C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 4
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 5
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5
3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 6
3.3 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 6
3.4 品質認証（QA）試験 ······································································································ 6
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 19
4 試験及び測定手順 ············································································································ 20
4.1 前処理（非固体電解コンデンサだけに適用） ······································································ 20
4.2 外観検査及び寸法検査 ··································································································· 21
4.3 電気的試験 ·················································································································· 21
4.4 端子強度 ····················································································································· 23
4.5 はんだ耐熱性 ··············································································································· 23
4.6 はんだ付け性 ··············································································································· 23
4.7 温度急変 ····················································································································· 24
4.8 振動 ··························································································································· 24
4.9 バンプ（要求がある場合） ····························································································· 25
4.10 衝撃 ·························································································································· 25
4.11 一連耐候性 ················································································································· 25
4.12 高温高湿（定常） ········································································································ 26
4.13 耐久性 ······················································································································· 27
4.14 サージ ······················································································································· 27
4.15 逆電圧（要求がある場合） ···························································································· 28
4.16 圧力弁（要求がある場合） ···························································································· 28
4.17 高温保存 ···················································································································· 29
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016) 目次
（2）
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4.18 低温保存（要求がある場合） ························································································· 29
4.19 高温及び低温特性 ········································································································ 29
4.20 充放電（要求がある場合） ···························································································· 29
4.21 大電流サージ（要求がある場合） ··················································································· 30
4.22 過渡過電圧（要求がある場合） ······················································································ 30
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
（3）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって，JIS C 5101-4:2010は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則−固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水
準EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016) 目次
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JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則−表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ
ンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
（5）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-4：2019
(IEC 60384-4：2016)
電子機器用固定コンデンサ−第4部：
品種別通則−固定アルミニウム固体(MnO2)
及び非固体電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 4: Sectional
specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) and
non-solid electrolyte
序文
この規格は，2016年に第5版として発行されたIEC 60384-4を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1:2019を品目別通則とする品種別通則で，主に電子機器用の直流回路に用いる
固定アルミニウム固体（MnO2）及び固定アルミニウム非固体電解コンデンサ（以下，コンデンサという。）
について規定する。
この規格は，長寿命等級及び一般等級の両方のコンデンサに適用する。
この規格は，表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び固定アルミニウム非固体電解コンデンサに
は適用しない。これらのコンデンサは，JIS C 5101-18に規定されている。
特殊な用途のコンデンサの場合には，この規格に規定する事項のほか，その用途で求める要求事項を追
加してもよい。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-4:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4: Sectional specification−
Fixed aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) and non-solid electrolyte（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.2
目的
この規格は，この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1から適
切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般的要求事項を規定することを目的とする。この
品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は，この規格よりも低い水準であっ
てはならず，この規格と同等又は高い水準とする。
2
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
注記 対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）
JIS C 5101-1:2019 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 60063:2018 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063:2015，Preferred number series for resistors and capacitors（IDT）
JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部：通則及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-1:2013，Environmental testing−Part 1: General and guidance（IDT）
JIS C 60068-2-69:2019 環境試験方法−電気・電子−第2-69部：試験−試験Te/Tc：電子部品及びプリ
ント配線板のはんだ付け性試験方法（平衡法）
注記 対応国際規格には，IEC 60068-2-54:2006，Environmental testing−Part 2-54: Tests−Test Ta:
Solderability testing of electronic components by the wetting balance methodが記載してあるが，
IEC 60068-2-54は，IEC 60068-2-69に吸収されて廃止されたため，IEC 60068-2-69を基にし
たJIS C 60068-2-69を採用した。
JIS Z 8601 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3，Preferred numbers−Series of preferred numbers（MOD）
IEC 60417，Graphical symbols for use on equipment
1.4
個別規格に規定する事項
1.4.1
一般事項
個別規格は，ブランク個別規格の様式による。
個別規格には，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を
規定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9（品目別通則及び
／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項）に記載し，更に，試験計画の中に，例えば，アステ
リスク（*）を付けて明示する。
1.4.2に規定する外形図及び寸法は，一覧表に示してもよい。
個別規格には，1.4.2〜1.4.5の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する
ことが望ましい。
1.4.2
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示する。
コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。全ての寸法値
は，ミリメートル（mm）で規定する。
本体寸法は，次の事項を規定する。
− 一般（円筒形以外）：幅，長さ及び高さ
3
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 円筒形：直径及び長さ
端子寸法は，次の事項を規定する。
− リード端子：直径，長さ及び間隔
− ラグ端子：端子位置及び端子間隔，並びに端子板の幅，長さ及び厚さ
− ねじ端子：ねじの呼び径，呼び長さ及びねじ部長さ，並びに端子位置及び端子間隔
形状が上記のコンデンサと異なる場合は，そのコンデンサを適切に示す寸法情報を個別規格に規定する。
1.4.3
取付け
通常用いる場合，並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方法を，個別規格に規定す
る。コンデンサの設計上，特別な取付具を必要とする場合には，個別規格にその取付具を規定し，振動及
びバンプ又は衝撃の各試験には，この取付具を用いる。
1.4.4
定格及び特性
1.4.4.1
一般事項
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.4.2
公称静電容量範囲
公称静電容量範囲は，2.2.1による。
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが
異なるとき，次の文章を追加することが望ましい。
“各電圧範囲での公称静電容量範囲は，認証登録によって，例えば，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）
のオンライン認証システム（ウェブサイト：www.iecq.org）が利用できる。”
1.4.4.3
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，その規定事項を追加してもよい。
1.4.4.4
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験に適用する試験方法，厳しさ及び要求事項は，個別規格に規定する。
1.4.5
表示
コンデンサの本体及びその包装への表示事項は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる事項は，
個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1:2019によるほか，次による。
1.5.1
静電容量（capacitance）
電解コンデンサの中で，規定する測定周波数の近似的な正弦波交流を用いて測定した静電容量値と抵抗
値とで等価直列回路を構成した場合の容量。
1.5.2
長寿命等級（long-life grade）
長期間にわたって高安定であることが必要な非固体電解コンデンサの特性。
1.5.3
一般等級（general-purpose grade）
長寿命等級のような高い性能水準を必要としない非固体電解コンデンサの特性。
注記 1.5.2及び1.5.3に対する対応国際規格の記述は，長寿命等級コンデンサ及び一般等級コンデン
サの定義であったが，以降の本文では，非固体電解コンデンサの要求特性上で，単に，長寿命
4
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
等級及び一般等級が記載されているため，この両等級の用語を定義した。
1.6
表示
1.6.1
一般事項
表示は，JIS C 5101-1の2.4によるほか，1.6.2〜1.6.4による。
1.6.2
表示の内容
表示の内容は，次の事項から選定する。表示の優先順位は，記載の順による。
a) 公称静電容量
b) 定格電圧（直流電圧を表す記号は，IEC 60417-5031:2002による記号 又は で表してもよ
い。）
c) カテゴリ電圧及びカテゴリ温度
d) 端子の極性 多素子のコンデンサは，各端子の公称静電容量及び定格電圧が明瞭に区分できるように
する。また，電源回路の整流器に直接接続するコンデンサ素子の端子は，番号1又は赤色で表示する。
e) 公称静電容量許容差
f)
製造年月（又は製造年週）
g) 製造業者名及び／又はその商標
h) 製造業者の形名
i)
適用する個別規格
1.6.3
コンデンサ本体への表示
コンデンサ本体には，1.6.2のa)〜f)を明瞭に表示しなければならず，また，必要と思われる残りの事項
をできる限り多く表示することが望ましい。
1.6.4
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.2の全ての事項の内容を明瞭に表示することが望ましい。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
推奨耐候性カテゴリは，推奨特性によって付与される。
この規格に規定するコンデンサは，JIS C 60068-1の附属書A（部品の耐候性カテゴリー）に規定する一
般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度は，次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度： −55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃
− カテゴリ上限温度： ＋85 ℃，＋100 ℃，＋105 ℃及び＋125 ℃
低温試験及び高温試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2
推奨定格値
2.2.1
公称静電容量（CN）
公称静電容量の推奨値は，マイクロファラド（μF）の単位で表す。
公称静電容量の推奨値は，JIS C 60063に規定するE12の標準数列（1.0，1.2，1.5，1.8，2.2，2.7，3.3，
3.9，4.7，5.6，6.8及び8.2）及びそれらの10n倍（nは整数とする。）の中から選定する。
5
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.2
公称静電容量許容差
公称静電容量許容差の推奨値は，表1の中から選定する。
表1−公称静電容量許容差の推奨値
許容差
%
−10
〜
＋ 10
−10
〜
＋ 20 a)
−10
〜
＋ 30
−10
〜
＋ 50
−10
〜
＋ 75
−10
〜
＋100
−20
〜
＋ 20
注a) エレクトロニックフラッシュ用に限り適用する。
2.2.3
定格電圧（UR）
定格直流電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR10及びR20の標準数列並びにそれらの10n倍（nは
整数とする。）の中から選定する。
− R10標準数列：1.0，1.25，1.6，2.0，2.5，3.15，4.0，5.0，6.3及び8.0
− R20標準数列：3.5及び4.5
注記 JIS Z 8601では，R20標準数列としては，3.55であるが，市場では数値を丸めて3.5を用いてい
る。
2.2.4
カテゴリ電圧（UC）
カテゴリ電圧は，定格電圧と同じになる。
2.2.5
リプル電圧
直流電圧に交流電圧を重畳する場合には，直流電圧と交流電圧との和のピーク値は，定格直流電圧以下
とする。定格リプル電流（2.2.8参照）による逆電圧は，許容する逆電圧を超えてはならない。
2.2.6
逆電圧
許容する逆電圧は，個別規格の規定による。
2.2.7
サージ電圧
サージ電圧は，定格電圧が315 V以下のコンデンサの場合，定格電圧値の1.15倍の電圧として，定格電
圧が315 Vを超えるコンデンサの場合，定格電圧値の1.10倍の電圧とする（4.14参照）。
2.2.8
定格リプル電流
カテゴリ上限温度での周波数100 Hz又は120 Hz の定格リプル電流値は，個別規格に規定する。ただし，
スイッチング電源用コンデンサの定格リプル電流値は，適用する周波数で規定する。
注記 この定格リプル電流値は，コンデンサの外形寸法及びその他の性能，例えば，損失角の正接，
許容温度上昇値などに関係する（2.2.5参照）。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，固体電解コンデンサの場合，酸化皮膜の化成工程とし，非固体電解コンデンサの場
合，コンデンサ製造業者での化成済陽極はくの検査工程とする。
6
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ製造工程及び材
料で製造したコンデンサとする。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合，出荷者は，JIS C 5101-1のQ.1.5（出
荷ロット成績証明書）によって，出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求
する特性値は，静電容量値の変化，損失角の正接（tan δ）及び漏れ電流とする。
3.4
品質認証（QA）試験
3.4.1
一般事項
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.2（品質認証手順）による。
ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2
定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は，JIS C 5101-1のQ.2.4（初期生産品の品質認証用試験手順）による。試料は，認証を取
得しようとするコンデンサの全ての範囲を代表し，認証範囲は，個別規格に規定する全ての範囲又はその
一部でもよい。
試料は，最大定格電圧及び最小定格電圧と，それぞれの電圧での最大外形寸法と最小外形寸法とで構成
する4組合せとする。定格電圧の範囲が200 Vを超える場合，中間の定格電圧のコンデンサも試料に加え
る。これらの外形寸法と定格電圧との組合せにおいて，最大の公称静電容量を試料に選定する。したがっ
て，範囲認証の場合，試験は，4組合せ又は6組合せについて行う。認証範囲が4組合せ未満の場合，試
料数は，4組合せの場合と同数とする。
予備試料は，製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換え用として，1組合せごとに2個（6
組合せの場合）又は3個（4組合せの場合）とする。
群0に規定する試料数は，全ての群の試験を適用する場合の試料数であり，適用しない試験がある場合，
適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験の場合の各群及び各副群で試験する試料数及び許容不適合数を，表2に示す。
3.4.3
試験
表2及び表3に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順序に従って行う。
全ての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に分割する。
群0の試験の中で発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
品質認証は，不適合数がゼロの場合に，合格とする。
表2及び表3には，定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を規定している。
表2には，各試験又は各試験群に対する試料数及び許容不適合数の詳細を規定している。
表3には，試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試験方法，試験条
件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は，個別規格に規定する品質確認検
査と同じであることが望ましい。
7
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質認証試験の抜取計画，評価水準EZ
群
試験項目
細分箇条番号
試料数
n e)
合格判定数（許容不
適合数）
c
0
大電流サージa)
4.21
108＋12f)＋12g)＋12h) 0
外観
4.2
寸法
4.2
漏れ電流
4.3.1
静電容量
4.3.2
損失角の正接（tan δ）又は
等価直列抵抗（ESR）
4.3.3
インピーダンス b)
4.3.4
予備試料
1A
端子強度
4.4
12
0
はんだ耐熱性c)
4.5
1B
はんだ付け性c)
4.6
12
0
温度急変
4.7
振動
4.8
バンプ又は衝撃b)
4.9又は4.10
1
一連耐候性
4.11
24
0
2
高温高湿（定常）
4.12
12
0
3
耐久性
4.13
36
0
4A
サージ
4.14
12
0
4B
逆電圧b)
4.15
12f)
0
圧力弁d)
4.16
5A
高温保存
4.17
12
0
過渡過電圧d)
4.22
5B
低温保存b)
4.18
12g)
0
6
高温及び低温特性
4.19
12
0
充放電b)
4.20
注a) 固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合
b) 要求がある場合
c) ねじ端子又は個別規格にはんだ付けを意図しない端子と規定したコンデンサには適用しない。
d) 非固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合
e) 外形寸法と定格電圧との組合せは，3.4.2による。
f) 副群4Bの試験がある場合の追加の試料
g) 副群5Bの試験がある場合の追加の試料
h) 予備試料
8
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群0
ND
表2による
4.21
大電流サージc)
JIS C 5101-1の
4.39による
4.2
外観
4.2.2による
外観に損傷がない
表示は，明瞭であり，かつ，個別規格の
規定による
4.2
寸法（詳細）
4.2.2による
個別規格の規定による
4.3.1
漏れ電流
4.3.1.2による
非固体電解コンデンサの場合：
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大き
い値
＞1 000
0.006 CNUR
＋4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
4.3.2
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.3.3
損失角の正接（tan δ）
又は等価直列抵抗
（ESR）
4.3.3.2による
個別規格の規定による
4.3.4
インピーダンスg)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
個別規格の規定値以下
群1A
D
表2による
4.4
端子強度
4.4.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.4.3
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がない
4.5
はんだ耐熱性d)
4.5.2による
4.5.3
後処理
4.5.3による
4.5.4
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がない
表示は，明瞭である
静電容量
4.3.2.2による
4.4.2の測定値に対して，
|ΔC/C|≦5 %
群1B
D
表2による
4.6
はんだ付け性d)
4.6.2による
4.6.3
最終検査
外観
4.2.2による
端子にはんだが良好に付着しているか又
は関連する個別規格の規定値を満足する
4.7
温度急変
4.7.3による
4.7.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.7.4
後処理
4.7.4による
9
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群1B
（続き）
D
表2による
4.7.5
最終検査
固体電解コンデンサの場合：
外観
4.2.2による
外観に損傷がない
漏れ電流
4.3.1.2による
長寿命等級の場合：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級の場合：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
個別規格の規定による
インピーダンスg)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
個別規格の規定による
非固体電解コンデンサの場合：
外観
4.2.2による
電解液の漏れがない又はその他の外観損
傷がない
4.8
振動
4.8.2による
4.8.3
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は，電解液
の漏れがない
静電容量
4.3.2.2による
個別規格に規定がない場合，
4.7.2の測定値に対して|ΔC/C|≦5 %
4.9
バンプ
（又は4.10の衝撃）
4.9.2による
4.10
衝撃
（又は4.9のバンプ）
4.10.2による
4.9.3
又
は
4.10.3
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は，電解液
の漏れがない
静電容量
4.3.2.2による
個別規格に規定がない場合，
4.7.2の測定値に対して|ΔC/C|≦5 %
10
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群1
D
表2による
4.11
一連耐候性
4.11.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.11.3
高温
JIS C 5101-1の
4.21.3による
4.11.4
温湿度サイクル
（試験Db），
最初のサイクル
JIS C 5101-1の
4.21.4による
4.11.5
低温
JIS C 5101-1の
4.21.5による
4.11.6
減圧g)
4.11.6.2による
4.11.6.4 中間及び最終測定
外観
4.2.2による
絶縁破壊，フラッシオーバ又はケースの
有害な変形がない
4.11.7
温湿度サイクル
（試験Db），
残りのサイクル
JIS C 5101-1の
4.21.7による
4.11.8
封止g)
4.11.8.2による
4.11.8.3 後処理
4.11.8.3による
4.11.9
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は，電解液
の漏れがない
漏れ電流
4.3.1.2による
非固体電解コンデンサの場合：
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大き
い値
＞1 000
0.006 CNUR
＋4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
静電容量
4.3.2.2による
4.5.2，4.9.2又は4.10.2の測定値に対して，
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：|ΔC/C|≦5 %
一般等級：|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
初期規定値の1.2倍以下
11
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群2
D
表2による
4.12
高温高湿（定常）
4.12.3による
4.12.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.12.4
後処理
4.12.4による
4.12.5
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は，電解液
の漏れがない
漏れ電流
4.3.1.2による
非固体電解コンデンサの場合：
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大き
い値
＞1 000
0.006 CNUR
＋4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
静電容量
4.3.2.2による
4.12.2の測定値に対して
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：|ΔC/C|≦5 %
一般等級：|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：|ΔC/C|≦10 %
一般等級：|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
初期規定値の1.2倍以下
インピーダンスg)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
個別規格に規定の値の1.2倍以下
外部絶縁の絶縁抵抗
g)
JIS C 5101-1の
4.5.4による
≧100 MΩ
外部絶縁の耐電圧g)
JIS C 5101-1の
4.6.3.4による
絶縁破壊及びフラッシオーバがない
12
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群3
D
表2による
4.13
耐久性
4.13.3による
4.13.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.13.4
後処理
4.13.4による
4.13.5
最終検査
固体電解コンデンサの場合：
外観
4.2.2による
外観に損傷がない
表示は明瞭である
漏れ電流
4.3.1.2による
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
静電容量
4.3.2.2による
4.13.2の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
初期規定値の1.2倍以下
インピーダンスg)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
個別規格に規定の値の1.2倍以下
外部絶縁の絶縁抵抗
g)
JIS C 5101-1の
4.5.4による
≧100 MΩ
外部絶縁の耐電圧g)
JIS C 5101-1の
4.6.3.4による
絶縁破壊及びフラッシオーバがない
非固体電解コンデンサの場合：
外観
4.2.2による
電解液の漏れ，又は外観に損傷がない
表示は明瞭である
漏れ電流
4.3.1.2による
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大き
い値
＞1 000
0.006 CNUR＋
4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
静電容量
4.3.2.2による
4.13.2の測定値に対して
長寿命等級：
定格電圧
V
ΔC/C
%
UR≦6.3
6.3＜UR≦160
160＜UR
−30〜＋15
±20
±15
一般等級：
定格電圧
V
ΔC/C
%
UR≦6.3
6.3＜UR≦160
160＜UR
−40〜＋25
±30
±20
13
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群3
（続き）
D
表2による
4.13.5
最終検査（続き）
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
長寿命等級：
個別規格の規定値の1.5倍以下
一般等級：
個別規格の規定値の2倍以下又は0.4のう
ちいずれか小さい方
インピーダンスg)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
長寿命等級：
個別規格の規定値の2倍以下
一般等級：
個別規格の規定値の4倍以下
外部絶縁の絶縁抵抗
g)
JIS C 5101-1の
4.5.4による
≧100 MΩ
外部絶縁の耐電圧g)
JIS C 5101-1の
4.6.3.4による
絶縁破壊及びフラッシオーバがない
群4A
D
表2による
4.14
サージ
4.14.3による
4.14.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.14.4
後処理
4.14.4による
4.14.5
最終検査
外観f)
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コ
ンデンサの場合は，電解液の漏れがない
漏れ電流
4.3.1.2による
非固体電解コンデンサの場合：
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大
きい値
＞1 000
0.006 CNUR＋
4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
静電容量
4.3.2.2による
4.14.2の測定値に対して，
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：|ΔC/C|≦5 %
一般等級：|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦15 %
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
個別規格の規定による
14
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群4B
D
表2による
4.15
逆電圧g)
4.15.2による
4.15.1
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.15.3
後処理
4.15.3による
4.15.4
最終検査
漏れ電流
4.3.1.2による
非固体電解コンデンサの場合：
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大き
い値
＞1 000
0.006 CNUR＋
4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
静電容量
4.3.2.2による
4.15.1の測定値に対して，
固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合：
個別規格の規定による
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
個別規格の規定による
4.16
圧力弁f)
JIS C 5101-1の
4.28による
圧力弁は，爆発又は発火の危険なしに作
動する
15
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群5A
Dj)
表2による
4.17
高温保存
4.17.3による
4.17.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.17.4
後処理
4.17.4による
4.17.5
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コ
ンデンサの場合は，電解液の漏れがない
漏れ電流
4.3.1.2による
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
非固体電解コンデンサの場合：
4.3.1の規定値の2倍以下
静電容量
4.3.2.2による
4.17.2の測定値に対して，
固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦5 %
非固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
固体電解コンデンサの場合：
個別規格の規定による
非固体電解コンデンサの場合：
初期規定値の1.2倍以下
4.22
過渡過電圧f)
JIS C 5101-1の
4.40による
4.22.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.22.3
最終検査
外観
4.2.2による
個別規格の規定による
漏れ電流
4.3.1.2による
個別規格の規定による
静電容量
4.3.2.2による
個別規格の規定による
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
個別規格の規定による
その他の項目
個別規格の規定による
16
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群5Be)
ND
表2による
4.18
低温保存f)
JIS C 5101-1の
4.25.2.2による
4.18.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.18.4
後処理
4.18.4による
4.18.5
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，表示は，明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は，電解液
の漏れがない
漏れ電流
4.3.1.2による
非固体電解コンデンサの場合：
CNURh)
漏れ電流（μA）
（＋20 ℃±2 ℃）
長寿命等級
一般等級
≦1 000
0.01 CNUR又
は1 μAの，
いずれか大
きい値
0.05 CNUR又
は5 μAの，
いずれか大き
い値
＞1 000
0.006 CNUR＋
4 μA
0.03 CNUR＋
20 μA
固体電解コンデンサの場合：
長寿命等級：
≦0.1 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
一般等級：
≦0.15 CNUR（＋20 ℃±2 ℃）h)
静電容量
4.3.2.2による
4.18.2の測定値に対して，
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接（tan δ）
4.3.3.2による
個別規格の規定による
17
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群6
D
表2による
4.19
高温及び低温特性
JIS C 5101-1の
4.29による
固体電解コンデンサの場合：
段階1：20 ℃
静電容量c) i)
4.3.2.2による
インピーダンス
（段階2と同じ
測定周波数）c) i)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
損失角の正接（tan δ）c)
4.3.3.2による
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量c)
4.3.2.2による
段階1の測定値に対して，
|ΔC/C|≦20 %
インピーダンス
4.3.4.3及び
4.3.4.4による
段階1の測定値に対する比：
2倍以下
損失角の正接（tan δ）c)
4.3.3.2による
初期規定値に対して2倍以下
段階3：カテゴリ上限温度
漏れ電流
4.3.1.2による
4.3.1.3の規定値に対して，
＋125 ℃（UR）：≦15倍
＋105 ℃（UR）：≦12.5倍
＋100 ℃（UR）：個別規格の規定による
＋ 85 ℃（UR）：≦10倍
静電容量c)
4.3.2.2による
段階1の測定値に対して，
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接（tan δ）c)
4.3.3.2による
初期規定値以下
18
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号，
試験及び検査項目a)
D
又は
ND b)
試験及び
測定条件a)
試料数（n）
及び許容不
適合数（c）
要求事項a)
群6
（続き）
D
表2による
4.19
高温及び低温特性（続
き）
非固体電解コンデンサの場合：
段階1：20 ℃
静電容量f) i)
4.3.2.2による
損失角の正接（tan δ）f)
4.3.3.2による
インピーダンス
（段階2と同じ
測定周波数）f) i)
4.3.4.2
及び
4.3.4.3による
段階2：カテゴリ下限温度
インピーダンスg)
4.3.4.3及び
4.3.4.4による
段階1の測定値に対する比
定格電圧
V
インピーダンス比
UR≦6.3
6.3＜UR≦16
16＜UR≦160
160＜UR
≦10
≦8
≦6
≦10
段階3：カテゴリ上限温度
漏れ電流
4.3.1.2による
4.3.1.3の規定値に対して
125 ℃：≦10倍
105 ℃：≦8倍
100 ℃：≦8倍
85 ℃：≦5倍
静電容量f)
4.3.2.2による
個別規格の規定による
損失角の正接（tan δ）f)
4.3.3.2による
個別規格の規定による
4.20
充放電g)
4.20.3による
4.20.2
初期検査
静電容量
4.3.2.2による
規定する許容差以内
4.20.4
最終検査
外観
4.2.2による
外観に損傷がなく，かつ，非固体電解コ
ンデンサの場合は，電解液の漏れがない
静電容量
4.3.2.2による
4.20.2の測定値に対して，
固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦5 %
非固体電解コンデンサの場合：
|ΔC/C|≦10 %
注a) 試験及び要求事項の細分箇条番号は，箇条4を参照。
b) この表で，Dは破壊試験，NDは非破壊試験を示す。
c) 固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合だけに適用する。
d) ねじ端子コンデンサ又は個別規格にはんだ付けを意図しない端子と規定したコンデンサには適用しない。
e) 副群5Bは，非固体電解コンデンサで，かつ，カテゴリ下限温度が−10 ℃及び−25 ℃のコンデンサに適用する。
f) 非固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合だけに適用する。
g) 要求がある場合だけに適用する。
h) CN＝公称静電容量，UR＝定格電圧を示す。
i) 比較用の値として用いる。
j) 過渡過電圧試験を適用しない場合はNDになる。
19
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1
群A及び群B検査
この検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件の下に，製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
b) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び公称静電容量）と外形寸法とによる組合せ
を代表とし，次の事項を考慮する。
− 組合せ数
− 1組合せ当たり5個以上
c) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合，1組合せ当たり抜取数が5個未満のとき，製造業者は，
認証機関（CB）からの承認を必要とする。
3.5.1.2
群C検査
この検査は，定期的に行う。
試料は，規定する期間に製造工程に流れているコンデンサを代表とし，かつ，定格電圧の高，中及び低
電圧を選定する。いずれの期間でも認証の範囲を対象とするために，定格電圧群ごとに一つの外形寸法の
試料を試験する。その後の期間では，製造の全ての範囲を対象とするために，その他の外形寸法及び／又
は定格電圧の試料を試験する。
3.5.2
試験計画
ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格で規定する。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.1.7（長期保管後の出荷）の規定によって，群A及び群B検査に基づくはんだ付け性
及び静電容量について再検査を行う。
20
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表4及び表5の中から選定することが望ましい。
表4−ロットごとの品質検査
検査副群a)
EZ
ILb)
nb)
cb)
A0e)
100 %c)
A1
S-3
d)
0
A2
S-3
d)
0
B1
S-3
d)
0
B2
S-3
d)
0
注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) この表の記号は次による。IL＝検査水準，n＝試料数，c＝許容不適合数
c) この検査は，製造工程内での全数検査で不適合品を取り除いた後に実施する。抜取水準は部品製造業者が
設定するが，JIS C 5005-2の附属書A［信頼水準60 %における100万個当たりの不適合品率（ppm）で示
す統計的工程品質限界（SVQL）の推定］に準じることが望ましい。
不適合品数の百万分率（ppm，×10−6）による出荷品質水準を監視するために，ロットの合格又は不合格
にかかわらず，抜取試料は全て検査し，不適合品数を数える。
抜取試料中に1個以上の不適合品がある場合，そのロットは不合格とするが，不適合品数は数え，品質水
準を算出する。
百万分率（ppm，×10−6）で示す出荷品質水準は，JIS C 5005-2の6.2（SVQLの算出）に示す方法によっ
て累積した検査データから算出する。
d) 試料数は，JIS C 5005-2の4.3.2（なみ検査による抜取検査方式）による。
e) 固体電解コンデンサで，かつ，要求のある場合だけ適用する。
表5−定期的な品質検査
検査副群a)
EZ
pb)
nb)
cb)
C1A
6
9
0
C1B
6
18
0
C1
6
27
0
C2
6
9
0
C3
3
21
0
C4A
12
6
0
C4B
12
6
0
C5A
6
12
0
C5B
12
6
0
C6
6
15
0
注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) この表の記号は次による。p＝検査周期（月），n＝試料数，c＝許容不適合数
4
試験及び測定手順
注記 この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足するものである。
4.1
前処理（非固体電解コンデンサだけに適用）
試験に先立って，全てのコンデンサは，安定化電源のような内部抵抗の小さい直流電源を用いて，定格
電圧に等しい直流電圧を印加して前処理を行う。定格電圧が100 V以下のコンデンサの場合，約100 Ωの
保護抵抗器を，定格電圧が100 Vを超えるコンデンサの場合，約1 kΩの保護抵抗器を通してコンデンサに
21
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定格電圧を印加する。
電圧印加時間は，コンデンサ端子間の電圧が定格電圧の±3 %に達した後，1時間とする。また，電圧印
加後，コンデンサは，約1 Ω/Vの抵抗器を用いて放電する。
この電圧処理後，電圧を印加しない状態で12時間〜48時間放置し，その後にこの規格の3.4.3の試験及
び検査を行う。試験の中間では，上記の電圧処理をしてはならない。
4.2
外観検査及び寸法検査
4.2.1
一般事項
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）によるほか，次による。
4.2.2
外観及び寸法
外観検査は，供試品が要求する品質水準に適切な，照明付きの倍率約10倍の拡大鏡を用いて行う。
作業者には，適切な測定装置に加えて，直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
コンデンサは，材料，設計，構造及び外径寸法が，個別規格の要求事項を満足していることを証明する
ために検査する。
4.2.3
要求事項
要求事項は，表3による。
でき栄え（ワークマンシップ）は，個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。
4.3
電気的試験
4.3.1
漏れ電流
4.3.1.1
一般事項
漏れ電流は，JIS C 5101-1の4.9（漏れ電流）によるほか，次による。
4.3.1.2
測定条件
コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し，その両端に定格電圧を印加する。個別規格に規定がない場合，
定格電圧が100 V以下のコンデンサのときの保護抵抗器の抵抗値は約100 Ωとし，定格電圧が100 Vを超
えるコンデンサのときの保護抵抗器の抵抗値は約1 kΩとする。
4.3.1.3
要求事項
要求事項は，表3による。
4.3.2
静電容量
4.3.2.1
一般事項
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
4.3.2.2
測定条件
個別規格に規定がない場合，静電容量の測定周波数は，100 Hz又は120 Hzとする。
実際のコンデンサ端子間に印加する交流電圧は，0.5 V（実効値）以下とする。
基本的に，測定の間，コンデンサに直流電圧は印加しないほうがよい。
なお，交流電圧によって，コンデンサに逆電圧が印加されないように，測定の間，0.7 V〜1.0 Vの直流
バイアス電圧を印加してもよい。
測定機器の確度は，絶対値又は静電容量の変化として個別規格に規定する値の±2 %以下とする。
4.3.2.3
要求事項
要求事項は，表3による。
22
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.3.3
損失角の正接（tan δ）又は等価直列抵抗（ESR）
4.3.3.1
一般事項
損失角の正接（tan δ）又は等価直列抵抗（ESR）は，JIS C 5101-1の4.8［誘電正接（損失角の正接）及
び等価直列抵抗（ESR）］によるほか，次による。
4.3.3.2
測定条件
測定条件は，4.3.2.2による。測定機器の確度は，絶対値で0.01以下とする。
4.3.3.3
要求事項
要求事項は，表3によるほか，次による。
a) 損失角の正接（tan δ）又は等価直列抵抗（ESR）の規定値は，個別規格による。
b) 非固体電解コンデンサの場合は，損失角の正接（tan δ）の代わりに，等価直列抵抗（ESR）を個別規
格に規定してもよい。
4.3.4
インピーダンス（要求がある場合）
4.3.4.1
一般事項
インピーダンスは，JIS C 5101-1の4.10（インピーダンス）によるほか，次による。
4.3.4.2
測定周波数
測定周波数は，100 Hz，120 Hz，1 kHz，10 kHz，100 kHz及びl MHzの中から，コンデンサが最も低い
インピーダンスになるような周波数を選定する。測定周波数の許容差は±20 %以内とする。測定する周波
数の値は，個別規格の規定による。
4.3.4.3
測定条件
測定電圧は，測定中にコンデンサが発熱しない，十分に低い値とし，コンデンサに1分間印加したとき，
インピーダンスの変化が認められないものとする。
測定誤差は，インピーダンスの規定値の5 %又は0.02 Ωのいずれか大きい値以下とする。
4.3.4.4
カテゴリ下限温度での測定
個別規格に規定がない場合，カテゴリ下限温度での測定周波数は，100 Hz又は120 Hzとする。
4.3.4.5
要求事項
要求事項は，表3による。
4.3.5
外部絶縁の絶縁抵抗（要求がある場合）
4.3.5.1
一般事項
外部絶縁の絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，次による。
4.3.5.2
測定条件
金属はく（箔）をコンデンサの全長にわたって密着して巻き付ける。このとき，金属はく（箔）は，端
面から5 mm以上はみ出すようにし，金属はく（箔）と端子との間隔は0.5 mm以上とする。金属はく（箔）
の両端は，コンデンサの端で折り曲げない。0.5 mmの間隔が取れない場合，0.5 mmの間隔が取れるまで，
金属はく（箔）のはみ出しを小さくする。
代替方法としてVブロック法を用いてもよい。
100 V±15 Vの直流電圧を，金属はく（箔）又はVブロックとコンデンサ端子との間に，最低1分間又
は測定器の表示が安定するまでの必要な時間の間印加する。この時間の最後に絶縁抵抗値を読み取る。
4.3.5.3
要求事項
要求事項は，表3による。
23
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.3.6
外部絶縁の耐電圧（要求がある場合）
4.3.6.1
一般事項
外部絶縁の耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，次による。
4.3.6.2
測定条件
金属はく（箔）をコンデンサの全長にわたって密着して巻き付ける。このとき，金属はく（箔）は，端
面から5 mm以上はみ出すようにし，金属はく（箔）と端子との間隔は1 mm以上とする。金属はく（箔）
の両端は，コンデンサの端で折り曲げない。1 mmの間隔が取れない場合，1 mmの間隔が取れるまで，金
属はく（箔）のはみ出しを小さくする。
代替方法として，Vブロック法を用いてもよい。
金属はく（箔）又はVブロックとコンデンサの端子との間に，直流電圧を100 V/sの割合で電圧を1 000
Vに上昇するまで徐々に印加する。
その後，1 000 Vの電圧を1分±5秒間印加する。
4.3.6.3
要求事項
要求事項は，表3による。
4.4
端子強度
4.4.1
一般事項
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
個別規格に試験方法及びその厳しさを規定する。
4.4.2
初期検査
表3による。
4.4.3
最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従って，コンデンサは，適切な照明の下で約10倍の拡大鏡で外観検査を行う。要求
事項は，表3による。
4.5
はんだ耐熱性
4.5.1
一般事項
はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。
ねじ端子コンデンサ又は個別規格にはんだ付けを意図しない端子と規定したコンデンサには適用しない。
4.5.2
試験条件
予備乾燥は，行わない。
4.5.3
後処理
後処理時間は，1時間〜2時間とする。
4.5.4
最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従って，コンデンサは，適切な照明の下で約10倍の拡大鏡で外観検査を行い，電気
的特性の測定を行う。要求事項は，表3による。
4.6
はんだ付け性
4.6.1
一般事項
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。
ねじ端子コンデンサ又は個別規格にはんだ付けを意図しない端子と規定したコンデンサには適用しない。
4.6.2
試験条件
JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）による。
24
C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
はんだ槽の温度及び試験時間は，次による。
− Sn-Pbはんだ：235 ℃±3 ℃で，（2±0.2）秒又は（5±0.5）秒間
− Sn-Ag-Cuはんだ：245 ℃±3 ℃で，（3±0.3）秒間
− Sn-Cuはんだ：250 ℃±3 ℃で，（3±0.3）秒間
はんだ槽法が適切でない場合は，こて先Aを用いて，はんだこて試験を行う。
はんだ平衡法が適切な場合は，個別規格でJIS C 60068-2-69を引用した試験を規定してもよい。
4.6.3
最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.7
温度急変
4.7.1
一般事項
温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
4.7.2
初期検査
表3による。
4.7.3
試験条件
試験条件は，次による。
− TA＝カテゴリ下限温度
− TB＝カテゴリ上限温度
− 試験サイクル数：5回
− 各温度でのさらし時間：30分間又は3時間の，いずれか個別規格に規定する時間
4.7.4
後処理
後処理時間は，16時間以上とする。
4.7.5
最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.8
振動
4.8.1
一般事項
振動は，JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，次による。
4.8.2
試験条件
コンデンサは，表6に示す中から個別規格で規定する厳しさで，3方向（X，Y及びZ）の試験を行う。
表6−振幅及び加速度
周波数
Hz
振幅又は加速度（いずれか緩い方）
時間
h
10〜55
0.35 mm又は 50 m/s2
0.5
10〜55
0.75 mm又は100 m/s2
2
10〜500
0.75 mm又は100 m/s2
2
10〜2 000
0.75 mm又は100 m/s2
2
個別規格には，周波数範囲及び取付方法を規定する。リード端子反対方向（アキシャルリード端子）で，
かつ，リード端子だけでコンデンサを固定する場合は，コンデンサ本体から6 mm±1 mm離れた箇所で端
子を固定する。
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C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.8.3
最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.9
バンプ（要求がある場合）
4.9.1
一般事項
バンプは，JIS C 5101-1の4.18［バンプ（繰返しのある衝撃）］によるほか，次による。
なお，バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するかを，個別規格に規定する。
4.9.2
試験条件
試験条件は，次による。
− バンプの総回数：一般等級コンデンサ 1 000 回
長寿命等級コンデンサ 4 000 回
− ピーク加速度 ：400 m/s2（40G）
− 作用時間 ：6 ms
個別規格には，取付方法を規定する。リード端子反対方向（アキシャルリード端子）で，かつ，リード
端子だけでコンデンサを固定する場合は，コンデンサ本体から6 mm±1 mm離れた箇所で端子を固定する。
4.9.3
最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.10 衝撃
4.10.1 一般事項
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，次による。
なお，衝撃又はバンプのいずれの試験を適用するかを，個別規格に規定する。
4.10.2 試験条件
表7に示すいずれの試験条件を適用するかを，個別規格に規定する。
パルス波形 ： 正弦半波
表7−推奨強度
ピーク加速度
m/s2
作用時間
ms
300
18
500
11
1 000
6
個別規格には，取付方法を規定する。リード端子反対方向（アキシャルリード端子）で，かつ，リード
端子だけでコンデンサを固定する場合は，コンデンサ本体から6 mm±1 mm離れた箇所で端子を固定する。
4.10.3 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.11 一連耐候性
4.11.1 一般事項
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.11.2 初期検査
表3による。
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C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.11.3 高温
高温は，JIS C 5101-1の4.21.3（高温）による。
4.11.4 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル
温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.4［温湿度サイクル（試験Db），最
初のサイクル］による。
4.11.5 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.5（低温）による。
4.11.6 減圧（要求がある場合）
4.11.6.1 一般事項
減圧は，JIS C 5101-1の4.21.6（減圧）によるほか，次による。
4.11.6.2 試験条件
試験条件は，次による
− 時間：5分間
− 温度：15 ℃〜35 ℃
− 気圧：8 kPa
4.11.6.3 試験中の直流電圧印加
規定の減圧状態で，5分間の最後の1分間に，定格電圧URを印加する。
4.11.6.4 中間測定
中間測定したとき，表3の要求事項を満足する。
4.11.7 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル
温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.7［温湿度サイクル（試験Db），残
りのサイクル］による。
4.11.8 封止（要求がある場合）
4.11.8.1 一般事項
封止は，JIS C 5101-1の4.20（封止）によるほか，次による。
試験は，一連耐候性の最後に行う。
4.11.8.2 試験条件
個別規格に方法1又は方法2のいずれを適用するかを規定する。
4.11.8.3 後処理
コンデンサを液体中に浸せきした場合，余分な液体を取り除き，標準状態に1時間〜2時間放置する。
4.11.9 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.12 高温高湿（定常）
4.12.1 一般事項
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
4.12.2 初期検査
表3による。
4.12.3 試験条件
試験条件は，次による。
− 温度：＋40 ℃±2 ℃
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C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 相対湿度：（93±3）%
− 印加電圧：電圧は印加しない
− 試験期間：10日，21日又は56日
4.12.4 後処理
後処理時間は，1時間〜2時間とする。
4.12.5 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.13 耐久性
4.13.1 一般事項
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
4.13.2 初期検査
表3による。
4.13.3 試験条件
試験条件は，次の中から選定し，その試験条件を個別規格に規定する。
− 試験時間：長寿命等級コンデンサ 2 000時間，3 000時間，5 000時間，7 000時間又は10 000時間
一般等級コンデンサ 1 000時間又は2 000時間
− 温度：カテゴリ上限温度
− 印加電圧：個別規格に規定がない場合は，定格電圧
個別規格に規定がある場合，規定の周波数50 Hz，60 Hz，100 Hz又は120 Hzの正弦波交流電圧を直流
電圧に重畳する。この場合，ピーク電圧は，定格直流電圧以下とする。また，リプル電流値は，規定値以
下とする。
a) 固体電解コンデンサの場合，電源インピーダンス値は，3 Ω以下とする。
b) 非固体電解コンデンサの場合，内部抵抗の小さい安定化電源によって直流電圧を印加する。また，コ
ンデンサごとに，又はコンデンサと直列に接続した保護抵抗器の組合せ（素子）ごとに電圧印加を行
う。保護抵抗器の抵抗値は，1個のコンデンサ又は素子が短絡しても，その他の試料に影響を与えな
いような値とし，その抵抗値は，1 kΩ以下とする。
4.13.4 後処理
後処理は，16時間以上とする。
4.13.5 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
自己復帰形の圧力弁が付いているコンデンサの場合，圧力弁の作動したときの現象（例えば，僅かな着
色又は変色，僅かなぬれなど。）は，液漏れ及び／又は外観の不適合とは判定しない。
4.14 サージ
4.14.1 一般事項
サージは，J1S C 5101-1の4.26（サージ）によるほか，次による。
4.14.2 初期検査
表3による。
4.14.3 試験条件
コンデンサは，1 000サイクルの試験を行う。試験の1周期は，次に示す充電期間と，5分30秒間の無
負荷開放（自己放電は許容する。）期間との組合せとする。
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C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 印加電圧（2.2.7参照）
1) 定格電圧が315 V以下の場合は，定格電圧の1.15倍
2) 定格電圧が315 Vを超える場合は，定格電圧の1.10倍
b) 電源の内部抵抗は，RC＝0.1 s±0.05 sとなる値とする。
注記 充電時定数は，電源の内部抵抗値と充電抵抗値との和と，コンデンサの静電容量値との積で
求められる。
c) 温度
1) 長寿命等級コンデンサの場合は，カテゴリ上限温度
2) 一般等級コンデンサの場合は，室温
d) 印加時間：30 s
4.14.4 後処理
後処理期間は，1時間〜2時間とする。
4.14.5 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
自己復帰形の圧力弁が付いているコンデンサの場合，圧力弁の作動したときの現象（例えば，僅かな着
色又は変色，僅かなぬれなど。）は，液漏れ及び／又は外観の不適合とは判定しない。
4.15 逆電圧（要求がある場合）
4.15.1 初期検査
表3による。
4.15.2 試験条件
コンデンサに次の条件Aを行い，続いて条件Bを行う。
a) 条件A
1) 試験温度：カテゴリ上限温度
2) 印加電圧
− 固体電解コンデンサ：定格電圧の0.15倍の直流電圧を，極性と逆方向に印加
− 非固体電解コンデンサ：個別規格に規定がない場合，1 Vの直流電圧を極性と逆方向に印加
3) 試験時間：125時間
b) 条件B
1) 試験温度：カテゴリ上限温度
2) 印加電圧：定格電圧に等しい直流電圧を極性方向に印加
3) 試験時間：125時間
4.15.3 後処理
後処理時間は，個別規格の規定による。
4.15.4 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.16 圧力弁（要求がある場合）
圧力弁は，JIS C 5101-1の4.28［圧力弁（アルミニウム電解コンデンサに適用）］によるほか，試験方法
の選定は，個別規格の規定による。
圧力弁は，爆発又は発火の危険なしに作動しなければならない。
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C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.17 高温保存
4.17.1 一般事項
高温保存は，JIS C 5101-1の4.25.1（高温保存）によるほか，次による。
4.17.2 初期検査
表3による。
4.17.3 試験条件
試験条件は，次による。
− 温度：カテゴリ上限温度
− 時間：96時間±4時間
4.17.4 後処理
後処理時間は，16時間以上とする。
4.17.5 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.18 低温保存（要求がある場合）
4.18.1 一般事項
低温保存は，非固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合だけ行い，JIS C 5101-1の4.25.2（低温保
存）によるほか，次による。
4.18.2 初期検査
表3による。
4.18.3 試験条件
JIS C 5101-1の4.25.2.2［（低温保存の）試験手順］による。
4.18.4 後処理
後処理時間は，16時間以上とする。
4.18.5 最終検査及び要求事項
後処理後に，表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.19 高温及び低温特性
4.19.1 一般事項
高温及び低温特性は，JIS C 5101-1の4.29（高温及び低温特性）によるほか，次による。
4.19.2 検査及び要求事項
コンデンサは，各段階で測定し，表3の要求事項を満足する。
4.20 充放電（要求がある場合）
4.20.1 一般事項
充放電は，JIS C 5101-1の4.27（充放電試験及び突入電流試験）によるほか，次による。
4.20.2 初期検査
表3による。
4.20.3 試験条件
周囲温度20 ℃±2 ℃で規定のサイクル数の充放電を行う。各サイクルの充電条件a) 及び放電条件b)
は，次による。
コンデンサの許容発熱量を超えないように，充電時間を変えないでサイクル数だけを延ばす必要がある
場合は，その試験条件を個別規格に規定する。
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C 5101-4：2019 (IEC 60384-4：2016)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 充電
− 印加電圧：定格電圧に等しい直流電圧
− 電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和：公称静電容量値との積（RC）が0.1 sとなる抵抗値
− 試験時間：0.5秒間
b) 放電
− 印加電圧：なし
− 放電抵抗値：直列抵抗値と公称静電容量値との積（RC）が0.1 sとなる抵抗値
− 試験時間：0.5秒間
c) 充放電サイクル数
− 定格電圧が160 V以下の場合：106 回
− 定格電圧が160 Vを超える場合：個別規格に規定する。
充電時定数及び放電時定数は，個別規格に規定する。
4.20.4 最終検査及び要求事項
表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.21 大電流サージ（要求がある場合）
4.21.1 一般事項
固体電解コンデンサで，かつ，要求がある場合だけ行い，JIS C 5101-1の4.39（大電流サージ）による
ほか，次による。
4.21.2 最終検査及び要求事項
表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
4.22 過渡過電圧（要求がある場合）
4.22.1 一般事項
過渡過電圧は，JIS C 5101-1の4.40［過渡過電圧（非固体電解コンデンサに適用）］によるほか，次によ
る。
4.22.2 初期検査
表3による。
4.22.3 最終検査及び要求事項
表3に従ってコンデンサは最終検査を行う。要求事項は，表3による。
JIS C 5101-1の4.40.4（下位規格に規定する事項）の事項を個別規格に規定する。
JIS C 5101-1の4.40.1（初期測定）及び4.40.3（最終検査，測定及び要求事項）の測定項目は，静電容量，
漏れ電流，損失角の正接及び個別規格に規定する項目とする。
参考文献 JIS C 5101-18 電子機器用固定コンデンサ−第18部：品種別通則−表面実装用固定アルミニウ
ム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-18，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 18:
Sectional specification−Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid
(MnO2) and non-solid electrolyte（IDT）