，カテゴリ下限温度での測定周波数は，100 Hz又は120 Hzとする。

4.5.4.5

要求事項

要求事項は，表3による。

4.6

はんだ耐熱性

4.6.1

一般事項

はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。

4.6.2

試験条件

試験方法はリフロー法とし，個別規格に規定するリフロー温度プロファイルで行う。

4.6.3

後処理

後処理は，1時間〜2時間とする。

4.6.4

最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従って，コンデンサは，適切な照明の下で約10倍の拡大鏡で外観検査を行い，電気

的特性の測定を行う。要求事項は，表3による。

4.7

はんだ付け性

4.7.1

一般事項

はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。

4.7.2

試験条件

JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）による。

4.7.3

最終検査及び要求事項

表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.8

固着性

4.8.1

一般事項

固着性は，JIS C 5101-1の4.34（固着性）によるほか，次による。

4.8.2

最終検査及び要求事項

表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.9

耐プリント板曲げ性

4.9.1

一般事項

耐プリント板曲げ性は，JIS C 5101-1の4.35（耐プリント板曲げ性）によるほか，次による。

4.9.2

最終検査及び要求事項

表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.10 温度急変

4.10.1 一般事項

温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。

4.10.2 初期検査

表3による。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

4.10.3 試験条件

試験条件は，次による。

− TA＝カテゴリ下限温度

− TB＝カテゴリ上限温度

− 試験サイクル数：5回

− 各温度でのさらし時間：30分間

4.10.4 後処理

後処理は，1時間〜2時間とする。

4.10.5 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.11 一連耐候性

4.11.1 一般事項

一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。

4.11.2 初期検査

表3による。

4.11.3 高温

高温は，JIS C 5101-1の4.21.3（高温）によるほか，次による。

− 試験温度：カテゴリ上限温度

− 試験時間：16時間

4.11.4 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル

温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.4［温湿度サイクル（試験Db），最

初のサイクル］による。

4.11.5 低温

低温は，JIS C 5101-1の4.21.5（低温）によるほか，次による。

− 試験温度：カテゴリ下限温度

− 試験時間：2時間

4.11.6 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル

温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.7［温湿度サイクル（試験Db），残

りのサイクル］による。

4.11.7 後処理

後処理時間は，1時間〜2時間とする。

4.11.8 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.12 高温高湿（定常）

4.12.1 一般事項

高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。

コンデンサは，4.3によって取り付ける。

4.12.2 初期検査

表3による。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

4.12.3 試験条件

試験条件は，次による。

− 試験期間：10日，21日又は56日

− 温度：＋40 ℃±2 ℃

− 相対湿度：（93±3）%

− 印加電圧：電圧は印加しない。

4.12.4 後処理

後処理時間は，1時間〜2時間とする。

4.12.5 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.13 高温及び低温特性

4.13.1 一般事項

高温及び低温特性は，JIS C 5101-1の4.29（高温及び低温特性）によるほか，次による。

4.13.2 検査及び要求事項

コンデンサは，各温度段階で電気的性能の測定を行い，表3に規定する要求事項を満足する。

4.14 サージ

4.14.1 一般事項

サージは，JIS C 5101-1の4.26（サージ）によるほか，次による。

4.14.2 初期検査

表3による。

4.14.3 試験条件

コンデンサは，1 000サイクルの試験を行う。試験の1周期は，次に示す充電期間と，5分30秒間の無

負荷開放（自己放電は許容する）期間との組合せとする。

充電は，サージ電圧（1.15 UR）に等しい電圧を，式(1)で算出した値の保護抵抗器を通して30秒間印加

する。

RC＝0.1 s±0.05 s ······································································· (1)

ここに，

R：保護抵抗値（Ω）

C：公称静電容量値（μF）

試験は，室温で行う。

試験は，試験サイクルの無負荷状態で終了する。

充電時定数及び放電時定数は，個別規格による。

4.14.4 後処理

後処理時間は，1時間〜2時間とする。

4.14.5 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.15 耐久性

4.15.1 一般事項

耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

4.15.2 初期検査

表3による。

4.15.3 試験条件

試験条件は，次による。

− 試験時間：1 000時間又は個別規格に規定の時間

− 温度：カテゴリ上限温度

− 印加電圧：定格電圧

4.15.4 後処理

後処理時間は，16時間以上とする。

4.15.5 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.16 逆電圧（要求がある場合）

4.16.1 初期検査

表3による。

4.16.2 試験条件

コンデンサは，条件Aの試験を行い，続いて条件Bの試験を行う。

a) 条件A

1) 温度：カテゴリ上限温度

2) 印加電圧：

− 固体電解コンデンサ：定格電圧の0.15倍の直流電圧を，極性と逆方向に印加

− 非固体電解コンデンサ：個別規格に規定がない場合，1 Vの直流電圧を極性と逆方向に印加

3) 試験時間：125時間

b) 条件B

1) 温度：カテゴリ上限温度

2) 印加電圧：定格電圧に等しい直流電圧を極性方向に印加する。

3) 試験時間：125時間

4.16.3 後処理

後処理時間は，個別規格の規定による。

4.16.4 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.17 高温保存

4.17.1 一般事項

高温保存は，JIS C 5101-1の4.25.1（高温保存）によるほか，次による。

4.17.2 初期検査

表3による。

4.17.3 試験条件

試験条件は，次による。

− 試験時間：96時間±4時間

− 温度：カテゴリ上限温度

C 5101-18：2019 (IEC 60384-18：2016)

4.17.4 後処理

後処理時間は，16時間以上とする。

4.17.5 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.18 低温保存（要求がある場合）

4.18.1 一般事項

低温保存は，非固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合だけ行い，JIS C 5101-1の4.25.2（低温保

存）によるほか，次による。

4.18.2 初期検査

表3による。

4.18.3 試験条件

JIS C 5101-1の4.25.2.2（試験手順）によるほか，次による。

− 試験時間：16時間又は熱平衡到達後4時間，いずれか短い時間

− 温度：−40 ℃

4.18.4 後処理

後処理時間は，16時間以上とする。

4.18.5 最終検査及び要求事項

後処理後に，表3に従ってコンデンサの最終検査を行う。要求事項は，表3による。

4.19 充放電（要求がある場合）

4.19.1 一般事項

充放電は，JIS C 5101-1の4.27（充放電試験及び突入電流試験）によるほか，次による。

4.19.2 初期検査

表3による。

4.19.3 試験条件

周囲温度20 ℃で規定のサイクル数の充放電を行う。各サイクルの充電条件a)及び放電条件b)は，次に

よる。

サイクル数を延ばす必要がある場合には，コンデンサの許容発熱量を超えないように，充電時間を変え

ないかどうかを個別規格に規定する。

a) 充電

− 印加電圧：定格直流電圧

− 電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和：公称静電容量値との積（RC）が0.1 sとなる抵抗値

注記ここで，R：電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和

C：公称静電容量値

− 時間：0.5秒間

b) 放電

− 印加電圧：なし

− 放電抵抗値：直列抵抗値と公称静電容量値との積（RC）が0.1 sとなる抵抗値

注記ここで，R：放電抵抗値

C：公称静電容量値

− 時間：0.5秒間