C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 3
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 9
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 9
3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 9
3.3 出荷ロットの成績証明書 ································································································· 9
3.4 品質認証 ······················································································································ 9
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 14
4 試験及び測定手順 ············································································································ 15
4.1 一般 ··························································································································· 15
4.2 外観及び寸法 ··············································································································· 15
4.3 電気的試験 ·················································································································· 15
4.4 静電容量の温度係数（α）及び温度サイクルによる静電容量のずれ ········································· 17
4.5 端子強度 ····················································································································· 18
4.6 はんだ耐熱性 ··············································································································· 18
4.7 はんだ付け性 ··············································································································· 18
4.8 温度急変 ····················································································································· 19
4.9 振動 ··························································································································· 19
4.10 バンプ（繰返しのある衝撃） ························································································· 19
4.11 衝撃（繰返しのない衝撃） ···························································································· 20
4.12 一連耐候性 ················································································································· 20
4.13 高温高湿（定常） ········································································································ 22
4.14 耐久性 ······················································································································· 23
4.15 部品の耐溶剤性 ··········································································································· 24
4.16 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 24
附属書A（規定）温度係数及びサブクラスの温度に対する静電容量変化の限界値 ····························· 25
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって，JIS C 5101-8:2008は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水
準EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
（3）
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ
ンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
（4）
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
日本工業規格 JIS
C 5101-8：2018
(IEC 60384-8：2015)
電子機器用固定コンデンサ−
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 8: Sectional specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1
序文
この規格は，2015年に第4版として発行されたIEC 60384-8を基に，技術的内容及び対応国際規格の構
成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電子機器用固定磁器コンデンサ 種類1（温
度補償用）について規定する。この規格は，電子機器の温度補償に用いる，種類1に分類する磁器誘電体
の固定コンデンサ（以下，コンデンサという。）に適用する。また，この種類1のリードレスのコンデンサ
にも適用するが，表面実装用固定積層磁器コンデンサ 種類1は，JIS C 5101-21を適用する。
電磁障害防止用固定コンデンサは，この規格を適用しないでJIS C 5101-14を適用する。
注記1 リードレスのコンデンサとは，“丸形，外装なし，引出し端子なし，電極反対方向”，“丸形，
金属ケース，ラグ端子，1端接地，取付構造付き”などの形状をいう。ただし，“円筒形（チ
ップ）”は除く。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-8:2015，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 8: Sectional specification:
Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
1.2
目的
この規格の目的は，コンデンサの推奨する定格及び特性について規定するとともに，JIS C 5101-1から
適切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般要求事項を規定することである。この品種別
通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は，この規格と同等又は高い水準とする。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
2
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
注記 対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 60063:2018 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記1 対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1: 1967及びAmendment 2: 1977（IDT）
注記2 対応国際規格IEC 60063は2015年に改正されており，この最新版のIEC規格に基づくJIS
を採用した。
JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部：通則及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-1:2013，Environmental testing−Part 1: General and guidance（IDT）
JIS Z 8601:1954 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3:1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers（MOD）
1.4
個別規格に規定する事項
1.4.1
一般
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格には，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を
規定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，
試験計画の中に，例えば，アステリスク（*）を付けて明示する。
1.4.2の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
個別規格に1.4.2〜1.4.5の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定すること
が望ましい。
1.4.2
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。
コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，全ての
寸法は，ミリメートル（mm）で規定する。
一般的に，寸法表示は，本体の長さ，幅，高さ及び端子間距離とし，円筒形の場合は，本体の直径及び
長さ並びに端子の長さ及び直径を規定する。多数のコンデンサ（公称静電容量と定格電圧との組合せ範囲）
を一つの個別規格に規定するなど必要な場合は，寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。
形状が上記と異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合は，個別規格にそのことを明記する。
1.4.3
取付け
通常の取付方法，並びに振動及びバンプ又は衝撃試験を行う場合の取付方法を，個別規格に規定する。
コンデンサによっては，特別な取付具を用いる設計のものがある。この場合は，個別規格にその取付具の
ことを記載し，振動及びバンプ又は衝撃試験を行う場合には，この取付具を用いる。
1.4.4
定格及び特性
1.4.4.1
一般
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
3
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
1.4.4.2
公称静電容量範囲
2.2.4.1による。
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが
異なるとき，次の文章を追加する。“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認証電子部品一覧表
（QPL）による。”
1.4.4.3
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合には，それを追加してもよい。
1.4.4.4
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法，厳しさ及び要求事項は，個別規格の規定によ
る。
1.4.5
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合は，
その事項を個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1によるほか，次による。
1.5.1
固定磁器コンデンサ 種類1（fixed capacitors ceramic dielectric，Class 1）
電子機器の共振回路，その他一般に損失が低く，温度などに対する静電容量の安定性が必要な回路で，
主に温度補償用に用いる磁器を誘電体としたコンデンサ。
注記 この磁器の誘電体は，公称温度係数（α）によって区別している。
1.5.2
サブクラス（subclass）
公称温度係数とその許容差との組合せ（表2参照）。
注記 公称温度係数及びその許容差は，温度範囲が＋20 ℃〜＋85 ℃のものである。ただし，温度と
静電容量との関係（TC curve）は厳密には直線ではない。また，その他の温度に対する静電容
量変化率（ΔC/C）の限界値を規定する必要がある（表3参照）。同じ事項を図A.1〜図A.15に
示している。これらの図は，使用者がある温度Tでの静電容量の変化値から温度係数1/C×
(dC/dT)Tの値及びその範囲を推定するのに用いるものであり，試験及び測定に必要なものでは
ない。
1.5.3
定格電圧，UR（rated voltage）
定格温度でコンデンサの端子に連続して印加してもよい最高直流電圧。
注記1 最高直流電圧は，コンデンサに印加する直流電圧と，交流電圧のピーク値又はパルス電圧の
ピーク値との和である。
注記2 この定義は，JIS C 5101-1の2.2.25（定格電圧）の定義“定格温度でコンデンサに連続して印
加してもよい最高直流電圧”に対し，“コンデンサ”の後に“の端子”を付加し規定した。
1.6
表示
1.6.1
一般
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
表示事項は，一般的に，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順とする。
4
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
a) 公称静電容量
b) 定格電圧（直流電圧は，記号 又は で表してもよい。）
c) 公称静電容量許容差
d) 公称温度係数，余裕がある場合は，その許容差記号（表2参照）
e) 製造年月（又は年週）
f)
製造業者名又はその商標
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i)
引用個別規格
b)及びd)で要求する情報は，製造業者又は製造国によって指定する形式若しくは形名による記号によっ
て表してもよい。
1.6.2
公称温度係数及びその許容差の記号の表示
公称温度係数及びその許容差の記号は，表2による。色表示を行う場合は，点，すじ又はリングで表し，
2色の場合は，第2の色を本体の色又は表示の色によって決める。
1.6.3
コンデンサ本体への表示
コンデンサには，1.6.1のa)，b)，c)及び必要な項目をできるだけ多く，明瞭に表示する。コンデンサの
表示内容の重複は，避けることが望ましい。
1.6.4
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.1の全ての項目を明瞭に表示する。
1.6.5
表示の追加
表示項目を追加する場合は，混乱しないように表示する。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
この規格に規定するコンデンサは，JIS C 60068-1の附属書A（部品の耐候性カテゴリー）に規定する一
般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃
− カテゴリ上限温度：＋70 ℃，＋85 ℃，＋100 ℃及び＋125 ℃
− 高温高湿（定常）（温度40 ℃，相対湿度93 %）の試験期間：4日，10日，21日及び56日
低温及び高温試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格温度
この規格に規定するコンデンサの定格温度は，カテゴリ上限温度と等しい。
2.2.2
定格電圧（UR）
定格電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR5標準数列に従って，次による。
R5標準数列を適用した推奨電圧：25 V，40 V，63 V，100 V，160 V，250 V，400 V，630 V，1 000 V，
1 600 V，2 500 V，4 000 V及び6 300 V
ただし，その他の値が必要な場合は，R10標準数列を用いてもよい。
R10標準数列を適用した推奨電圧：50 V，200 V，500 V，2 000 V，3 150 V及び5 000 V
5
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は，定格電圧以下とする。また，交流電圧
のピーク値は，コンデンサの許容電流で決定される値以下とする。
注記 この“許容電流”は，対応国際規格では“permissible reactive power”となっているが，磁器コ
ンデンサでは，高い周波数域では自己発熱量で制限され，すなわち，許容電流で交流電圧のピ
ーク値は決定されると説明できるため，“許容電流”に読み替えることができる（図0A参照）。
許
容
印
加
電
圧
周波数
図0A−周波数と許容電圧との関係
2.2.3
カテゴリ電圧（UC）
定格温度がカテゴリ上限温度と同じであるため，JIS C 5101-1の2.2.5（カテゴリ電圧）によって，カテ
ゴリ電圧は，定格電圧と等しい。
2.2.4
公称静電容量及びその許容差
2.2.4.1
公称静電容量（CN）の推奨値
公称静電容量値は，JIS C 60063に規定するE6，E12及びE24の標準数列から選定することが望ましい。
注記 この細分箇条の対応国際規格のタイトルが，明らかな誤記のため，この細分箇条の本文に合わ
せて公称静電容量に修正した。
2.2.4.2
公称静電容量許容差の推奨値
公称静電容量許容差の推奨値を，表1に示す。
表1−公称静電容量許容差の推奨値
標準数列
CN≧10 pF
CN＜10 pF
許容差
記号
許容差
記号
E6
±20 %
M
±2 pF
G
E12
±10 %
K
±1 pF
F
±5 %
J
±0.5 pF
D
E24
±2 %
G
±0.25 pF
C
±1 %
F
±0.1 pF
B
2.2.5
静電容量の温度係数（α）
2.2.5.1
公称温度係数及び許容差
1ケルビン当たりの百万分率（10−6/K）で表した温度係数及びその許容差並びにそのサブクラス及び記
号を，表2に示す。
個別規格には，それぞれの公称温度係数に対して，その温度係数の許容差を確認できる静電容量の最低
値を規定する。また，この最低値は，規定する静電容量測定方法の確度を考慮する。
静電容量値がこの最低値よりも低い場合は，次による。
せん（尖）頭電圧の和（Peak-to-peak volt
又はZero-to-peak volt）
自己発熱での規制
静電容量による自己発熱の差
6
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
a) 個別規格には，カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電容量の許容変化値である温度係数
（α）の許容差に対する増加係数を規定する。
b) 測定に特殊な方法が必要な場合は，個別規格に規定する。
2.2.5.2
静電容量変化の許容差
表3の温度係数及びサブクラスにおける温度に対する静電容量変化の限界値を，図A.1〜図A.15に示す。
表2−公称温度係数及びその許容差
公称温度係数（α）
10−6/K
温度係数の許容差
10−6/K
サブクラス
記号
温度係数の色表示
α
許容差
＋100
±15
1A
A
F
赤＋紫
±30
1B
G
0
±15
1A
C
F
黒
±30
1B
G
±60
1F
H
−33
±15
1A
H
F
茶色
±30
1B
G
−75
±15
1A
L
F
赤
±30
1B
G
−150
±15
1A
P
F
黄赤
±30
1B
G
±60
1F
H
−220
±15
1A
R
F
黄
±30
1B
G
±60
1F
H
−330
±30
1A
S
G
緑
±60
1B
H
−470
±30
1A
T
G
青
±60
1B
H
−750
±60
1A
U
H
紫
±120
1B
J
±250
1F
K
−1000
±60
1A
Q
H
赤＋黄
±120
1B
J
±250
1F
K
−1500
±250
1F
V
K
黄赤＋黄赤
−2200
±500
1F
K
L
黄＋黄赤
−3300
±500
1F
D
L
緑＋黄赤
−4700
±1000
1F
E
M
青＋黄赤
−5600
±1000
1F
F
M
黒＋黄赤
＋140≧α≧−1 000
a)
1C
SL
−
灰色
＋250≧α≧−1 750
a)
1D
UM
−
白
注記1 下線は，推奨する温度係数（α）を示す。
注記2 温度係数＋33×10−6/K及び−47×10−6/Kは，要求がある場合に使用する。
注記3 温度係数及びその許容差は，温度20 ℃と温度85 ℃との間の静電容量の変化で定義している。
注記4 温度係数0×10−6/Kで許容差±30×10−6/Kのコンデンサを，CGコンデンサ（サブクラス1B）ともいう。
注a) この温度係数は，表3に静電容量の許容変化率の規定がないため，検査の対象とはしない。
7
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表3−静電容量変化許容値
温度20 ℃と表中の温度との間の静電容量変化許容値 （×10−3）
カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
α
10−6/K
許容差
10−6/K
−55 ℃
−40 ℃
−25 ℃
−10 ℃
＋70 ℃
＋85 ℃
＋100 ℃
＋125 ℃
＋100
±15 （F）
−8.63/−5.08
−6.90/−4.06
−5.18/−3.05
−3.45/−2.03
4.25/5.75
5.53/7.48
6.80/9.20
8.93/12.1
±30 （G）
−9.75/−3.71
−7.80/−2.96
−5.85/−2.22
−3.90/−1.48
3.50/6.50
4.55/8.45
5.60/10.4
7.35/13.7
0
±15 （F）
−1.13/4.07
−0.900/3.26
−0.675/2.44
−0.450/1.63
−0.750/0.750
−0.975/0.975
−1.20/1.20
−1.58/1.58
±30 （G）
−2.25/5.45
−1.80/4.36
−1.35/3.27
−0.900/2.18
−1.50/1.50
−1.95/1.95
−2.40/2.40
−3.15/3.15
±60 （H）
−4.50/8.19
−3.60/6.55
−2.70/4.91
−1.80/3.28
−3.00/3.00
−3.90/3.90
−4.80/4.80
−6.30/6.30
−33
±15 （F）
1.35/7.09
1.08/5.67
0.810/4.26
0.540/2.84
−2.40/‒0.900
−3.12/−1.17
−3.84/−1.44
−5.04/−1.89
±30 （G）
0.225/8.46
0.180/6.77
0.135/5.08
0.090/3.39
−3.15/‒0.150 −4.10/−0.195
−5.04/0.240
−6.62/−0.315
−75
±15 （F）
4.50/10.9
3.60/8.75
2.70/6.56
1.80/4.37
−4.50/‒3.00
−5.85/−3.90
−7.20/−4.80
−9.45/−6.30
±30 （G）
3.38/12.3
2.70/9.85
2.03/7.38
1.35/4.92
−5.25/‒2.25
−6.83/−2.93
−8.40/−3.60
−11.0/−4.73
−150
±15 （F）
10.1/17.8
8.10/14.2
6.08/10.7
4.05/7.12
−8.25/‒6.75
−10.7/−8.78
−13.2/−10.8
−17.3/−14.2
±30 （G）
9.00/19.2
7.20/15.3
5.40/11.5
3.60/7.67
−9.00/‒6.00
−11.7/−7.80
−14.4/−9.60
−18.9/−12.6
±60 （H）
6.75/21.9
5.40/17.5
4.05/13.1
2.70/8.77
−10.5/‒4.50
−13.7/−5.85
−16.8/−7.20
−22.1/−9.45
−220
±15 （F）
15.4/24.2
12.3/19.4
9.23/14.5
6.15/9.68
−11.8/‒10.3
−15.3/−13.3
−18.8/−16.4
−24.7/−21.5
±30 （G）
14.3/25.6
11.4/20.5
8.55/15.3
5.70/10.2
−12.5/‒9.50
−16.3/−12.4
−20.0/−15.2
−26.3/−20.0
±60 （H）
12.0/28.3
9.60/22.7
7.20/17.0
4.80/11.3
−14.0/‒8.00
−18.2/−10.4
−22.4/−12.8
−29.4/−16.8
−330
±30 （G）
22.5/35.6
18.0/28.5
13.5/21.4
9.00/14.3
−18.0/−15.0
−23.4/−19.5
−28.8/−24.0
−37.8/−31.5
±60 （H）
20.3/38.4
16.2/30.7
12.2/23.0
8.10/15.4
−19.5/−13.5
−25.4/−17.6
−31.2/−21.6
−41.0/−28.4
−470
±30 （G）
33.0/48.5
26.4/38.8
19.8/29.1
13.2/19.4
−25.0/−22.0
−32.5/−28.6
−40.0/−35.2
−52.5/−46.2
±60 （H）
30.8/51.2
24.6/41.0
18.5/30.7
12.3/20.5
−26.5/−20.5
−34.5/−26.7
−42.4/−32.8
−55.7/−43.1
−750
±60 （H）
51.8/76.8
41.4/61.5
31.1/46.1
20.7/30.7
−40.5/−34.5
−52.7/−44.9
−64.8/−55.2
−85.1/−72.5
±120 （J）
47.3/82.3
37.8/65.8
28.4/49.4
18.9/32.9
−43.5/−31.5
−56.6/−41.0
−69.6/−50.4
−91.4/−66.2
±250 （K）
37.5/94.2
30.0/75.4
22.5/56.5
15.0/37.7
−50.0/−25.0
−65.0/−32.5
−80.0/−40.0
−105/−52.5
−1000
±60 （H）
70.5/99.7
56.4/79.8
42.3/59.8
28.2/39.9
−53.0/−47.0
−68.9/−61.1
−84.8/−75.2
−111/−98.7
±120 （J）
66.0/105
52.8/84.1
39.6/63.1
26.4/42.1
−56.0/−44.0
−72.8/−57.2
−89.6/−70.4
−118/−92.4
±250 （K）
56.3/117
45.0/93.7
33.8/70.2
22.5/46.8
−62.5/−37.5
−81.3/−48.8
−100/−60.0
−131/−78.8
−1500
±250 （K）
93.8/163
75.0/130
56.3/97.7
37.5/65.1
−87.5/−62.5
−114/−81.3
−140/−100
−184/−131
−2200
±500 （L）
128/250
102/200
76.5/150
51.0/99.9
−135/−85.0
−176/−111
−216/−136
−284/−179
−3300
±500 （L）
210/350
168/280
126/210
84.0/140
−190/−140
−247/−182
−304/−224
−399/−294
2
C
5
1
0
1
-8
：
2
0
1
8
(I
E
C
6
0
3
8
4
-8
：
2
0
1
5
)
8
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表3−静電容量変化許容値（続き）
温度20 ℃と表中の温度との間の静電容量変化許容値（×10−3）
カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
α
10−6/K
許容差
10−6/K
−55 ℃
−40 ℃
−25 ℃
−10 ℃
＋70 ℃
＋85 ℃
＋100 ℃
＋125 ℃
−4700
±1000 （M）
278/524
222/419
167/315
111/210
−285/−185
−371/−241
−456/−296
−599/−389
−5600
±1000 （M）
345/607
276/485
207/364
138/243
−330/−230
−429/−299
−528/−368
−693/−483
注記1 下線は，推奨する温度係数（α）を示す。
注記2 温度＋20 ℃〜カテゴリ上限温度の温度範囲における温度係数限界値は，公称温度係数及びその許容差によって算出している［注記3のa)参照］。
温度＋20 ℃〜−55 ℃の温度範囲における温度係数限界値は，注記3のb)及びc)によって算出している。
注記3 カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容限界値は，次の式を用いて算出している。
a) カテゴリ上限温度における静電容量の変化許容範囲 ΔC/C（10−3）＝（公称温度係数±温度係数許容差）×（カテゴリ上限温度−20）/1 000
b) カテゴリ下限温度における静電容量の変化許容下限値 ΔC/C（10−3）＝（公称温度係数＋温度係数許容差）×（カテゴリ下限温度−20）/1 000
c) カテゴリ下限温度における静電容量の変化許容上限値
ΔC/C（10−3）＝［(−36)−（1.22×公称温度係数許容差）＋（0.22×公称温度係数）＋公称温度係数］×（カテゴリ下限温度−20）/1 000
ここに，“温度係数許容差”は，絶対値である。
注記4 表中の表記A（数値）/B（数値）のAは下限値を示し，Bは上限値を示している。
2
C
5
1
0
1
-8
：
2
0
1
8
(I
E
C
6
0
3
8
4
-8
：
2
0
1
5
)
9
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
単板形のコンデンサの製造の初期工程は，誘電体表面への電極形成工程とする。また，積層形のコンデ
ンサでは，誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，類似の工程及び類似の材料で
製造したコンデンサとする。
3.3
出荷ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは，JIS C 5101-1のQ.9（出荷ロット成績証明
書）によって出荷ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求する性能値は，静電容量の変化，
誘電正接（tan δ）及び絶縁抵抗とする。
3.4
品質認証
3.4.1
一般
品質認証の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2
定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は，JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証用試験手順）のb)の規定による。試料は，認証を得よ
うとする全てのコンデンサの範囲を代表し，個別規格に規定する全ての範囲，又はその一部でもよい。
温度係数の各々に対する試料は，定格電圧の最低値及び最高値と，それぞれの最小公称静電容量及び最
大公称静電容量との4組合せ（定格電圧と公称静電容量との組合せ）で構成する。定格電圧が5種類以上
の場合は，中間の定格電圧のものも追加試験する。このように一つの認証範囲の試験には，4組合せ又は6
組合せのものを試料とする。認証範囲からの試料数が3組合せ以下の場合の試料数は，4組合せと同じと
する。温度係数が二つ以上のものについて，同時に認証試験を行う場合の試料数は，3.4.3による。
予備試料は，次による。
予備試料は，製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個（6組合
せの場合）又は3個（4組合せの場合）とする。
群0に規定する試料数は，全ての群の試験を適用する場合の試料数であり，全ての試験を適用しない場
合は，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験における各群又は副群で試験する試料試料数は，合格判定数とともに表4に示す。
3.4.3
試験
表4及び表5に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
全ての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内で全て又は一部の項目で不適合となったとき，“1個の不適合品”と数
える。
温度係数が2種類以上のものを同時に認証試験を行う場合は，群1及び群2の試験は，その温度係数の
絶対値の最も小さいもので試験を行い，群3及び群4は，全ての温度係数のものを試験する。
10
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
各々の温度係数の認証の決定は，表4の合格判定数に従う。合計の判定数の計算は，温度係数の最小の
ものによる群1及び群2の合計不適合数と個々の温度係数のものによる群3及び群4の合計不適合数との
総計が，合格判定数以下か，又は合格判定数を超えるかどうかで判定する。
不適合品数がゼロの場合，品質認証は合格とする。
表4及び表5は，定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表4は，各試験群に対するサン
プリング及び合格判定数の詳細を規定している。一方，表5は，箇条4に規定された試験の詳細と合わせ
て，試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試験方法，試験条件などを
規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は，個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表4−品質認証試験のサンプリング計画及び合格判定数 評価水準EZ
群
試験項目
この規格の
細分箇条番号
試料数
n b)
合格判定数d)
c
0
外観
4.2
10
0
寸法
4.2
静電容量
4.3.1
誘電正接
4.3.2
耐電圧
4.3.4
絶縁抵抗
4.3.3
予備試料
−
8
1A
端子強度
4.5
12
0
はんだ耐熱性
4.6
部品の耐溶剤性c)
4.15
1B
はんだ付け性
4.7
24
0
表示の耐溶剤性c)
4.16
温度急変a)
4.8
振動
4.9
バンプ又は衝撃a)
4.10又は4.11
1
一連耐候性
4.12
36
0
2
高温高湿（定常）
4.13
24
0
3
耐久性
4.14
36
0
4
温度係数及び温度サイクルに
よる静電容量のずれ
4.4
12
0
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格電圧と公称静電容量との組合せで3.4.2による。
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 合否判定の許容不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
11
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表5−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）c)
要求事項a)
群0
ND
表4による。
4.2 外観
4.2による。
表示は，明瞭とする。その他
は，個別規格の規定による。
4.2 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
4.3.1 静電容量
周波数：…MHz
規定の許容差による。
4.3.2 誘電正接（tan δ）
周波数：…MHz
（4.3.1に同じ。）
4.3.2.3による。
4.3.3 絶縁抵抗（Ri）
方法は，個別規格の規定による。
4.3.3.3による。
4.3.4 耐電圧
方法は，個別規格の規定による。
絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
群1A
D
表4による。
4.5 端子強度
外観
損傷がない。
4.6.2 初期測定
静電容量
4.6 はんだ耐熱性
初期乾燥は，行わない。
方法は，個別規格の規定による。
4.6.4 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.6.4による。
4.15 部品の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：…
個別規格の規定による。
溶剤の温度：…
方法2
後処理：…
12
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表5−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）c)
要求事項a)
群1B
D
表4による。
4.7 はんだ付け性
初期乾燥は，行わない。
方法は，個別規格の規定による。
端子にはんだが良好に付着し
ているか，又は，平衡法の場
合，個別規格による。
4.16 表示の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：…
表示は，明瞭とする。
溶剤の温度：…
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理：…
4.8.2 初期測定
静電容量
4.8 温度急変
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1＝30 min
後処理：24 h±2 h
外観
異常がない。
4.9 振動
取付方法は，個別規格の規定に
よる。
周波数範囲：… Hz〜… Hz
振幅：0.75 mm又は加速度100
m/s2（いずれか緩い方）
総試験時間：6 h
4.9.3 中間測定
外観
異常がない。
4.10 バンプ（又は4.11
衝撃）
取付方法は，個別規格の規定に
よる。
バンプ回数：…
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
4.11 衝撃（又は4.10バ
ンプ）
取付方法は，個別規格の規定に
よる。
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
4.10.4又は4.11.4
最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.11.4による。
13
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表5−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）c)
要求事項a)
群1
D
表4による。
4.12 一連耐候性
4.12.3 高温
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
4.12.4 温湿度サイクル，
試験Db，最初のサイクル
4.12.5 低温
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
外観
異常がない。
4.12.6 減圧（個別規格に
規定がある場合）
気圧：8 kPa
4.12.6.4 中間測定
外観
絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
4.12.7 温湿度サイクル，
試験Db，残りのサイクル
後処理：6 h〜24 h
4.12.7.4 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.12.7.4による。
誘電正接
4.12.7.4による。
絶縁抵抗
4.12.7.4による。
群2
D
表4による。
4.13 高温高湿（定常）
4.13.2 初期測定
静電容量
後処理：6 h〜24 h
4.13.5 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.13.5による。
誘電正接
4.13.5による。
絶縁抵抗
4.13.5による。
群3
D
表4による。
4.14 耐久性
試験時間：… h
試験電圧：… V
4.14.2 初期測定
静電容量
後処理：6 h〜24 h
4.14.5 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.14.5による。
誘電正接
4.14.5による。
絶縁抵抗
4.14.5による。
群4
ND
表4による。
4.4 温度係数及び温度
サイクルによる静電容量
のずれ
条件：初期乾燥16 h〜24 h
ΔC/Cは，4.4.4による。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は，箇条4による。
b) この表でDは破壊試験，NDは非破壊試験を表す。
c) 合格判定の許容不適合品の数を示し，この数を超えない場合を合格とする。
14
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1
群A及び群B検査
これらの検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
b) 群Aの検査試料は，検査ロットを含む定格値（定格電圧及び公称静電容量）及び外形寸法の代表値で
構成する。
− 定格値（定格電圧及び公称静電容量）及び外形寸法の数
− 1組合せ当たり5個以上
副群B2の検査試料は，ロットの中の全温度係数のコンデンサを含む。
c) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき，製造業者
は，認証機関（CB）の承認が必要とする。
3.5.1.2
群C検査
この検査は，定期的に行う。
試料は，定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので，かつ，公称静電容量の大，中及び小
に分類する。引き続いて，次の期間内の試料は，認証範囲を包含するために，別の定格電圧と公称静電容
量との組合せを抜取検査する。
3.5.2
試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブランク個別規格
の箇条2の表6による。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後の出荷）に従い，はんだ付け性及び静電容量について群A及び群Bの
再検査を行う。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表6及び表7から選定するのが望ましい。
15
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表6−ロットごとの品質確認検査
検査副群c)
EZ
IL
n
c
A0
100 % a)
A1
S-4
b)
0
A2
S-3
b)
0
B1
S-3
b)
0
B2
S-2
b)
0
IL＝検査水準
n＝試料数
c＝合格判定数
注a) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために，抜取試料を全
て検査する。抜取水準は，製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A［信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率（ppm）で示す統計的工程品質限界（SVQL）の推定］によ
ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には，このロットは不合格とす
るが，品質水準を算出するために，不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は，JIS C
5005-2の6.2（SVQLの算出）に規定する方法によって，累積した検査データから算出する。
b) 試料数（n）は，JIS C 5005-2の4.3.2（なみ検査による抜取検査方式）によって決定する。
c) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
表7−定期的品質確認検査
検査副群a)
EZ
p
n
c
C1A
6
9
0
C1B
6
18
0
C1
6
27
0
C2
6
15
0
C3
3
15
0
C4
12
9
0
p＝検査周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定数
注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
4
試験及び測定手順
4.1
一般
この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。
4.2
外観及び寸法
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）による。
4.3
電気的試験
4.3.1
静電容量
4.3.1.1
一般
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，4.3.1.2及び4.3.1.3による。
4.3.1.2
測定条件
測定条件は，次による。
16
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
− 測定電圧：個別規格に規定がない場合は，5 V（実効値）以下
− 測定周波数：CN≦1 000 pFの場合は，1 MHz±20 %又は100 kHz±20 %
（判定に疑義が生じた場合：1 MHz）
CN＞1 000 pFの場合は，1 kHz±20 %又は100 kHz±20 %
（判定に疑義が生じた場合：1 kHz）
4.3.1.3
要求事項
静電容量の値は，公称静電容量値に対して，規定の許容差内とする。
4.3.2
誘電正接（tan δ）
4.3.2.1
一般
誘電正接は，JIS C 5101-1の4.8［誘電正接（損失角の正接）及び等価直列抵抗（ESR）］によるほか，
4.3.2.2及び4.3.2.3による。
4.3.2.2
測定条件
測定条件は，4.3.1による。
4.3.2.3
要求事項
誘電正接は，表8に規定する値以下とする。
表8−誘電正接
公称静電
容量
pF
誘電正接（tan δ）×10−4
＋100≧α＞−750
及びSL（1 C）
−750≧α＞−1 500
及びUM（1 D）
−1 500≧α＞−3 300 −3 300≧α＞−5 600
α≦−5 600
CN≧50
15
20
30
40
50
5≦CN＜50
+
×
7
150
5.1
N
C
+
×
7
150
2
N
C
+
×
7
150
3
N
C
+
×
7
150
4
N
C
+
×
7
150
5
N
C
CN＜5
使用者から要求があった場合は，規定値を個別規格に規定する。
4.3.3
絶縁抵抗（Ri）
4.3.3.1
一般
絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，4.3.3.2及び4.3.3.3による。
4.3.3.2
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.5.2（測定条件）によるほか，次による。
定格電圧が100 V未満の場合の測定電圧は，定格電圧以下とする。判定に疑義が生じた場合の測定電圧
は，定格電圧とする。
電圧は，規定の電圧を直接印加し，品質認証試験及び定期的品質確認検査（群C）では，60秒±5秒間
後の値を測定する。また，ロットごとの品質確認検査（群A）では，絶縁抵抗の値が規定値を超えた時点
で判定し，時間を短縮してもよい。
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は，個別規格に規定がない場合，1秒以下とする。
充電電流は，0.05 A以下とする。
絶縁抵抗（Ri）は，1分間後に測定する。
4.3.3.3
要求事項
絶縁抵抗（Ri）は，表9に規定する要求事項を満足しなければならない。
17
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表9−絶縁抵抗の要求事項
形状
測定箇所
CN≦10 000 pF
CN＞10 000 pF
Ri
Ri×CN
絶縁形
1a及び1c
≧10 000 MΩ
≧100 s
非絶縁形
1a
4.3.4
耐電圧
4.3.4.1
一般
耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，4.3.4.2〜4.3.4.4による。
4.3.4.2
試験条件
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は，1秒以下とする。
充電電流は，0.05 A以下とする。
4.3.4.3
試験電圧
表10及び表11の試験電圧を，JIS C 5101-1の表3（測定箇所）に規定する測定箇所に印加し，品質認証
試験及び定期的品質確認検査では1分間，ロットごとの品質確認検査では1秒間の印加時間とする。
表10−単板形コンデンサの試験電圧
定格電圧
V
試験電圧
V
UR≦500
2.5 UR
UR＞500
1.5 UR＋500
注記 定格電圧が500 Vを超える場合の試験C（端子外装間）の試験
電圧は，1.5 UR＋500 V又は個別規格の要求事項に従っている。
表11−リード付き積層形コンデンサの試験電圧
定格電圧
V
試験電圧
V
UR≦100
2.5 UR
100＜UR≦200
1.5 UR＋100
200＜UR≦500
1.3 UR＋100
500＜UR
1.3 UR
4.3.4.4
要求事項
試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.4
静電容量の温度係数（α）及び温度サイクルによる静電容量のずれ
4.4.1
一般
静電容量の温度係数及び温度サイクルによる静電容量のずれは，JIS C 5101-1の4.24.3.2（静電容量の温
度係数及び温度サイクルによる静電容量のずれ）によるほか，4.4.2〜4.4.4による。
4.4.2
初期乾燥
コンデンサは，JIS C 5101-1の4.3（乾燥）に従って16時間〜24時間の強制乾燥を行う。
4.4.3
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.24.1.2（試験手順）及び4.24.1.3（測定方法）による。
18
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
4.4.4
要求事項
カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電容量の変化は，表3に規定する要求事項を満足しなけ
ればならない（その他の温度は，個別規格に規定する。）。
温度サイクルによる静電容量のずれは，表12に規定する要求事項を満足しなければならない。
表12−温度サイクルによる静電容量のずれ
温度係数（α）
10−6/K
要求事項
＋100≧α＞−150
0.3 %又は0.05 pFのいずれか大きい値以下
−150≧α＞−1 500，SL（1C）及びUM（1D） 1 %又は0.05 pFのいずれか大きい値以下
−1 500≧α≧−5 600
2 %又は0.05 pFのいずれか大きい値以下
注記 表12の下線の点線を施している不等号の表記は，対応国際規格の明らかな誤記を訂正してい
る。
4.5
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）による。
4.6
はんだ耐熱性
4.6.1
一般
はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，4.6.2〜4.6.4による。
4.6.2
初期測定
静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.6.3
試験条件
初期乾燥は，行わない。
4.6.4
最終検査，測定及び要求事項
コンデンサの外観検査を行い，外観は異常がなく，表示は明瞭とする。
静電容量を4.3.1に従って測定し，その変化は表13に規定する要求事項を満足する。
表13−要求事項
温度係数（α）
10−6/K
要求事項
＋100≧α≧−750
0.5 %又は0.5 pFのいずれか大きい値以下
−750＞α≧−1 500，SL（1C）及びUM（1D） 1 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
α＜−1 500
3 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
4.7
はんだ付け性
4.7.1
一般
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，4.7.2及び4.7.3による。
4.7.2
試験条件
初期乾燥は，行わない。はんだ小球法を適用する場合は，個別規格に規定する。はんだ槽法及びはんだ
小球法のいずれも適用できない場合は，はんだこて法（はんだこて寸法 A）で試験する。
4.7.3
最終測定及び要求事項
目視検査で，はんだが良好に付着していることを端子部がはんだにぬれていることによって確認する。
ただし，平衡法の場合は，個別規格の規定による。
19
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
4.8
温度急変
4.8.1
一般
温度急変は，適用する場合，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，4.8.2〜4.8.4による。
4.8.2
初期測定
静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.8.3
試験条件
サイクル数は，5サイクルとする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は，30分間とする。
4.8.4
後処理
コンデンサは，24時間±2時間放置する。
4.9
振動
4.9.1
一般
振動は，JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，4.9.2及び4.9.3による。
4.9.2
試験条件
試験Fcの厳しさの度合は，次による。
振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方で，周波数は，次のうち一つとする。
10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz，又は10 Hz〜2 000 Hz
試験時間は，6時間とする。
個別規格に，周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）
のコンデンサで，リード線端子だけで取り付ける場合，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3
最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.10 バンプ（繰返しのある衝撃）
4.10.1 一般
バンプは，JIS C 5101-1の4.18（バンプ）によるほか，4.10.2〜4.10.4による。
個別規格に，バンプ（繰返しのある衝撃）又は繰返しのない衝撃のいずれかで試験するかを規定する。
注記 ここで引用しているJIS C 5101-1の2010年版では，バンプの試験手順で“JIS C 60068-2-29（環
境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法）に規定する試験Ebを行う。”とあるが，JIS C
60068-2-29は廃止され，JIS C 60068-2-27［環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験
方法（試験記号：Ea）］へ移行されている。
4.10.2 初期測定
適用しない。
4.10.3 試験条件
個別規格には，次の推奨する厳しさのいずれかを規定する。
バンプ合計回数：1 000又は4 000
ピーク加速度：
400 m/s2
100 m/s2
又は
パルス作用時間：
6 ms
16 ms
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サで，リード線端子だけで取り付ける場合，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
20
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
4.10.4 最終測定及び要求事項
コンデンサは，外観及び電気的性能を測定し，4.11.4に規定する要求事項を満足しなければならない。
4.11 衝撃（繰返しのない衝撃）
4.11.1 一般
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，4.11.2〜4.11.4による。
個別規格に，バンプ（繰返しのある衝撃）又は繰返しのない衝撃のいずれかで試験するかを規定する。
4.11.2 初期測定
適用しない。
4.11.3 試験条件
試験条件は，表14に規定する推奨する厳しさのいずれかを，個別規格に規定する。
パルス波形は，正弦半波とする。
表14−繰返しのない衝撃試験の推奨する厳しさ
ピーク加速度
m/s2
作用時間
ms
300
18
500
11
1000
6
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サで，リード線端子だけで取り付ける場合，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.11.4 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
静電容量を4.3.1に従って測定し，その変化は，表15に規定する要求事項を満足しなければならない。
表15−要求事項
温度係数（α）
10−6/K
要求事項
＋100≧α≧−750
0.5 %又は0.5 pFのいずれか大きい値以下
−750＞α≧−1 500，SL（1C）及びUM（1D） 1 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
α＜−1 500
3 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
4.12 一連耐候性
4.12.1 一般
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，4.12.2〜4.12.6による。
4.12.2 初期測定
初期測定は行わないで，4.6.4，4.10.4又は4.11.4の測定値を初期値とする。
4.12.3 高温
高温は，JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
4.12.4 温湿度サイクル，試験Db，最初のサイクル
温湿度サイクルの最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最初のサイク
ル］による。
21
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
4.12.5 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.4（低温）によるほか，次による。
コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.12.6 減圧
4.12.6.1 一般
減圧は，JIS C 5101-1の4.21.5（減圧）によるほか，4.12.6.2〜4.12.6.4による。
4.12.6.2 試験条件
個別規格に規定している場合に適用し，温度15 ℃〜35 ℃，気圧8 kPaで行う。試験時間は1時間とす
る。
4.12.6.3 試験手順
規定の気圧に到達した後，直ちに定格電圧（UR）を1分〜2分間印加する。
4.12.6.4 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.12.7 温湿度サイクル，試験Db，残りのサイクル
4.12.7.1 一般
温湿度サイクルの残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残りのサイク
ル］によるほか，4.12.7.2〜4.12.7.4による。
4.12.7.2 試験条件
試験条件を，表16に示す。
電圧は，印加しない。
表16−温湿度サイクル，残りのサイクル数
耐候性カテゴリ
24時間のサイクル数
−/−/56
5
−/−/21
1
−/−/10
1
−/−/04
0
4.12.7.3 後処理
コンデンサを，6時間〜24時間放置後に測定する。
4.12.7.4 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し，表17に規定する要求事項を満足しなければならない。
22
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表17−最終測定及び要求事項
測定項目
測定条件
温度係数（α）
及び（サブクラス）
要求事項
静電容量
4.3.1
＋100≧α≧−750
（1A）
（1B）
静電容量変化が2 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
＋100≧α≧−750
SL
（1F）
（1C）
静電容量変化が3 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
−750≧α≧−1 500
UM
（1F）
（1D）
−1500＞α≧−5 600
（1F） 静電容量変化が5 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
誘電正接
4.3.2
全てのα及びサブクラス
4.3.2.3の規定値の2倍以下
絶縁抵抗
4.3.3
全てのα及びサブクラス
2 500 MΩ又は25 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.13 高温高湿（定常）
4.13.1 一般
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，4.13.2〜4.13.5による。
4.13.2 初期測定
静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.13.3 試験条件
個別規格に規定がない場合は，電圧は印加しない。
試験の厳しさは，表18及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
試験期間は，2.1に従って選定することが望ましく，個別規格に規定する。
表18−高温高湿（定常）の試験条件
厳しさ
温度
℃
相対湿度
%
1
＋85±2
85±3
2
＋60±2
93±3
3
＋40±2
93±3
電圧印加を規定している場合は，試料の半数は定格電圧を印加し，その他の半数は印加しない。
高温高湿（定常）試験後に槽から取り出し，15分間以内に耐電圧試験を4.3.4に従って行う。ただし，
この場合の電圧は，定格電圧とする。
4.13.4 後処理
コンデンサを，6時間〜24時間放置後に測定する。要求事項を満足しない場合は，コンデンサを6時間
〜24時間放置後に再測定してもよい。
4.13.5 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し，表19に規定する要求事項を満足しなければならない。
23
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表19−最終測定及び要求事項
測定項目
測定条件
温度係数（α）
及び（サブクラス）
要求事項
静電容量
4.3.1
＋100≧α≧−750
（1A）
（1B）
静電容量変化が2 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
＋100≧α≧−750
SL
（1F）
（1C）
静電容量変化が3 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
−750≧α≧−1 500
UM
（1F）
（1D）
−1500＞α≧−5 600
（1F） 静電容量変化が5 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
誘電正接
4.3.2
全てのα及びサブクラス
4.3.2.3の規定値の2倍以下
絶縁抵抗
4.3.3
全てのα及びサブクラス
2 500 MΩ又は25 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.14 耐久性
4.14.1 一般
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，4.14.2〜4.14.5による。
4.14.2 初期測定
静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.14.3 試験条件
コンデンサは，表20に従って試験を行う。
表20−耐久性試験条件
品種
温度
定格電圧
V
試験電圧
V
試験時間
h
リード付き積層磁器
コンデンサ
カテゴリ上限温度
UR≦200
200＜UR≦500
500＜UR
1.5×UR
1.3×UR
1.2×UR
1 000
1 500
2 000
その他
カテゴリ上限温度
UR
1.5×UR
1 000
4.14.4 後処理
コンデンサは，標準状態に6時間〜24時間放置する。
4.14.5 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し，表21に規定する要求事項を満足しなければならない。
24
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
表21−最終測定及び要求事項
測定項目
測定条件
温度係数（α）
及び（サブクラス）
要求事項
静電容量
4.3.1
＋100≧α≧−750
（1A）
（1B）
静電容量変化が3 %又は1 pFの
いずれか大きい値以下
＋100≧α≧−750
SL
（1F）
（1C）
静電容量変化が5 %又は1 pFの
いずれか大きい値以下
−750≧α≧−1 500
UM
（1F）
（1D）
−1500＞α≧−5 600
（1F） 静電容量変化が10 %又は1 pFの
いずれか大きい値以下
誘電正接
4.3.2
全てのα及びサブクラス
4.3.2.3の規定値の1.5倍以下
絶縁抵抗
4.3.3
全てのα及びサブクラス
4 000 MΩ又は40 sの
いずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は2.2.5による。
4.15 部品の耐溶剤性
部品の耐溶剤性を適用する場合は，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。
4.16 表示の耐溶剤性
表示の耐溶剤性を適用する場合は，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。
25
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
附属書A
（規定）
温度係数及びサブクラスの温度に対する静電容量変化の限界値
温度係数及びサブクラスの温度に対する静電容量変化の限界値は，図A.1〜図A.15による。
注記 図A.1〜図A.15のグラフにおける破線は，表3で規定していない静電容量変化の限界値を表し
ている。
∆
C
/C
2
0
（
1
0
−
3
）
T（℃）
図A.1−温度係数（α）が＋100×10−6/Kの場合
-12.5
-10
-7.5
-5
-2.5
0
2.5
5
7.5
10
12.5
15
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
α：＋100×10−6/K
1B
1B
1A
1A
26
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
∆
C
/C
2
0
（
1
0
−
3
）
T（℃）
図A.2−温度係数（α）が0×10−6/Kの場合
∆
C
/C
2
0
（
1
0
−
3
）
T（℃）
図A.3−温度係数（α）が−33×10−6/Kの場合
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1F
1F
1B
1B
1A
1A
α：0×10−6/K
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1B
1B
1A
1A
α：−33×10−6/K
27
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
∆
C
/C
2
0
（
1
0
−
3
）
T（℃）
図A.4−温度係数（α）が−75×10−6/Kの場合
∆
C
/C
2
0
（
1
0
−
3
）
T（℃）
図A.5−温度係数（α）が−150×10−6/Kの場合
-30
-20
-10
0
10
20
30
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
-15
-10
-5
0
5
10
15
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1B
1B
1A
1A
IEC 613/05
α：−75×10−6/K
1F
1B
1A
1A
1B
1F
α：−150×10−6/K
28
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
図A.6−温度係数（α）が−220×10−6/Kの場合
図A.7−温度係数（α）が−330×10−6/Kの場合
-40
-30
-20
-10
0
10
20
30
40
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1F
1B
1A
1A
1B
1F
T（℃）
IEC 615/05
∆
C
/C
20
（
10
−
3）
α：−220×10−6/K
-60
-40
-20
0
20
40
60
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1A
1A
1B
1B
T（℃）
IEC 616/05
∆
C
/C
20
（
1
0
−
3
）
α：−330×10−6/K
29
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
図A.8−温度係数（α）が−470×10−6/Kの場合
図A.9−温度係数（α）が−750×10−6/Kの場合
-60
-40
-20
0
20
40
60
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1B
1A
1B
1A
T（℃）
IEC 576/05
∆
C
/C
20
（
10
−
3）
α：−470×10−6/K
∆
C
/C
20
（
10
−
3）
-150
-100
-50
0
50
100
150
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1F
1B
1A
1A
1B
1F
T（℃）
α：−750×10−6/K
30
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
図A.10−温度係数（α）が−1 000×10−6/Kの場合
図A.11−温度係数（α）が−1 500×10−6/Kの場合
-150
-100
-50
0
50
100
150
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1F
1B
1A
1A
1B
1F
T（℃）
α：−1 000×10−6/K
IEC 578/05
∆
C
/C
20
（
10
−
3）
-200
-150
-100
-50
0
50
100
150
200
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
∆
C
/C
20
（
1
0
−
3
）
1F
1F
T（℃）
α：−1 500×10−6/K
31
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
図A.12−温度係数（α）が−2 200×10−6/Kの場合
図A.13−温度係数（α）が−3 300×10−6/Kの場合
∆
C
/C
20
(
1
0
−
3
)
-300
-200
-100
0
100
200
300
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
1F
1F
α：−2 200×10−6/K
T (℃)
-500
-400
-300
-200
-100
0
100
200
300
400
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
α：−3 300×10−6/K
∆
C
/C
20
(
1
0
−
3
)
T (℃)
1F
1F
32
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
図A.14−温度係数（α）が−4 700×10−6/Kの場合
図A.15−温度係数（α）が−5 600×10−6/Kの場合
-800
-600
-400
-200
0
200
400
600
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
α：−4 700×10−6/K
∆
C
/C
20
(
1
0
−
3
)
1F
1F
T (℃)
-800
-600
-400
-200
0
200
400
600
800
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
∆
C
/C
20
(
1
0
−
3
)
α：−5 600×10−6/K
1F
1F
T (℃)
33
C 5101-8：2018 (IEC 60384-8：2015)
参考文献 JIS C 5101-14 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:
Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains（IDT）
JIS C 5101-21 電子機器用固定コンデンサ−第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コ
ンデンサ 種類1
注記 対応国際規格：IEC 60384-21，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 21:
Sectional specification−Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric,
Class 1（IDT）