C 5260-3 : 2000
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，通
商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5260-3には，次に示す附属書がある。
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
C 5260-3 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項·································································································· 2
1.4.1 外形図及び寸法 ··········································································································· 2
1.4.2 取付け ······················································································································· 3
1.4.3 形 ····························································································································· 3
1.4.4 抵抗変化特性 ·············································································································· 3
1.4.5 定格及び特性 ·············································································································· 3
1.4.6 表示 ·························································································································· 3
1.4.7 発注時の情報 ·············································································································· 3
1.4.8 追加情 ······················································································································· 3
1.5 表示 ···························································································································· 3
第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ ······················································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ ····································································································· 4
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性 ······················································································ 4
2.1.3 抵抗値又は出力電圧比変化の限界 ··················································································· 5
2.1.4 絶縁抵抗 ···················································································································· 5
2.1.5 抵抗変化特性 ·············································································································· 5
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 5
2.2.1 定格抵抗値 ················································································································· 5
2.2.2 定格抵抗値の許容差 ····································································································· 5
2.2.3 定格電力 ···················································································································· 5
2.2.4 素子最高電圧（最高使用電圧） ······················································································ 6
2.2.5 アイソレーション電圧 ·································································································· 6
2.2.6 抵抗変化特性の一致性 ·································································································· 6
2.2.7 駆動機構の回転数 ········································································································ 6
2.2.8 操作サイクル数 ··········································································································· 6
C 5260-3 : 2000 目次
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.9 操作軸の回転速度 ········································································································ 7
2.2.10 分解能（適用する場合） ······························································································ 7
2.3 推奨する試験の厳しさ····································································································· 7
2.3.1 乾燥 ·························································································································· 7
2.3.2 振動（正弦波） ··········································································································· 7
2.3.3 バンプ ······················································································································· 7
2.3.4 衝撃 ·························································································································· 7
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順 ·················································································································· 7
3.1 構造的に類似な可変抵抗器······························································································· 7
3.2 品質認証 ······················································································································ 7
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質保証 ······················································································ 8
3.2.2 試験 ·························································································································· 8
3.3 品質確認検査 ··············································································································· 16
3.3.1 検査ロットの構成 ······································································································· 16
3.3.2 試験計画 ··················································································································· 16
3.3.3 評価水準 ··················································································································· 16
3.4 長期保管後の出荷 ········································································································· 17
3.5 機械的精度の測定装置···································································································· 17
3.5.1 ダイヤル指示計 ·········································································································· 17
3.5.2 円筒形アダプタ ·········································································································· 17
3.5.3 可変抵抗器の取付装置 ································································································· 17
3.5.4 可変抵抗器の操作軸保持装置 ························································································ 17
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表 ·································································· 18
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5260-3 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第3部：品種別通則：
回転形精密級可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment−
Part 3 : Sectional specification : Rotary precision potentiometers
序文 この規格は，1992年に第2版として発行されたIEC 60393-3，Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 3 : Sectional specification : Rotary precision potentiometersを元に，規格票の様式を変更するこ
となく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の現状に即して変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.1
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-1を品目別通則とする電子機器用可変抵抗器の品種別通則で，回
転形精密級可変抵抗器（以下，可変抵抗器という。）について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60393-3 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification :
Rotary precision potentiometers (MOD)
1.2
目的 この規格の目的は，推奨定格及び推奨特性を規定し，JIS C 5260-1から適切な品質評価手順，
試験及び測定方法を選択し，この規格の可変抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に
基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準
とする。
1.3
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうち，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格
の規定を構成するものであって，その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年を付記して
いない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0010〜0095 試験規格群 環境試験方法
2
C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 IEC 60068 Basic environmental testing procedureからの引用事項は，この規格の該当事項と同
等である。
JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
備考 IEC 60068-1 : 1988 Basic environmental testing procedure−Part 1: Generalがこの規格と一致し
ている。
なお，JIS C 0010 : 1993は，IEC 60068-1 : 1988及びAmendment 1 : 1992と一致している。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963 Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1: 1967
及びAmendment 2: 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1: Generic specification
及びAmendment 1: 1992からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
IEC QC 001001 : 1986 Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components (IECQ)
Amendment 2 : 1994
IEC QC 001002 : 1986 Rules of Procedures of the IEC Quality assessment system for electronic components
(IECQ)
Amendment 2 : 1994
1.4
個別規格に規定する事項 個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は，JIS C 5260-1及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも緩い要求事項を規定し
てはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に規定し，例えば，ア
ステリスク(*)を付けて試験計画の中に明示する。
個別規格には，次の事項を規定し，それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。
備考 この規格の1.4.1及び1.4.3に規定する事項は，一覧表で示してもよい。
1.4.1
外形図及び寸法 個別規格には，規定する可変抵抗器を図示する。検査に必要な詳細寸法を示すの
に紙面が不足する場合は，附属書を設けて，そこに図面及び寸法を示す（図1参照）。
図1 外形図及び寸法
図面には，次の事項を規定する。
− 操作軸及び取付ねじの寸法。これらは外形図で示すか，又はJIS C 5260-1附属書2を引用して示す。
− 位置決め装置
3
C 5260-3 : 2000
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− 全機械的操作範囲
− 有効電気的操作範囲
− 無効機械的回転角度
− 端子の寸法及び位置
− JIS C 5260-1の4.4.2［寸法（ゲージ法）］によって測定する寸法
− 可変抵抗器を適確に表すためのその他の寸法
すべての寸法は，ミリメートル (mm) で示す。
可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には，そのことを個別規格の中に明記する。
1.4.2
取付け 個別規格には，耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法並びに振動（正弦波）及び
バンプ（又は衝撃）の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は，通常の状態で取り付ける。可
変抵抗器の設計上，特別な取付具が必要な場合には，個別規格にその取付具を規定する。この取付具は，
耐電圧及び絶縁抵抗の試験並びに振動（正弦波）及びバンプ（又は衝撃）の試験に使用する。試験中に寄
生振動がないように取り付ける。
1.4.3
形状［JIS C 5260-1の2.2.3（形状）参照］ 形状は，それぞれの個別規格ごとに任意に選択した二
つの文字，例えば，ABなどの2英文字で表す。したがって，この形状の記号は，個別規格の番号が与え
られなければ意味をなさない。
備考 形状の記号は，JIS C 5260-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4
抵抗変化特性 抵抗変化特性は，2.1.5による。
1.4.5
定格及び特性 定格及び特性は，次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。
1.4.5.1
定格抵抗値の範囲 定格抵抗値の範囲は，2.2.1による。
定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063に規定するEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズとする。
備考 IECQの場合は，IECQの品質認証制度によって認証された個別規格の製品と，この規格の定格
抵抗値が異なる場合には，次の記述を追加する。
“各形状の定格抵抗値範囲は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.5.2
バンプ及び衝撃 バンプ及び衝撃の試験は，そのどちらの試験を適用するかを個別規格に規定す
る。
1.4.6
表示 個別規格には，可変抵抗器本体及び包装への表示内容を規定する。
なお，この規格の1.5と相違する点があれば，それらを明記する。
1.4.7
発注時の情報 個別規格には，発注時に次の事項を明確に示すか又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）及び一致性
c) 個別規格の番号及び版に関する情報並びに形状に関する事項
d) 形状の情報で分からないときは，操作軸及び取付ねじの寸法
1.4.8
追加情報（検査目的以外のもの） 個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲線，
図面及び備考による情報を含めてもよい。この情報は，検査する必要はない。
1.5
表示 表示は，JIS C 5260-1の2.4（表示）によるほか，次による。
1.5.1
一般事項 可変抵抗器に表示する内容は，次の項目から選択する。各項目の重要度は，次の記載順
とする。
a) 定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
4
C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）及び一致性
d) 引用する個別規格及び形状
e) 製造年月又は製造年週
f)
操作軸及び取付ねじの詳細［上記のd)に含まれない場合］ この場合，コード化してもよい。
g) 製造業者名又はその商標
備考 表示は，JIS C 5260-1の附属書1によってもよい。
1.5.2
可変抵抗器には，少なくとも1.5.1のa)，b)及びc)を表示し，その他の項目をできるだけ多く明り
ょうに表示する。可変抵抗器に表示する項目は，重複を避ける。
備考 表示は，JIS C 5260-1の附属書1によってもよい。
1.5.3
可変抵抗器の包装には，1.5.1のa)〜g)の内容を表示する。
1.5.4
表示項目を追加する場合は，混乱しないようにする。
第2章 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格，特性及び試験の厳しさ
2.1
推奨特性 個別規格に規定する値は，次の中から選択することが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ この規格に含まれる可変抵抗器は，JIS C 0010の附属書Aに規定する一般
原則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選択する。
カテゴリ下限温度
−65℃，−55℃，−40℃，−25℃及び−10℃
カテゴリ上限温度
＋70℃，＋85℃，＋100℃及び＋125℃
高温高湿（定常）の試験期間
4日間，10日間，21日間及び56日間
低温（耐寒性）及び高温（耐熱性）試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある品種の可変抵抗器は，その構造のため，これらの温度がJIS C 0010〜0095試験規格群に規定
する二つの推奨温度と一致しない場合がある。この場合には，可変抵抗器の実用温度範囲内の最も近い推
奨温度を厳しさとして選択する。
2.1.2
抵抗温度係数及び抵抗温度特性 抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を，表1に示す。
表の各欄は，推奨温度係数，20℃〜70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温度
に基づく抵抗温度特性の測定［JIS C 5260-1の4.14（抵抗温度特性）参照］での抵抗値変化の限界を規定
する。
一つの個別規格の中に，抵抗値範囲を分割してそれぞれに異なる温度特性（又は温度係数）を規定して
もよい。
表に示す以外の測定温度を追加する場合には，個別規格に規定する。
表1 抵抗値変化の推奨限界
温度係数 温度特性
抵抗温度特性
（抵抗値の許容変化率 %）
20℃/70℃
基準温度℃／カテゴリ下限温度℃
基準温度℃／カテゴリ上限温度℃
10−6/℃
%
＋20/−65 ＋20/−55 ＋20/−40 ＋20/−25 ＋20/−10 ＋20/＋85* ＋20/＋100 ＋20/＋125
±1 000
±5
±8.5
±7.5
±6
±4.5
±3
±6.5
±8
±10.5
±500
±2.5
±4.3
±3.75
±3
±2.25
±1.5
±3.25
±4
±5.25
±250
±1.25
±2.15
±1.88
±1.5
±1.13
±0.75
±1.62
±2
±2.62
±150
±0.75
±1.3
±1.15
±0.9
±0.68
±0.45
±0.98
±1.2
±1.6
5
C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
温度係数 温度特性
抵抗温度特性
（抵抗値の許容変化率 %）
20℃/70℃
基準温度℃／カテゴリ下限温度℃
基準温度℃／カテゴリ上限温度℃
10−6/℃
%
＋20/−65 ＋20/−55 ＋20/−40 ＋20/−25 ＋20/−10 ＋20/＋85* ＋20/＋100 ＋20/＋125
±100
±0.5
±0.85
±0.75
±0.6
±0.45
±0.3
±0.65
±0.8
±1.05
±50
±0.25
±0.43
±0.375
±0.3
±0.23
±0.15
±0.325
±0.4
±0.525
±25
±0.125
±0.215
±0.188
±0.15
±0.113
±0.075
±0.162
±0.2
±0.262
±10
±0.05
±0.085
±0.075
±0.06
±0.045
±0.03
±0.065
±0.08
±0.105
注*
カテゴリ上限温度が85℃の抵抗器は，20℃と70℃間での測定は行わない。
参考 表中の“/”は，温度では二つの試験温度を表し，その他の項目では範囲を表す。
2.1.3
抵抗値又は出力電圧比変化の限界 表2に各試験での抵抗値変化又は出力電圧比変化の推奨限界
を示す。
備考 表2の項目番号は，JIS C 5260-1による。
表2 安定性クラス
安定性
クラス
%
4.38 一連耐候性
4.39 高温高湿
（定常）
4.40 機械的耐久性
4.43.2 70℃での電気
的耐久性
4.43.3 カテゴリ上
限温度での電気
的耐久性
4.34 温度変化
4.30 端子強度
4.33 はんだ耐熱性
4.35 振動（正弦波）
4.36 バンプ
4.37 衝撃
4.22 操作軸の押し
及び引張り
4.34 温度変化
4.35 振動（正弦
波）（適用する
場合）
端子aとcとの間の△R
ac
U
ab
U
∆
（備考1.参照）
ac
U
ab
U
∆
（備考1.参照）
10
±(10%R＋0.5Ω)
±(3%R＋0.1Ω)
±(2%R＋0.1Ω)
±2%
±2%
5
±(5%R＋0.1Ω)
±(2%R＋0.1Ω)
±(1%R＋0.05Ω)
±1%
±1%
3
±(3%R＋0.1Ω)
±(2%R＋0.1Ω)
±(1%R＋0.05Ω)
±1%
±1%
2
±(2%R＋0.1Ω)
±(1%R＋0.05Ω)
±(0.5%R＋0.05Ω)
±0.5%
±0.5%
1
±(1%R＋0.1Ω)
±(0.5%R＋0.05Ω)
±(0.25%R＋0.01Ω)
±0.25%
±0.25%
備考1. 出力電圧比変化
ac
U
ab
U
∆
は全印加電圧に対する百分率で表す。
参考 △Rは，抵抗値変化を表す。原国際規格では，△R/Rと記載されているが，Rの誤りであり訂正した。%Rは，
定格抵抗値に対する百分率である。原国際規格には安定性クラス10%はないが，国内及び国際的にも広く利
用されているため追加した。
2.1.4
絶縁抵抗 絶縁抵抗は，1GΩ以上とする。ただし，温湿度サイクル後は，100MΩ以上とする。
2.1.5
抵抗変化特性 抵抗変化特性での推奨測定位置及び出力電圧比は，個別規格による。直線性の方式
に対して要求がある場合は，規定されたすべての測定点を個別規格に規定する。
2.2
推奨定格値 個別規格に規定する値は，次の各項の中から選択することが望ましい。
2.2.1
定格抵抗値 JIS C 5260-1の2.3.2（定格抵抗値の推奨値）による。
2.2.2
定格抵抗値の許容差 定格抵抗値の許容差の推奨値は，次による。
±10%，±5%，±3%，±2%，±1%及び±0.5%
2.2.3
定格電力 70℃での定格電力の推奨値は，次による。
0.1W，0.125W，0.25W，0.5W，0.75W，1W，1.5W，2.0W，2.5W，4W及び6.3W
70℃を超える温度での電力の軽減値は，次の曲線による（図2参照）。
6
C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図2 定格電力の軽減曲線
上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には，より広い動作領域を個別規格に規
定してもよい。
この場合には，個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし，曲線上の折れ点を
試験によって確認しなければならない（図3参照）。
図3 動作領域が広げられた軽減曲線の例
2.2.4
素子最高電圧（最高使用電圧） 素子最高電圧の推奨値は，次による。
100V，160V，250V，400V，630V，800V及び1 000V（直流又は交流実効値）
2.2.5
アイソレーション電圧 アイソレーション電圧は，丸めて10V単位の値とし，個別規格に規定す
る。アイソレーション電圧の値は，次による。
大気圧下：最高使用電圧の1.42倍以上
減圧下：8kPa，大気圧下でのアイソレーション電圧の2/3倍
参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.2.6
抵抗変化特性の一致性 抵抗変化特性の一致性は，次から選択する。
±0.025%，±0.05%，±0.1%，±0.25%，±0.5%，±1%及び±2%
2.2.7
駆動機構の回転数 推奨する回転数は，次による。
1，3，5及び10
2.2.8
操作サイクル数 推奨する操作サイクル数は，次による。
巻線：
7
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1回転/全回転形：1.25×105，2.5×105又は5×105
多回転：2.5×104，5×104又は1×105
非巻線：1.25×105，5×105又は2.5×106
2.2.9
操作軸の回転速度 操作軸の1分間当たりの推奨回転速度 (min−1) は，次による。
巻線：40±5
非巻線：40±5，120±10，400±10
2.2.10 分解能（適用する場合） 分解能は，個別規格に規定する。
2.3
推奨する試験の厳しさ 個別規格に規定する試験の厳しさは，次の中から選択することが望ましい。
2.3.1
乾燥 JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
2.3.2
振動（正弦波） JIS C 5260-1の4.35［振動（正弦波）］及び次の条件を適用する。
振動数範囲：次のどれかとする。
10Hz〜55Hz
10Hz〜500Hz
10Hz〜2kHz
振幅：0.75mm又は加速度98m/s2（いずれか緩い方）
掃引耐久試験 総試験時間：6h
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.3
バンプ JIS C 5260-1の4.36（バンプ）及び次の条件を適用する。
ピーク加速度：400m/s2
参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
バンプ回数：合計4 000
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
2.3.4
衝撃 JIS C 5260-1の4.37（衝撃）及び次の条件を適用する。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：300m/s2又は500m/s2
参考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
作用時間：11ms
厳しさ：試料の一方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
適用する取付方法を個別規格に規定する（1.4.2参照）。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1
構造的に類似な可変抵抗器 構造的に類似な可変抵抗器とは，抵抗値が異なっていても，同様な工
程及び材料で製造され，同一の形状，構造であり，同一又は類似の操作軸及び取付ねじをもつ可変抵抗器
とする。
3.2
品質認証 品質認証試験の手順は，JIS C 5260-1の3.4（品質認証手順）による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は，この規格の3.3による。定数抜取の
計画を用いた手順は，次の3.2.1及び3.2.2による。
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3.2.1
定数抜取手順に基づく品質保証 定数抜取手順は，JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は，認
証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは，個別規格に規定している全範囲でなくて
もよい。
試料は，認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には，その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には，別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして，認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は，製造業者の管理責
任者が提案する。IECQの場合は、国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は，次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個，各温度係数又は温度特性ごとに1個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために，抵抗値ごとに1個，各温度係数又は温
度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には，追加した試験群に必要な試料数を群“0”に追加す
る。
3.2.2
試験 個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために，表3に規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は，記載の順で行う。
全試料について，群“0”の試験を行い，その後にその他の群に分割する。
群“0”の試験での不良品は，その他の群に使用してはならない。
1個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には，“1個の不良”として数える。
不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表3に，定数抜取の試験計画を示す。これは，各試験群ごとの抜取方法，合格判定個数及び総
合格判定個数の個別規定を含み，また，JIS C 5260-1の第4章（試験及び測定方法）及びこの
規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表3は，試験方法，試験条件及び／又は要求性能について個別規格に規定するための選択内
容を示す。
定数抜取の試験計画のための試験条件及び要求性能は，品質確認検査について個別規格に規
定する内容と同一とする。
表3 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の“厳しさ”の一部
及び抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は，この規格の関連項目による。
2. この表3で
n＝試料数
c＝合格判定個数（群当たりの許容不良数）。群2では，(1)，(2)及び(3)でそれぞれ1個の不良は
許容されるが，群合計では2個以内とする。
t＝総合格判定個数（一つ又は幾つかの連結された群，例えば，群0，群1〜9に対する許容不良
数。）
D＝破壊試験
ND＝非破壊試験
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参考 表中の
ac
U
ab
U
∆
は，全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。表中の△Rは，
抵抗値の変化量を示す。表中の“%R”は，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表3 品質認証の試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群0
ND
26＋3
1
1
4.4.1 外観
（備考
11.参
照）
4.4.1による。
表示が明りょうで，個別規格の
規定による。
4.4.2 寸法（ゲージ法）
個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲
個別規格の規定による。
4.6 素子抵抗値
4.6.3による。
4.7 端子間抵抗値（最小抵抗
値）
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
適用する場合は端子bと各タッ
プ端子間の抵抗値
R≦...Ω
R≦...Ω
R≦...Ω
4.5 連続性
（巻線可変抵抗器だけに適用）
適用する場合は，4.5.1及び4.5.2
による。
4.15 しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用）
△θ0：...
R≦...%R
4.29 出力平滑性
（非巻線可変抵抗器だけに適用）
U≦...%Uac
4.12 耐電圧
（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法は備考13.による。）
大気圧下
4.12.5による。
群1
D
5
1
3
4.23 操作軸の偏心（シャフト
ランアウト）（備考3.参照）
半径方向の荷重：...N
取付面からの操作軸の長さ
(l)：...mm
全指示値 (l)：≦...mm
4.24 取付面の平たん度（ラテ
ラルランアウト）（備考3.参
照）
半径方向の荷重：...N
操作軸方向の荷重：...N
取付面の半径 (r)：...mm
全指示値 (r)：≦...mm
4.25 取付ガイド円面の真円度
（スピゴットダイヤメータラ
ンアウト）（備考3.参照）
半径方向の荷重：...N
全指示値：≦...mm
4.26 操作軸の軸方向がた（シ
ャフトエンドプレイ）（備考
3.参照）
A方向
B方向
全指示値：≦...mm
全指示値：≦...mm
4.18 始動トルク
個別規格の規定による。
4.20 回転止め強度
（全回転形可変抵抗器には適用
しない。）
外観
4.20.1による。
10
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
4.22 操作軸の押し及び引張り
（備考5.参照）
− 試料数3個
4.22.2を適用
連続性
4.22.2による。
− 試料数2個
4.22.3を適用
出力電圧比
ac
U
ab
U
∆
≦...%
4.32 はんだ付け性（適用する
場合）
方法1：はんだ槽法
温度：235℃±5℃
時間：2s±0.5s
又は
方法2：はんだこて法
はんだこて：サイズB
温度：350℃±10℃
時間：2s±0.5s
端子は，はんだが良好に付着し
ている。
4.45 表示の耐溶剤性（適用す
る場合）
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法1
ラビング材質：脱脂綿
後処理：...
表示が明りょうである。
4.31.1 静的な封止（種類A）
備考4.による。
リーク量は1cm3/h以下
4.31.2.1による。
4.31.2.1 動的な封止（種類B）
備考4による。
4.31.3による。
4.31.3 容器の封止
備考4.による。
4.40 機械的耐久性
操作サイクル数：...
操作軸の回転速度：...min−1
外観
4.40.6による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
端子間抵抗値（最小抵抗値）
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
R≦...Ω
適用する場合は端子bと各タ
ップ端子間の抵抗値
R≦...Ω
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は，備考
13.による。）
R≧1GΩ
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
連続性
4.5.1による。
操作軸の軸方向がた（備考3.に
よる。）
A方向
全指示値：≦...mm
B方向
全指示値：≦...mm
操作軸の押し及び引張り（備考
5.による。）
− 試料数3個
4.22.2連続性の規定による。
連続性
4.22.2による。
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
− 試料数2個
4.22.3による。
出力電圧比
ac
U
ab
U
∆
≦...%
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は備考13.
による。）
4.40.6 h)による。
しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用），
△θ0：...
R≦...%R
出力平滑性（非巻線可変抵抗器
だけに適用）
U≦...%Uac
群2
D
5
1
(1) 試料数2個
2
4.30 端子強度
端子の種類に適応した試験を行
う。
外観
4.30.8による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
4.33 はんだ耐熱性（適用する
場合）
試験Tb，方法1B
温度：350℃±10℃
時間：3.5 s±0.5s
又は
方法2
はんだこて：サイズB
温度：350℃±10℃
時間：10s±1s
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
端子間抵抗値：
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
R≦...Ω
適用する場合は端子bと各タ
ップ端子間の抵抗値
R≦...Ω
4.44 本体の耐溶剤性（適用す
る場合）
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理：...
個別規格の規定による。
(2) 試料数3個
3
4.34 温度変化
備考6.による。
TA(1)＝カテゴリ下限温度
TB(1)＝カテゴリ上限温度
放置時間 t1＝30min
外観
4.34.5による。
出力電圧比
（半固定可変抵抗器だけに適
用）
ac
U
ab
U
∆
≦...%
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
12
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
4.36 バンプ（又は衝撃）
（備考7.参照）
取付方法：個別規格による。
ピーク加速度：400m/s2(2)
バンプ回数：4 000
外観
4.36.3による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
4.37 衝撃（又はバンプ）
（備考7.参照）
取付方法：個別規格による。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：...m/s2
作用時間：11ms
外観
4.37.3による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
4.35 振動（正弦波）（備考8.
参照）
取付方法：個別規格による。
掃引耐久試験
振動数範囲：...Hz〜...Hz
振幅：0.75mm又は加速度98m/s2
（いずれか緩い方を適用。）
総試験時間：6h
備考6.による。
試験中の測定
電気的連続性
（4.35.4を適用）
100μsを超える不連続性がな
い。
最終測定
外観
4.35.5による。
出力電圧比
（半固定可変抵抗器だけに
適用）
ac
U
ab
U
∆
≦...%
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
(3) すべての試料
5
4.38 一連耐候性
− 高温（耐熱性）
外観
4.38.2.2による。
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の残りの
サイクル
− 低温（耐寒性）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
− 減圧
8kPa(3)
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は備考13.
による。）
4.38.5.3による。
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の残りの
サイクル
− 直流負荷
備考10.による。
− アイソレーション電圧
備考10.による。
4.38.8による。
− 最終測定
外観
4.38.10.1による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
13
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は備考13.
による。）
R≧100MΩ
連続性
4.5.1による。
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は備考13.に
よる。）
4.38.10.7による。
群3
D
5
1
4.43.2 70℃での電気的耐久性
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷：
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
素子抵抗値
4.43.2.6のa)による。
△R≦±(...%R＋...Ω)
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷：
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.1.6のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
− 全試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は
備考13.による。）
しゅう動雑音
R≧1GΩ
方法B（巻線可変抵抗器に適
用），△θ0：...
R≦...%R
出力平滑性（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
個別規格にある場合，試験時
間を8 000hに延長する。
2 000h，4 000h及び8 000hで
の検査：
U≦...%Uac
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)結果は情報
としてだけ扱う。
群4
ND
5
1
4.4.3 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲
個別規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲
有効電気的操作角度
無効操作角度（反時計方向）
無効操作角度（時計方向）
θ≧...゜
θ≦...゜
θ≦...゜
14
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
4.9 抵抗変化特性
（個別規格には，この規格の
2.1.5から選んだ試験条件及び
要求性能を規定する。）
群5
D
5
1
4.39 高温高湿（定常）
1) 4.39.2.1
第1のグループ：試料数2個
第2のグループ：試料数2個
第3のグループ：試料数1個
2) 4.39.2.2
第1のグループ：試料数3個
第2のグループ：試料数2個
直流負荷（備考10.による。）
アイソレーション電圧
（備考10.及び取付方法は備
考13.による。）
4.39.4による。
最終測定
外観
4.39.6.1による。
素子抵抗値
△R≦±（...%R＋...Ω）
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は
備考13.による。）
R≧100MΩ
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
しゅう動雑音：
R≦...%R
方法B（巻線可変抵抗器），
△θ0：...
出力平滑性（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
U≦...%Uac
群6
D
5
1
4.43.3 カテゴリ上限温度での
電気的耐久性
（適用する場合，備考7.参照）
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.3.7のa)による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.3.7のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値
△R≦±（...%R＋...Ω）
素子抵抗値
△R≦±（...%R＋...Ω）
− 全試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は
備考13.による。）
R≧GΩ
15
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び総合
格判定個数
（備考2.参照）
要求性能
（備考1.参照）
n
c
t
群7
ND
5
0
4.14 抵抗温度特性
（備考12.参照）
カテゴリ下限温度／20℃
R
R
∆
≦...%
20℃／70℃
R
R
∆
≦...%
20℃／カテゴリ上限温度
R
R
∆
≦...%
群8
D
5
1
4.4.3 70℃以外の温度での電気
的耐久性（適用する場合，備
考11.参照）
（この群は，この規格の2.2.3
に規定するものと異なる軽減
曲線を個別規格で規定する場
合だけに適用する。）
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷：
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.1.6のa)による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷：
48h，500h及び1 000hでの検
査：
（群3と同じ）
外観
4.43.1.6のa)による。
端子aとbとの間の抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
（群3と同じ）
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
− 全試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は
備考13.による。）
R≧1GΩ
群9
D
5
1
4.28 ディザ（非巻線可変抵抗
器だけに適用，備考11.参照）
サイクル数：...
接続時間：...h
外観
4.28.3による。
素子抵抗値
△R≦±(...%R＋...Ω)
出力平滑性（非巻線可変抵抗器
だけに適用）
U≦...%Uac
注(1) 原国際規格では，温度を表す記号としてθA及びθBを用いているが，JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
(2) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて修正した。
注(3) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて修正した。
備考3. 可変抵抗器が，試験を適用できない設計となっている場合は，その試験は，個別規格で適用しない。
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C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4. 封止の試験は，可変抵抗器が封止構造をもっている場合に適用する。
種類Aの封止試験 (4.31.1) 及び種類Bの封止試験 (4.31.2.1) は，操作軸とパネルとが封止された可変抵
抗器に対し1回行う。
5. 適用できない場合は，操作軸の軸方向がた (4.26) を実施する。
6. 適用できる場合は，半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
7. バンプ試験及び衝撃試験は，いずれか一方を選択する。いずれの試験を適用するかを個別規格に規定する。
8. この試験は，耐候性カテゴリが25/−/−，40/−/−，55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適用する。
9. この試験は，4.38.5.1に規定された事項に追加して，耐候性カテゴリが65/−/−の可変抵抗器に適用する。
10. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験ではいずれかを選択する。いずれの試験を適用するかを個別規
格に規定する。
11. “群8”又は“群9”のいずれかを適用する場合は，“群0”の試料数を5個増やす。
12. 4.14.2のd)及びf)に規定の温度は，カテゴリ上限温度100℃の可変抵抗器にも適用する。
13. 取付方法は，JIS C 5260-1の4.12（耐電圧）及び4.13（絶縁抵抗）の該当する方法によるほか，次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは，JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは，本体で取り付けるあな（孔）があっても，端子でプリ
ント配線板に取り付けて試験する。
3.3
品質確認検査
3.3.1
検査ロットの構成 検査ロットは，構造的に類似な可変抵抗器（3.1参照）で構成し，次による。
a) 群A及び群B:製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C： 1) 試料は，13週にわたって集める。
2) 試料は，期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D：群Cと同じとする。ただし，試料は，検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は，高抵抗値，低抵抗値及び臨界抵抗値の釣合いが十分にとれているものとする。
備考 “低抵抗値”は，現在認証された最低抵抗値の2000
+
%以内とする。
“高抵抗値”は，現在認証された最高抵抗値の
0
30
−%以内とする。
“臨界抵抗値”は，計算値の
0
20
−%以内とする。
3.3.2
試験計画 品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブ
ランク個別規格JIS C 5260-3-1の第2章（検査要求事項）の表2に示す。
3.3.3
評価水準 ブランク個別規格及び個別規格に規定する評価水準は，次の表4.1及び表4.2の中から
選択することが望ましい。
表4.1 評価水準及びロットごとの品質確認検査
検査副群
**
D*
E
F*
G*
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
A1
I
1.5
A2
I
1.5
A3
S-2
4.0
A4
S-2
1.5
A5
S-2
2.5
B1
−
−
IL＝検査水準
AQL＝合格品質水準
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C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4.2 評価水準及び定期的品質確認検査
検査副群
**
D*
E
F*
G*
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
C1
3
5
0
C2
3
5
1
C3
3
5
1
C4
6
5
1
D1
12
5
1
D2
12
5
0
D3
12
5
1
D4
36
5
1
D5
36
5
1
p＝周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定個数
注*
評価水準D，F及びGは，検討中。
** 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の第2章（検査要求事項）に規
定する。
3.4
長期保管後の出荷 検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2（長期保管後の出荷）の規定を適
用する。
3.5
機械的精度の測定装置
3.5.1
ダイヤル指示計 最小のメモリ分割は，規定の許容差の10%又はそれ以下であり，25μm以下の測
定の場合には，1μmまで読み取れるものでなければならない。
指示計の誤差補正を行わない場合は，指針の全可動鯛の1/3以上の範囲にわたって使用してはならない。
もしダイヤル指示計をピポット形の測定子とともに使用するなら，測定中は，測定子の縦方向の中心線を
被測定物に対して直角に保つか，又は適用できる補正ファクタを使用しなければならない。さらに，測定
子が，可変抵抗器に近接するときは，ダイヤル指示計が損傷しないようにダイヤル指示計の位置を微調整
する機構が備わっていなければならない。
3.5.2
円筒形アダプタ 滑らかな円筒状の表面をもったアダプタで，可変抵抗器の操作軸に取り付けたと
き，規定のがた限度の10%以上の偏心度が加わってはならない。
3.5.3
可変抵抗器の取付装置 この装置は，可変抵抗器の操作軸が自由に動けるようにしたまま，試料を，
通常の実装方法で保持する。
3.5.4
可変抵抗器の操作軸保持装置 この装置は，可変抵抗器本体が自由に動けるようにしたまま試料を
水平又は垂直のいずれかの位置に操作軸を保持する。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
JIS C 5260-3-1 電子機器用可変抵抗器−第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器
評価水準E
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
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C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 5260-3 : 2000 電子機器用可変抵抗器−第3部：品種別
通則：回転形精密級可変抵抗器
IEC 60393-3 : 1992 電子機器用可変抵抗器−第3部：品種別
通則：回転形精密級可変抵抗器
対比項目
規定項目
(I) JISの規定内容
(III) 国際規格の規定
内容
(IV) JISと国際規格と
の相違点
(V) JISと国際規格との整合が
困難な理由及び今後の対策
(1)一般事項
1.4.5.1定格抵抗値
の範囲
○ Eシリーズ及び
／又は1，2，5
シリーズとする。
○ Eシリーズとす
る。
MOD/
追加
1，2，5シリー
ズを追加。
理由：市場で多く使用されてい
る。
今後の対策：改正提案予定
(2)推奨定格，特性及
び試験の厳しさ
○
○
安定性クラス
10%
MOD/
追加
10%を追加。
理由：市場で多く使用されてい
る。
今後の対策：改正提案予定
アイソレーション
電圧
減圧下：8kPa
減圧下：8.5kPa
MOD/
変更
8.5kPaを
8kPaに変更。
理由：IEC 60115-1
及び
IEC60384-1が改正され，また引
用しているJISも改正されてお
り，整合させるため改正内容を
採用した。
今後の対策：改正提案予定
バンプ
ピーク加速度：
400m/s2
ピーク加速度：
390m/s2
MOD/
変更
390m/s2を
400m/s2に
変更。
衝撃
ピーク加速度：
300m/s2又は
500m/s2
ピーク加速度：
294m/s2又は
490m/s2
MOD/
変更
294m/s2又は
490m/s2を
300m/s2又は
500m/s2 に変
更。
(3)品質評価手順
○
○
IDT
−
整合化手法：2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT ··············· 技術的差異がない。
− MOD/追加······· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD/変更······· 国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD ············· 国際規格を修正している。
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C 5260-3 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
窪 田 明
通商産業省
橋 爪 邦 隆
通商産業省
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 巳
ソニー株式会社
西 村 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己
三菱電機株式会社
松 本 眞 弓
サイデンテクノ株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司
アルプス電気株式会社
石 井 勝
第一電子工業株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-3分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
中 村 之 大
株式会社緑測器
（委員）
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
吉 田 實
アルプス電気株式会社
本 田 義 夫
KOA株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 本 克 巳
ソニー株式会社
林 里 志
ツバメ無線株式会社
野 原 明
帝国通信工業株式会社
三 本 久 明
日本電気株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
一 木 義 和
株式会社村田製作所
（客員）
松 本 眞 弓
サイデンテクノ株式会社
曽我部 浩 二
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会