C 5260-2 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) ／財団
法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級定可変抵抗器 評価水準E（予定）
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：．単回転電力形可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E（予定）
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F（予定）
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
C 5260-2 : 2000
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項·································································································· 2
1.4.1 外形図及び寸法 ··········································································································· 2
1.4.2 取付け ······················································································································· 2
1.4.3 形状 ·························································································································· 3
1.4.4 抵抗変化特性 ·············································································································· 3
1.4.5 定格及び特性 ·············································································································· 3
1.4.5.1 定格抵抗値の範囲 ······································································································ 3
1.4.5.2 バンプ及び衝撃 ········································································································· 3
1.4.6 表示 ·························································································································· 3
1.4.7 発注情報 ···················································································································· 3
1.4.8 追加情報 ···················································································································· 3
1.5 表示 ···························································································································· 3
1.5.1 一般事項 ···················································································································· 3
第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ ······················································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ ····································································································· 4
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性 ······················································································ 4
2.1.3 抵抗値又は出力電圧比変化の限界 ··················································································· 6
2.1.4 全機械的操作範囲 ········································································································ 6
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 6
2.2.1 定格抵抗値 ················································································································· 6
2.2.2 定格抵抗値の許容差 ····································································································· 6
2.2.3 定格電力 ···················································································································· 6
2.2.4 素子最高電圧 ·············································································································· 7
2.2.5 アイソレーション電圧 ·································································································· 7
2.2.6 絶縁抵抗 ···················································································································· 7
C 5260-2 : 2000 目次
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2.3 推奨する試験の厳しさ····································································································· 7
2.3.1 乾燥 ·························································································································· 7
2.3.2 振動（正弦波） ··········································································································· 7
2.3.3 バンプ ······················································································································· 8
2.3.4 衝撃 ·························································································································· 8
2.3.5 減圧 ·························································································································· 8
2.3.6 温度変化 ···················································································································· 8
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順 ·················································································································· 8
3.1 構造的に類似な可変抵抗器······························································································· 8
3.2 品質認証 ······················································································································ 8
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証 ······················································································ 8
3.2.2 試験 ·························································································································· 9
3.3 品質確認検査 ··············································································································· 16
3.3.1 検査ロットの構成 ······································································································· 16
3.3.2 試験計画 ··················································································································· 16
3.3.3 評価水準 ··················································································································· 17
3.4 長期保管後の出荷 ········································································································· 17
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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日本工業規格 JIS
C 5260-2 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第2部：品種別通則：
ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment−
Part 2：Sectional specification：
Lead-screw actuated and rotary preset potentiometers
序文 この規格は，1989年に第2版として発行されたIEC 60393-2, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 2：Sectional specification：Lead-screw actuated and rotary preset potentiometersを元に，規格票
の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の現状に即して
変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.1
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-1を品目別通則とする品種別通則で，電子機器に使用する巻線及
び非巻線のねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器（以下，可変抵抗器という。）について規定する。これ
らの可変抵抗器は，調整を必要とする頻度が少なく微調整を目的とする回路に用いることを意図したもの
である。
備考 対応国際規格を，次に示す。
IEC 60393-2 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 2：Sectional specification：
Leads-crew actuated and rotary preset potentiometers
1.2
目的 この規格の目的は，推奨定格及び推奨特性を規定し，JIS C 5260-1から適切な品質評価手順，
試験及び測定方法を選択し，この規格の可変抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に
基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準
とする。
2
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.3
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうち，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格
の規定を構成するものであって，その後の改正版・Amendment・追補には適用しない。発効年又は発行年
を付記していない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0010〜0095 環境試験方法
備考 IEC 60068, Basic environmental testing proceduresからのすべての引用事項は，この規格の該当
事項と同等である。
JIS C 0010 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
備考 IEC 60068-1 : 1978, Basic environmental testing procedures−Part 1：Generalからのすべての引用
事項は，この規格の該当事項と同等である。
なお，JIS C 0010 : 1993は，IEC 60068-1 : 1988及びAmendment 1 : 1992と一致している。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors. Second edition並びに
Amendment 1 : 1967及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1：Generic specification
及びAmendment 1 : 1992からのすべての引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
IEC QC 001001 : 1986, Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components
(IECQ) Amendment 2 : 1994
IEC QC 001002 : 1986, Rules of procedures of the IEC Quality assessment system for electronic
components (IECQ)
Amendment 2 : 1994
1.4
個別規格に規定する事項 個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は，JIS C 5260-1及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも緩い要求事項を規定し
てはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9（備考2.参照）に規定し，
例えば，アステリスク (＊) を付けて試験計画の中に明示する。
個別規格には，次の事項を規定し，それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。
備考1. この規格の1.4.1及び1.4.3に規定する事項は，一覧表で示してもよい。
2. 原国際規格では1.8と記載されているが，1.9の誤りであり訂正した。
1.4.1
外形図及び寸法 個別規格には，規定する可変抵抗器を図示する。検査に必要な詳細寸法を示すの
に紙面が不足する場合は，附属書を設けて，そこに図面及び寸法を示す。
すべての寸法は，ミリメートルで示す。ただし，元の寸法がインチで示されている場合は，ミリメート
ルに換算した寸法を追記する。
可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には，このことを個別規格に明記する。
1.4.2
取付け 個別規格には，耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法，並びに振動及びバンプ又
は衝撃の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は，通常の方法で取り付ける。可変抵抗器の設
計上特別な取付具を必要とする場合には，個別規格にその取付具を規定し，耐電圧及び絶縁抵抗の試験，
並びに振動及びバンプ又は衝撃の試験に使用する。試験中に寄生振動がないように取り付ける。
3
C 5260-2 : 2000
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1.4.3
形状［JIS C 5260-1の2.2.3（形状）参照］ 形状は，それぞれの個別規格ごとに任意に選択した二
つの文字，例えばABなど2英文字で表す。したがって，この形状の記号は，個別規格の番号が与えられ
なければ意味をなさない。
備考 形状の記号は，JIS C 5260-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4
抵抗変化特性 抵抗変化特性は，一般的に検査しない。必要な場合は，個別規格に測定位置及び出
力電圧比の許容差を規定し，試験計画の中で相当する試験の位置を規定する。
1.4.5
定格及び特性 定格及び特性は，次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。
1.4.5.1
定格抵抗値の範囲 定格抵抗値の範囲は，2.2.1による。
定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063に規定のEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズとする。
備考 IECQの場合は，IECQの品質認証制度によって認定された個別規格の製品と，この規格の定
格抵抗値の範囲が異なる場合には，次の記述を追加する。
“各形状の定格抵抗値範囲は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.5.2
バンプ及び衝撃 バンプ及び衝撃の試験は，そのどちらの試験を適用するかを，個別規格に規定
する。
1.4.6
表示 個別規格に，可変抵抗器及び包装への表示内容を規定する。
なお，この規格の1.5と相違する点があれば，それらを明記する。
1.4.7
発注情報 個別規格には，発注時に次の事項を明確に示すか，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
c) 個別規格の番号及び版に関する情報並びに形状に関する事項
1.4.8
追加情報（検査目的以外のもの） 個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲線，
図面及び備考による情報を含めてもよい。この情報は，検査する必要はない。
1.5
表示 表示は，JIS C 5260-1の2.4（表示）によるほか，次のとおりとする。
1.5.1
一般事項 可変抵抗器に表示する内容は，次の項目から選択する。各項目の重要度は，次の記載順
とする。
a) 定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 抵抗変化特性
d) 引用する個別規格及び形状
e) 製造年月又は製造年週
f)
製造業者名又はその商標
備考 表示内容は，JIS C 5260-1の附属書1によってもよい。
1.5.2
可変抵抗器には，少なくとも1.5.1のa)及びb)を表示し，その他の項目をできるだけ多く明りょう
に表示する。可変抵抗器に表示する項目は，重複を避ける。
備考 表示内容は，JIS C 5260-1の附属書1によってもよい。
1.5.3
可変抵抗器の包装には，1.5.1の項目をすべて表示する。
1.5.4
表示項目を追加する場合には，混乱しないようにする。
4
C 5260-2 : 2000
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第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2.1
推奨特性 個別規格に規定する値は，次の中から選択することが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ この規格に含まれる可変抵抗器は，JIS C 0010の附属書Aに規定する一般
原則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選択する。
カテゴリ下限温度
：−65℃，−55℃，−40℃，−25℃及び−10℃
カテゴリ上限温度
：＋70℃，＋85℃，＋100℃，＋125℃及び＋155℃
高温高湿（定常）の試験期間 ：4日，10日，21日及び56日
低温（耐寒性）及び高温（耐熱性）試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある種の可変抵抗器は，その構造のため，これらの温度がJIS C 0010〜0095に規定する二つの推
奨温度と一致しないことがある。この場合には，可変抵抗器の実際の温度範囲内の最も近い推奨温度を厳
しさとして選択する。
2.1.2
抵抗温度係数及び抵抗温度特性 抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表Iに示す。
表の各欄は，推奨温度係数，20℃〜70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温度
に基づく抵抗温度特性の測定［JIS C 5260-1の4.14（温度による抵抗変化）参照］での抵抗値変化の限界
を規定する。
一つの個別規格の中に，抵抗値範囲を分割してそれぞれに異なる温度特性（又は温度係数）を規定して
もよい。
表に示す以外の測定温度を追加する場合には，個別規格に規定する。
5
C
5
2
6
0
-2
:
2
0
0
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表I 抵抗値変化の推奨限界
温度係数
10-6/℃
温度特性
20℃/70℃
%
抵抗温度特性
（抵抗値の許容変化率 %）
基準温度 ℃／カテゴリ下限温度 ℃
基準温度 ℃/カテゴリ上限温度 ℃
＋20/−65
＋20/−55
＋20/−40
＋20/−25
＋20/−10
＋20/＋85*
＋20/＋100
＋20/＋125
＋20/＋155
−800/−2 500
−4/−12.5
＋6.8/＋21.3
＋6/＋18.75
＋4.8＋15
＋3.6/＋11.3
＋2.4/＋7.5
−5.2/−16.25 −6.4/−20
−8.4/−26.25 −10.8/−33.75
−400/−1 000
−2/−5
＋3.4/＋8.5
＋3/＋7.5
＋2.4/＋6
＋1.8/＋4.5
＋1.2/＋3
−2.6/−6.5
−3.2/−8
−4.2/−10.5
−5.4/−13.5
−150/−600
−0.75/−3
＋1.3/＋5.1
＋1.13/＋4.5
＋0.9/＋3.5
＋0.68/＋2.7
＋0.4/＋1.8
−0.98/−3.9
−1.2/−4.8
−1.58/−6.3
−2.02/−8.1
±1 000
±5
±8.5
±7.5
±6
±4.5
±3
±6.5
±8
±10.5
±13.5
±500
±2.5
±4.3
±3.75
±3
±2.25
±1.5
±3.25
±4
±5.25
±6.75
±250
±1.25
±2.15
±1.88
±1.5
±1.13
±0.75
±1.62
±2
±2.62
±3.38
±150
±0.75
±1.3
±1.15
±0.9
±0.68
±0.45
±0.98
±1.2
±1.6
±2.05
±100
±0.5
±0.85
±0.75
±0.6
±0.45
±0.3
±0.65
±0.8
±1.05
±1.35
±50
±0.25
±0.43
±0.375
±0.3
±0.23
±0.15
±0.325
±0.4
±0.525
±0.675
±25
±0.125
＋0.215
±0.188
±0.15
±0.113
±0.075
±0.162
±0.2
±0.262
±0.34
*
カテゴリ上限温度が85℃の可変抵抗器は，70℃での測定を行わない。
参考 表中の “/” は，温度では二つの試験温度を表し，その他の項目では範囲を表す。
6
C 5260-2 : 2000
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2.1.3
抵抗値又は出力電圧比変化の限界 表IIに各試験での抵抗値又は出力電圧比変化の推奨限界を示
す。
備考 表11の項目番号は，JIS C 5260-1による。
表II 安定性クラス
安
定
性
ク
ラ
ス
%
4.38
一連耐候性
4.39
高温高湿（定常）
4.40
機械的耐久性
4.43.2
70℃での電気的
耐久性
4.43.3
カテゴリ上限温
度での電気的耐
久性
4.34
温度変化
4.30
端子強度
4.33
はんだ耐熱性
4.35
振動（正弦波）
4.36
バンプ
4.37
衝撃
4.43.2
70℃での電気的耐久
性
4.43.3
カテゴリ上限温度で
の電気的耐久性
4.22
操作軸の押
し及び引張
り
4.34
温度変化
4.35
振動（正弦
波）
端子aとcとの間の∆R
備考
原国際規格では端子aとbとの間と記載されて
いるが，端子aとcとの間の誤りであり訂正し
た。
原国際規格では∆R/Rと記載されているが，∆R
の誤りであり訂正した。
端子aとbとの間の∆R
（備考1.参照）
備考 原国際規格では
∆R/Rと記載さ
れているが，∆R
の誤りであり訂
正した。
∆
ac
ab
U
U
∆
ac
ab
U
U
（備考1.及
び2.参照）
（備考1.及
び2.参照）
10 ± (10%R＋0.5Ω)
± (5%R＋0.1Ω)
± (5%R＋0.1Ω)
± (15%R＋0.5Ω)
±5%
±7.5%
5 ± (5%R＋0.1Ω)
± (3%R＋0.1Ω)
± (2%R＋0.1Ω)
± (7.5%R＋0.1Ω)
±2%
±3%
3 ± (3%R＋0.1Ω)
± (2%R＋0.1Ω)
± (1%R＋0.05Ω)
± (5%R＋0.1Ω)
±1%
±2%
2 ± (2%R＋0.1Ω)
± (2%R＋0.1Ω)
± (1%R＋0.05Ω)
± (3%R＋0.1Ω)
±1%
±2%
備考1. 巻線可変抵抗器に対しては，すべての試験の抵抗値又は出力電圧比の許容変化量に個別規格で規定する分解
能を付け加える。
2. 出力電圧比変化∆
ac
ab
U
Uは，全印加電圧に対する百分率で表す。
参考 ∆Rは，抵抗値の変化量を表す。
%Rは，定格抵抗値に対する百分率を表す。
2.1.4
全機械的操作範囲 推奨値を次に示す。
a) ねじ駆動形半固定可変抵抗器：4回転，15回転，22回転及び30回転。
b) 単回転形半固定可変抵抗器：角度を個別規格に規定する。
2.2
推奨定格値 個別規格に規定する値は，次の各項の中から選択することが望ましい。
2.2.1
定格抵抗値 JIS C 5260-1の2.3.2（定格抵抗値の推奨値）による。
2.2.2
定格抵抗値の許容差 定格抵抗値の許容差の推奨値は，次による。
±30%，±20%，±10%及び±5%
2.2.3
定格電力 70℃での定格電力の推奨値は，次による。
0.05W，0.063W，0.125W，0.25W，0.5W，0.75W，1W，2W及び3W
70℃を超える温度での電力の軽減値は，次の曲線による。
7
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
上の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には，より広い動作領域を個別規格に規定
してもよい。この場合には，個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし，曲線上
の折れ点を，試験によって確認しなければならない。
動作領域が広げられた軽減曲線の例。
2.2.4
素子最高電圧（最高使用電圧） 素子最高電圧の推奨値は，次による。
100V，125V，160V，200V，250V及び315V（直流又は交流実効値）
2.2.5
アイソレーション電圧 アイソレーション電圧は，丸めて10V単位の値とし，個別規格に規定す
る。アイソレーション電圧の値は，次による。
大気圧下：素子最高電圧の1.42倍以上
備考 JIS C 5260-1の2.2.17（アイソレーション電圧）に合わせて変更した。
減圧下：8kPaでのアイソレーション電圧は，大気圧下での2/3倍
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.2.6
絶縁抵抗 個別規格に規定がない限り，絶縁抵抗は，高温（耐熱性）試験後で1GΩ以上，耐湿性
試験後で100MΩ以上とする。
2.3
推奨する試験の厳しさ 個別規格に規定する試験の厳しさは，次の中から選択することが望ましい。
2.3.1
乾燥 JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
2.3.2
振動（正弦波） JIS C 5260-1の4.3.5［振動（正弦波）］及び次の条件を適用する。
振動数範囲：次のどれかとする。
10Hz〜55Hz
10Hz〜500Hz
10Hz〜2kHz
振幅：0.75mm又は加速度98m/s2（どちらか緩い方）
8
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
掃引耐久試験
総試験時間：6h
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.3
バンプ JIS C 5260-1の4.36（バンプ）及び次の条件を適用する。
ピーク加速度：400m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
バンプ回数：合計4 000
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.4
衝撃 JIS C 5260-1の4.37（衝撃）及び次の条件を適用する。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：500m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
作用時間：11 ms
厳しさ：試料の一方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.5
減圧 JIS C 5260-1の4.38.5（減圧）及び次の条件を適用する。
気圧：8kPa
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.3.6
温度変化 JIS C 5260-1の4.34（温度変化）及び次の条件を適用する。
低温及び高温に放置する時間は，30分間とする。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1
構造的に類似な可変抵抗器 構造的に類似な可変抵抗器とは，抵抗値及び温度特性が異なっていて
も，同様な工程及び材料で製造され，同一の形状，構造であり，同一の操作軸及び取付ねじをもつ可変抵
抗器とする。
3.2
品質認証 品質認証試験の手順は，JIS C 5260-1の3.4（品質認証手順）による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は，この規格の3.3による。
定数抜取数の試験計画を用いた手順は，次の3.2.1及び3.2.2による。
3.2.1
定数抜取手順に基づく品質認証 定数抜取りの手順は，JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は，
認証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは，個別規格に規定している全範囲でなく
てもよい。
試料は，認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には，その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には，別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして，認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は，製造業者の管理責
任者が提案する。IECQの場合は，国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は，次の場合に使用する。
a) 群 “O” で許容不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個，各抵抗温度係数又は温度特性ごとに1
9
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個，各抵抗温度係数又
は温度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には，追加した試験群に必要な試料数を群 “O” に
追加する。
3.2.2
試験 個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために，表IIIに規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は，記載の順で行う。
全試料について，群 “0” の試験を行い，その後にその他の群に分割する。
群 “O” の試験での不良品は，その他の群に使用してはならない。
1個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には，“1個の不良”として数える。
不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IIIに定数抜取りの試験計画を示す。これは，各試験群ごとの抜取方法，合格判定個数及び
総合格判定個数の個別規定を含み，また，JIS C 5260-1の表4章（試験及び測定方法）及びこ
の規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表IIIは，試験方法，試験条件及び／又は要求性能について個別規格に規定するための選択
内容を示す。
定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は，品質確認検査について個別規格に
規定する内容と同一とする。
表III 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の“厳しさ”の一部
及び抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は，この規格の関連項目による。
2. この表で，
n＝試料数
c＝合格判定個数（群当たりの許容不良数）。群2では，(1)，(2)及び(3)でそれぞれ1個の不良は許
容されるが，群合計では2個以内とする。
t＝総合格判定個数（一つ又は幾つかの連結された群，例えば，群0，群1，群2〜7に対する許容
不良数）
D＝破壊試験
ND＝非破壊試験
参考 表中の “∆ac
ab
U
U” は，全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
表中の “∆R” は，抵抗値の変化量を表す。
表中の “%R” は，定格抵抗値に対する百分率を表す。
10
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表III 品質認証の試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群0
4.4.1 外観
4.6 素子抵抗値
4.4.2 寸法
（ゲージ法）
4.7 端子間抵抗値
（最小抵抗値）
4.4.4 全機械的操作範囲
4.6 有効電気的操作範囲
4.5 連続性
4.15 しゅう動雑音
4.12 耐電圧
ND
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
− ねじ駆動形
有効操作サイクル数
− 回転形
− ねじ駆動形
− 回転形
備考3.による。
方法B，⊿θ0：…
（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法：備考9.による。）
大気圧下
46＋3
（備考
8.参照）
1
1
4.4.1による。
表示が明りょうで，個別規
格の規定による。
4.6.3による。
個別規格の規定による。
R≦…Ω
R≦…Ω
全機械的操作範囲の70%以
上
個別規格の規定による。
測定された全機械的操作範
囲の70%以上
個別規格の規定による。
4.5.2による。
R≦…Ω
4.12.5による。
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C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群1
4.18 始動トルク
4.32 はんだ付け性
4.45 表示の耐溶剤性（適用
する場合）
4.14 抵抗温度特性
4.21 操作軸固定トルク
（適用する場合）
4.20 回転止め強度
D
はんだ槽法
温度：235℃±5℃
浸せき時間：2s±0.5s
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法1
ラビングの材質：脱脂綿
後処理：…
カテゴリ下限温度/20℃
20℃/70℃
20℃/カテゴリ上限温度
出力電圧比
外観
− 回転止めを備えた形式：
4.20.1を適用
始動トルクの上限の5倍以上（個
別規格に規定がない場合）
−クラッチ空転機構を備えた形式：
4.20.2を適用
8
1
1
個別規格の規定による。
端子は，はんだが良好に付
着している。
表示が明りょうである。
∆R/R≦…%
∆R/R≦…%
∆R/R≦…%
∆ac
ab
U
U
≦…%
4.21.2による。
備考
原国際規格では，
4.21.3と記載され
ているが，4.21.2
の誤りであり訂正
した。
4.20.1による。
4.20.2による。
4.22 操作軸の押し及び引
張り
4.40 機械的耐久性（可変抵
抗器）
押しだけを適用し，引張りは適用しない。
− 半数の試料：4.22.2を適用
連続性
− 残りの試料：4.22.3を適用
出力電圧比（参考参照）
操作サイクル数：200
操作速度：
− 回転形：5サイクル/min〜10サイクル
/min
− ねじ駆動形：…
外観
素子抵抗値
始動トルク
しゅう動雑音
方法B，∆θ0：…
4.22.2による。
∆ac
ab
U
U
≦…%
4.40.6による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
…mN･m〜…mN･m
R≦…Ω
12
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群2
D
13
2
4.30.8による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
∆R≦± (…%R＋…Ω)
R≦…Ω
R≦…Ω
個別規格の規定による。
4.31.3による。
(1) 試料数7
4.30 端子強度
4.33 はんだ耐熱性
4.44 本体の耐溶剤性（適用
する場合）
4.31 封止
（適用する場合）
端子の形式に適応した試験を行う。
外観
素子抵抗値
− プリント配線板用の可変抵抗器の場
合：方法1A
− その他の可変抵抗器の場合：方法1B
素子抵抗値
端子間抵抗値：
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法2
後処理：…
温度：85℃〜90℃
7
1
(2) 試料数6
4.34 温度変化
備考4による。
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
備考 記号θA及びθBをTA及びTBに
変更した。
外観
出力電圧比
素子抵抗値
6
1
4.34.5による。
∆ac
U
ab
U
≦…%
∆R≦± (…%R＋…Ω)
13
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
4.36 バンプ（又は4.37衝
撃）（備考5.参照）
4.37 衝撃（又は4.36バン
プ）（備考5.参照）
4.35
振動（正弦波）
（備考6.参照）
取付方法：個別規格の規定による。
ピーク加速度：400m/s2
（この規格の2.3.3参照）
パンプ回数：4 000
外観
素子抵抗値
取付方法：個別規格の規定による。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：500m/s2
（この規格の2.3.4参照）
作用時間：11ms
外観
素子抵抗値
取付方法：個別規格の規定による。
掃引耐久試験
振動数範囲：…Hz〜…Hz
振幅：0.75mm又は加速度98m/s2（どちら
か緩い方）
総試験時間：6h
備考4.による。
試験中の測定
電気的連続性
（4.35.4を適用）
最終測定
外観
出力電圧比
素子抵抗値
4.36.3による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
4.37.3による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
100μsを超える不連続がな
い。
4.35.5による。
∆ac
ab
U
U
≦…%
∆R≦± (…%R＋…Ω)
14
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
(3) すべての試料
4.38 一連耐候性
−高温（耐熱性）
−温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル）
の最初のサイクル
−低温（耐寒性）
−減圧
−温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル）
の残りのサイクル
−直流負荷
−アイソレーション電圧
−最終測定
外観
始動トルク
8kPa（この規格の2.3.5参照）
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法：備考9.による。）
備考7.による。
備考7.による。
外観
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法：備考9.による。）
連続性
始動トルク
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法：備考9.による。）
13
1 2
4.38.2.2による。
…mN･m〜…mN･m
4.38.5.3による。
4.38.8による。
4.38.10.1による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
R≧100MΩ
4.5.1による。
…mN･m〜…mN･m
4.38.10.7による。
群3
4.43.2 70℃での電気的耐久
性
D
試験時間：1 000h
− 端子aとcとの間に負荷：48h，500h
及び1 000hでの
検査：
外観
素子抵抗値
− 端子aとbとの間に負荷：48h，500h
及び1 000hでの
検査：
外観
端子aとbとの間の抵抗値
素子抵抗値
すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけに適
用）（取付方法：備考9.による。）
しゅう動雑音
方法B，∆θ0：…
8
1
4.43.2.6 a)による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
4.43.2.6 a)による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
∆R≦± (…%R＋…Ω)
R≧1GΩ
R≦…Ω
群4
4.4.3
寸法（詳細）
ND
8
1
個別規格の規定による。
15
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群5
4.39 高温高湿
（定常）
D
1)
4.39.2.1
第1のグループ：試料数2
第2のグループ：試料数3
第3のグループ：試料数3
2)
4.39.2.2
第1のグループ：試料数4
第2のグループ：試料数4
直流負荷（備考7.による。）
アイソレーション電圧（備考7.に
よる。取付方法：備考9.による。）
最終測定
外観
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけに適
用）（取付方法：備考9.による。）
連続性
始動トルク
しゅう動雑音
方法B，∆θ0：…
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法：備考9.による。）
8
1
4.39.4による。
4.39.6.1による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
R≧100MΩ
4.5.1による。
…mN･m〜…mN･m
R≦…Ω
4.39.6.8による。
群6
4.43.3 カテゴリ上限温度で
の電気的耐久性
D
試験時間：1 000h
− 端子aとcとの間に負荷：48h，500h
及び1 000hでの
検査：
外観
素子抵抗値
− 端子aとbとの間に負荷：48h，
500h及び1 000hでの
検査：
外観
端子aとbとの間の抵抗値
素子抵抗値
すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけに適
用）（取付方法：備考9.による。）
8
1
4.43.3.7 a)による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
4.43.3.7 a)による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
∆R≦± (…%R＋…Ω)
R≧1GΩ
16
C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又
は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合格
判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群7
4.43 70℃以外の温度での
電気的耐久性（適用する場
合）
D
（この群は，この規格の2.2.3に規定する
ものと異なる軽減曲線を個別規格で規定
する場合だけに適用する。）
試験時間：1 000h
− 端子aとcとの間に負荷：48h，500h
及び1 000hでの
検査：
外観
素子抵抗値
− 端子aとbとの間に負荷：48h，500h
及び1 000hでの
検査：
外観
端子aとbとの間の抵抗値
素子抵抗値
すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法：備考9.による。）
8
1
4.43.1.6 a)による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
（群3と同じ）
4.43.1.6 a)による。
∆R≦± (…%R＋…Ω)
（群3と同じ）
∆R≦± (…%R＋…Ω)
R≧1GΩ
備考3. 連続性の試験は，有効電気的操作範囲の試験中に行ってもよい。
4. 試験方法は，半固定可変抵抗器についての要求事項を適用する。
5. バンプ試験及び衝撃試験は，どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
6. この試験は，耐候性カテゴリが25/-/-，40/-/-，55/-/-及び65/-/-の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は，どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規
格に規定する。
8. 群 “7” を適用する場合は，群 “0” の試料数を8個増やす。
9. 取付方法は，JIS C 5260-1の4.12（耐電圧）及び4.13（絶縁抵抗）の該当する方法によるほか，次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は，JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されている可変抵抗器は，本体で取り付ける穴があっても，端子でプリント配
線板に取り付けて試験する。
参考 原国際規格では，出力電圧比 (Output ratio) が記載されていないが，記載漏れであり追加した。
3.3
品質確認検査
3.3.1
検査ロットの構成 検査ロットは，同一形状で構造的に類似な可変抵抗器（3.1参照）で構成し，
次による。
a) 群A及び群B：製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C：
1) 試料は，13週にわたって集める。
2) 試料は，期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D：群Cと同じとする。ただし，試料は，検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は，高抵抗値，低抵抗値及び臨界抵抗値の釣り合いが十分にとれているものとする。
3.3.2
試験計画 品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブ
ランク個別規格JIS C 5260-2-1及びJIS C 5260-2-2の第2章（検査の要求事項）の表IIに示す。
備考 1992年にIEC 60393-2-2（評価水準F）が制定されたため，JIS C 5260-2-2として追加した。
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C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.3.3
評価水準 ブランク個別規格に規定する評価水準は，次の表IVA及び表IVBから選択することが
望ましい。
表IVA 評価水準とロットごとの品質確認検査
検査副群**
D*
E
F***
G*
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
A1
II
4.0
S-3
4.0
A2
II
1.0
S-3
1.5
A3
S-2
4.0
S-3
2.5
A4
S-3
1.0
Bl
S-2
1.5
S-2
1.5
B2
S-2
1.5
IL ＝検査水準
AQL＝合格品質水準
表IVB 評価水準と定期的品質確認検査
検査副群**
D*
E
F***
G*
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
C1
3
8
1
3
5
1
C2
3
13
2
3
5
1
C3
3
8
1
6
8
1
C4
3
8
1
D1
12
8
1
12
5
1
D2
36
8
1
12
8
1
D3
36
8
1
12
5
1
D4A
24
4
1
D4B
24
4
1
D4
36
8
1
24
8
2
D5
24
5
1
p＝周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定個数
表IVA及び表IVBについての備考
*
評価水準D及びGは，検討中。
**
検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の第2章（検査の要求事項）に規定する。
*** 1992年にIEC 60393-2-2（評価水準F）が制定されたため，表IVA及び表IVBの評価水準Fに
追加した。
3.4
長期保管後の出荷 検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2（長期保管後の出荷）の規定を適
用する。
関連規格 JIS C 5260-2-1 電子機器用可変抵抗器−第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半
固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 電子機器用可変抵抗器−第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半
固定可変抵抗器 評価水準F
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
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C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学 名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
窪 田 明
通商産業省
橋 爪 邦 隆
通商産業省
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 己
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
辻 伊佐男
株式会社タイツウ
川 井 一 成
ルビコン株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
吉 田 實
東北アルプス株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司
アルプス株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
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C 5260-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5260-2分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
（委員）
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
松 浦 伸 夫
栄通信工業株式会社
吉 田 實
東北アルプス株式会社
本 田 義 夫
KOA株式会社
大 浦 昭 夫
高信頼性部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 本 克 己
ソニー株式会社
林 里 史
ツバメ無線株式会社
赤 津 洋 一
帝国通信工業株式会社
中 島 久 男
日本電気株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
野 津 秀 雄
株式会社村田製作所
曽我部 浩 二
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会