C 5402-2-3：2004 (IEC 60512-2-3：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-2-3:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2c:
Contact resistance variationを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-2-3：2004 (IEC 60512-2-3：2002)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 準備 ······························································································································ 2
3.1 機器 ···························································································································· 2
3.2 試料の取付け ················································································································ 2
4. 試験方法 ························································································································ 2
5. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-2-3：2004
(IEC 60512-2-3：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―
第2-3部：導通及び接触抵抗試験―
試験2c：接触抵抗の変動
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements -
Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests -
Test 2c: Contact resistance variation
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-2-3，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2c: Contact resistance
variationを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，規定した動的条件下における電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）
の接触抵抗の変動を決定するための試験方法について規定する。この試験は，試験2aによって接触抵抗を
測定したコネクタについて行う。この試験は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-2-3:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-3:
Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2c: Contact resistance variation (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−試験2a：接
触抵抗−ミリボルトレベル法
備考 IEC 60512-2-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:
Electrical continuty and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level
methodが，この規格と一致している。
2
C 5402-2-3：2004 (IEC 60512-2-3：2002)
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3. 準備
3.1
機器 接触抵抗の変動は，個別規格に規定する測定点の電圧降下を表示する測定器によって決定す
る。
この測定機器（例えば，低速域から高速域までの過渡現象に対応するオシロスコープ及びレコーダ）は，
個別規格に規定する周波数帯域及び感度の要求事項に適合していなければならない。
備考 接触抵抗の変動が1 mΩの場合には，そのほとんどの場合において直流から2 kHzまでの周波
数帯域及び50μVの感度が適している。
3.2
試料の取付け 試料を個別規格の要求事項に従って取り付ける。
4. 試験方法 接触抵抗の変動は，動的条件下で測定しなければならない。
接触抵抗の変動の測定は，関連する試験及び／又は個別規格に規定する時間で行う。
測定は，JIS C 5402-2-1 試験2aに従って，50 mA 以下の直流電流で行う。
接触抵抗の変動は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
5. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び結線方法
b) 接触抵抗の変動の限界値
c) 適用する動的試験の厳しさ
d) 測定するコンタクト
e) 測定器の感度及び周波数帯域
f)
この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。