C 5402-16-3：2014 (IEC 60512-16-3：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
4 取付け···························································································································· 2
5 試験方法························································································································· 2
5.1 一般 ···························································································································· 2
5.2 測定及び要求事項 ·········································································································· 3
6 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 5402-16-3：2014 (IEC 60512-16-3：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-16-3：2014
(IEC 60512-16-3：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第16-3部：コンタクト及びターミネーションの
機械的試験−試験16c：コンタクト曲げ強度
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-3: Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16c: Contact-bending strength
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-3を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，コンタクトが規定の曲げモーメント又は力に耐える能力を決定するための試験方法につい
て規定する。
個別規格で規定する場合には，曲げ以外の力を加えてもよい。
この試験は，円筒形コンタクトの結合部を例示し，特に結合部分が直径1.2 mm 以下のコンタクトに適
用できるが，他の形状及び構造をもつコンタクトを除外するものではない。
この場合，個別規格は箇条6のi)，j)及びk)に示す十分な詳細を含まなければならない。
その上で，個別規格に十分な詳細が記述してある場合には，コネクタのどのような部品（例えば，キー
イング又は極性部品，ケーブルサポート又はコンタクトラッチ機構）に使用してもよい。
注記1 個別規格でJIS C 60068-2-21を引用してもよい。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-16-3:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-3:
Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16c: Contact-bending strength（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
2
C 5402-16-3：2014 (IEC 60512-16-3：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
3
準備
3.1
試料
試料は，ターミネーション付きのコンタクトとする。個別規格に規定がある場合には結線してもよい。
個別規格に要求する前処理を適用する。
3.2
装置
規定する力を加えるため，力（強度，速度，時間）を制御できる装置（例えば，汎用材料試験機）を用
いる。
個別規格に試料の特別な前処理の要求がある場合には，全ての必要な設備及びその条件を記述している
操作手順を含めなければならない。
4
取付け
試料の取付けは，適用する場合，個別規格による。
図1は，取付けの例を示し，個別規格に示す詳細を明確にする。
L
供試コンタクトの全結合長
P
力を加える点及び方向
Sp コンタクトの永久変位量
M 取付け又は保持手段
図1−コンタクト曲げ（例）
5
試験方法
5.1
一般
規定する曲げモーメント又は力は，規定する速度で規定する値に達するまで加える。
この力は，1分間維持する。その後，その力を解除する。
この試験は，互いに直角な4方向に適用する。
中空でない軸対称な円筒形コンタクト（例えば，切削加工品）の場合には，1方向だけでよい。
上記の結果，永久変位量が許容値を超える場合には，新しい試料を使用する。
注記 非対称（プレス加工品）のコンタクトの場合には，試験は最悪条件となる測定点を選択し，よ
り多くの手順で実施することが望ましい。
3
C 5402-16-3：2014 (IEC 60512-16-3：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.2
測定及び要求事項
5.2.1
試験前
JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
5.2.2
試験中
コンタクトの変位量及び永久変位量は，力を加える点で測定する。
注記 高弾性材料（例，ばね鋼又はベリリウム銅）で製作したコンタクトの場合には，永久変位量は
無視できる。一方，力を加えた時の変位量は大きくなる可能性がある。
永久変位量は，個別規格で規定する値を超えてはならない。
5.2.3
試験後
JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
6
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 試料の結線（要求がある場合）
c) 試料の特別な取付け（要求がある場合）
d) 適用する最大力
e) 力を加える点，及び取付け又は支持手段に対する関係
f)
力を加える速度
g) 永久変位量の許容値
h) 試料数
i)
JIS C 60068-2-21の適用の有無
j)
コンタクト形状に起因する特別な装置の要否。必要とする場合は，その詳細
k) この規格で規定する試験方法との相違
参考文献 JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-21，Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U:
Robustness of terminations and integral mounting devices