2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をも
つ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認につい
て，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5201群 電子機器用固定抵抗器
JIS C 5201-1 第1部：品目別通則
JIS C 5201-2 第2部：品種別通則：低電力非巻線固定抵抗器
JIS C 5201-2-1 第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-2-2 第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F
JIS C 5201-4 第4部：品種別通則：電力形固定抵抗器
JIS C 5201-4-1 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-4-2 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準F
JIS C 5201-4-3 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器ヒートシンク付き 評価水準H
JIS C 5201-5 第5部：品種別通則：精密級固定抵抗器
JIS C 5201-5-1 第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-5-2 第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準F
JIS C 5201-6 第6部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器（予定）
JIS C 5201-6-1 第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及
び同一定格電力評価 評価水準E（予定）
JIS C 5201-6-2 第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又
は異種定格電力 評価水準E（予定）
JIS C 5201-8 第8部：品種別通則：チップ固定抵抗器
JIS C 5201-8-1 第8部：ブランク個別規格：チップ固定抵抗器 評価水準E
C 5201-4-1 : 1998
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ················································································································· 1
抵抗器の識別 ···················································································································· 2
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 3
1.0 適用範囲 ······················································································································ 3
1.1 推奨する取付方法（挿入用） ···························································································· 3
1.2 寸法，定格及び特性 ······································································································· 3
1.3 引用規格 ······················································································································ 3
1.4 表示 ···························································································································· 4
1.5 発注情報 ······················································································································ 4
1.6 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.7 追加情報 ······················································································································ 4
1.8 品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項 ······································ 4
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項 ··············································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5201-4-1 : 1998
電子機器用固定抵抗器−
第4部：ブランク個別規格：
電力形固定抵抗器
評価水準E
Fixed resistors for use in electronic equipment
Part 4 : Blank detail specification :
Fixed power resistors
Assessment level E
序文 この規格は，1983年に第1版として発行されたIEC 60115-4-1, Fixed resistors for use in electronic
equipment Part 4 : Blank detail specification : Fixed power resistors Assessment level E及びAmendment 1 : 1993
を基に技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切り替えであり内容は同一
である。
ブランク個別規格 この規格は，品種別通則［JIS C 5201-4（電子機器用固定抵抗器−第4部：品種別通
則：電力形固定抵抗器）］の補足規格で個別規格の様式及び最少限必要な要求事項を規定したものである。
これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格には基づいていないものとみなす。
個別規格を作成する場合は，JIS C 5201-4の1.4（個別規格に規定する事項）の内容に基づいて入れる。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内に記載の数字は，指定の位置に記入する次の
事項と対応する。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International electrotechnical
commission) の名称。
(2) 個別規格の国内規格番号，発効年及び国内の制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び発
行年。
(3) 品目別通則の国内規格番号及び発効年又はIEC規格番号，版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号。
2
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
抵抗器の識別
(5) 抵抗器の品種についての要約説明。
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）。
備考 抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのことを明記
する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図，及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書に示してもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準。
備考 個別規格に用いる評価水準は，JIS C 5201-4の3.3.3（評価水準）から選択する。このブランク
個別規格の試験の群構成と同じであれば個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ。
例 日本工業標準調査会
(1) 個別規格の番号
(2)
電子部品用固定抵抗器−
第1部：品目別通則
JIS C 5201-1 : 1998
(3)
JIS C 5201-4-1
（ブランク個別規格番号）
(4)
電力形固定抵抗器
(5)
外形図：（表I 参照）
（第三角法）
（規定寸法内であれば，外形は異なって
もよい。）
(7) 絶縁形／非絶縁形
(6)
評価水準：E
安定性クラス：...%
(8)
この個別規格で認証された抵抗器の詳しい内容は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示
されている。
参考 この記載は，IECQの場合に適用する。
(9)
3
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5201-4を品種別通則とするブランク個別規格で，定格電力が1Wを超
え1 000Wまでの電力で外部環境から保護するための外装又は塗装を施された電力形固定抵抗器 評価水
準Eについて規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
IEC 60115-4-1 : 1983, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 4 : Blank detail
specification : Fixed power resistors Assessment level E Amendment 1 : 1993
1.1
推奨する取付方法（挿入用） JIS C 5201-4の1.4.2（取付け）を参照。
1.2
寸法，定格及び特性
表I 寸法，定格及び特性
形式
70℃での
定格電力
W
素子最高電圧
（V d. c. 又は
Va. c. の実効値）
アイソレーション電圧
（V d.c. 又は
Va. c. の実効値）
最大寸
法
d：（公称）
許容差：
L
D
寸法はすべて，ミリメートル (mm)
抵抗値範囲*
...Ω〜...Ω
定格抵抗値の許容差
...±...%
耐候性カテゴリ
−/−/−
減圧
8kPa
安定性クラス
...%
抵抗値変化の限界：
− 長期試験
± (...%R＋...Ω)
− 短期試験
± (...%R＋...Ω)
温度による抵抗値変化
±
R
⊿R...%又はα : ...10-6/℃
温度上昇
≦...℃
注*
推奨値は，JIS C 5063（抵抗器及びコンデンサの標準数列）のE標準数列である。
参考 上記の％R”のRは，各試験の試験前の抵抗値を示す。
1.2.1
負荷軽減 この規格の抵抗器は，次の軽減曲線によって負荷を軽減する。
（適切な軽減曲線は，個別規格に規定する。）
備考 JIS C 5201-4の2.2.3（定格電力）を参照。
1.3
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格は，その最新版（追補・Amendmentを含む。）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5201-1 電子機器用固定抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60115-1 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification並
4
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1993からのすべての引
用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5201-4 電子機器用固定抵抗器−第4部：品種別通則：電力形固定抵抗器
備考 IEC 60115-4 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 4 : Sectional specification :
Fixed power resistorsからのすべての引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015 計数調整型抜取検査（供給者を選択できる場合の購入検査）
備考 IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用
事項は，この規格の該当事項と同等である。
1.4
表示 抵抗器及び包装への表示は，品目別通則 (JIS C 5201-1) の2.4（表示）による。
備考 抵抗器及び包装への表示の詳細は，個別規格による。
1.5
発注情報 この規格を適用する抵抗器を発注する場合には，少なくとも次の事項を明確に示すか又
は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 個別規格の番号及び発効年又は版（発行年）並びに形式
1.6
出荷対象ロットの成績証明書 要求する，又は要求しない
1.7
追加情報（検査目的以外のもの）
1.8
品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合にだけ規定する。
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証のための手順は，JIS C 5201-4の3.2（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査のための試験計画（表II）には，抜取方法，周期，厳しさ及び要求事項を規定する。
検査ロットの構成は，JIS C 5201-4の3.3.1（検査ロットの構成）による。
備考 乾燥が要求される場合には，JIS C 5201-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
表II 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5201-1による。ただし，抵抗値変化の要求事項は，JIS C 5201-4の表I
及び表IIから適切に選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015から選択する。
3. この表で， p
＝ 周期（月）
試料数
合格判定個数（許容不良数）
破壊試験
非破壊試験
n
＝
c
＝
D
＝
ND
＝
IL
＝ 検査水準
JIS Z 9015
AQL
＝ 合格品質水準
参考 表中の要求性能の欄の“%R”のRは，各試験の試験前の抵抗値を示す。
5
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表II 品質確認検査のための試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
群A検査
（ロットごと）
副群A1
ND
S-4
1.0%
4.4.1 外観
4.4.1による。
表示が明りょうで，この
規格の1.4による。
副群A2
ND
S-4
1.0%
4.4.2 寸法（ゲージ法）
...mmのゲージ板を使用（適用
する場合）
この規格の表Iによる。
4.5 抵抗値
4.5.2による。
群B検査
（ロットごと）
副群B1
ND
S-3
1.0%
4.7 耐電圧（絶縁形抵抗器だ
けに適用）
方法：...
絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバがない。
副群B2
D
S-3
2.5%
4.17 はんだ付け性
エージングなし。
方法：...
端子は，良好にはんだの
ぬれができるめっきで
なければならない。
又は，適用する場合は，
はんだの流れは...秒間以
内とする。
4.16 端子強度
引張り試験
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.13 過負荷
JIS C 5201-4の2.3.4（過負荷）
による。
外観
外観に損傷がなく表示
が明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
副群B3
ND
S-3
2.5％
4.8.4.2 抵抗温度係数
この試験は抵抗温度係数が±
50×10-6/℃未満を要求される
場合だけに適用する。20℃〜
70℃〜20℃の1サイクルだけ。
α : ...10−6/℃
6
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
群C検査
（定期的）
副群C1A
D
3
10
副群C1の試料の半分
4.16 端子強度
引張り，曲げ及びねじり試験（適
用する場合）
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...％R＋...Ω)
4.18 はんだ耐熱性
方法：...
外観
外観に損傷がなく表示
が明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
副群C1B
D
3
10
副群C1の試料の残り半分
4.19 温度急変
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.20 バンプ（又は4.21衝撃）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度：400m/s2
バンプ回数：4 000
又は，
ピーク加速度：98m/s2
バンプ回数：1 000
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.21 衝撃（又は4.20バンプ）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度：500m/s2
作用時間：11ms
パルス波形：正弦半波
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.22 振動（正弦波）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
掃引耐久試験
振動数範囲：...Hz〜...Hz
（JIS C 5201-4の2.3.2［振動（正
弦波）］参照）
振幅：0.75mm又は98m/s2
（いずれか緩い方）
総試験時間：6h
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
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C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群C1
D
3
20
1
副群C1A及び副群C1Bの全
試料
4.23 一連耐候性
− 高温（耐熱性）
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル），最初の
サイクル
− 低温（耐寒性）
− 減圧
8kPa
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル），残りの
サイクル
− 直流負荷（非巻線だけに
適用）
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形抵抗器だけ
に適用）
R≧100MΩ
副群C2
D
3
20
1
4.25.2 室温での耐久性
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの検査：
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...％R＋...Ω)
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形抵抗器だけ
に適用）
R≧1GΩ
個別規格に要求があれば，試験
を8 000hまで延長する。
2 000h，4 000h及び8 000hでの
検査：
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（結果は情報としてだ
けに扱う。）
副群C3
ND
3
20
1
4.8 温度による抵抗値変化
カテゴリ下限温度／20℃
±
≦
⊿
R
R
...%又は
α : ...10-6/℃
20℃／カテゴリ上限温度
±
≦
⊿
R
R
...%又は
α : ...10-6/℃
群D検査
（定期的）
副群D1
D
12
20
1
4.24 高温高湿（定常）
1) 4.24.2.1
第1のグループ：試料数6
第2のグループ：試料数7
第3のグループ：試料数7
2) 4.24.2.2
8
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
第1のグループ：試料数10
第2のグループ：試料数10
外観
外観に損傷がなく，表示
が明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形抵抗器だけ
に適用）
R≧100MΩ
副群D2
ND
36
13
1
4.14 温度上昇
∆R≦...℃
副群D3
D
36
20
1
4.4.3 寸法（詳細）
この規格の表Iによる。
4.25.3 カテゴリ上限温度で
の耐久性
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの検査：
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...％R＋...Ω)
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形抵抗器だけ
に適用）
R≧1GΩ
副群D4
D
36
20
1
4.25 他の温度での耐久性（適
用する場合）
この副群はJIS C 5201-4の2.2.3
（定格電力）に規定するものと
異なる軽減曲線を個別規格で要
求する場合だけに適用する。
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの検査：
外観
外観に損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（副群C2と同じ）
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形抵抗器だけ
に適用）
R≧1GΩ
副群D5
D
36
13
1
4.9 リアクタンス（適用する
場合）
s
...
≦
R
L
又は
mH
...
≦
L
4.15 抵抗体強度（適用する場
合）
JIS C 5201-4の2.3.5（抵抗体強
度による）。
破損又はクラックがな
い。
9
C 5201-4-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立工業技術センター
中 西 忠 雄
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人日本電気用品試験所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
松 永 荘 一
通商産業省 機械情報産業局電子機器課
兼 谷 明 男
通商産業省 工業技術院標準部情報電気
規格課
福 原 隆
沖電気工業株式会社
勝 田 昭 彦
株式会社ケンウッド
山 本 克 己
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
中 島 眞 人
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
高 久 侑 也
エルナー株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
小 嶋 敏 博
KOA株式会社
曽我部 浩 二
株式会社村田製作所
会 田 洋
東光株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
岡 村 郁 生
セイデンテクノ株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
桃 野 英 治
釜屋電機株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5201-4分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
岡 村 郁 生
セイデンテクノ株式会社
（委員）
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
小 嶋 敏 博
KOA株式会社
宮 島 明 美
多摩電気工業株式会社
笹 川 敞 雄
理研電具製造株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
文責 岡村 郁生