C 5260-5 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) ／財団
法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E（予定）
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E（予定）
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F（予定）
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
C 5260-5 : 2000
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 TC··················································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項·································································································· 2
1.4.1 外形図及び寸法 ··········································································································· 2
1.4.2 取付け ······················································································································· 3
1.4.3 形 ····························································································································· 3
1.4.4 抵抗変化特性 ·············································································································· 3
1.4.5 定格及び特性 ·············································································································· 3
1.4.5.1 定格抵抗値の範囲 ······································································································ 3
1.4.5.2 バンプ及び衝撃 ········································································································· 3
1.4.6 表示 ·························································································································· 3
1.4.7 発注時の情報 ·············································································································· 3
1.4.8 追加情報（検査目的以外のもの） ··················································································· 3
1.5 表示 ···························································································································· 3
第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ ······················································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ ····································································································· 4
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性 ······················································································ 4
2.1.3 抵抗値又は出力電圧比変化の限界 ··················································································· 5
2.1.4 絶縁抵抗 ···················································································································· 6
2.1.5 抵抗変化特性 ·············································································································· 6
2.1.6 始動トルク ················································································································· 7
2.1.7 スイッチトルク ··········································································································· 7
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 7
2.2.1 定格抵抗値 ················································································································· 7
2.2.2 定格抵抗値の許容差 ····································································································· 7
2.2.3 定格電力 ···················································································································· 7
2.2.4 素子最高電圧（最高使用量圧） ······················································································ 8
C 5260-5 : 2000 目次
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2.2.5 アイソレーション電圧 ·································································································· 8
2.2.6 附属スイッチの定格 ····································································································· 8
2.3 推奨する試験の厳しさ····································································································· 8
2.3.1 乾燥 ·························································································································· 8
2.3.2 振動（正弦波） ··········································································································· 8
2.3.3 バンプ ······················································································································· 8
2.3.4 衝撃 ·························································································································· 9
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順 ·················································································································· 9
3.1 構造的に類似な可変抵抗器······························································································· 9
3.2 品質認証 ······················································································································ 9
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証 ······················································································ 9
3.2.2 試験 ·························································································································· 9
3.3 品質確認検査 ··············································································································· 17
3.3.1 検査ロットの構成 ······································································································· 17
3.3.2 試験計画 ··················································································································· 17
3.3.3 評価水準 ··················································································································· 17
3.4 長期保管後の出荷 ········································································································· 18
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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日本工業規格 JIS
C 5260-5 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第5部：品種別通則：
単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 :
Sectional specification : Single-turn rotary low-power wirewound and
non-wirewound potentiometers
序文 この規格は，1992年に第2版として発行されたIEC 60393-5, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part5 : Sectional specihication : Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound
potentiometersを元に，規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容につ
いては，製品の現状に即して変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
第1章 一般事項
1. ···························································································································· 一般事項
1.1
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-1を品目別通則とする電子機器用可変抵抗器の品種別通則で，定
格電力が10 W未満の単回転低電力形巻線及び非巻線の可変抵抗器（以下，可変抵抗器という。）について
規定する。
備考 対応国際規格を，次に示す。
IEC 60393-5 : 1992, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 : Sectional specification :
Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound potentiometers
1.2
目的 この規格の目的は，推奨定格及び推奨特性を規定し，JIS C 5260-1から適切な品質評価手順・
試験及び測定方法を選択し，この規格の可変抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に
基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準
とする。
1.3
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規
格の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年を付記し
ていない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
2
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 0010〜0095 環境試験方法
備考 IEC 60068, Basic Environmental Testing Proceduresからの引用事項は，この規格の該当事項と
同等である。
JIS C 0010：1993 環境試験方法−電気・電子−通則
備考 IEC 60068-1 ：1978, Basic environmental testing procedures−Part 1 : Generalからのすべての引
用事項は，この規格の該当事項と同等である。
なお，JIS C 0010 : 1993は，IEC 60068-1 : 1988及びAmendment 1 : 1992と一致している。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063：1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendments 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第一部：品目別通則
備考 IEC 60393-1：1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic Specification
及びAmendment 1 : 1992からのすべての引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
IEC QC 001001：1986, Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components (IECQ)
Amendment 2 : 1994
IEC QC 001002：1986, Rules of Procedures of the IEC Quality assessment system for electronic components
(IECQ)
Amendment 2 : 1994
1.4
個別規格に規定する事項 個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は，JIS C 5260-1及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも緩い要求事項を規定し
てはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に規定し，例えば，ア
ステリスク (＊) を付けて試験計画の中に明示する。
備考 この規格の1.4.1及び1.4.3に規定する事項は，一覧表で示してもよい。
個別規格には，次の事項を規定し，それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。
1.4.1
外形図及び寸法 個別規格には，規定する可変抵抗器を図示する。検査に必要な詳細寸法を示すの
に紙面が不足する場合は，附属書を設けて，そこに図面及び寸法を示す。
図面には，次の事項を規定する。
− 操作軸及び取付ねじの寸法。これらは外形図で示すか，又はJIS C 5260-1の附属書2を引用して示す。
− 位置決め装置
− 全機械的操作範囲
3
C 5260-5 : 2000
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− 有効電気的操作範囲
− 無効機械的回転角度
− スイッチの角度（適用する場合）
− スイッチの寸法及びその端子の位置（スイッチ付の場合）
− JIS C 5260-1の4.4.2［寸法（ゲージ法）］によって測定する寸法
− 可変抵抗器を的確に表すためのその他の寸法
すべての寸法は，ミリメートルで示す。ただし，元の寸法がインチで示されている場合は，ミリメート
ルに換算した寸法を追記する。
可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には，そのことを個別規格の中に明記する。
1.4.2
取付け 個別規格には，耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法並びに振動（正弦波）及び
バンプ又は衝撃の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は，通常の状態で取り付ける。可変抵
抗器の設計上，特別な取付具が必要な場合には，個別規格にその取付具を規定する。この取付具は，耐電
圧及び絶縁抵抗の試験並びに振動（正弦波）及びバンプ又は衝撃の試験に使用する。試験中に寄生振動が
ないように取り付ける。
1.4.3
形状［JIS C 5260-1の2.2.3（形状）参照］ 形状は，それぞれの個別規格ごとに任意に選択した二
つの文字，例えばABなど2英文字で表す。したがって，この形状記号は，個別規格の番号が与えられな
ければ意味をなさない。
備考 形状の記号は，JIS C 5260-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4
抵抗変化特性 抵抗変化特性は，2.1.5による。
1.4.5
定格及び特性 定格及び特性は，次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。
1.4.5.1
定格抵抗値の範囲 定格抵抗値の範囲は，2.2.1による。定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063に規
定のEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズとする。
備考 IECQの場合は，IECQの品質認証制度によって認定された個別規格の製品と，この規格の定
格抵抗値の範囲が異なる場合には，次の記述を追加する。
“各形状の定格抵抗値範囲は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.5.2
バンプ及び衝撃 バンプ及び衝撃の試験は，そのどちらの試験を適用するかを個別規格に規定す
る。
1.4.6
表示 個別規格に，可変抵抗器及び包装への表示内容を規定する。
なお，この規格の1.5と相違する点があれば，それらを明記する。
1.4.7
発注時の情報 個別規格には，発注時に次の事項を明確に示すか，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
c) 個別規格の番号及び版に関する情報並びに形状に関する事項
d) 形状の情報で分からないときは，操作軸及び取付ねじの寸法。
1.4.8
追加情報（検査目的以外のもの） 個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲線，
図面及び備考による情報を含めてもよい。この情報は，検査する必要はない。
1.5
表示 表示は，JIS C 5260-1の2.4（表示）によるほか次のとおりとする。
1.5.1
一般事項 可変抵抗器に表示する内容は，次の項目から選択する。各項目の重要度は，次の記載順
とする。
a) 定格抵抗値
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C 5260-5 : 2000
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b) 定格抵抗値の許容差
c) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
d) 引用する個別規格及び形状
e) 製造年月又は製造年週
f)
操作軸及び取付ねじの詳細［上記のd)に含まれない場合］この場合コード化してもよい。
g) 製造業者名又はその商標
h) スイッチの定格電圧（適用するときは，交流及び／又は直流の定格）
i)
スイッチの定格電流（適用するときは，交流及び／又は直流の定格）
j)
対になる端子（双極スイッチの場合）及び電源に接続する端子
備考 表示は，JIS C 5260-1の附属書1によってもよい。
1.5.2
可変抵抗器には，少なくとも1.5.1のa)及びb)を表示し，その他の項目をできるだけ多く明りょう
に表示する。可変抵抗器に表示する項目は，重複を避ける。
スイッチ付の場合は，スイッチに1.5.1のh)，i)及びj)を明りょうに表示する。
備考 表示は，JIS C 5260-1の附属書1によってもよい。
1.5.3
可変抵抗器の包装には，1.5.1のa)からg)までの内容を，更に，スイッチ付可変抵抗器の場合は，
h)及びi)の内容を表示する。
1.5.4
表示項目を追加する場合は，混乱しないようにする。
第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2.1
推奨特性 個別規格に規定する値は，次の中から選択することが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ この規格に含まれる可変抵抗器は，JIS C 0010の附属書Aに規定する一般
原則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験時間は，次の中から選択する。
カテゴリ下限温度 ：−65 ℃，−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃
カテゴリ上限温度 ：＋70 ℃，＋85 ℃，＋100 ℃，＋125 ℃及び＋155 ℃
高温高湿（定常）の試験時間：4日，10日，21日及び56日
低温（耐寒性）及び高温（耐熱性）試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある種の可変抵抗器は，その構造のため，これらの温度がJIS C 0010〜0095に規定する二つの推
奨温度と一致しないことがある。この場合には，可変抵抗器の実際温度範囲内の最も近い推奨温度を厳し
さとして選択する。
2.1.2
抵抗温度係数及び抵抗温度特性 抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表IA（非巻線可
変抵抗器に適用）及び表IB（巻線可変抵抗器に適用）に示す。
表の各欄は，推奨温度係数，20 ℃〜70 ℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温
度に基づく抵抗温度特性の測定［JIS C 5260-1の4.14［温度による抵抗変化］参照。］での抵抗値変化の限
界を規定する。
一つの個別規格の中に，抵抗値範囲を分割してそれぞれに異なる温度特性（又は温度係数）を規定して
もよい。
表に示す以外の測定温度を追加する場合には，個別規格に規定する。
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C 5260-5 : 2000
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表IA 抵抗値変化の推奨限界（非巻線可変抵抗器に適用）
温度係数
温度特性
抵抗温度特性（抵抗値の許容変化率%）
20℃/
70℃
基準温度 ℃／カテゴリ下限温度 ℃
基準温度 ℃／カテゴリ上限温度 ℃
10−6/℃
%
＋20/−65 ＋20/−55 ＋20/−40 ＋20/−25 ＋20/−10 ＋20/＋85* ＋20/＋100 ＋20/＋125 ＋20/＋155
−800/
−2 500
−4/
−12.5
＋6.8/
＋21.3
＋6/
＋18.75
＋4.8/
＋15
＋3.6/
＋11.3
＋2.4/
＋7.5
−5.2/
−16.25
−6.4/
−20
−8.4/
−26.25
−10.8/
−33.75
−400/
−1 000
−2/
−5
＋3.4/
＋8.5
＋3/
＋7.5
＋2.4/
＋6
＋1.8/
＋4.5
＋1.2/
＋3
−2.6/
−6.5
−3.2/
−8
−4.2/
−10.5
−5.4/
−13.5
−150/
−600
−0.75/
−3
＋1.3/
＋5.1
＋1.13/
＋4.5
＋0.9/
＋3.5
＋0.68/
＋2.7
＋0.4/
＋1.8
−0.98/
−3.9
−1.2/
−4.8
−1.58/
−6.3
−2.02/
−8.1
±1 000
±5
±8.5
±7.5
±6
±4.5
±3
±6.5
±8
±10.5
±13.5
±500
±2.5
±4.3
±3.75
±3
±2.25
±1.5
±3.25
±4
±5.25
±6.75
±250
±1.25
±2.15
±1.88
±1.5
±1.13
±0.75
±1.62
±2
±2.62
±3.38
±150
±0.75
±1.3
±1.15
±0.9
±0.68
±0.45
±0.98
±1.2
±1.6
±2.05
±100
±0.5
±0.85
±0.75
±0.6
±0.45
±0.3
±0.65
±0.8
±1.05
±1.35
±50
±0.25
±0.43
±0.375
±0.3
±0.23
±0.15
±0.325
±0.4
±0.525
±0.675
＋600/
−200
−3/
＋3
−5.1/
＋1.7
−4.5/
＋1.2.5
−3.5/
＋1.2.5
−2.7/
＋0.9
＋1.8/
＋0.6
＋3.9/
−1.3
＋4.8/
−1.6
＋6.3/
−2.1
＋8.1/
−2.7
±250
±1.25
±2.15
±1.88
±1.5
±1.13
±0.75
±1.62
±2
±2.62
±3.38
±150
±0.75
±1.3
±1.15
±0.9
±0.68
±0.45
±0.98
±1.2
±1.6
±2.05
±100
±0.5
±0.85
±0.75
±0.6
±0.45
±0.3
±0.65
±0.8
±1.05
±1.35
±50
±0.25
±0.43
±0.375
±0.3
±0.23
±0.15
±0.325
±0.41
±0.525
±0.675
±25
±0.125
±0.215
±0.188
±0.15
±0.113
±0.075
±0.162
±0.2
±0.262
±0.0338
*
カテゴリ上限温度が85 ℃の可変抵抗器は，70 ℃での測定を行わない。
参考 表中の“／”は，温度では二つの試験温度を表し，その他の項目では範囲を表す。
表IB 抵抗値変化の推奨限界（巻線可変抵抗器に適用）
温度係数
温度特性
抵抗温度特性（抵抗値の許容変化率%）
20℃/
70℃
基準温度 ℃／カテゴリ下限温度 ℃
基準温度 ℃／カテゴリ上限温度 ℃
10−6/℃
%
＋20/−65 ＋20/−55 ＋20/−40 ＋20/−25 ＋20/−10 ＋20/＋85* ＋20/＋100 ＋20/＋125 ＋20/＋155
＋600/
−200
−3/
＋3
−5.1/
＋1.7
−4.5/
＋1.2.5
−3.5/
＋1.2.5
−2.7/
＋0.9
＋1.8/
＋0.6
＋3.9/
−1.3
＋4.8/
−1.6
＋6.3/
−2.1
＋8.1/
−2.7
±250
±125
±2.15
±1.88
±1.5
±1.13
±0.75
±1.62
±2
±2.62
±3.38
±150
±0.75
±1.3
±1.15
±0.9
±0.68
±0.45
±0.98
±1.2
±1.61
±2.05
±100
±0.5
±0.85
±0.75
±0.6
±0.45
±0.3
±0.65
±0.8
±1.05
±1.35
±50
±0.25
±0.43
±0.375
±0.3
±0.23
±0.15
±0.325
±0.4
±0.525
±0.675
±25
±0.125
±0.215
±0.188
±0.15
±0.13
±0.075
±0.162
±0.2
±0.262
±0.0338
*
カテゴリ上限温度が85 ℃の可変抵抗器は，70 ℃での測定を行わない。
参考 表中の“／”は，温度では二つの試験温度を表し，その他の項目では範囲を表す。
2.1.3
抵抗値又は出力電圧比変化の限界 表IIに各試験での抵抗値変化又は出力電圧比変化の推奨限界
を示す。
備考 表IIの項目番号は，JIS C 5260-1による。
6
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表II 安定性クラス
安
定
性
ク
ラ
ス
％
4.38 一連耐候性
4.39 高温高湿（定
常）
4.40 機械的耐久
性
4.43.2 70℃での電
気的耐久性
4.43.3 カテゴリ
上限温度での電気
的耐久性
4.34 温度変化
4.30 端子強度
4.33 はんだ耐熱性
4.35 振動（正弦波）
4.36 バンプ
4.37 衝撃
4.22 操作軸の押し
及び引張り
4.34 温度変化
4.35 振動（正弦波）
（適用する場合）
端子aとcとの間の∆R
備考 原国際規格では，∆R/Rと記載されているが，∆Rの誤り
であり訂正した。
ac
ab
U
U
⊿
（備考1.参照）
ac
ab
U
U
⊿
（備考1.参照）
非巻線可変抵抗器
20 ±（20 %R＋0.5 Ω)
±(5 %R＋0.1 Ω)
±(5 %R＋0.1 Ω)
±5 %
±5 %
15 ±(15 %R＋0.5 Ω)
±(5 %R＋0.1 Ω)
±(3 %R＋0.1 Ω)
±3 %
±3 %
10 ±(10 %R＋0.5 Ω)
±(3 %R＋0.1 Ω)
±(2 %R＋0.1 Ω)
±2 %
±2 %
5 ±(5 %R＋0.1 Ω)
±(2 %R＋0.1 Ω)
±(1 %R＋0.1 Ω)
±1 %
±1 %
2 ±(2 %R＋0.1 Ω)
±(1 %R＋0.05 Ω)
±(0.5 %R＋0.05 Ω)
±0.5 %
±0.5 %
巻線可変抵抗器
5 ±(5 %R＋0.1 Ω)
±(2 %R＋0.1 Ω)
±(1 %R＋0.05 Ω)
±1 %
±1 %
3 ±(3 %R＋0.1 Ω)
±(2 %R＋0.1 Ω)
±(1 %R＋0.05 Ω)
±1 %
±1 %
2 ±(2 %R＋0.1 Ω)
±(1 %R＋0.05 Ω)
±(0.5 %R＋0.05 Ω)
±0.5 %
±0.5 %
備考1. 出力電圧比変化
ac
ab
U
U
⊿
は，全印加電圧に対する百分率で表す。
参考 ∆Rは，抵抗値変化を表す。
%Rは．定格抵抗値に対する百分率である。
2.1.4
絶縁抵抗 絶縁抵抗は，1 GΩ以上とする。ただし，耐湿性試験後は100 MΩ以上とする。
2.1.5
抵抗変化特性 抵抗変化特性の推奨測定位置及び出力電圧比を次に示す。
a) 非巻線可変抵抗器
表IIIA
抵抗変化特性
有効電気的操作範囲
の割合 (%)
出力電圧比
ac
ab
U
U
%
B（直線的特性）
47〜53
R＜0.22 MΩ：40〜60
R≧0.22 MΩ：35〜65
A（対数的特性）
30〜36
1.5〜8
64〜70
10〜40
C（逆対数的特性）
30〜36
60〜90
64〜70
92〜98.5
7
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表IIIB
抵抗変化特性
有効電気的操作範囲
の割合 (%)
(±1°)
出力電圧比
ac
ab
U
U
%
B（直線的特性）
33.3
33.3±2.5
50
50±2.5
66.7
66.7±2.5
A（対数的特性）
25
12.5±5
50
29.5±5
C（逆対数的特性） 25
37.5±5
50
70.5±5
参考 IEC 60393-5では，直線的特性をA，対数的特性をBと規定しているが，日本工業規格の関連
規格及び個別規格では，従来から上記の記号を使用しており，取引上の混乱を避けるためJIS C
5260-1と同様に従前の記号とした。
2.1.6
始動トルク
2.1.6.1
標準状態
操作軸が気密でない場合 3.5 mN･m〜50 mN･m
操作軸が気密である場合 3.5 mN･m〜100 mN･m
2.1.6.2
カテゴリ下限温度
操作軸が気密でない場合 3.5 mN･m〜150 mN･m
操作軸が気密である場合 3.5 mN･m〜300 mN･m
2.1.7
スイッチトルク
2.1.7.1
標準状態 200 mN･m以下
2.1.7.2
カテゴリ下限温度 400 mN･m以下
2.2
推奨定格値 個別規格に規定する値は，次の各項の中から選択することが望ましい。
2.2.1
定格抵抗値 JIS C 5260-1の2.3.2（定格抵抗値の推奨値）による。
2.2.2
定格抵抗値の許容差 定格抵抗値の許容差の推奨値は，次による。
非巻線：±30 %，±20 %，±10 %及び±5 %
巻線 ：±10 %及び±5 %
2.2.3
定格電力 70 ℃での定格電力の推奨値は，次のR5シリーズとする。
0.063 W，0.1 W，0.16 W，0.25 W，0.4 W，0.63 W，1 W，1.6 W，2.5 W，4 W，6.3 W及び10 W
70℃を超える温度での電力の軽減値は，次の曲線による。
上の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には，より広い動作領域を個別規格に規定
8
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
してもよい。この場合には，個別規格に70 ℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし，曲線
上の折れ点を試験によって確認しなければならない。
動作領域が広げられた軽減曲線の例
2.2.4
素子最高電圧（最高使用量圧） 素子最高電圧の推奨値は，次による。
100V，160 V，200 V，250 V，315 V，400 V，500 V，630 V，800 V及び1 000 V（直流又は交流実
効値）
2.2.5
アイソレーション電圧 アイソレーション電圧は，丸めて10 V単位の値とし，個別規格に規定す
る。アイソレーション電圧の値は，次による。
大気圧下：最高使用電圧の1.42倍以上
減圧下 ：8 kPa，大気圧下でのアイソレーション電圧の2/3倍
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.2.6
附属スイッチの定格 スイッチの推奨定格は，次による。
交流実効値：
1 A-125 V，1 A-250 V，2 A-250 V，3 A-125 V及び4 A-250 V
直流：
1 A-250 V
2.3
推奨する試験の厳しさ 個別規格に規定する試験の厳しさは，次の中から選択することが望ましい。
2.3.1
乾燥 JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
2.3.2
振動（正弦波） JIS C 5260-1の4.35［振動（正弦波）］及び次の条件を適用する。
振動数範囲： 次のどれかとする。
10Hz〜55 Hz
10Hz〜500 Hz
10Hz〜2 kHz（非巻線可変抵抗器の場合）
振幅 ： 0.75 mm又は加速度98 m/s2（どちらか緩い方）
掃引耐久試験
総試験時間： 6 h
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.3
バンプ JIS C 5260-1の4.36（バンプ）及び次の条件を適用する。
ピーク加速度：400 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
バンプ回数 ：合計4 000
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
9
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.3.4
衝撃 JIS C 5260-1の4.37（衝撃）及び次の条件を適用する。
パルス波形 ：正弦半波
ピーク加速度：500 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
作用時間 ：11 ms
厳しさ ：試料の一方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1
構造的に類似な可変抵抗器 構造的に類似な可変抵抗器とは，抵抗値が異なっていても，同様な工
程及び材料で製造され，同一の形状，構造であり，同一又は類似の操作軸及び取付ねじをもつ可変抵抗器
とする。
3.2
品質認証 品質認証試験の手順は，JIS C 5260-1の3.4（品質認証手順）による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は，この規格の3.3による。定数抜取の
計画を用いた手順は，次の3.2.1及び3.2.2による。
3.2.1
定数抜取手順に基づく品質認証 定数抜取手順は，JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は，認
証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは，個別規格に規定している全範囲でなくて
もよい。
試料は，認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には，その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には，別々の抵抗温度係数を代表する係数を含める。同様にして，認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は，製造業者の管理責
任者が提案する。IECQの場合は，国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は，次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個，各温度係数又は温度特性ごとに1個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個，各温度係数又は温
度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には，追加した試験群に必要な試料数を群“0”に追
加する。
3.2.2
試験 個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために，表IVに規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は，記載の順で行う。
全試料について，群“0”の試験を行い，その後にその他の群に分割する。
群“0”の試験での不良品は，その他の群に使用してはならない。
1個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には，“1個の不良”として数える。
不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IVに定数抜取の試験計画を示す。これは，各試験群ごとに抜取方法，合格判定個数及び総
合格判定個数の個別規定を含み，また，JIS C 5260-1の第4章（試験及び測定方法）及びこの
規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表IVは，試験方法，試験条件及び／又は要求性能について個別規格に規定するための選択
10
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
内容を示す。
定数抜取の試験計画のための試験条件及び要求性能は，品質確認検査について個別規格に規
定する内容と同一とする。
表IV 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の厳しさの一部及び
抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は，この規格の関連項目による。
2. この表で：
n＝試料数
c＝合格判定個数（群当たりの許容不良数）。群2では，(1)，(2)及び(3)でそれぞれ1個の
不良は許容されるが，群合計では2個以内とする。
t＝総合格判定個数（一つ又は幾つかの連結された群，例えば，群0,群1〜8に対する許容
不良数）
D＝破壊試験
ND＝非破壊試験
参考 表中の
ac
ab
U
U
⊿
は，全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
表中の∆Rは，抵抗値の変化量を示す。
表中の“%R”は，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表IV 品質認証の試験計画(続き)
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群0
ND
46＋3
1
1
4.4.1 外観
（備考9.参照）
4.4.1による。表示が明りょう
で，個別規格の規定による。
4.6 素子抵抗値
4.6.3による。
4.4.2 寸法（ゲージ法）
個別規格の規定による。
4.7 端子間抵抗値（最小抵抗
値）
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
R≦...Ω
4.4.4 全機械的操作範囲
個別規格の規定による。
4.5 連続性
（巻線可変抵抗器だけに適用）
適用する場合は，4.5.1及び
4.5.2による。
4.15 しゅう動雑音
方法A（非巻線可変抵抗器に適
用）
又は方法B（巻線可変抵抗器に
適用）∆θ0 :
U≦...mV
R≦...%R
4.12 耐電圧
（絶縁形可変抵抗器だけに適
用）
（取付方法は備考10.による。）
大気圧下
4.12.5による。
4.11 スイッチ接触抵抗（適用
する場合）
スイッチ接触抵抗を測定後，負
荷をかけてスイッチを5回
〜10回操作する。
R≦...mΩ
スイッチが外観的に本来の動
作をする。
群1
D
8
1
3
4.18 始動トルク
個別規格の規定による。
11
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
4.31.1 静的な封止
（種類A）
備考3.による。
リーク量は1 cm3/h以下
4.31.2.1 動的な封止
（種類B）
備考3.による。
4.31.2.1による。
4.31.3 容器の封止
備考3.による。
4.31.3による。
4.32 はんだ付け性
（適用する場合）
はんだ槽法
温度：235 ℃±5 ℃
時間：2 s±0.5 s
又は
方法2：はんだこて法
はんだこて先：B
温度：350 ℃±10 ℃
時間：2 s±0.5 s
端子は，はんだが良好に付着し
ている。
4.45 表示の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法1 ラビング材質：脱脂綿
後処理：...
表示が明りょうである。
4.21 操作軸固定トルク
（適用する場合）
出力電圧比
外観
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
4.21.2による。
備考 原国際規格では，
4.21.3と記載され
ているが，4.21.2
の誤りであり訂正
した。
4.20 回転止め強度
外観
4.20.1による。
4.22 操作軸の押し及び引張
り
−
試料数3
4.22.2を適用
連続性
4.22.2による。
−
試料数3
4.22.3を適用
出力電圧比
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
−
試料数2
4.22.4を適用
外観
4.22.4による。
4.40 機械的耐久性
（可変抵抗器）
（備考4参照）
操作サイクル数：...
操作速度：...サイクル/min
外観
4.40.6による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω) ...
始動トルク
mN･m〜...mN･m
しゅう動雑音：
方法A（非巻線可変抵抗器に適
用）
U≦...mV
又は
方法B（巻線可変抵抗器に適
用），∆θ0:...
R≦...%R
封止（適用する場合）
−
4.31.3を適用
4.31.3による。
12
C 5260-5 : 2000
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
（容器封止可変抵抗器にだ
け適用）
−
4.31.2.1を適用
4.31.2.1による。
備考
各方向に予備的に
圧力をかけることは許容さ
れる。
4.41 容量性負荷による電源
スイッチの交流耐久性
（備考4.と備考11.を参照）
外観
4.41.5による。
接触抵抗
R≦...mΩ
温度上昇
t≦...℃
絶縁抵抗
R≧...MΩ
耐電圧：...Vrms
絶縁破壊又はフラッシュオー
バがない。
又は
4.42 スイッチの直流耐久性
（付属スイッチがある場合）
（備考4.と備考11を参照）
外観
4.42.2.1による。
スイッチ接触抵抗
R≦...mΩ
スイッチトルク
この群の始めに測定した始
動トルクの2倍以上で200
mN･m以下である。
絶縁抵抗
R≧1 GΩ
（絶縁形可変抵抗器だけに
適用）（取付方法は備考
10.による。）
耐電圧
4.42.2.5による。
（絶縁形可変抵抗器だけに
適用）（取付方法は備考
10.による。）
群2
D
13
2
(1) 試料数7
7
1
4.30 端子強度
端子の形式に対応した試験を
行う。
4.30.8による。
外観
∆R≦± (...%R＋...Ω)
素子抵抗値
4.33 はんだ耐熱性（適用する
場合）
試験Tb，方法1B
温度：350 ℃±10 ℃
時間：3.5 s±O.5 s
又は
方法2
はんだこて先：A
温度：350 ℃±10 ℃
時間：10 s±1 s
∆R≦± (...%R＋...Ω)
素子抵抗値
端子間抵抗値：
R≦...Ω
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
4.44 本体の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：...
個別規格の規定による。
溶剤の温度：...
方法2
後処理：...
13
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
(2) 試料数6
6
1
4.34 温度変化
（備考12.参照）
備考5.による。
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
備考 記号θA及びθBをTA及びTB
に変更した。
放置時間t1＝30 min
外観
4.34.5による。
出力電圧比
（半固定可変抵抗器だけに適
用）
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.36 バンプ（又は4.37 衝撃）
（備考6.参照）
取付方法：個別規格の規定によ
る。
ピーク加速度：400 m/s2
（この規格の2.3.3参照）
バンプ回数：4 000
外観
4.36.3による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.37 衝撃（又は4.36 バンプ）
（備考6.参照）
取付方法：個別規格の規定によ
る。
パルス波形：片正弦波
ピーク加速度：500 m/s2
（この規格の2.3.4参照）
作用時間：11 ms
外観
4.37.3による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.35 振動（正弦波）
（備考7.参照）
取付方法：個別規格の規定によ
る。
掃引耐久試験
振動数範囲：...Hz〜...Hz
振幅：0.75 mm又は加速度98
m/s2（どちらか緩い方）
総試験時間：6 h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性（4.35.4を適
用）
100 μsを超える不連続性がな
い。
最終測定
4.35.5による。
外観
出力電圧比（半固定可変抵抗
器だけに適用）
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
(3) すべての試料
13
1
4.38 一連耐候性
− 高温（耐熱性）
外観
4.38.2.2による。
− 温湿度サイクル
（12+12時間サイクル）の
14
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
最初のサイクル
− 低温（耐寒性）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
スイッチトルク（適用する場
合）
T≦400 mN･m
− 減圧
8 kPa
備考
JIS C 5260-1で引
用しているJIS C 0029に合
わせて変更した。
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は備考
10.による。）
4.38.5.3による。
− 温湿度サイクル
（12＋12時間サイクル）
の残りのサイクル
− 直流負荷
備考8.による。
− アイソレーション電圧
備考8.による。
4.38.8による。
備考
原国際規格では，
4.38.2と記載されているが，
4.38.8の誤りであり訂正し
た。
− 最終測定
外観
4.38.10.1による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は備考
10.による。）
R≧100 MΩ
スイッチ接触抵抗（適用する場
合）
R≦...mΩ
連続性
適用する場合は，4.5.1及び
4.5.2による。
始動トルク
...N･m〜...mN･m
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は備考
10.による。）
4.38.10.7による。
群3
D
8
1
4.43.2 70 ℃での電気的耐久
性
試験時間：1 000 h
48 h，500 h及び1 000 hでの
検査：
外観
4.43.2.6のa)による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
1 000 hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は
備考10.による。）
しゅう動雑音：
15
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
方法A（非巻線可変抵抗
器）
又は
方法B（巻線可変抵抗器），
∆θ0 : ...
U≦...mV
R≦...%R
個別規格で要求がある場合は，
8 000 hまで延長する。
2 000 h，4 000 h及び8 000 hで
の検査：
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
結果は，情報としてだけに扱
う。
群4
ND
8
1
4.4.4 全機械的操作範囲
個別規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲
有効電気的操作角度
θ≧...°
無効操作角度（反時計方向）
θ≦...°
無効操作角度（時計方向）
θ≦...°
4.9 抵抗変化特性
（個別規格には，この規格の
2.1.5から選んだ試験条件と
必要性能を規定する。）
4.4.3 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
群5
D
8
1
4.39 高温高湿（定常）
1) 4.39.2.1
第1のグループ：試料数2
第2のグループ：試料数3
第3のグループ：試料数3
2) 4.39.2.2
第1のグループ：試料数4
第2のグループ：試料数4
直流負荷（備考8.による。）
アイソレーション電圧（備考
8.及び取付方法は備考10.に
よる。）
4.39.4による。
最終測定
外観
4.39.6.1による。
素子抵抗値
∆R≦±（...%R+...Ω）
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は備考
10.による。）
R≦100 MΩ
R≦...mΩ
スイッチ接触抵抗（適用する場
合）
適用する場合は，4.5.1及び
4.5.2による。
連続性（巻線可変抵抗器だけに
適用）
...mN･m〜...mN･m
始動トルク
しゅう動雑音：
U≦...mV
方法A（非巻線可変抵抗器に適
用）
又は
R≦...%R
16
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
方法B（巻線可変抵抗器に適
用），∆θ0
4.39.6.8による。
耐電圧（絶縁可変抵抗器だけに
適用）（取付方法は備考10.
による。）
群6
D
8
1
4.43.3 カテゴリ上限温度での
電気的耐久性（適用する場合備
考7.参照）
試験時間：1 000h
−
端子aとcとの間
に負荷48 h，500 h及び1 000
hでの検査：
外観
素子抵抗値
4.43.3.7のa)による。
−
端子aとbとの間
に負荷48 h，500 h及び1 000
hでの検査：
∆R≦± (...%R＋...Ω)
外観
端子aとbとの間の抵抗値
4.43.3.7のa)による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
1 000 hでの検査：
∆R≦± (...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は備考
10.による。）
群7
ND
8
1
4.14 抵抗温度特性
カテゴリ下限温度/20 ℃
R
R
⊿
≦...%
20 ℃/70 ℃
R
R
⊿
≦...%
20 ℃／カテゴリ上限温度
R
R
⊿
≦...%
群8
D
8
1
4.43 70 ℃以外の温度での電気
的耐久性（適用する場合，備考
9.参照）
（この群は，この規格の2.2.3
に規定するものと異なる軽
減曲線を個別規格で規定す
る場合だけに適用する。）
試験時間：1 000 h
− 端子aとcとの間に負荷
48 h, 500h, 1000hでの
検査：
外観
4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（群3と同じ）
− 端子aとbとの間に負荷
48 h, 500 h及び1 000 h
での検査：
外観
4.43.1.6のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（群3と同じ）
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
1 000 hでの検査：
17
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は備
考10.による。）
R≧1 GΩ
備考3. 封止の試験は，可変抵抗器が封止の構造をもっている場合に適用する。
種類Aの封止試験(4.31.1)及び種類Bの封止試験(4.31.2.1)は，操作軸とパネルとが封止された可変抵抗器
に対し1回行う。
4. スイッチ付可変抵抗器の場合は，可変抵抗器部及びスイッチ部の機械的耐久性試験を一つの試験として同
時に実施する。
5. 適用できる場合は，半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. バンプ試験及び衝撃試験は，どちらか方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
7. この試験は耐候性カテゴリが25/-/-，40/-/-，55/-/-及ぴ65/-/-の可変抵抗器に適用する。
8. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は，どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別
規格に規定する。
9. “群8”を適用する場合は，“群0”の試料数を8個増やす。
10. 取付方法は，JIS C 5260-1の4.12（耐電圧）及び4.13（絶縁抵抗）の該当する方法によるほか，次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは，JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは，本体で取り付ける穴があっても，端子でプリント配線
板に取り付けて試験する。
11. 個別規格には，4.41及び4.42のどちらを適用するかを規定する。
12. この試験は，カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との温度差が95 ℃以上の場合に適用する。
3.3
品質確認検査
3.3.1
検査ロットの構成 検査ロットは，構造的に類似な可変抵抗器（3.1参照）で構成し，次による。
a) 群A及び群B:製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C：
1) 試料は，13週にわたって集める。
2) 試料は，期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D： 群Cと同じとする。ただし，試料は，検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は，高抵抗値，低抵抗値及び臨界抵抗値の釣り合いが十分にとれているものとする。
3.3.2
試験計画 品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブ
ランク個別規格JIS C 5260-5-1及びJIS C 5260-5-2の第2章（検査の要求事項）の表IIに示す。
3.3.3
評価水準 ブランク個別規格及び個別規格に規定する評価水準は，次の表VA及び表VBの中から
選択することが望ましい。
18
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表VA 評価水準とロットごとの品質確認検査
検査副群**
D*
E
F
G*
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
A1
II
4.0
S-3
4
A2
II
1.0
S-3
1.5
A3
S-2
4.0
S-3
2.5
A4
S-2
4.
−
−
B1
S-2
1.5
S-2
2.5
B2
S-2
1.5
S-2
2.5
IL＝検査水準
AQL＝合格品質水準
表VB 評価水準と定期的品質確認検査
検査副群
**
D*
E
F
G*
P
n
c
P
n
c
P
n
c
P
n
c
C1
3
8
1
3
5
1
C2
3
13
2
3
5
1
C3
3
8
1
6
8
1
C4
3
8
1
6
8
1
D1
12
8
1
12
5
1
D2
36
8
1
12
8
1
D3
36
8
1
12
5
1
D4
36
8
1
24
5
1
D5
36
8
1
24
8
2
P＝周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定個数
注*
評価水準D及びGは，考慮中。
** 検査副群の内容は，関連するブランク規格の第2章（検査の要求事項）に規定す
る。
3.4
長期保管後の出荷 検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2（長期保管後の出荷）の規定を適
用し，（炭素系混合体可変抵抗器を除いて）期間を2年とする。炭素系混合体可変抵抗器の場合は，期間を
1年とすることが望ましい。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子衝撃試験方法
JIS C O042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
JIS C 5260-5-1 電子機器用可変抵抗器−第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び
非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 電子機器用可変抵抗器−第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び
非巻線可変抵抗器 評価水準F
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
19
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
窪 田 明
通商産業省
橋 爪 邦 隆
通商産業省
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 己
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
辻 伊佐男
株式会社タイツウ
川 井 一 成
ルビコン株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
吉 田 實
東北アルプス株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司
アルプス電気株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
20
C 5260-5 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5260-5分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
吉 田 實
東北アルプス株式会社
（委員）
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
松 浦 伸 夫
栄通信工業株式会社
本 田 義 夫
KOA株式会社
大 浦 昭 夫
高信頼性部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 本 克 己
ソニー株式会社
林 里 史
ツバメ無線株式会社
赤 津 洋 一
帝国通信工業株式会社
中 島 久 男
日本電気株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
野 津 秀 雄
株式会社村田製作所
曽我部 浩 二
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会