C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 引用規格 ······················································································································ 1
2 技術的なデータ ················································································································ 4
2.1 単位及び記号 ················································································································ 4
2.2 用語及び定義 ················································································································ 4
2.3 推奨値 ························································································································ 21
2.4 表示 ··························································································································· 21
3 品質評価手順 ·················································································································· 21
4 試験及び測定方法 ············································································································ 21
4.1 一般事項 ····················································································································· 21
4.2 標準大気条件（標準試験状態）························································································ 22
4.3 乾燥 ··························································································································· 22
4.4 外観検査及び寸法検査 ··································································································· 23
4.5 連続性（連続的回転形可変抵抗器を除く） ········································································· 24
4.6 素子抵抗値 ·················································································································· 24
4.7 端子間抵抗値（最小抵抗値）··························································································· 25
4.8 最大減衰量 ·················································································································· 25
4.9 抵抗変化特性（一致性） ································································································ 25
4.10 抵抗変化特性の相互一致性（連動形可変抵抗器だけに適用） ··············································· 25
4.11 スイッチ接触抵抗（個別規格に規定がある場合） ······························································ 25
4.12 耐電圧（絶縁形だけに適用） ························································································· 29
4.13 絶縁抵抗（絶縁形だけに適用） ······················································································ 30
4.14 抵抗温度特性 ·············································································································· 30
4.15 しゅう動雑音 ·············································································································· 32
4.16 低電圧水準での接触抵抗 ······························································································· 34
4.17 設定能力（調整能力）及び設定安定性 ············································································· 34
4.18 始動トルク（starting torque） ························································································ 38
4.19 スイッチトルク ··········································································································· 38
4.20 回転止め強度トルク ····································································································· 38
4.21 操作軸固定トルク（locking torque）················································································ 39
4.22 操作軸の押し及び引張り ······························································································· 39
4.23 操作軸の偏心（shaft run-out） ······················································································· 40
4.24 取付面の平たん（坦）度（lateral run-out） ······································································ 41
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4.25 取付ガイド円筒面の真円度（pilot or spigot diameter run-out） ·············································· 42
4.26 操作軸の軸方向がた（shaft end play） ············································································· 43
4.27 バックラッシュ ··········································································································· 43
4.28 ディザ ······················································································································· 45
4.29 出力平滑性（output smoothness） ··················································································· 45
4.30 端子強度 ···················································································································· 46
4.31 封止 ·························································································································· 47
4.32 はんだ付け性 ·············································································································· 47
4.33 はんだ耐熱性 ·············································································································· 48
4.34 温度変化 ···················································································································· 49
4.35 振動（正弦波） ··········································································································· 49
4.36 バンプ ······················································································································· 50
4.37 衝撃 ·························································································································· 50
4.38 一連耐候性（climatic sequence） ····················································································· 50
4.39 高温高湿（定常） ········································································································ 52
4.40 機械的耐久性（2端子形を除く） ···················································································· 53
4.41 電源スイッチの交流耐久性（容量性負荷） ······································································· 55
4.42 電源スイッチの直流耐久性（容量性負荷） ······································································· 56
4.43 電気的耐久性 ·············································································································· 57
4.44 本体の耐溶剤性 ··········································································································· 60
4.45 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 61
4.46 微小範囲直線性（microlinearity） ··················································································· 61
4.47 取付け（表面実装用可変抵抗器だけに適用） ···································································· 62
4.48 固着性（表面実装用可変抵抗器だけに適用） ···································································· 64
4.49 耐プリント板曲げ性（表面実装用可変抵抗器だけに適用） ·················································· 65
4.50 はんだ付け性（表面実装用可変抵抗器だけに適用） ··························································· 65
4.51 はんだ耐熱性（表面実装用可変抵抗器だけに適用） ··························································· 65
附属書A（規定）IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の電子機器用コンデンサ及び
抵抗器の個別規格を作成するための規則 ············································································ 66
附属書B（規定）IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合のIEC 60410の抜取計画及び
手順の説明 ··················································································································· 67
附属書C（規定）しゅう動雑音の測定方法 ··············································································· 68
附属書D（規定）機械的確度の測定装置 ·················································································· 70
附属書E（規定）微小範囲直線性の測定方法 ············································································· 71
附属書F（規定）可変抵抗器の操作軸及び取付部の推奨寸法 ························································ 73
附属書G（参考）可変抵抗器の抵抗変化特性の例 ······································································ 74
附属書H（規定）IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の品質評価手順 ························ 77
附属書JA（参考）形名及び表示 ····························································································· 88
附属書JB（参考）用語及び定義の索引 ···················································································· 96
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
（3）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって，JIS C 5260-1:1999は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5260“電子機器用可変抵抗器”の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5260-1
第1部：品目別通則
JIS C 5260-2
第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3
第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4
第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5
第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-6
第6部：品種別通則：表面実装用半固定可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-6-1 第6部：ブランク個別規格：表面実装用半固定可変抵抗器 評価水準EZ（予定）
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日本工業規格 JIS
C 5260-1：2014
(IEC 60393-1：2008)
電子機器用可変抵抗器−第1部：品目別通則
Potentiometers for use in electronic equipment-
Part 1: Generic specification
序文
この規格は，2008年に第3版として発行されたIEC 60393-1を基に，技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所，附属書JA及び附属書JBは，対応国際規格にはない参
考事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，品目別通則であり，ねじ駆動形，半固定形，多回転形などを含む全ての可変抵抗器（以下，
可変抵抗器という。）について規定する。
この規格は，品質評価又はその他の目的に対し，可変抵抗器の品種別通則及び個別規格で用いる用語，
検査手順及び試験方法について規定する。
この規格は，操作軸をもつ単回転形可変抵抗器について規定しているため，その他の形式の可変抵抗器
については，次のように読み替えて適用する。
a) 回転角度は，回転数
b) 操作軸は，その他の調整機構
c) 駆動機構の場合，回転角度は，機械的操作範囲
d) 直線操作形の場合，操作トルクは，操作力
品種別通則又は個別規格の場合も，この品目別通則のように読み替える必要がある。2端子形構造の可
変抵抗器の場合には，この規格の標準試験での要求に対する変更は，個別規格に規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60393-1:2008，Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1: Generic specification（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0617（規格群） 電気用図記号
注記 対応国際規格：IEC 60617 (all parts)，Graphical symbols for diagrams（MOD）
2
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5005-2 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択
及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
注記1
対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）
注記2
H.5.6で引用しているが記載もれのため追記した。
JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
注記 対応国際規格：IEC 60062:2004，Marking codes for resistors and capacitors（MOD）
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1:1967及びAmendment 2:1977（IDT）
JIS C 5270 電子機器用コンデンサ及び抵抗器−軸操作形部品の操作軸，取付ねじ及び取付孔の形状
並びに推奨寸法
注記 対応国際規格：IEC 60915:2006，Capacitors and resistors for use in electronic equipment−Preferred
dimensions of shaft ends, bushes and for the mounting of single-hole, bush-mounted, shaft-operated
electronic components及びCorrigendum 1:2008（IDT）
JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−試験2a：接
触抵抗−ミリボルトレベル法
注記 対応国際規格：IEC 60512-2-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2a: Contact resistance−Millivolt
level method（IDT）
JIS C 5402-2-2 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-2部：導通及び接触抵抗試験−試験2b：接
触抵抗−規定電流法
注記 対応国際規格：IEC 60512-2-2，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 2-2: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2b: Contact resistance−Specified
test current method（IDT）
JIS C 6484:2005 プリント配線板用銅張積層板−耐熱性ガラス布基材エポキシ樹脂
注記 対応国際規格：IEC 61249-2-7:2002，Materials for printed boards and other interconnecting
structures−Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated
sheet of defined flammability (vertical burning test), copper-clad及びIEC 61249-2-8:2003，
Materials for printed boards and other interconnecting structures−Part 2-8: Reinforced base
materials clad and unclad−Modified brominated epoxide woven fibreglass reinforced laminated
sheets of defined flammability (vertical burning test), copper-clad（全体評価：MOD）
JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1:1988，Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
Amendment 1:1992（IDT）
JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold（IDT）
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
（IDT）
3
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal)（IDT）
JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-13:1983，Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air
pressure（IDT）
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14:2009，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature（IDT）
JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-17:1994，Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test
Q: Sealing（IDT）
JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ付け
性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-20:2008，Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads（IDT）
JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-21:2006，Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
of terminations and integral mounting devices（IDT）
JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験方法（試験記号：Ea）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-27:2008，Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
guidance: Shock（IDT）
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）
試験方法（試験記号：Db）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)（IDT）
JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-45:1980，Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance:
Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993（IDT）
JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品（SMD）のはんだ付け性，電極の
耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-58:2004，Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
methods solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
mounting devices (SMD)（IDT）
JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-78:2001，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
heat, steady state（IDT）
JIS Z 8000-1 量及び単位−第1部：一般
ISO 9000 (all parts)，Quality management systems
IEC 60027-1，Letter symbols to be use in electrical technology−Part 1: General
4
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
IEC 60050 (all parts)，International Electrotechnical Vocabulary (IEV)
IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
注記 対応日本工業規格：JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごと
の検査に対するAQL指標型抜取検査方式（MOD）
IEC QC 001002-3:2005，IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
procedure−Part 3: Approval procedures
2
技術的なデータ
2.1
単位及び記号
単位，図記号及び文字記号は，できるだけ次の規格の中から引用することが望ましい。
− JIS C 0617（規格群）
− JIS Z 8000-1
− IEC 60027-1
− IEC 60050
その他の単位，図記号及び文字記号の必要がある場合は，上記の規格の原則に従って用いることが望ま
しい。
2.2
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
2.2.1
品種（type）
同じ設計思想をもち，品質認証及び品質評価試験で製造技術が類似であると分類した可変抵抗器のグル
ープ。これらの可変抵抗器は，通常，一つの個別規格の中に含める。
注記1 可変抵抗器が幾つかの個別規格で規定していても，同一の品種に属するとみなす場合がある。
したがって，品質認証及び品質評価試験では，この場合，同一品種とみなしてもよい。
注記2 取付用附属品は，試験の結果に著しい影響を与えなければ無視する。
注記3 定格は，個別規格に規定する。
2.2.2
形状（style）
一般に寸法的な要素に基づく品種の細分類。形状には，幾つかの異なったものを含むが，通常は，機械
的構造によって分類する。
2.2.3
等級（grade）
一般的特性に付け加えて意図する目的，例えば，長寿命などを表すもの。等級は，一つ又は幾つかの用
語と組み合わせて（例えば，長寿命等級）だけ用い，一つの文字又は数字によって表さない。等級の後に
付け加える数字は，アラビア数字とする。
2.2.4
特殊品（variant）
形状を更に細分類したもの。可変抵抗器の構造上のある部分，例えば，端子，操作軸の平形又は長さで，
特定の寸法をもつものである（附属書F参照）。
5
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.5
ファミリ（可変抵抗器における）［family (of electronic components)］
主として固有の物理的性質を表し，及び／又は，規定の性能を満たす可変抵抗器のグループ。
2.2.6
サブファミリ（可変抵抗器における）［sub-family (of electronic components)］
ファミリの中で，類似の技術的方法で製造する可変抵抗器のグループ。
2.2.7
カテゴリ温度範囲，使用温度範囲（category temperature range）
可変抵抗器が，連続的に動作するよう設計した周囲温度範囲。カテゴリ温度範囲は，適切なカテゴリの
限界温度によって定義する。
2.2.8
カテゴリ上限温度，最高使用温度（upper category temperature）
規定のカテゴリ電力（2.2.13参照）で，可変抵抗器が，連続的に動作するよう設計した最高周囲温度。
2.2.9
カテゴリ下限温度，最低使用温度（lower category temperature）
可変抵抗器が，連続的に動作するよう設計した最低周囲温度。
2.2.10
臨界抵抗値（critical resistance）
定格電圧が，素子最高電圧に等しいときの抵抗値。臨界抵抗値以下の場合は，可変抵抗器の両終端端子
に印加できる最大電圧は定格電圧となる。臨界抵抗値を超える場合には，最大電圧は，素子最高電圧とな
る（2.2.12，2.2.14及び2.2.15参照）。
2.2.11
公称全抵抗値（nominal total resistance）
通常，可変抵抗器に表示した抵抗値。
2.2.12
定格電力（rated dissipation）
周囲温度70 ℃で，可変抵抗器の終端端子aとc（2.2.29参照）との間に連続して負荷できる最大電力。
この場合，70 ℃の電気的耐久性試験で，全抵抗値の変化が規定値を超えてはならない。
注記 実際の電力は，次の条件によって変わることがある。
a) 抵抗値が高く，素子最高電圧（2.2.15参照）が定格電力を制限する場合。
b) 70 ℃以外の温度での電力の場合。関連の個別規格に定格図表を規定することが望ましい。
c) 端子a及びb，又はb及びcだけを用い，操作軸を有効電気的操作範囲の100 %未満に設定
する場合。しゅう動接点の許容電流（2.2.17参照）も考慮することが望ましい。
2.2.13
カテゴリ電力（category dissipation）
カテゴリ上限温度に等しい周囲温度で，連続して負荷できる最大許容電力。通常，定格電力に対する百
分率で表す。
注記 可変抵抗器のカテゴリ電力は，通常ゼロである。可変抵抗器のカテゴリ電力は，個別規格に規
定する軽減曲線から求める。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.14
定格電圧（rated voltage）
公称全抵抗値と定格電力との積の平方根によって算出する直流電圧又は交流電圧（実効値）。
注記 抵抗値が高い場合には，定格電圧は，可変抵抗器の大きさ及び構造によって適用できないこと
がある（2.2.10，2.2.12及び2.2.15参照）。
2.2.15
素子最高電圧，最高使用電圧（limiting element voltage）
可変抵抗器の素子の両端に印加できる直流電圧又は交流電圧（実効値）の最大値。
注記1 この規格で，交流電圧（実効値）の用語を用いた場合には，ピーク電圧は，実効値の1.42倍
を超えないことが望ましい。
注記2 この電圧は，全抵抗値が臨界抵抗値に等しいか又は大きい可変抵抗器だけに適用することが
望ましい。
2.2.16
絶縁電圧（insulation voltage）
連続動作状態で，可変抵抗器の端子を一括して接続した部分とその他の外部導通部を一括して接続した
部分との間に印加できる最高のピーク電圧。
注記 絶縁電圧値は，通常の大気下では，素子最高電圧の1.42倍以上とすることが望ましい。また，
減圧下での絶縁電圧値は，通常よりも低くし，個別規格に規定することが望ましい。
2.2.17
しゅう動接点許容電流（limiting moving contact current）
抵抗素子としゅう動接点との間に流すことができる最大電流。
2.2.18
温度による抵抗値及び出力電圧比の変化（variation of resistance and voltage output ratio with temperature）
次に定義する温度特性又は温度係数のいずれかで表す温度による変化。
2.2.18.1
抵抗温度特性（temperature characteristic of resistance）
カテゴリ温度の範囲内で生じる正負の最大変化。通常，基準温度20 ℃の抵抗値に対する百分率で表す。
2.2.18.2
抵抗温度係数，αr（temperature coefficient of resistance）
二つの規定した温度間の相対的抵抗変化を温度差で除した商（平均係数）。通常，抵抗温度係数（αr）は，
10−6/Kで表す。
注記 この用語を用いる場合は，この変化が直線的であることを示すものではなく，また，このこと
を想定するものでもないことに留意することが望ましい。
2.2.18.3
出力電圧比温度係数，αo（temperature coefficient of output ratio）
二つの規定した温度間の相対的出力電圧比変化を温度差で除した商（平均係数）。
なお，しゅう動接点は，規定の位置に設定して規定の負荷をかける。出力電圧比係数（αo）は，10−6/K
で表す。
注記1 出力電圧比係数（αo）の値は，出力電圧比の設定が異なれば変わることがある。
注記2 この用語の使用は，出力電圧比変化の直線性の度合いを示すものではなく，このことを想定
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
するものでもない。
2.2.19
外観の損傷（visual damage）
可変抵抗器の意図した使用目的に対し，その有用性を低下させる（その機能が喪失する）外部の損傷。
2.2.20
可変抵抗器（potentiometer）
三つの端子をもち，分圧器として使用するもので，二つの端子は抵抗素子の両端に接続し，残りの端子
は抵抗素子に沿って機械的に移動することができるしゅう動接点に接続した抵抗器。
2.2.21
半固定又は微調整形可変抵抗器（pre-set, trimmer or trimming potentiometer）
比較的操作の少ない調整用に設計した可変抵抗器。
2.2.22
ねじ駆動形可変抵抗器（lead-screw actuated potentiometer）
多回転調整機構として，ねじ駆動部をもつ微調整用の可変抵抗器。
2.2.23
連動形可変抵抗器（ganged potentiometer）
1本の共通の操作軸で，二つ以上の可変抵抗器を同時に操作できる構造の可変抵抗器。連結する可変抵
抗器の数は，品名を含め，例えば，二連形又は四連形可変抵抗器とする。
2.2.24
同心二重軸形可変抵抗器（dual concentric potentiometer）
同心軸によって，二つの可変抵抗器をそれぞれ単独に操作できる構造の可変抵抗器。
2.2.25
操作軸気密形可変抵抗器（shaft-sealed potentiometer）
操作軸の軸受けで，外部から可変抵抗器の内部へ異物が侵入，又は液体が浸入するのを防止する構造の
可変抵抗器（図1参照）。
2.2.26
操作軸及びパネル気密形可変抵抗器（shaft-sealed and panel-sealed potentiometer）
可変抵抗器をパネルに取り付けたとき，操作軸及びパネルから機器の内部に異物が侵入，又は液体が浸
入するのを防止する構造の可変抵抗器（図2参照）。
2.2.27
完全気密形可変抵抗器（fully sealed potentiometer）
操作軸の軸受けが気密で，可変抵抗器のケース本体も外部から異物が侵入，又は液体が浸入するのを防
止する構造の可変抵抗器（図3参照）。
必要がある場合，パネル気密を追加してもよい。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図1−操作軸気密形可変抵抗器
図2−操作軸及びパネル気密形可変抵抗器
図3−完全気密形可変抵抗器
2.2.28
回転方向（direction of rotation）
駆動機構を含めて可変抵抗器の操作軸側から見たとき，時計方向又は反時計方向の回転（附属書G参照）。
紛らわしい場合は，個別規格に従ってその方向を基準面に示す。
2.2.29
端子の記号（designation of terminals）
端子を明示するときに用いる記号。可変抵抗器の端子を明示する場合は，次の三つの記号を用いること
が望ましい。
a) “a” 2.2.28に定義する反時計方向の位置に操作軸を設定したとき，電気的にしゅう動接点に最も近
い終端端子。
b) “b” しゅう動接点に接続した端子。
c) “c” もう一方の終端端子。
注記 a，b及びcの記号の代わりに，数字の1，2及び3，又は黄，赤及び青の色を用いてもよい。端
子の表示をする場合，この細分箇条に従うことが望ましい。その他の端子に，文字，数字又は
色によって明示する場合には，品種別通則又は個別規格に規定することが望ましい。
2.2.30
2端子形可変抵抗器［variable resistor (two terminals)］
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電流制御（抵抗値を可変）を目的に，しゅう動接点端子を一方の抵抗素子の終端端子に接続し，接点が
抵抗素子に沿って動くことができる2端子構造の可変抵抗器。
2.2.31
しゅう動接点［moving contact (or wiper)］
抵抗素子に沿って動く可変抵抗器の接点。
2.2.32
タップ（tap）
抵抗素子に固定して設けた電気的接続部。
2.2.32.1
電流タップ（current tap）
出力特性をゆがめる場合があるが定格素子電流を流すことができ，抵抗素子に固定して設けた電気的接
続部。
注記 一般に，非巻線形可変抵抗器の電流タップは，ある幅をもつ。ただし，低抵抗である（2.2.48.18
参照）。
2.2.32.2
電圧タップ（voltage tap）
出力特性をゆがめることなく抵抗素子に固定して設けた電気的接続部。一般に，タップ抵抗をもち，定
格素子電流を流すことはできない。
注記 電流タップ及び電圧タップの特異性が現れるのは，基本的に非巻線形可変抵抗器に適用する場
合である。巻線形可変抵抗器の多くは，抵抗線の一巻きに接続し，定格素子電流を流すことが
できる。一般には，分解能又は出力特性の影響を受けない。
2.2.33
トラック（track）
抵抗素子上のしゅう動接点の接触する経路。
2.2.34
クラッチ機構（stop-clutch device）
しゅう動接点が，抵抗素子の両終端に達した後に，駆動機構が空転するように設けた機構。
2.2.35
回転数（駆動機構の場合）［number of turns (of an actuating device)］
しゅう動接点が，全機械的操作範囲を移動するのに必要な駆動機構の操作回数。単回転形の場合は，360°
以下の1回転となるが，多回転形の場合は，360°回転の総数となる。
2.2.36
抵抗変化特性（resistance law）
しゅう動接点の機械的位置に対する端子aとbとの間で測定した抵抗値又は出力電圧比Uab/Uacの関係。
2.2.36.1
可変抵抗器の抵抗変化特性及び分類（common potentiometer laws and classification）
回転角度に対する抵抗が変化する特性及びその変化特性に基づく分類。可変抵抗器には，次の三つの抵
抗変化特性がある。
抵抗変化特性は，適用する場合，図4〜図6に示す公称カーブに対する概略形状に従う。
a) 直線形変化特性（図4参照）
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b) 対数形変化特性（図5参照）
c) 逆対数形変化特性（図6参照）
抵抗値の測定は，電気的回転角度の50 %でカーブが示す公称値の規定許容差内とする。可変抵抗器の変
化特性の例を，附属書Gに示す。品種別通則又は個別規格では，有効操作範囲の両端付近で，規定した変
化特性の抵抗値変化の割合が要求よりも小さい規定を，許容差を付けて規定してもよい。また，図4〜図6
に破線で示した抵抗変化特性のように，規定の変化特性に対する近似値を，許容差を付けて規定してもよ
い。
図4−直線形変化特性
図5−対数形変化特性
図6−逆対数形変化特性
2.2.36.2
その他の抵抗変化特性（other potentiometer law）
2.2.36.1に示した抵抗変化特性以外の特性（例えば，正弦変化又は余弦変化）。特殊な目的のために要求
してもよい。その場合，その他の抵抗変化特性を品種別通則又は個別規格に規定する。
2.2.37
操作サイクル（cycle of operation）
可変抵抗器を操作するときの1回の運動。1サイクルは，形状によって次のような運動で示すことがで
きる。
a) 単回転及び多回転形可変抵抗器の場合は，しゅう動接点が抵抗素子の一方の端から他方の端に達し，
更に，元の位置に戻る運動。
b) 連続回転形可変抵抗器の場合は，しゅう動接点が同一方向へ360度回転を，2回行う運動。
2.2.38
短絡領域（shorted-segment）
抵抗素子の一部分で，規定の負荷抵抗でしゅう動接点がその部分の上を移動する間，出力電圧比が規定
する許容限度内で一定の値を保っている領域。
2.2.39
端子間抵抗値（terminal resistance）
しゅう動接点に接続した端子bと終端端子a又はcとの間で測定した抵抗値の最小値（2.2.29参照）。
2.2.40
終端残留抵抗値（residual resistance）
操作軸を回転止めの位置に設定したとき，その位置に対応する終端端子a又はcとしゅう動接点に接続
した端子bとの間で測定した抵抗値（2.2.29参照）。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 回転止めの位置と最小有効抵抗値を測定する位置との間で，著しい抵抗値の変化がない場合，
終端残留抵抗値，最小抵抗値及び最小有効抵抗値は，同一となる。したがって，測定する最小
抵抗値は，機械的な回転止めの位置に対応する必要はない。
2.2.41
負荷抵抗，RL（load resistance）
出力電圧が生じる外部抵抗（しゅう動接点端子bとその他の端子a又はcとの間に接続する。）（図8参
照）。
2.2.42
全印加電圧，Uac（total applied voltage）
入力端子間に印加する電圧（図7参照）。例えば，端子aとcとの間に印加する電圧。
2.2.43
出力電圧，Uab（output voltage）
端子bと規定した基準点との間の電圧（図7参照）。その他の規定がない場合，基準点は，端子aとする。
2.2.44
出力電圧比（output ratio）
出力電圧Uabの全印加電圧Uacに対する比（図7参照）。通常，出力電圧比（UR）は，全印加電圧に対す
る百分率で表す。
100
ac
ab
R
×
=UU
U
図7−出力電圧比
2.2.45
最小出力電圧比（minimum output ratio）
しゅう動接点端子bと終端端子a又はcとの間で測定する電圧の最小値の，終端端子間に印加した一定
電圧に対する比。
2.2.46
減衰量（attenuation）
出力電圧比の逆数。通常，次のように示す。
ab
ac
log
20
U
U（dB）
2.2.47
負荷誤差（loading error）
操作軸を同じ位置（いずれの位置でもよい）に置いて測定する場合，無限大の負荷抵抗のときの出力電
圧比と規定した有限の負荷抵抗のときの出力電圧比との差（図8参照）。
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注記 希望する出力電圧比になるように，規定した負荷抵抗で抵抗素子を補うことによって負荷誤差
をできるだけ少なくすることを負荷補正という。
図8−負荷誤差
2.2.48
抵抗値と操作範囲（又は回転数）との関係［resistance/travel (or angle-of-rotation) relationship］
次の二つの一般的構造に適用する関係。
a) 終端回転止め付き又はクラッチ空転機構付きの可変抵抗器
b) 終端回転止め又は空転機構がない単回転形可変抵抗器
操作範囲は，度，回転数又はミリメートルで表してもよい。その他の構造の可変抵抗器に関する用語又
は定義は，個別規格で規定する。
注記 2.2.48.1，2.2.48.3及び2.2.48.4での括弧内の別表現は，参考までに付記したものである。
2.2.48.1
全機械的操作範囲（全機械的回転角度）［total mechanical travel (or rotation)］
2.2.48 a)の場合は，しゅう動接点が，二つの終端操作止め間又はクラッチ空転機構が動作する2地点間
に対応して動く全範囲をしゅう動するときに駆動機構の移動する範囲（図9参照）。
2.2.48 b)の場合は，全機械的操作範囲は360°とする。
図9−抵抗値と操作範囲（又は回転角度）との関係
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2.2.48.2
全電気的操作範囲（total electrical travel）
しゅう動接点と抵抗素子との間に，正常な場合にはいかなる不接触部分も存在しない両終端間の駆動機
構の操作範囲（図9参照）。
注記 終端回転止め付き又はクラッチ空転機構付きの可変抵抗器［2.2.48 a)］の場合，終端位置は，
通常，終端操作止め又は駆動機構が作動する位置と一致する。そのため，全電気的操作範囲は，
全機械的操作範囲と同一となる。
2.2.48.3
有効電気的操作範囲（有効電気的回転角度）［effective electrical travel (or angle of rotation)］
規定する抵抗変化特性に従って，規定どおりに抵抗値が変化するように，しゅう動接点をしゅう動させ
るのに必要な駆動機構の操作範囲（図9参照）。
2.2.48.4
無効機械的操作範囲（無効機械的回転角度）［ineffective mechanical travel (or angle of rotation)］
しゅう動接点と抵抗素子との間の連続性が保証されない部分の機械的操作範囲（図9参照）。無効機械的
操作範囲は，全機械的操作範囲と全電気的操作範囲との差に等しい。
2.2.48.5
全抵抗値，Rac（total resistance）
4.6の規定に従って測定したときの，端子aとcとの間の抵抗値。
2.2.48.6
有効抵抗値（effective resistance）
全抵抗値の一部であって，抵抗値が規定する変化特性に従って，規定どおりに変化する範囲の抵抗値。
2.2.48.7
最小有効抵抗値（minimum effective resistance）
有効電気的操作範囲の各終端で，端子bと端子bにより近い端子a又はcとの間の抵抗値（4.4.6参照）。
通常，全抵抗値に対する百分率で表す。
2.2.48.8
連続性（continuity）
しゅう動接点の機械的操作範囲でのしゅう動接点と抵抗素子との間の電気的接触の持続度。
2.2.48.9
一致性（conformity）
全抵抗値又は全印加電圧に対する百分率で表した実際の抵抗変化特性と規定する抵抗変化特性との間の
最大偏差（図10参照）。
注記 一致性は，種々の方法で表すことができるが，個別規格には明確に規定することが望ましい。
一致性の幾つかの表現方法を，2.2.48.10〜2.2.48.15に示す。
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図10−一致性
2.2.48.10
絶対一致性（absolute conformity）
規定の有効電気的操作範囲にわたって測定し，規定の抵抗変化特性に対する実際の抵抗変化特性の最大
偏差で表す一致性（図11参照）。
図11−絶対一致性
2.2.48.11
直線性（linearity）
規定の抵抗変化特性又は出力電圧比を直線で表す場合の一致性（図12参照）。
図12−直線性
15
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2.2.48.12
単独直線性（最良直線性）［independent linearity (best straight line)］
有効電気的操作範囲の全域又はその特性の一部で，偏差を最小に抑えるように傾斜及び位置を選定した
基準直線に対する実際の抵抗変化特性の最大偏差を，全印加電圧に対する百分率で表す一致性（図13参照）。
注記 最大及び最小の出力電圧比が規定されている場合には，基準直線の傾斜及び位置は，制限され
る。
次の式によって算出する。
C
Q
θ
θ
P
U
U
±
+
=
A
ac
ab
ここに，
P： 偏差を最小にするように選定した直線の傾斜
Q： θ＝0での規定されない切片を表し，P及びQは，Cを最小に
するように選定するが，出力電圧比の要求によって制限され
る。
θA： 有効電気的操作範囲
図13−単独直線性
2.2.48.13
ゼロ基点直線性（zero based linearity）（巻線形可変抵抗器だけに適用）
有効電気的操作範囲にわたって，最大偏差を最小に抑えるように傾斜を選定し，規定の出力電圧比を通
して引いた基準直線に対する実際の抵抗変化特性の最大偏差を，全印加電圧に対する百分率で表す一致性
（図14参照）。その他の規定がない場合には，規定の最小出力電圧は，ゼロである。
次の式によって算出する。
C
B
θ
θ
P
U
U
±
+
=
A
ac
ab
ここに，
P： 偏差を最小にするように選定した直線の傾斜。最大出力電圧
比についての要求条件によって制限を受ける場合がある。
θA： 有効電気的操作範囲
B： θ＝0での規定した切片。その他の規定がない場合，B＝0とす
る。
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図14−ゼロ基点直線性
2.2.48.14
絶対直線性（absolute linearity）
規定の有効電気的操作範囲の両端で，規定する最小及び最大の出力電圧比を通して引いた基準直線に対
する実際の抵抗変化特性の最大偏差を，全印加電圧に対する百分率で表す一致性（図15参照）。
その他の規定がない場合は，最小及び最大の出力電圧比は，それぞれ全印加電圧の0 %及び100 %とす
る。
次の式によって算出する。
C
B
θ
θ
A
U
U
±
+
=
T
ac
ab
ここに，
A： 規定した傾斜。その他の規定がない場合，A＝1とする。
B： θ＝0での規定した切片。その他の規定がない場合，B＝0とす
る。
θT： 規定した有効電気的操作範囲
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図15−絶対直線性
2.2.48.15
端子間直線性（terminal based linearity）（巻線形可変抵抗器だけに適用）
有効電気的操作範囲の両端で，規定の最小及び最大の出力電圧比を通して引いた基準直線に対する実際
の抵抗変化特性の最大偏差を全印加電圧に対する百分率で表す一致性（図16参照）。
その他の規定がない場合，最小及び最大の出力電圧比は，それぞれ全印加電圧の0 %及び100 %とする。
次の式によって算出する。
C
B
θ
θ
A
U
U
±
+
=
A
ac
ab
ここに，
A： 規定した傾斜。その他の規定がない場合，A＝1とする。
θA： 有効電気的操作範囲
B： θ＝0での規定した切片。その他の規定がない場合，B＝0とす
る。
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図16−端子間直線性
2.2.48.16
指標点A（index point A）
規定された駆動機構の位置とそこでの出力電圧比との関係を定める基準点。駆動機構の位置の基準を設
定するために用いる。
2.2.48.17
タップ位置（tap location）
ある基準点からのタップの位置。
注記 通常，抵抗値，出力電圧比又は駆動機構の位置で表す。駆動機構の位置によって規定する場合
には，タップ位置は，有効タップ幅の中点をいう。
2.2.48.18
有効タップ幅（effective tap width）
しゅう動接点が，タップを一方向に通過したとき，しゅう動接点端子bとタップ接続部分との電圧が本
質的に同一である駆動機構の操作範囲（図17参照）。
図17−有効タップ幅
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2.2.48.19
位相調整（phasing）
連動形可変抵抗器の各セクションの位相調整点を，相対的に整列させる操作。
注記 その他の規定がない場合，位相調整は，セクションごとに規定する一つの位相調整点に適用す
る。各セクションの位相調整点は，最初のセクションの位相調整点に整列させる。
2.2.48.20
位相調整点（phasing point）
連動形可変抵抗器の各セクションを，相対的に整列させるため，各セクションのしゅう動接点の位置で
表した基準となる点。
2.2.48.21
しゅう動雑音（rotational noise）
しゅう動接点をしゅう動したとき，接触抵抗の変化に起因する入力には存在しない電気的出力の不要な
変化。
2.2.48.22
接触抵抗変化［contact resistance variation (CRV)］
規定の電流を流しながら，しゅう動接点を規定の速度で操作範囲の双方向にしゅう動したとき，抵抗素
子としゅう動接点との間の抵抗の変化。
2.2.48.23
等価雑音抵抗［equivalent noise resistance (ENR)］
操作軸を操作したとき，しゅう動接点と抵抗素子との間に発生する一時的な抵抗の等価寄生量で，入力
には存在しない電気的出力の不要な変化。
2.2.48.24
出力平滑性（output smoothness）（非巻線形可変抵抗器だけに適用）
入力に存在しない電気的出力の不要な変化。出力平滑性には，接触抵抗変化，分解能，その他の出力で
の微小な非直線性の影響を含む。出力平滑性は，有効電気的操作範囲にわたり，規定の微小区域ごとに測
定し，全印加電圧に対する百分率で表す。
2.2.48.25
設定能力又は調整能力（分解能を含む）［setting ability or adjustability (including resolution)］
可変抵抗器の抵抗値又は出力電圧比を，希望する値に設定できる精度。通常，全抵抗値に対する百分率
で表す。
注記 巻線形可変抵抗器の微少量の調整は，しゅう動接点が1巻ごとに移動するため，出力を希望す
る値にすることができない。
2.2.48.26
理論分解能（巻線形可変抵抗器だけに適用）（theoretical resolution）
有効電気的操作範囲の抵抗線の巻数の逆数。百分率で表す。この用語は，巻線形可変抵抗器を説明する
ために用い，可変抵抗器の出力電圧比を調整できる精度の尺度である。
2.2.48.27
同時一致性位相調整（simultaneous conformity phasing）
連動形可変抵抗器の全てのセクションの出力電圧比が，有効電気的操作範囲にわたり，それぞれの一致
性の許容範囲内に収まるような，共通の基準点に対するセクションの相対的な配列。
20
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.48.28
バックラッシュ（backlash）
互いに反対方向から，実際に同じ出力電圧比になるように，駆動機構を駆動したときに生じる駆動機構
の位置の最大差（図18参照）。
図18−バックラッシュ
2.2.48.29
ディザ（dither）
サーボ系システムで発生する状況を模擬する操作軸の動き。
2.2.48.30
微小範囲直線性（microlinearity）
微小枠（小さな区画）ごとに測定した直線性のずれの相対的変化（2.2.48.12参照）。印加電圧に対する百
分率で表す。
2.2.48.31
設定安定性（setting stability）
希望する設定位置で安定性を維持する能力。
注記1 設定安定性は，高温放置，耐湿性，及び機械的衝撃又は振動の影響を受ける。
注記2 耐環境試験前の初期測定値と試験後の測定値との間の電圧値又は抵抗値の差で，百分率で表
す。
2.2.49
回転形可変抵抗器（単回転又は多回転）［rotary potentiometer (single-turn or multi-turn)］
回転方向に垂直な操作軸で駆動する可変抵抗器で，電圧又は抵抗値を調整するために繰返し操作する可
変抵抗器。
2.2.50
電力形可変抵抗器（power potentiometer）
高い内部温度上昇及び熱伝導能力に対して，設計及び構成した抵抗素子をもつ可変抵抗器。
2.2.51
精密級可変抵抗器（precision potentiometer）
出力電圧又は抵抗変化特性が，駆動装置の位置の関数として厳密に定義した変化特性に適合する可変抵
抗器。
21
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2.2.52
スライド形可変抵抗器（slide potentiometer）
操作軸の直線的移動によって操作し，電圧又は抵抗値を調整するために繰返し操作する可変抵抗器。
2.2.53
表面実装用可変抵抗器（surface mount potentiometer）
プリント配線板及びハイブリッド回路に用いるのに適した性質又は形状の端子（電極）をもつ小さな寸
法の可変抵抗器。
2.3
推奨値
2.3.1
一般事項
各品種別通則には，サブファミリに適した推奨値を規定する。公称全抵抗値については，2.3.2も参照す
る。
2.3.2
公称全抵抗値の推奨値
公称全抵抗値の推奨値は，JIS C 5063に規定するE標準数列及び／又は1,2,5シリーズを採用する。
2.4
表示
2.4.1
一般事項
可変抵抗器本体又はその包装容器上の全ての表示は，関連の品種別通則又は個別規格の規定に適合する。
小さな可変抵抗器に対する表示は，優先順位を規定する。
注記 品種別通則又は個別規格に規定がある場合には，表示は，附属書JAによってもよい。
2.4.2
記号化
公称全抵抗値，許容差又は製造年月（年週）に対し記号化する場合には，その方法は，JIS C 5062に規
定する方法から選択する。
注記 形名の記号及び表示については，附属書JAに規定する記号を用いてもよい。
3
品質評価手順
この規格及び品種別通則又は個別規格を，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）のような総合的な品質
評価制度の目的に用いる場合は，附属書Hの関連する事項を適用する。また，IECQに用いる“個別規格
の作成”については附属書Aを，“抜取計画及び手順”については附属書Bを参照する。
注記1 JIS C 5260-1:1999の箇条3は，附属書Hに規定する。JIS C 5260-1:1999との関連を維持する
ため，箇条3の細分箇条番号は，次の例に示すように，附属書Hの細分箇条番号に置き換え
ることができる。
3.1
→
H.1
3.1.2 →
H.1.2
注記2 この規格の場合は，JIS C 5260-1:1999に規定されていた細分箇条番号との符合性が乏しいこ
とに留意する。
4
試験及び測定方法
4.1
一般事項
品種別通則及び／又はブランク個別規格には，実施する試験項目の表を規定する。表には，実施する試
験及び各試験又は副群試験の前後に測定する項目を規定する。試験の各段階は，規定の順序に実施する。
測定条件は，各試験の初期測定及び最終測定を同一とする。品質評価制度での国家規格で，上記の規定と
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異なる方法を含む場合は，それらの事項を全て規定する。
4.2
標準大気条件（標準試験状態）
4.2.1
測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）
この規格の下位となる品種別通則，ブランク個別規格又は個別規格（以下，下位規格という。）に規定が
ない場合には，全ての試験及び測定は，次に示すJIS C 60068-1の5.3［測定及び試験のための標準大気条
件（標準状態）］の標準状態によって行う。
− 温度：
15 ℃〜35 ℃
− 相対湿度：
25 %〜75 %
− 気圧：
86 kPa〜106 kPa
測定前に，可変抵抗器を測定温度の状態に，可変抵抗器全体がこの温度に達するのに十分な時間放置す
る。通常，試験の最後の後処理に規定する放置時間と同一の時間を適用する。
必要がある場合，規定の温度以外で測定するときには，測定結果を規定の温度に対して補正する。測定
器の周囲温度は，試験報告書に記録する。判定に疑義が生じた場合は，判定状態（4.2.3参照）の一つとこ
の規格で規定するその他の条件との両方を適用して再測定する。
試験を連続して行う場合は，一つの試験の試験後の測定値を，次の試験の試験前の測定値としてもよい。
注記 測定中，可変抵抗器は，過度の通風，直射日光，その他測定に影響が生じるような環境にさら
さないことが望ましい。
4.2.2
後処理
その他の規定がない場合，後処理条件は，標準状態（4.2.1参照）とする。後処理を厳密に管理した条件
で行う場合には，JIS C 60068-1の5.4.1（管理された後処理条件）を適用する。
4.2.3
判定測定及び判定試験のための標準大気条件（判定状態）
判定状態は，表1に示すJIS C 60068-1の5.2［判定測定，及び判定試験のための標準大気条件（判定状
態）］に規定する条件の一つを選択する。
表1−標準大気条件
温度
℃
相対湿度
%
気圧
kPa
20±1
63〜67
86〜106
23±1
48〜52
86〜106
25±1
48〜52
86〜106
27±1
63〜67
86〜106
4.2.4
標準基準大気条件（基準状態）
基準状態は，JIS C 60068-1の5.1［標準基準大気条件（基準状態）］の次の規定を適用する。
− 温度： 20 ℃
− 気圧： 101.3 kPa
4.3
乾燥
乾燥の規定がある場合は，測定に先立って，可変抵抗器を個別規格の規定に従って，次の手順1又は手
順2によって乾燥を行う。
手順1： 温度55 ℃±2 ℃，相対湿度20 %以下の槽内で24時間±4時間
手順2： 温度100 ℃±5 ℃の槽内で96時間±4時間
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可変抵抗器は，活性化アルミナ，シリカゲルなど適切な乾燥剤を用いたデシケータの中で冷却してもよ
い。また，乾燥槽から取り出した後，規定の試験を開始するまでデシケータの中で保管する。
4.4
外観検査及び寸法検査
4.4.1
外観検査
可変抵抗器の状態，でき栄え及び仕上がり状態は，目視によって調べる（2.2.19参照）。
外観の損傷があってはならない。
表示は，目視によって調べたとき，明瞭で，個別規格の要求事項を満足しなければならない。
4.4.2
寸法（ゲージ法）
個別規格に規定する寸法を適切なゲージ法を用いて検査したとき，個別規格の規定値を満足しなければ
ならない。
4.4.3
寸法（詳細）
個別規格に規定する全ての寸法を検査したとき，個別規格の規定値を満足しなければならない。
4.4.4
全機械的操作範囲（図9参照）
可変抵抗器を，駆動機構の回転角度測定のために取り付ける。しゅう動接点が，全機械的操作範囲の反
時計方向終端に位置するように駆動機構を調整し，角度位置（A）を記録する。次に，しゅう動接点が，
全機械的操作範囲の時計方向終端に位置するように駆動機構を調整し，角度位置（F）を記録する。
全機械的操作範囲は，角度位置（F）と角度位置（A）との差によって求める。
全機械的操作範囲は，個別規格に規定する限度以内でなければならない。
4.4.5
全電気的操作範囲（図9参照）
可変抵抗器を，回転角度の測定のために取り付けている間に，4.6.1に規定する値を超えない電圧を端子
aとcとの間に印加する。
全機械的操作範囲のほぼ中央に駆動機構を設定し，しゅう動接点と抵抗素子との間の接触がとぎれるま
で，駆動機構を反時計方向にゆっくりと回しながら電気的連続性を監視する。その後，接触がとぎれる角
度位置（B）を記録する。接触のとぎれがない場合は，全機械的操作範囲の終端の位置を記録する。
次に，全機械的操作範囲のほぼ中央に駆動機構を設定し，しゅう動接点と抵抗素子との間の接触がとぎ
れるまで，駆動機構を時計方向にゆっくりと回しながら電気的連続性を監視する。その後，接触がとぎれ
る角度位置（E）を記録する。接触のとぎれがない場合は，全機械的操作範囲の終端を記録する。
全電気的操作範囲は，角度位置（E）と角度位置（B）との差によって求める。
全電気的操作範囲は，個別規格に規定する限度以内でなければならない。
4.4.6
有効電気的操作範囲（図9参照）
可変抵抗器を，回転角度の測定のために取り付けている間に，4.6.1に規定する値を超えない電圧を端子
aとcとの間に印加する。
全電気的操作範囲のほぼ中央に駆動機構を設定し，全抵抗値の百分率で表した最小有効抵抗値の±5 %
に対応した出力電圧比Uab/Uacになるまで反時計方向にゆっくりと回し，角度位置（C）を記録する。次に，
全電気的操作範囲のほぼ中央に駆動機構を設定し，全抵抗値の百分率で表した最小有効抵抗値の±5 %に
対応した出力電圧比Ubc/Uacになるまで時計方向にゆっくりと回し，角度位置（D）を記録する。
注記 より高い精度を要求する場合は，最小有効抵抗値に対する出力電圧比の許容差±5 %を，個別
規格に規定する値まで小さくしてもよい。
有効電気的操作範囲は，角度位置（D）と角度位置（C）との差によって求める。
求めた値は，個別規格に規定する限度以内とする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
反時計方向の無効機械的操作範囲の角度は，AとCとの間の位置範囲である。
時計方向の無効機械的操作範囲の角度は，FとDとの間の位置範囲である。
無効機械的操作範囲は，個別規格に規定する限度以内でなければならない。
4.5
連続性（連続的回転形可変抵抗器を除く）
4.5.1
測定中，可変抵抗器には定格を超えない方法で負荷を加える。操作軸又は駆動ねじを，2サイクル
／分から5サイクル／分（2.2.37参照）の割合で各方向に一様に操作している間に，端子aとbとの間の
抵抗値変化を監視する。
端子aとbとの間の抵抗値変化は，操作軸をゆっくりと回したとき（又は，ねじ駆動機構のしゅう動接
点をゆっくりと調整したとき）適切な滑らかさで，かつ，逆行があってはならない。
下位規格に規定がない場合，しゅう動接点を全電気的操作範囲の全域にわたって動かしたとき，電気的
不連続があってはならない。
4.5.2
クラッチ空転機構を備えた可変抵抗器では，しゅう動接点の操作範囲の各終端でクラッチが動作し
たとき，電気的不連続があってはならない。
4.6
素子抵抗値
4.6.1
測定は，調整機構を反時計方向に回して，しゅう動接点を操作範囲の終端に設定した状態で行う
（4.6.2の注記参照）。
抵抗値の測定は，測定中に抵抗素子の温度が上昇しないように，低い直流電圧でできるだけ短時間に行
う。
試験電圧に起因する判定に疑義が生じた場合は，表2に規定する電圧を適用する。
表2−測定電圧
公称全抵抗値 R
Ω
測定電圧 U
V
R＜10 Ω
10 Ω≦R＜100 Ω
100 Ω≦R＜1kΩ
1 kΩ≦R＜10 kΩ
10 kΩ≦R＜100 kΩ
100 kΩ≦R＜1 MΩ
1 MΩ≦R
0.1（注記1参照）
0.3
1
3
10
25
50
注記1 公称全抵抗値が10 Ω未満の場合，測定電圧は，可変抵抗器に負荷する電力が定
格電力の10 %未満とし，0.1 Vを超えないようにすることが望ましい。
注記2 マルチメータを含むデジタルオームメータを用いる場合は，表2に規定する測
定電圧を，最大電圧とすることが望ましい。
注記3 測定電圧の許容差は，
0
10
− %とする。
4.6.2
測定装置の確度は，全誤差が抵抗値許容差の10 %以下とする。測定が，一連の試験の一部を構成
している場合には，一連の試験で許容される最大変化の10 %を超えない範囲で抵抗値の変化を測定するこ
とができるものとする。
注記 特殊な品種の可変抵抗器に対しては，品種別通則又は個別規格に，しゅう動接点の設定も含め
てより詳しい測定の手順を規定してもよい。
4.6.3
20 ℃での端子aとcとの間の抵抗値は，規定の許容差を加味した公称全抵抗値に等しい。
25
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.7
端子間抵抗値（最小抵抗値）
4.7.1
測定電圧
測定装置の確度は，誤差が±5 %を超えてはならない。可変抵抗器に印加する電圧は，しゅう動接点の
許容電流を超えないように選定する。
4.7.2
測定方法
抵抗値は，次のように測定する。
4.7.2.1
最小抵抗値が得られるまで，駆動機構を反時計方向に回し，端子aとbとの間で測定する。
4.7.2.2
最小抵抗値が得られるまで，駆動機構を時計方向に回し，端子bとcとの間で測定する。
4.7.3
要求事項
抵抗値は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
4.8
最大減衰量
下位規格に規定がある場合は，端子間抵抗値に代えて測定する。
4.8.1
測定は，次のように行う。
− 全電気的操作範囲の反時計方向の終端に操作軸を設定し，端子aとbとの間で測定する。
− 逆対数形抵抗変化特性をもつ可変抵抗器に対しては，全電気的操作範囲の時計方向の終端に操作軸を
設定し，端子bとcとの間で測定する。
4.8.2
試験中，供試可変抵抗器の端子aとcとの間には，1.0 kHz±0.2 kHzの電圧を印加する。電圧の実
効値は，4.6.1に規定する直流電圧を超えてはならない。
内部インピーダンスが1 MΩ以上の装置を用いて，端子aとbとの間（又は，規定がある場合は，端子
bとcとの間）の電圧を測定する。この電圧の印加電圧に対する比を減衰量とする。
4.8.3
最大減衰量は，個別規格に規定する値以上でなければならない。
4.9
抵抗変化特性（一致性）
4.9.1
可変抵抗器は，駆動機構の角度位置の測定と同様に取り付ける。
安定化電源から，4.6.1に規定する電圧を超えない定電圧を，可変抵抗器の端子aとcとの間に印加する。
4.9.2
端子aとbとの間の電圧は，有効電気的操作範囲の全域にわたってほぼ等間隔においた駆動機構の
幾つかの位置で，高インピーダンスをもつ電圧計で測定する。
各角度位置での出力電圧比Uab/Uac及び駆動機構の機械的位置を記録する。
測定方法は，誤差が規定の許容差の±10 %を超えないような方法又は個別規格に規定する方法とする。
4.9.3
品質認証試験及び品質確認試験の場合には，測定点の数は，個別規格に規定する。
各測定角度位置での出力電圧比Uab/Uacは，個別規格に規定する一致性の許容範囲内とする。
4.10 抵抗変化特性の相互一致性（連動形可変抵抗器だけに適用）
個別規格に規定がある場合に適用する。
注記 3個以上の連動形可変抵抗器にも同じ手順を適用してもよい。
4.10.1 一対の可変抵抗器の端子aとcとの間に，4.6.1に規定する電圧を超えない電圧を印加する。
駆動機構を同じ位置に設定し，直線形抵抗変化特性の場合は，一方の可変抵抗器の端子aとbとの間の
電圧及び端子bとcとの間の電圧を，他方の可変抵抗器のそれぞれに対応する電圧と比較する。非直線形
変化抵抗特性の場合は，一方の可変抵抗器の端子aとbとの間の電圧を，他方の可変抵抗器のそれに対応
する電圧と比較する。
4.10.2 これら二つの電圧の関係は，個別規格に規定する限度内とする。
4.11 スイッチ接触抵抗（個別規格に規定がある場合）
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この試験は，スイッチ付き可変抵抗に適用する。
アステリスク（*）を付したものを除き，細分箇条に規定する試験は，JIS C 5402-2-1及びJIS C 5402-2-2
から引用している。
アステリスクは，4.11.1.4及び4.11.2.4での次の手順を対象としている。
a) 接点を閉じる。
b) 接点を開ける。
4.11.1 接触抵抗−ミリボルトレベル法
4.11.1.1 目的
この試験は，相対する一対の接点を測定計器に接続して，電気抵抗を測定する標準方法を明確にするこ
とを目的とする。
4.11.1.2 測定についての一般的要求事項
測定は，直流又は交流のいずれかで行ってもよい。交流での測定の場合は，周波数が2 kHzを超えては
ならない。疑義が生じた場合は，直流で測定する。
測定装置の確度は，総合誤差が10 %を超えないようにする。
4.11.1.3 測定方法
4.11.1.3.1 測定内容
接触抵抗は，通常，個別規格に規定する箇所で，接点への配線の接続に用いた領域間で測定する電圧降
下から求める。
測定電圧を印加している間は，接点を操作しない。
測定中，試験中の接点に異常な圧力がかからないように，また，試験ケーブルが動かないように配慮す
る。
個別規格で規定する接続部分が，直接接触できない箇所では，用いるケーブル又は電線の抵抗を測定し
た値から差し引いて補正した値を記録する。
測定する接点は，個別規格に従って選択する。
4.11.1.3.2 試験電流及び電圧
試験電圧は，接点表面の生成膜の破壊を防ぐため，直流又は交流のピーク値が20 mVを超えない値とす
る。
試験電流は，交流（ピーク値）又は直流で100 mAを超えてはならない。
4.11.1.4 測定のサイクル
4.11.1.4.1 直流での測定
測定の1サイクルは，次の手順による。
a) 接点を閉じる。*
b) 電圧を印加する。
c) 電流を一方向に流して測定する。
d) 電流を反対方向に流して測定する。
e) 電源の接続を外す。
f)
接点を開く。*
4.11.1.4.2 交流での測定
測定の1サイクルは，次の手順による。
a) 接点を閉じる。*
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 電圧を印加する。
c) 測定を行う。
d) 電源の接続を外す。
e) 接点を開く。*
注記 その他の規定がない場合，4.11.1.4.1及び4.11.1.4.2の試験の終わり及びこの試験での電圧印加
の間，閉接点を操作しないことが望ましい。
4.11.1.5 要求事項
接触抵抗（Rcon）の値は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
直流での接触抵抗の測定では，極性を変えた2方向の電流で得る二つの読取値の平均値から求める。
正確な抵抗値は，次の式によって算出する。
r
f
mr
mf
con
I
I
V
V
R
+
+
=
ここに， Rcon： 接触抵抗値（Ω）
Vmf： 電流を一方向に流して測定した電圧（V）
Vmr： 電流を反対方向に流して測定した電圧（V）
If： 一方向に流した電流（A）
Ir： 反対方向に流した電流（A）
注記1 式には，電圧測定記号を含める必要がある。
注記2 標準試験手順の例外は，試験報告書に明確に示すことが望ましい。
4.11.1.6 個別規格に規定する事項
この試験を要求する場合は，次の事項を個別規格に規定する。
a) 適用する場合，測定電線の接続点，それらの形式及び大きさ。
b) 相対する接点に対しては，測定する接点及び測定の回数。
c) 個別の接点に対しては，測定する接点の数。
d) 測定前及び／又は測定の間に接点を操作するかどうか。
e) 接触抵抗値の許容限界値。
f)
標準試験方法及び／又は条件の例外。
4.11.2 接触抵抗−規定試験電流法
4.11.2.1 目的
この試験は，一対の相対する接点を測定機器に接続して，電気抵抗を測定する標準方法を明確にするこ
とを目的とする。
4.11.2.2 測定についての一般要求事項
測定は，直流又は交流のいずれで行ってもよい。交流での測定の場合は，周波数が2 kHzを超えてはな
らない。疑義を生じた場合は，直流で測定する。
測定装置の確度は，総合誤差が10 %を超えないようにする。
4.11.2.3 測定方法
4.11.2.3.1 測定内容
接触抵抗は，通常，個別規格に規定する箇所で，接点への配線に用いた領域間で測定する電圧降下から
求める。
測定電圧を印加している間は，接点を操作しない。
測定中，試験中の接点に異常な圧力がかからないように，また，試験ケーブルが動かないように配慮す
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る。
個別規格で規定する接続部分が，直接接触できない箇所では，用いるケーブル又は電線の抵抗を測定し
た値から差し引いて校正した値を記録する。
測定する接点は，個別規格に従って選択する。
4.11.2.3.2 試験電流及び電圧
接触抵抗は，個別規格に規定する定格交流電流又は直流電流で測定する。電源の電圧は，個別規格に規
定する直流又は交流のピーク値が，60 V以下，1 V以上とする。
測定は，試験電流の印加後すぐに個々の接点で行う。
4.11.2.4 測定のサイクル
4.11.2.4.1 直流での測定
測定の1サイクルは，次の手順による。
a) 接点を閉じる。*
b) 電圧を印加する。
c) 電流を一方向に流して測定する。
d) 電流を反対方向に流して測定する。
e) 電源の接続を外す。
f)
接点を開く。*
注記 その他の規定がない場合，4.11.2.4.1の試験の終わり及びこの試験での電圧印加の間，又は継続
する測定の間も閉接点を操作しないことが望ましい。
4.11.2.4.2 交流での測定
測定の1サイクルは，次の手順による。
a) 接点を閉じる。*
b) 電圧を印加する。
c) 測定を行う。
d) 電源の接続を外す。
e) 接点を開く。*
注記 その他の規定がない場合，4.11.2.4.2の試験の終わり及びこの試験での電圧印加の間，又は継続
する測定の間も閉接点を操作しないことが望ましい。
4.11.2.5 要求事項
接触抵抗の値は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
直流での接触抵抗の測定では，極性を変えた2方向の電流で得る二つの読取値の平均値で求める。
正確な抵抗値は，4.11.1.5の式によって算出する。
注記 標準試験手順の例外は，試験報告書に明確に示すことが望ましい。
4.11.2.6 個別規格に規定する事項
この試験を要求する場合は，次の事項を個別規格に規定する。
a) 適用する場合，測定電線の接続点，それらの形式及び大きさ。
b) 相対する接点に対しては，測定する接点及び測定の回数。
c) 個別の接点に対しては，測定する接点の数。
d) 測定前及び／又は測定の間に接点を操作するかどうか。
e) 測定電流。
29
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
f)
接触抵抗値の許容限界値。
g) 標準試験方法及び／又は条件の例外。
4.12 耐電圧（絶縁形だけに適用）
4.12.1 個別規格に規定がある場合，試験は，次の方法の一つを用いて行う。
4.12.1.1 取付具を備えた可変抵抗器の方法
金属シャーシに直接取り付けるように設計した可変抵抗器は，全ての方向で可変抵抗器本体より6 mm
以上大きい金属板に，通常の方法で取り付ける。
4.12.1.2 金属はく（箔）法（取付具を備えていない可変抵抗器の代替法）
金属はくを，可変抵抗器本体の周りに密着して巻き付ける。ただし，金属はくと各端子との間は，1 mm
以上の間隔を空ける。
4.12.1.3 表面実装用可変抵抗器の場合
試験は，可変抵抗器を図19に示す方法又は下位規格に規定する方法で行う。
下位規格に規定がない場合には，スプリングの加圧力は，1.0 N±0.2 Nとする。金属ブロックの接触点
は，結果の再現性が得られるように中心の位置に設定する。
図19−表面実装用可変抵抗器の絶縁抵抗及び耐電圧試験ジグの例
4.12.1.4 その他の設計の可変抵抗器に対しては，試験方法を個別規格に規定する。
4.12.2 表面実装用可変抵抗器を除く全ての可変抵抗器に対しては，試験電圧は，可変抵抗器の全ての端子
を一括接続したものを一方の極とし，その他の全ての外部金属部分及び金属板又は金属はくを接続したも
のを他方の極として印加する。試験電圧は，交流電圧（周波数40 Hz〜60 Hz）で，約100 V/sの割合でゼ
ロから個別規格に規定するピーク値が絶縁電圧の1.42倍に相当する電圧まで徐々に増加させる。ただし，
製造業者の判断で，電圧をもっと急激な速さで印加してもよい。規定の電圧値に達してから60秒間±5秒
間，連続して電圧を印加する。さらに，駆動機構を絶縁している可変抵抗器は，接続する全ての端子と駆
動機構との間に，試験電圧を印加する。試験中，操作軸を操作してもよい。
表面実装用可変抵抗器では，40 Hz〜60 Hzの交流電圧で，ピーク値が絶縁電圧の1.42倍に相当する電圧
を，図19に示す試験点AとBとの間に60秒間±5秒間印加する。電圧は，約100 V/sの割合で徐々に印
加する。
4.12.3 減圧下で試験を行う場合は，気圧に応じた試験電圧を個別規格に規定する場合を除き，4.12.2の条
件に適合しなければならない。
4.12.4 最高使用電圧が120 V以下のスイッチに対しては，実効値900 Vで，最高使用電圧が120 Vを超え
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るスイッチに対しては，2UR＋実効値1 000 Vで，周波数が40 Hz〜60 Hzの交流電圧を試験電圧に達する
まで約100 V/sの割合で徐々に印加する。ただし，製造業者の判断で，電圧をもっと急激な速さで印加し
てもよい。スイッチの全ての端子を接続したものを一方の極とし，操作軸，ケースの金属部及び金属板を
接続したものを他方の極として，両極間に試験電圧を60秒間±5秒間保持する。
注記 URは，スイッチの定格電圧である。
4.12.5 スイッチ付き可変抵抗器の本体及びスイッチは，耐電圧試験に耐え，破壊又はフラッシオーバがあ
ってはならない。
4.13 絶縁抵抗（絶縁形だけに適用）
4.13.1 下位規格に規定がある場合には，試験は，4.12.1に規定する方法の一つを用いて行う。
絶縁抵抗は，次の箇所で測定する。
a) 可変抵抗器の全ての端子を接続したものと，その他の全ての金属部及び駆動機構（駆動機構が絶縁さ
れている可変抵抗器の場合）を接続したものとの間。
b) 全てのスイッチ端子（接点）を接続したものと，その他の全ての外部金属部との間。
c) 開放時のスイッチ端子（接点）間。
4.13.2 表面実装用可変抵抗器を除く全ての可変抵抗器に対して，絶縁抵抗は，絶縁電圧が500 V未満の可
変抵抗器の場合は100 V±15 V，絶縁電圧が500 V以上の可変抵抗器の場合は500 V±50 Vの直流で測定
する。
電圧は，1分間印加する。ただし，安定した読みが得られる場合は，もっと短時間でもよいが，絶縁抵
抗は，試験期間の終わりに読み取る。
4.13.3 絶縁抵抗の値は，下位規格に規定する値以上でなければならない。
4.14 抵抗温度特性
4.14.1 個別規格に規定がある場合には，可変抵抗器は，4.3の手順1又は手順2のいずれかによって乾燥
する。
4.14.2 個別規格に規定がない場合には，可変抵抗器は，次の周囲温度に順次保持する。
a) 20 ℃
5
1
＋
− ℃
（抵抗値Ra）
b) カテゴリ下限温度±3 ℃
（抵抗値Rb）
c) 20 ℃
5
1
＋
− ℃
（抵抗値Rc）
d) 70 ℃±2 ℃
（抵抗値Rd）
e) カテゴリ上限温度±2 ℃
（抵抗値Re）
f)
70 ℃±2 ℃
（抵抗値Rf）
g) 20 ℃
5
1
＋
− ℃
（抵抗値Rg）
d)及びf)に規定する温度は，カテゴリ上限温度が125 ℃以上の可変抵抗器だけに適用する。
4.14.3 抵抗値の測定は，4.14.2の各温度で，可変抵抗器が温度安定に達した後に行う。
温度安定状態の判定は，5分間以上の間隔で測定した抵抗値の変化が，測定器の確度以内であるかどう
かによって行う。
抵抗値測定時の試験槽又は可変抵抗器の温度を記録する。温度測定の誤差は，1 ℃を超えてはならない。
4.14.4 算出方法
注記 一つの測定結果を，抵抗温度特性及び抵抗温度係数の算出に用いてもよい。
4.14.4.1 抵抗温度特性
20 ℃と4.14.2の各温度との間の抵抗温度特性（αc）は，次の式によって算出する。
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αc＝A×RR
∆（%）
ここに，
A： 記録した温度間の差で，公称規定温度を除した差異
ΔR： 規定された二つの周囲温度の間の抵抗変化
R： 基準温度での抵抗値
4.14.3で記録した抵抗値をRa，Rb，Rc，Rd，Re，Rf及びRgとした場合，R及びΔRは，表3によって算
出する。
表3−抵抗値及び抵抗値変化の算出
カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
20 ℃〜70 ℃
R
2
c
a
R
R+
2
g
c
R
R+
2
g
c
R
R+
ΔR
Rb−R
Re−R
R
R
R
−
+
2
f
d
4.14.3で記録した温度をTa，Tb，Tc，Td，Te，Tf及びTgとした場合，記録した温度間の差異（ΔT）は，
表4によって算出する。
表4−温度間差異の算出
T
カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
20 ℃〜70 ℃
∆T
2
)
(
c
a
b
T
T
T
+
−
2
)
(
g
c
e
T
T
T
+
−
2
)
(
2
)
(
g
c
f
d
T
T
T
T
+
−
+
4.14.4.2 抵抗温度係数（αr）
20 ℃と4.14.2に規定する各温度との間での抵抗温度係数（αr）は，次の式によって算出する。
抵抗温度係数（αr）は，1ケルビン（K）当たりの百万分率（10−6/K）で表す。
6
r
10
×
∆
×
∆
=
T
R
R
α
ここに，
ΔT： 基準温度と規定された周囲温度との間の代数差（K）。算出は，
4.14.4.1を参照。
ΔR： 規定された二つの周囲温度の間の抵抗変化（Ω）
R： 基準温度での抵抗値（Ω）
4.14.4.3 4.14.4.1によって求めた抵抗温度特性又は4.14.4.2によって求めた抵抗温度係数（αr）は，適切な
カテゴリ温度範囲で個別規格に規定する限度以内でなければならない。
抵抗値が5 Ωを超え10 Ω未満の場合には，抵抗温度特性又は抵抗温度係数は，10 Ω以上の値に対して
個別規格に規定する値の2倍を超えてはならない。
注記 抵抗値が5 Ω未満の場合の抵抗温度特性又は抵抗温度係数は，正確な測定が困難であるため規
定していない。
4.14.5 出力電圧比の温度係数（αo）
4.14.5.1 可変抵抗器は，4.14.1の手順で乾燥する。しゅう動接点は，下位規格に規定する位置に置き，機
械的及び／又は温度の影響によって起こる設定位置の変動が生じない適切な方法で固定する。個別規格に
は，しゅう動接点端子に接続する負荷を規定してもよい。
4.14.5.2 可変抵抗器を，4.14.2の各温度に連続的に維持する。全抵抗値又はその他の適切な特性は，各段
階での温度安定に達したかどうかを判定するために観察する。
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4.14.5.3 出力電圧比（又は，入力電圧が十分に安定している場合は，出力電圧）は，可変抵抗器が温度安
定に達した後に，4.14.5.2の各温度で測定する。
出力電圧比測定時の試験槽の温度は，記録する。温度測定の誤差は，1 ℃を超えない。
温度安定状態の判定は，5分間以上の間隔で測定した抵抗値の変化が，測定器の確度以内であるかどう
かによって行う。
4.14.5.4 20 ℃と4.14.5.2の各温度との間の出力電圧比の温度係数（αo）は，次の式によって算出する。
6
ac
ab
ac
ab
o
10
Δ
Δ
×
×
=
T
U
U
U
U
α
ここに，
ac
ab
U
U： 基準温度での出力電圧比
ac
ab
ΔUU
： 基準温度と規定温度との間の電圧（単位ボルト）の代数
差
ΔT： 基準温度と規定周囲温度との代数差（K）
出力電圧比の温度係数（αo）は，1ケルビン（K）当たりの百万分率（10−6/K）で表す。
4.14.5.3で記録した出力電圧比の値を，4.14.4の抵抗値と同様の方法で表す場合は，（Uab/Uac）及び
Δ（Uab/Uac）の値は，（Uab/Uac）をRに置き換えた4.14.4の表に対応する。
4.15 しゅう動雑音
可変抵抗器のしゅう動雑音の測定は，次の方法の一つを用いて行う。
方法A：しゅう動接点に流れる電流（Ib）が，抵抗素子を通して流れる電流に比べて非常に小さい
場合で，雑音は，図C.1に規定する測定回路で測定する。
方法B：接触抵抗変化（CRV）は，図C.2に規定する測定回路又は同等の回路で測定する。
方法C：等価雑音抵抗（ENR）は，図C.3に規定する測定回路又は同等の回路で測定する。
下位規格には，可変抵抗器の種類に応じて用いる測定方法を規定する。
4.15.1 方法A（定電圧法）
この試験方法は，次による。
a) 可変抵抗器の端子aとcとの間に，電源の抵抗値1 kΩを通し直流20 Vを印加する。しゅう動接点を，
スイッチを除いた全機械的操作範囲を毎分2サイクルから5サイクルで往復して操作する。
b) 最初の3サイクルの後，端子aとbとの間（又は個別規格に規定がある場合は，端子bとcとの間）
の雑音の出力は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
雑音の出力は，附属書Cに規定する試験装置で測定する。
4.15.2 方法B（定電流法−CRV）
4.15.2.1 試験電流（Ib）
可変抵抗器の端子aとbとの間に，定電流（Ib）を流す。電流値は，公称全抵抗値（R）によって表5か
ら選択する。
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表5−電流値（Ib）
公称全抵抗値
R
試験電流
Ib
R≧2.2 MΩ
100 kΩ≦R＜2.2 MΩ
10 kΩ≦R＜100 kΩ
1 kΩ≦R＜10 kΩ
100 Ω≦R＜1 kΩ
R＜100 Ω
0.01 mA
0.05 mA
0.1 mA
1 mA
10 mA
50 mA
表5に規定するIbの値は，規定のしゅう動接点許容電流を超えないで，かつ，抵抗素子全体の消費電力
を超えない場合に適用する。これらを超える場合には，超えない電流値とする。
4.15.2.2 試験条件
個別規格に規定がない場合は，操作軸を1サイクルが最小5秒間，最大2分間で完了する速さで操作し，
有効電気的操作範囲の90 %にわたってしゅう動接点を合計6サイクル両方向に操作する。
多回転形可変抵抗器又はねじ駆動形可変抵抗器に対しては，操作軸の回転速度を，毎秒最大3回転とす
る。
接触抵抗の変動は，同じ箇所で2回以上観察されるかどうかを最後の3サイクルだけで数える。ただし，
抵抗素子の両終端で抵抗値の変化しない部分でのしゅう動接点の操作による接触抵抗の変動（ロールオン
又はロールオフ部）は除く。
注記1 ロールオン（roll-on）は，しゅう動接点が機械的操作範囲から電気的操作範囲に移動すると
きに観測される急しゅん（峻）な出力電圧又は抵抗変化である。ロールオフ（roll-off）は，
しゅう動接点が電気的操作範囲から両終端端末に移動するときの同様な変化である。
注記2 CRVは，供試可変抵抗器の公称全抵抗値の百分率で表すことが望ましい。
4.15.2.3 端子aとbとの間（又は，適切な場合は端子bとcとの間）で測定したしゅう動雑音は，個別規
格に規定する限界値を超えてはならない。
4.15.3 方法C（定電流法−ENR）
4.15.3.1 試験電流（Ic）
可変抵抗器の端子aとbとの間に，試験電流（Ic）を流す。試験中，しゅう動接点には1 mAの定電流を
流して3サイクル動かし，オシロスコープの画面上の基準線からの最大変動値を記録する。再現性のない
不規則なせん頭雑音は無視する。
4.15.3.2 試験条件
個別規格に規定がない場合は，操作軸を1サイクルが最小5秒間，最大2分間で完了する速さで操作し，
有効電気的操作範囲の90 %にわたってしゅう動接点を合計6サイクル両方向に操作する。
多回転形可変抵抗器又はねじ駆動形可変抵抗器に対しては，操作軸の回転速度を，毎秒最大3回転とす
る。
雑音が，同じ箇所で2回以上観察されるかどうかを最後の3サイクルだけで数える。ただし，抵抗素子
の両終端で抵抗値が変化しない部分でのしゅう動接点の操作による雑音は除く。
等価雑音抵抗（Rpn）は，次の式によって算出する。
()
Ω
=0.001
pn
pn
E
R
ここに， Epn： オシロスコープの画面上に示したせん頭雑音信号電圧
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4.16 低電圧水準での接触抵抗
4.16.1 しゅう動接点を有効電気的操作範囲の40 %〜60 %の間に設定し，耐湿性及び耐久性試験中に動か
ないように固定する。
4.16.2 開放電圧が20 mV±2 mVの可変直流定電流電源を，図20の試験回路に示すように，可変抵抗器の
端子aとbとの間に電流計を通して接続する。高入力インピーダンス（≫供試可変抵抗器のRN）の電圧計
を端子bとcとの間に接続する。
S
可変直流定電流電源
A 電流計
R 供試可変抵抗器
V 電圧計
図20−接触抵抗の試験回路
4.16.3 接触抵抗（Rcon）は，測定した電圧Uを供給電流Iで除して算出する。
注記1 非常に低い電圧（U＜3 mV）の測定の場合は，供試可変抵抗器の起電力によって，不正確な
結果となることがある。この場合，電流源の極性を逆にして測定を繰り返す。電流は，両方
とも同じ値に調整し，接触抵抗は，測定した電圧の絶対値を供給電流の絶対値で除した算術
平均である。
注記2 試験結果に影響を与えなければ（例えば，巻線形可変抵抗器のオートトランス作用），ピーク
値20 mVの交流電圧を直流電源の代わりに用いてもよい。疑義が生じた場合，直流電圧法を
用いることが望ましい。
4.16.4 半固定可変抵抗器の個別規格に，低電圧水準での接触抵抗測定の規定がある場合は，次の試験の一
部として接触抵抗を測定する。
− 高温高湿（定常）
− 電気的耐久性（70 ℃）：試験試料の半数に対し，端子aとcとの間に負荷を印加する。
− 電気的耐久性（カテゴリ上限温度）：試験試料の半数に対し，端子aとcとの間に負荷を印加する。
上記の試験で，試験前に初期の接触抵抗を測定し，試験後に最終の測定を行う。これら全ての測定は，
しゅう動接点を4.16.1に従って同じ位置に置いて行う。
要求事項は，一般的には可変抵抗器の公称全抵抗値に対する百分率で表す最大抵抗変化として，品種別
通則又は個別規格に規定する。
4.17 設定能力（調整能力）及び設定安定性
設定能力及び設定安定性は，次による。
a) 設定能力は，可変抵抗器が希望する回路条件を満たす位置に正確に設定できる容易さについて調べる。
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b) 設定安定性は，可変抵抗器が希望する設定位置で安定性を維持する能力について調べる。設定安定性
は，温度放置，温度変化（温度サイクルを含む），湿度及び機械的衝撃（又はバンプ）又は振動の影響
を受ける場合がある。
4.17.1 設定能力（調整能力）
可変抵抗器の設定能力又は調整能力は，有効電気的操作範囲の任意の3か所の点で確認する。その方法
を，次に示す。
巻線形可変抵抗器で，設定能力の限度を規定している場合には，分解能の影響を考慮する。
二つの試験方法を規定する。一方は電圧分圧器（voltage divider）として用いる可変抵抗器のための方法
で，他方は加減抵抗器（rheostat）又は電流制限器（current controller）として用いる可変抵抗器のための方
法である。
注記 電圧分圧器として用いる可変抵抗器は，両終端端子間に全電圧を印加する。この場合のしゅう
動接点を通して流れる電流は無視できる。可変抵抗器を電流制限器として用いる場合は，しゅ
う動接点を通して全ての電流が流れる。電流制限器（current controller）は，加減抵抗器（rheostat）
ともいう。
4.17.1.1 方法1：電圧分圧器として用いる可変抵抗器
試験は図21に示す回路で行い，測定は次のa)及びb)による。
UE 定格電圧の0.1倍又は10 V（いずれか小さい方）
RL 10RN（RNは，供試可変抵抗器の公称全抵抗値）
図21−設定能力の測定回路（電圧分圧器の場合）
精密比率計の入力インピーダンスは，10 MΩ以上とすることが望ましい。十分な確度をもったデジタル
形又は電子形の比率計が入手できない場合は，ゼロ検出器と精密可変抵抗標準器とを組み合わせて用いて
もよい。
a) 測定条件
1) 調整方法 調整方法には，次の三つの方法がある。
1.1) 操作軸付き可変抵抗器：個別規格に規定がある場合を除き，可変抵抗器本体の外形の0.8倍〜1.2
倍の直径のつまみを調整用として操作軸に取り付ける。
1.2) 専用のつまみ付き可変抵抗器：そのつまみを用いる。
1.3) ねじ回しで調整する可変抵抗器：ねじ回しの柄の直径は，8 mm±1 mmとする。
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2) 確度 測定装置の確度は，10 %以内の測定誤差のものとする。
3) 設定時間 可変抵抗器は，規定する時間内に規定値に設定する。
b) 測定 電圧UE及び負荷抵抗RLは，図21による。
可変抵抗器のしゅう動接点は，出力電圧が0.3UE近くになるような位置に設定する。ただし，下位
規格に規定する値の許容範囲外とする。次に，時間測定を開始し，US/UEができるだけ0.3に近づくよ
うに又は規定する許容範囲内にくるように供試可変抵抗器を調整する。
調整は，20秒間以内に完了しなければならず，調整者が駆動機構に再度触れなくなったときを完了
と判定する。完了後，設定能力又は調整能力（Uadj）は，次の式から算出する。
E
S
E
SO
adj
U
U
U
U
U
−
=
ここに，
E
SO
U
U
： 目標とする比の値（この場合0.3）
E
S
U
U： 比率計で測定した値
この試験を，0.5UE及び0.7UEで繰り返す。
非直線抵抗変化特性の可変抵抗器については，個別規格に設定位置及び指標値を規定する。
4.17.1.2 方法2：電流制限器として用いる可変抵抗器
試験は図22に示す回路で行い，測定は次のa)及びb)による。
図22−設定能力の測定回路（電流制御の場合）
a) 測定条件 方法1と同じ測定条件を適用する［4.17.1.1 a)参照］。
b) 測定 しゅう動接点は，抵抗値Rabが0.3RTに近くなるような位置に設定する。ただし，下位規格に規
定する許容範囲外とする。次に，時間測定を開始し，Rabができるだけ0.3RT（0.3RNを用いてよい。）
に近づくように又は規定する許容範囲内に供試可変抵抗器を調整する。
調整は，20秒以内に完了しなければならず，調整者が駆動機構に再度触れなくなったときを完了と
判定する。
完了後，設定能力又は調整能力（Radj）を，次の式によって算出する。
(
)
T
O
ab
ab
adj
R
R
R
R
−
=
ここに，
RT： 供試可変抵抗器の全抵抗値（Ω）
(Rab)O： 目標抵抗値（この場合は0.3RT）（Ω）
Rab： 調整が完了したとき得られる抵抗値（Ω）
この手順を，0.5RT及び0.7RT（又はRN）で繰り返す。
注記 この手順の目的の判定に対しては，調整中，しゅう動接点に流れる電流を，表6に規定する値
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に設定するための適切な装置を用いて行うことが望ましい。
表6−しゅう動接点電流
供試可変抵抗器の抵抗値
RT
しゅう動接点許容電流
IL a)（±20 %）
RT＜50 Ω
30 mA
50 Ω〜499 Ω
10 mA
500 Ω〜99 kΩ
1 mA
100 kΩ〜2 MΩ
100 μA
RT＞2 MΩ
50 μA
注a) しゅう動接点許容電流を超えない場合に適用する。
4.17.1.3 要求事項
可変抵抗器は，個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。
4.17.2 設定安定性
可変抵抗器が設定した安定性を維持する能力を，全機械的操作範囲のほぼ中央の点で確認する方法であ
る。
二つの試験方法があり，一つは電圧による方法で，もう一つは抵抗による方法である。半固定可変抵抗
器は，品種別通則及び個別規格に規定する4.17.2.1又は4.17.2.2のいずれかを用いて試験する。
下位規格に規定がない場合，可変抵抗器は，4.17.2.1に規定する方法で試験する。
注記 しゅう動接点の位置：しゅう動接点の全操作範囲の5 %での接触抵抗は，終端（端末）のオー
バラップ部の影響のため不安定である。このため，抵抗法での設定安定性試験方法に対しては，
操作範囲の5 %未満及び95 %を超える位置にしゅう動接点を置かないほうがよい。
4.17.2.1 方法1：電圧による設定安定性
しゅう動接点は，全機械的操作範囲の40 %〜60 %の間に設定する。4.6に規定する電圧を超えない電圧
を，可変抵抗器の端子aとcとの間に印加する。端子aとcとの間及びaとbとの間の電圧を高インピー
ダンスをもつ電圧計で測定し，電圧設定安定性（USS）を，次の式によって算出する。
100
ac
ab
ab
SS
×
−
=
U
U
'
U
U
（%）
ここに， Uab： 一方の終端端子としゅう動接点端子との間の電圧（初期値）
（V）
Uab'： 一方の終端端子としゅう動接点端子との間の電圧（最終値）
（V）
Uac： 両終端端子間の電圧（V）
設定安定性は，環境試験前に測定した初期値と試験後に測定した値との差異である。この差異は，変化
率（%）で表す。
4.17.2.2 方法2：抵抗による設定安定性
全抵抗値（Rac）の測定及び記録にオームメータを用いる。その他の規定がない場合には，出力抵抗の読
みにオームメータを接続し，しゅう動接点は，全機械的操作範囲の40 %〜60 %の間に設定する。出力抵抗
Rab（初期値）を測定し記録する。環境試験の終了後2時間以内に，再度出力抵抗Rab（最終値）を測定し
記録する。抵抗設定安定性（RSS）を，次の式によって算出する。
100
ac
ab
ab
SS
×
−
=
R
R
'
R
R
（%）
38
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ここに，
Rab： 一方の終端端子としゅう動接点端子との間の抵抗（初期値）
（Ω）
Rab'： 一方の終端端子としゅう動接点端子との間の抵抗（最終値）
（Ω）
Rac： 両終端端子間の抵抗（Ω）
注記 電圧設定安定性と抵抗設定安定性との間には，次の差異がある。
電圧の設定性は，接触抵抗の変動に影響されないため，しゅう動接点の機械的変動を反映し，
対称的（例えば，端子aとbとの間の設定安定性が，端子bとcとの間の設定安定性に等しい。）
である。抵抗の設定安定性の場合は，電圧の設定性（機械的変動）の代数和であり，接触抵抗
の変動（酸化現象によって接触抵抗が増大）のため，抵抗の設定安定性は，非対称的（例えば，
端子aとbとの間の設定安定性が，端子bとcとの間の設定安定性に等しくない）である。正
電圧の設定安定性の変動の場合は，接触抵抗の変動が付加物となるが，負電圧の設定安定性に
対しては，接触抵抗の変動が見かけの出力抵抗変化を低減する。このため，端子aとbとの間
の抵抗設定安定性及び端子bとcとの間の抵抗設定安定性の両方の測定を要求することが望ま
しい。
4.17.2.3 要求事項
可変抵抗器は，個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。
4.18 始動トルク（starting torque）
回転止め又はクラッチを備えている場合，それらから任意に離れた位置に設定したとき，しゅう動接点
を動作するために必要なトルクは，いずれの方向に対しても個別規格に規定する値とする。
走行トルク（running torque）の一様性についての要求がある場合には，走行トルクは，個別規格に規定
する値を超えてはならない。
4.19 スイッチトルク
スイッチを動作するために必要なトルクは，個別規格に規定する値を超えてはならない。
ただし，4.18で測定した始動トルクの2倍以上でなければならない。
4.20 回転止め強度トルク
4.20.1 しゅう動接点を各回転止めに突き当てて設定し，表7に規定するトルクを，操作軸に10秒間加え
たとき，変形又は明らかな損傷があってはならない。
表7−回転止め強度トルク
操作軸の直径
mm
トルク
mN・m
＞5.5
800
≦5.5
350
注記1 本体の直径又は幅が14.5 mm以下の可変抵抗器に対し
ては，個別規格に要求事項を規定することが望まし
い。
注記2 しゅう動接点又は駆動機構を，特別な目的のために設
計している場合は，適用するトルク値を個別規格に規
定することが望ましい。
4.20.2 クラッチ空転機構付き可変抵抗器の場合は，しゅう動接点を機械的操作範囲の各終端の位置に調整
して駆動機構にトルクを加え，駆動機構を完全に5回空転する。
駆動ねじの回転中，適切な電気的指示器を，しゅう動接点端子bとしゅう動接点に電気的に近接してい
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る端子との間に接続する。
電気的な不連続がなく，試験後，しゅう動接点は，正常に動作しクラッチを空転させるのに必要なトル
クは，規定する始動トルクの5倍以下でなければならない。
4.21 操作軸固定トルク（locking torque）
4.21.1 操作軸固定機構を備えている可変抵抗器は，通常の取付方法によって金属板に取り付け，全機械的
操作範囲の40 %〜60 %の間に操作軸を設定する。操作軸固定機構は，表8に規定するトルクで締め付け，
出力電圧比の値Uab/Uacを測定する。
表8−操作軸固定トルク
操作軸の直径
mm
操作軸固定トルク
mN･m
＞5.5
1100〜1200
≦5.5
900〜1000
4.21.2 表9に規定する値のトルクを，可変抵抗器の操作軸に加え，操作軸にトルクを加えている間に
Uab/Uacの値を測定し，トルクを加える前に測定した値と比較する。
表9−操作軸に加えるトルク
操作軸の直径
mm
操作軸に加えるトルク
mN･m
＞5.5
200〜220
≦5.5
130〜150
Uab/Uacの変化は，品種別通則又は個別規格に規定する限度を超えてはならない。操作軸固定トルクを取
り除き，可変抵抗器の取付部及びねじ部を調べる。外観に損傷があってはならない。
注記 本体の直径又は幅が14.5 mm以下の可変抵抗器に対しては，個別規格に要求事項を規定するこ
とが望ましい。
4.22 操作軸の押し及び引張り
4.22.1 可変抵抗器を，通常の方法によって堅固に取り付ける。
4.22.2 引張りを適用する場合には，引張りは，押しの後に行い，操作軸に表10に規定する軸方向の力を
加える。こうした状態で連続性を調べる。
いずれの場合も，4.5に規定する連続性についての要求事項を満足する。
表10−操作軸の押し及び引張り力
操作軸の直径
mm
押し力及び引張り力
N
＞5.5
25
≦5.5
10
4.22.3 設定安定性を，4.17.2.1又は4.17.2.2の規定によって測定する。
しゅう動接点を全機械的操作範囲の40 %〜60 %の間に設定し，回転しないように保持する。可変抵抗器
の端子aとcとの間に，4.6に規定する値を超えない電圧を印加し，端子aとbとの間の電圧を高インピー
ダンスの電圧計で測定する。その後，出力電圧比Uab/Uacを算出する。
操作軸に表10に規定する押し力を軸方向に加え，この状態で端子aとbとの間の電圧を測定し，出力電
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圧比Uab/Uacを再度算出する。さらに，操作軸に表10に規定する引張り力を軸方向に加え，この状態で端
子aとbとの間の電圧を測定し，出力電圧比Uab/Uacを再度算出する。
押しを加える前に測定した出力電圧比に対する出力電圧比の変化は，下位規格に規定する値を超えては
ならない。
精密級可変抵抗器に対しては，4.22.2の試験中の操作軸の先端で測定する軸方向のがたは，個別規格に
規定する値を超えてはならない。
4.22.4 操作軸に表11に規定する押し力を軸方向に10秒間加え，次に引張り力を軸方向に20秒間加える。
外観に損傷があってはならない。
表11−操作軸の押し及び引張り力
操作軸の直径
mm
押し力及び引張り力
N
＞5.5
125
≦5.5
50
注記 本体の直径又は幅が14.5 mm以下の可変抵抗器に対して
は，個別規格に要求事項を規定することが望ましい。
4.23 操作軸の偏心（shaft run-out）
操作軸の回転軸に対する直径の偏心は，個別規格の規定による。操作軸の偏心は，可変抵抗器本体を取
付具（D.3参照）用いて固定し，操作軸に半径方向の荷重を加えた状態で回転させたとき，操作軸の端か
ら規定の距離だけ離れた所で測定する。
可変抵抗器は，操作軸を水平にして堅固に取り付けるとともに，ダイヤルゲージ（D.1参照）に対して
も堅固に保持する（図23参照）。ダイヤルゲージの測定子は，操作軸の端又は操作軸の滑らかな円筒面が
途絶える所から3 mm以下の所に当てる。
平形，溝形，スプライン（キー溝付き）形のような非円筒面をもつ操作軸に対して，この試験を適用す
る場合は，円筒形軸アダプタ（D.2参照）を用いる。
操作軸の回転中にダイヤルゲージが適切な正負の指示を示すように，測定子が操作軸に接触した点（軽
く触れている状態）から十分に押し付ける。
操作軸の半径方向のがたを除去するため，ダイヤルゲージの測定子は，できるだけ近い点の半径方向に
2.5 Nの力を加える。細い操作軸については，操作軸の偏心許容値の1/10より大きくは絶対に曲がらない
ように，加える荷重を減らすことが望ましい。次に，操作軸を360°又は全機械的操作範囲のいずれか小
さい方の範囲にわたって，ゆっくりと回転させる。操作軸の偏心は，正の最大の読みと負の最大の読みと
の絶対値の和を，取付面から測定点までの操作軸の長さで除して算出し，その値は，個別規格に規定する
値を超えてはならない。
注記 対応国際規格では，25 Nと記載しているが明らかに2.5 Nの誤りであるため修正した。
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図23−操作軸の偏心
4.24 取付面の平たん（坦）度（lateral run-out）
可変抵抗器の操作軸の回転軸に対する取付面の平たん度は，個別規格の規定による。平たん度は，操作
軸を操作軸固定具（D.4参照）を用いて固定し，可変抵抗器本体を半径方向及び軸方向に規定の荷重を加
えた状態で回転させたとき，取付面上で測定する。
可変抵抗器は，操作軸を垂直にして操作軸を固定具に堅固に取り付ける（図24参照）。操作軸は，可変
抵抗器の前面から3 mm以下の所を測定に支障がないように締め付け，ダイヤルゲージに対しても堅固に
固定する。可変抵抗器本体は，自由に回転できるものとする。締付方法又は可変抵抗器本体の自重によっ
て，操作軸にひずみが生じないように注意する。
ダイヤルゲージは，測定子を可変抵抗器の取付面の外端から3 mm以下の滑らかな所に当てる。通常，
2.0 Nの力は，可変抵抗器本体の取付面側から3 mm以下に軸方向の中心線に垂直に加える。
同時に，2.5 Nの力を可変抵抗器の中心線に対して軸方向に加える。これらの荷重は，操作軸の半径方向
のがた及び軸方向のがたを除去するのに有用である。細い操作軸に対しては，操作軸が，操作軸の偏心許
容値の1/10よりも大きくは絶対に曲がらないように，加える力の大きさを減らす。可変抵抗器の回転中に，
ダイヤルゲージが適切な正負の指示を示すように，測定子を可変抵抗器に対して十分に押し付ける。次に，
可変抵抗器本体を360°又は全機械的操作範囲のいずれか小さい方の範囲にわたって，ゆっくりと回転さ
せる。取付面の平たん度は，正の最大の読みと負の最大の読みとの絶対値の和を，取付面の半径で除して
算出し，その値は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
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図24−取付面の平たん（坦）度
4.25 取付ガイド円筒面の真円度（pilot or spigot diameter run-out）
操作軸の回転軸に対する取付ガイド円筒面の真円度は，個別規格の規定による。真円度は，操作軸を固
定し，可変抵抗器本体の半径方向に規定の荷重を加えた状態で回転させ，取付ガイドの円筒面上で測定す
る。
可変抵抗器は，操作軸を垂直にして，操作軸固定具に堅固に取り付ける（図25参照）。操作軸は，可変
抵抗器の前面から3 mm以下の所を測定の支障にならないように締め付け，ダイヤルゲージに対しても堅
固に固定する。可変抵抗器本体は，自由に回転ができるものとする。締付方法又は可変抵抗器本体の自重
によって操作軸にひずみを生じないように注意することが望ましい。
ダイヤルゲージは，その測定子が取付ガイドの外周円筒面の中央近くに接するように設定する。このと
き，操作軸半径方向のがたを除去するために，可変抵抗器本体上の取付面側から3 mm以下の所で操作軸
の中心線に垂直に2.0 Nの力を加える。細い操作軸及び／又は長い操作軸の可変抵抗器については，操作
軸が操作軸の偏心許容値の1/10よりも大きくは絶対に曲がらないように，加える力を減らす。可変抵抗器
の回転中に，ダイヤルゲージが適切な正負の指示を示すように，測定子を可変抵抗器に対して十分に押し
付ける。
次に，可変抵抗器本体を，360°又は全機械的操作範囲のいずれか小さい方の範囲にわたって，ゆっくり
と回転させる。取付ガイド円筒面の真円度は，正の最大の読みと負の最大の読みとの絶対値の和で，その
値は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
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図25−取付ガイド面の真円度
4.26 操作軸の軸方向がた（shaft end play）
可変抵抗器本体に対する操作軸の軸方向のがたは，規定の荷重を操作軸の軸方向に対して交互に反対方
向に加えたときに操作軸の端面で測定できるもので，個別規格の規定による。
可変抵抗器は，操作軸を垂直にして規定の方法によって堅固に取り付け，ダイヤルゲージに対しても堅
子に固定する（図26参照）。操作軸は，自由に回転できるものとする。ダイヤルゲージは，その測定子が
操作軸に平行（ピボット形ダイヤルゲージの場合は垂直）に，かつ，軸の中心線上にくるように設定する。
ダイヤルゲージが適切な正負の指示を示すように，測定子を操作軸に対して十分に押し付ける。このと
き，2.0 Nの力を，操作軸の軸に沿って交互に反対方向に加える。
操作軸の軸方向のがたは，正の最大の読みと負の最大の読みとの絶対値の和で，その値は，個別規格の
規定する値を超えてはならない。
図26−操作軸の軸方向がた
4.27 バックラッシュ
4.27.1 可変抵抗器は，駆動部の角度位置測定のために，次のように取り付ける。
角度位置を測定するための適切な装置を，可変抵抗器の操作軸に連結する。
駆動部は，操作範囲のほぼ中央に設定し，可変抵抗器を図27に示す回路に接続する。
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E
直流電源
I
ゼロ点指示検流計
P
供試可変抵抗器
R1 検流計の電流制限用保護抵抗器
R2 可変抵抗器（抵抗値は，供試可変抵抗器と同一性能でなければならない。）
注記 R2とPとは，ブリッジ回路を構成する。
図27−バックラッシュの測定回路
供試可変抵抗器の駆動部は，操作範囲のほぼ中央（タップ又は短絡領域を除く。）に設定して，可変抵抗
器R2の調整によってブリッジ回路の平衡をとる。
その後，駆動部を時計方向に全機械的操作範囲の約10 %回転し，次に，ブリッジ回路が平衡になるまで
時計方向に回転する。平衡となった角度位置α1を記録し，その後，α1の角度位置から更に反時計方向に全
機械的操作範囲の約10 %回転する。駆動部をブリッジ回路が再び平衡になるまで時計方向に回転する。こ
の角度位置α2を記録する（図28参照）。
バックラッシュは，α1とα2との間の角度とする。
注記 各回転中，ふらつきは許容するが，瞬間的な逆行は，ないことが望ましい。
図28−バックラッシュの測定
注記 対応国際規格の説明図は，理解しにくいため分かりやすい図に変更した。規定の内容は，対応
国際規格と同じである。
4.27.2 角度で表すバックラッシュは，表12に規定する値を超えてはならない。
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表12−各可変抵抗器のバックラッシュ
一致性の許容差
%
|α1−α2|
度
単回転形又は連続回転形
多回転形
1
0.50
0.25
0.1
0.05
0.025
0.50
0.25
0.1
0.1
0.1
0.1
1
1
1
0.4
0.1
0.1
4.28 ディザ
4.28.1 端子aとcとの間の抵抗値を測定する。
4.28.2 試験方法
4.28.2.1 操作軸を，回転角度の5°〜10°の範囲で，速度55 Hz±10 Hzで往復しゅう動する。個別規格に
規定する反転しゅう動の両端の位置は，試験中を通して1°以内に安定させる。試験時間は，表13又は表
14に規定する適切な値を，機械的耐久性に規定するサイクル数に対応させる。
表13−非巻線形可変抵抗器のディザ
サイクル数
試験時間
h
1.25×105
0.5
5×105
2.0
2.5×106
10.0
表14−巻線形可変抵抗器のディザ
取引当事者間の取決めによる。
サイクル数が，2.5×106よりも多い場合には，試験時間は，比例的に増加する。
4.28.2.2 個別規格に規定がある場合，端子bとcとの間の出力信号を測定する。個別規格には，必要な要
求事項を全て規定する。
4.28.3 この試験の終了後，次の検査を行う。
可変抵抗器は，外観検査を行う。外観の損傷があってはならない。
端子aとcとの間の抵抗値を測定する。4.28.1で測定した値に対する抵抗値の変化は，下位規格に規定
する値以下でなければならない。
非巻線形可変抵抗器は，出力平滑性を測定し，その値は，個別規格に規定する値以下でなければならな
い。
4.29 出力平滑性（output smoothness）
4.29.1 供試可変抵抗器を，図29に示す測定回路に接続する。
出力平滑性は，有効電気的操作範囲の70 %以上にわたって，有効電気的操作範囲の1 %の微小枠（区画）
単位で測定する。
4.29.2 出力平滑性は，印加電圧Uacに対する百分率で表し，0.01 %，0.025 %，0.1 %，0.5 %，1.0 %及び
2.0 %の中から選択する。その値は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
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P
供試可変抵抗器
E
10 Vの直流電源又は定格電圧（いずれか低い方）
R 公称全抵抗値の100倍又は個別規格に規定する値
O 周波数通過帯域1 kHz以上，入力インピーダンス1 MΩ以上のオシロスコープ
M 駆動部で，有効電気的操作範囲の80 %〜95 %で交互に繰り返して回す。回転させる速度は，
3回転／分〜5回転／分とする。また，試験時間の70 %以上は，一定の速度を維持する。
図29−出力平滑性の測定回路
4.30 端子強度
4.30.0A 概要
個別規格に規定がある場合，可変抵抗器は，JIS C 60068-2-21の試験Ua1，Ub又はUdを，端子の種類
に応じて適用する。
注記 強固な端子であることを個別規格に規定している場合は，試験Ubを適用しないほうがよい。
4.30.1 端子aとcとの間の抵抗値を測定する。
4.30.2 試験Ua1−引張強さ
次の大きさの力を，10秒間加える。
− リード線以外の端子：20 N
− リード線端子の場合は，表15による。
表15−引張力
公称断面積
mm2
断面が円形の場合の公称線径
mm
引張力
N
S≦0.05
d≦0.25
1
0.05＜S≦0.1
0.25＜d≦0.35
2.5
0.1＜S≦0.2
0.35＜d≦0.5
5
0.2＜S≦0.5
0.5＜d≦0.8
10
0.5＜S≦1.2
0.8＜d≦1.25
20
S＞1.2
d＞1.25
40
注記 円形断面リード線，板状又はピン端子の公称断面積は，下位規格に規定する公称寸法から算出する
値に等しい。
より線端子の公称断面積は，関連規格に規定する個々の素線の断面積を合計して算出している。
4.30.3 試験Ub−曲げ強さ（リード線端子）
（4.30.0Aの注記参照）
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
方法1：端子を連続して2回曲げる場合は，両方向に行う。
4.30.4 試験Ub−曲げ強さ（ラグ端子）
（4.30.0Aの注記参照）
方法1：端子を連続して2回曲げる場合は，両方向に行う。
4.30.5 試験Ub−曲げ強さ（プリント配線板用端子）
（4.30.0Aの注記参照）
硬い端子であると規定していないプリント配線板用端子については，次の曲げ試験を行う。可変抵抗器
を堅固に固定し，各端子を90°まで曲げる。曲率半径は，ほぼ1 mmとする。端子が10 mm又はそれ以上
の長さの可変抵抗器に対しては，曲げの中心を取付面から3 mm±0.5 mmとする。10 mm未満の端子に対
しては，取付面から1.5 mm±0.5 mmとする。次に，端子を元に戻し，同じ曲率半径で，かつ，同じ曲げ
点を反対方向に90°まで曲げる。それから再び元の状態に戻す。この曲げの操作は，ゆっくりと行う。
4.30.6 試験Ud−トルク強さ（内溝付きスタッド又はねじ端子）
JIS C 60068-2-21の規定による。
4.30.7 試験Ud−トルク強さ（固定機構をもつ端子）
JIS C 60068-2-21の規定による。
4.30.8 最終測定
次の手順による。
− 三つの各試験後，可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
− これら三つの試験の終了時に，端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
− 4.30.1の測定値に対する抵抗値変化は，関連規格に規定する値を超えてはならない。
4.31 封止
4.31.1 静的な封止（種類A）
静的な封止構造の可変抵抗器に対しては，JIS C 60068-2-17の試験Qaを適用する。
個別規格に規定がない場合は，100 kPa〜110 kPaの圧力を各方向に加えて気密性を試験する。
4.31.2 動的な封止（種類B）
4.31.2.1 標準試験
動的な封止構造の可変抵抗器に対しては，JIS C 60068-2-17の試験Qaを適用する。
個別規格に規定がない場合は，100 kPa〜110 kPaの圧力を加えて試験する。操作軸の操作速度は，5サイ
クル／分とする。
リーク率は，1 cm3/hを超えてはならない。
4.31.3 容器の封止
可変抵抗器は，次の手順で試験する。
可変抵抗器の表面は，浸せき（漬）する前に異物を取り除き清浄にする。浸せき槽には，温度85 ℃
5
0
＋ ℃
の水道水を満たす。可変抵抗器は，25 mm未満の深さに完全に浸して最大5回ゆすって表面の空気を取り
除き，1分間±5秒間槽内に保持する。
浸せき中，可変抵抗器から連続的な気泡のリークがあってはならない。
4.32 はんだ付け性
はんだ付け性試験を，はんだ耐熱性試験直後に引き続き行う場合は，4.3に規定する乾燥を適用する。個
別規格には，手順1又は手順2のいずれを適用するかを規定する。
4.32.1 表面実装用を除く全ての可変抵抗器は，JIS C 60068-2-20の試験Taのはんだ槽法（方法1）又はは
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んだこて法（方法2）のいずれか個別規格に規定する方法で試験する。
4.32.2 はんだ槽法（方法1）を規定している場合は，次による。
4.32.2.1 試験条件
試験は，次の条件で行う。
a) 次のb)を除く全ての可変抵抗器
− はんだ槽の温度：235 ℃±5 ℃（Sn-Pbの場合）又は245 ℃±5 ℃（Sn-Ag-Cuの場合）
− 浸せき時間：2.0 s±0.5 s（235 ℃の場合）又は3.0 s±0.3 s（245 ℃の場合）
− 浸せき深さ（着座面又は本体から）：2 mm
0
0.5
− mm，厚さ1.5 mm±0.5 mmの熱遮蔽板を用いる。
b) 個別規格で，プリント配線板用として設計していないと規定している可変抵抗器
− はんだ槽の温度：235 ℃±5 ℃（Sn-Pbの場合）又は245 ℃±5 ℃（Sn-Ag-Cuの場合）
− 浸せき時間：2.0 s±0.5 s（235 ℃の場合）又は3.0 s±0.3 s（245 ℃の場合）
− 浸せき深さ（本体から）：3.5 mm
0
0.5
− mm
4.32.2.2 端子は，端子のぬれ状態を伴ったはんだの付着程度によって，はんだ付け性を調べる。
4.32.2.3 はんだ槽法が適用できない場合，個別規格には，試験方法，試験条件及び要求事項を規定する。
注記 はんだ小球法を用いる場合は，要求事項にはんだ付け時間を含めることが望ましい。
4.32.2.4 表面実装用可変抵抗器は，4.50の規定に従って試験する。
4.32.3 はんだこて法（方法2）を規定している場合は，次の要求事項を適用する。
− はんだこて先温度：350 ℃±10 ℃（試験開始前）
− こて先寸法：8 mm（大きさA）又は3 mm（大きさB）
− はんだ付け時間：2〜3秒間
4.33 はんだ耐熱性
4.33.1 個別規格に規定がある場合，可変抵抗器は，4.3の手順1又は手順2のいずれかによって乾燥する。
はんだ耐熱性試験を，はんだ付け性試験の直後に行う場合は，乾燥をはんだ付け性試験の前に行ってもよ
い。端子aとcとの間の抵抗値を測定する。
4.33.2 下位規格に規定がない場合，次の試験の一つを適用する。
a) b)及びc)を除く全ての可変抵抗器は，次の条件で，JIS C 60068-2-20の試験Tbの方法1を適用する。
− はんだ槽の温度：260 ℃±5 ℃
− 着座面からの浸せき深さ：2 mm
0
0.5
− mm，厚さ1.5 mm±0.5 mmの遮蔽板を用いる。
− 浸せき時間：5秒間又は10秒間，個別規格の規定による。
b) 個別規格にプリント配線板用に設計していないと規定する可変抵抗器は，はんだこて法（方法2）を
規定している場合，次の要求事項を適用する。
− はんだこて先温度：350 ℃±10 ℃（試験開始前）
− はんだ付け時間：5秒間又は10秒間
− はんだこて先の大きさ及び適用する箇所は，下位規格に規定する。
c) 表面実装用可変抵抗器は，4.51の規定に従って試験する。
4.33.3 可変抵抗器は，より早い時間内に回復することが証明されない場合，後処理のため標準状態に4
時間±0.5時間（表面実装用可変抵抗器に対しては，1時間〜2時間）保持する。
端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。4.33.1での測定値に対する抵抗値の変化は，
下位規格に規定する値を超えてはならない。
端子間抵抗値を，4.7の規定に従って測定し，その値は，下位規格に規定する限度未満でなければならな
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
い。
4.34 温度変化
4.34.1 この試験は，カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との間の温度差が，95 ℃を超える可変抵抗器
だけに適用する。
4.34.2 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
4.34.3 半固定可変抵抗器（表面実装用も含む）だけは，4.17.2.1又は4.17.2.2の規定に従って，設定安定
性を測定する。
4.6に規定する電圧を超えない電圧を，可変抵抗器の端子aとcとの間に印加し，端子aとbとの間の電
圧を，高インピーダンスの電圧計で測定する。
出力電圧比Uab/Uacを算出する。
4.34.4 可変抵抗器は，JIS C 60068-2-14の試験Nに従って試験する。試験Nに規定する低温及び高温は，
カテゴリ下限温度又はカテゴリ上限温度とし，それぞれの温度に放置する時間は，30分間とする。
10 W以下の定格電力の可変抵抗器は，試験Naによって行い，10 Wを超える可変抵抗器は，試験Nbに
よって行う。
試験Nbでの温度の変化率は，5 ℃/分とする。
4.34.5 後処理の後，可変抵抗器は外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
4.34.6 半固定可変抵抗器（表面実装用を含む）だけ，試験後，設定安定性を再度測定し，4.34.3での測定
と比較する。設定安定性の変化は，下位規格に規定する値を超えてはならない。
4.34.7 端子aとcとの間の抵抗値は，4.6の規定に従って測定する。4.34.2の測定値に対する抵抗値の変
化は，下位規格に規定する限度を超えてはならない。
4.35 振動（正弦波）
可変抵抗器は，下位規格の規定に従って取り付ける。
4.35.1 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
4.35.2 半固定可変抵抗器（表面実装用を含む）だけ，設定安定性を，4.17.2.1又は4.17.2.2の規定に従っ
て測定する。
4.6に規定する電圧を超えない電圧を，可変抵抗器の端子aとcとの間に印加し，端子aとbとの間の電
圧を高インピーダンスの電圧計で測定する。
出力電圧比Uab/Uacを算出する。
4.35.3 可変抵抗器は，下位規格に規定がない場合には，JIS C 60068-2-6の試験Fcを行う。個別規格には，
試験の厳しさを規定する。
4.35.4 試験中の追加要求事項
4.35.4.1 固定機構を備えない可変抵抗器
4.35.2の要求事項によって行った場合を除き，しゅう動接点を，全機械的操作範囲の40 %〜60 %の間に
設定する。しゅう動接点と抵抗素子との間の電気的連続性は，オシログラフ又はその他の適切な手段を用
いて連続的に確認する。
4.35.4.2 固定機構を備えた可変抵抗器
固定機構で固定できる可変抵抗器は，4.35.2の要求事項によって行った場合を除き，しゅう動接点を，
全機械的操作範囲の40 %〜60 %の間に設定して固定する。
試験中，端子aとbとの間又は端子bとcとの間の抵抗値のいずれか小さい方の抵抗値の瞬時的変化は，
下位規格に規定する値を超えてはならない。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
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4.35.5 試験後，可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
4.35.6 半固定可変抵抗器（表面実装用を含む）に対しては，試験後，設定安定性を再測定し，4.35.2での
測定と比較する。設定安定性の変化は，下位規格に規定する限度を超えてはならない。
4.35.7 端子aとcとの間の抵抗値を測定する。4.35.1で測定した値と比較して，抵抗値の変化は，下位規
格に規定する限度を超えてはならない。
4.36 バンプ
対応国際規格IEC 60068-2-29:1987が廃止されたため，規定内容を不採用とした。
4.37 衝撃
可変抵抗器は，下位規格の規定に従って取り付ける。
4.37.1 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
半固定可変抵抗器（表面実装用を含む）だけ，設定安定性を，4.17.2.1又は4.17.2.2に従って測定する。
4.37.2 可変抵抗器は，下位規格に規定する取付方法及び試験の厳しさを用い，JIS C 60068-2-27の試験Ea
で試験する。可変抵抗器は，試験中端子aとbとの間の電気的不連続を監視し，100 μs以上の不連続があ
ってはならない。
4.37.3 試験後，可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。4.37.1で測定した値と比較して，抵抗値の
変化は，下位規格に規定する限度を超えてはならない。
設定安定性を再測定し，4.37.1での測定値と比較する。設定安定性の変化は，下位規格に規定する値を
超えてはならない。
4.38 一連耐候性（climatic sequence）
一連耐候性試験では，JIS C 60068-2-30の試験Dbの最初の1サイクルの後処理の直後に行う低温試験を
除き，試験と試験との間隔が最大3日間空いてもよい。
4.38.1 初期測定
可変抵抗器は，下位規格の規定に従い，4.3の手順1又は手順2のいずれかを用いて乾燥する。
端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
4.38.2 高温
4.38.2.1 可変抵抗器は，JIS C 60068-2-2の試験Bbを，カテゴリ上限温度で16時間行う。
供試可変抵抗器は，試験室温度からカテゴリ上限温度までの任意の温度の恒温槽の中に入れてもよい。
注記 対応国際規格で引用するIEC 60068-2-2の最新版では，試験Baが削除されている。
4.38.2.2 後処理後，可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷がなく，表示は判読できなければならな
い。
4.38.3 温湿度サイクル試験Db，最初のサイクル
可変抵抗器は，JIS C 60068-2-30の試験Dbを温度55 ℃［厳しさb)］で24時間の1サイクルを行う。
注記 厳しさb)は，JIS C 60068-2-30:1988では，厳しさ（2）としているが，対応国際規格IEC
60068-2-30:2005に倣い，厳しさb)とした。
後処理後，可変抵抗器は，直ちに低温試験を行う。
4.38.4 低温
4.38.4.1 可変抵抗器は，JIS C 60068-2-1の試験Abを，カテゴリ下限温度で2時間行う。
供試可変抵抗器は，試験室温度からカテゴリ下限温度までの任意の温度の恒温槽の中に入れてもよい。
注記 対応国際規格で引用するIEC 60068-2-1の最新版では，試験Aaが削除されている。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
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4.38.4.2 カテゴリ−/−/04の可変抵抗器を除き，規定した低温で，試験時間の終わりに始動トルクを測定
する。
個別規格に規定する始動トルクの最大値の6倍又は4.20の終端の回転止め強度の上限値のうち，いずれ
か小さい方を限度としたトルクで，しゅう動接点を抵抗素子の全域にわたって操作し，元に戻した後，4.18
の規定によって始動トルクを測定する。
可変抵抗器の始動トルクは，個別規格に規定する値を超えてはならない。
スイッチの動作トルクは，4.19の規定に従って測定し，個別規格に規定する値を超えてはならない。
4.38.5 減圧
4.38.5.1 カテゴリ40/−/−及び55/−/−の可変抵抗器は，下位規格に規定する試験の厳しさを用い，JIS C
60068-2-13の試験Mの手順で試験する。
4.38.5.2 試験は，温度15 ℃〜35 ℃の間で行い，試験時間は，1時間とする。
4.38.5.3 耐電圧試験は，規定の減圧に保持し，1時間の試験時間の最後の5分間に，4.12.3の規定に従っ
て行う。
試験電圧は，個別規格に規定する値による。
この試験中及び試験後に，絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.38.6 温湿度サイクル試験Db，残りのサイクル
可変抵抗器は，最初のサイクルで用いた同じ条件で，JIS C 60068-2-30に規定する試験Dbを1サイクル
当たり24時間で，表16に規定する残りの回数を試験する。
表16−サイクル数
耐候性カテゴリ
残りのサイクル数
−/−/56
5
−/−/21
1
−/−/10
1
−/−/04
なし
4.38.7 直流負荷（個別規格に規定がある場合に適用）
温湿度サイクル試験の最後に，可変抵抗器を標準状態に移す。移す時間はできるだけ短くし，5分間以
内とする。温湿度サイクル試験の槽から取り出して，30分±5分間後に直流電圧を1分間印加する。印加
電圧は，定格電圧又は素子最高電圧（最高使用電圧）のいずれか小さい方とし，端子aとcとの間に印加
する。
4.38.8 絶縁電圧（個別規格に，4.38.7の直流負荷試験の規定がない場合に適用）
温湿度サイクル試験の最後に，可変抵抗器を試験槽から取り出し，水滴を取り除くため振り動かし，15
分間以内に個別規格の規定に従って絶縁電圧を，一括接続した端子と操作軸（金属の場合）及び／又は取
付板との間に1分間印加する（4.12.1及び4.12.2参照）。
絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.38.9 後処理
可変抵抗器は，標準状態に1時間〜2時間放置する。
4.38.10
最終検査及び測定
可変抵抗器は，個別規格の規定に従って，次の試験及び測定を行う。
4.38.9に規定する後処理終了後，検査及び測定は，次の時間内に完了する。
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− 4.38.10.1は，最初の1時間以内
− 4.38.10.2及び4.38.10.3は，2時間以内
− 4.38.10.4〜4.38.10.7は，6時間以内
4.38.10.1 後処理後，可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷がなく，表示は判読できなければなら
ない。
4.38.10.2 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定し，4.38.1で測定した値と比較し，抵抗
値の変化は，下位規格に規定する限度を超えてはならない。
注記 対応国際規格では，4.37.1と記載しているが明らかに4.38.1の誤りのため修正した。
4.38.10.3 絶縁抵抗は，4.13の規定に従って測定し，下位規格に規定する値以上でなければならない。
4.38.10.4 スイッチの接触抵抗は，4.11の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度を超えてはなら
ない。
4.38.10.5 連続性は，4.5の規定に従って試験し，個別規格の要求事項を満足しなければならない。
4.38.10.6 始動トルクは，4.18の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度を超えてはならない。
4.38.10.7 耐電圧試験は，4.12の規定に従って試験し，絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.39 高温高湿（定常）
4.39.1 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
4.39.2 可変抵抗器は，個別規格に規定する耐候性カテゴリに対応する厳しさの度合いを用い，JIS C
60068-2-78の試験Caで試験する。
4.39.2.1 金属シャーシに直接取り付ける設計の可変抵抗器は，次の三つのグループに分ける。
a) 第1グループは，電圧を印加しないで試験する。
b) 第2グループは，端子aとcとの間に直流電圧を印加して試験する。印加電圧は，次の系列から選択
する。
0 V，4 V，6.3 V，10 V，16 V，25 V，40 V，63 V及び100 V
選択する電圧は，定格電圧の10 %又は素子最高電圧の10 %のいずれか小さい方の値とする。
試験中，できるだけ規定電圧を維持し，電源電圧の変動及びその他の要因による許容差は，±5 %
とする。
c) 第3グループは，取付板と終端端子のいずれか一方との間に，直流電圧20 V±2 Vを印加して試験す
る。取付板は，電源電圧の負極に，端子は正極に接続する。電圧は，試験中連続して印加する。
4.39.2.2 その他の全ての可変抵抗器は，二つのグループに分け，4.39.2.1のa)及びb)を試験する。
4.39.3 直流負荷（個別規格に規定がある場合に適用）
高温高湿試験の終了後，可変抵抗器は，標準状態に移す。移す時間はできるだけ短くし，5分間以内と
する。高温高湿試験の槽から取り出して，30分±5分間後に直流電圧を1分間印加する。印加電圧は，定
格電圧又は素子最高電圧（最高使用電圧）のいずれか小さい方とし，端子aとcとの間に印加する。その
後，可変抵抗器は，標準状態に1時間〜2時間放置する。
4.39.4 絶縁電圧（個別規格に，4.39.3の直流負荷試験の規定がない場合に適用）
高温高湿試験の完了後に可変抵抗器を試験槽から取り出し，水滴を取り除くため振り動かし，15分間以
内に個別規格に規定する絶縁電圧を，一括接続した端子と操作軸（金属の場合）及び／又は取付板との間
に1分間印加する（4.12.1及び4.12.2参照）。
絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
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4.39.5 後処理
可変抵抗器は，後処理のため標準状態に1時間〜2時間放置する。
4.39.6 最終検査及び測定
4.39.5に規定する後処理終了後，検査及び測定は，次の時間内に完了する。
− 4.39.6.1は，最初の1時間以内
− 4.39.6.2〜4.39.6.3は，2時間以内
− 4.39.6.4〜4.39.6.8は，6時間以内
4.39.6.1 可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷がなく，表示は判読できなければならない。
4.39.6.2 端子aとcとの間の抵抗値を測定する。4.39.1で測定した値と比較し，抵抗値の変化は，下位規
格に規定する限度を超えてはならない。
4.39.6.3 絶縁抵抗は，4.13の規定に従って測定し，個別規格に規定する値を超えてはならない。
4.39.6.4 スイッチの接触抵抗は，4.11の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度を超えてはならな
い。
4.39.6.5 連続性は，4.5の規定に従って測定し，個別規格の要求事項を満足しなければならない。
4.39.6.6 始動トルクは，4.18の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度を超えてはならない。
4.39.6.7 しゅう動雑音は，4.15.1，4.15.2又は4.15.3のいずれかを適用して測定し，個別規格に規定する限
度を超えてはならない。
注記 対応国際規格では，“4.15.2又は4.16.2”と記載しているが明らかに“4.15.1，4.15.2又は4.15.3”
の誤りであるため修正した。
4.39.6.8 耐電圧は，4.12又は個別規格の規定のいずれかで行い，絶縁破壊又はフラッシオーバがあっては
ならない。
4.40 機械的耐久性（2端子形を除く）
4.40.1 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
4.40.2 供試可変抵抗器の半数は，端子aとcとの間に負荷し，残りの半数は無負荷とする。ただし，しゅ
う動接点を通して負荷する特別な要求がある場合は，個別規格にその条件を規定する。
定格電力が10 W以下の可変抵抗器は，直流電圧で試験する。リプル電圧は，5 %以下とする。ただし，
試験の“厳しさ”が同等であることを証明できる場合は，交流電圧を用いてもよい。定格電力が10 Wを
超える可変抵抗器は，交流電圧を印加する。印加電圧は，定格電圧又は素子最高電圧のいずれか小さい方
とする。
4.40.3 その他の規定がない場合には，可変抵抗器は，4.43.1.5の規定に従って取り付ける。どの可変抵抗
器の温度も，その他の可変抵抗器の温度に影響を及ぼさない方法で試験し，可変抵抗器全体に過度の通風
をしないように注意する。
4.40.4 適切な駆動装置を操作軸に固定し，次のいずれかの方法によって，全機械的操作範囲を周期的に操
作する。
方法1：全機械的操作範囲の90 %を超える範囲（この方法は，下位規格に規定がない場合に用いる。）
方法2：有効電気的操作範囲の（50±5）%（この方法は，精密級可変抵抗器に推奨し，下位規格に規定
する。）
駆動装置のトルクは，定格電力が10 Wを超えない可変抵抗器に対しては200 mN･mを超えないで，定
格電力が10 Wを超える可変抵抗器に対しては714 mN･mを超えてはならない。
4.40.5 個別規格に規定がない場合には，単回転可変抵抗器の操作サイクル数及び操作速度は，表17の規
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定による。
表17−操作サイクル数
可変抵抗器の種類
操作サイクル数
操作速度
サイクル／min
非巻線形
個別規格に規定する25 000又は10 000
10〜17
巻線形
5 000
5〜10
半固定形及び表面実装形 個別規格に規定する20，50，100，200又は500
5〜10
注記1 操作の1サイクルとは，しゅう動接点が抵抗素子の一方の端から他方の端へしゅう動し，元
の位置に戻ることをいい，スイッチ付きの場合は，スイッチの操作も含む。
注記2 その他の構造の可変抵抗器，例えば，多回転ヘリカル形，連続回転形，ねじ駆動形などの場
合は，個別規格に操作数及び操作速度を規定し，操作サイクルも定義することが望ましい。
4.40.6 試験後，可変抵抗器は，標準状態に1時間〜2時間放置し，その後，個別規格に規定する次の試験
を行う。
a) 可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
b) 端子aとcとの間の抵抗値を測定し，4.40.1で測定した値と比較し，抵抗値の変化は，下位規格に規
定する限度を超えてはならない。
c) 端子間抵抗値は，4.7の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度未満でなければならない。
d) 絶縁抵抗は，4.13の規定に従って測定し，下位規格に規定する値以上でなければならない。
e) 始動トルクは，4.18の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度内でなければならない。
f)
連続性は，4.5の規定に従って試験し，個別規格の要求事項を満足しなければならない。
g) 操作軸の押し及び引張りは，4.22.2及び4.22.3の規定に従って試験し，個別規格の要求事項を満足し
なければならない。
h) 耐電圧試験は，4.12の規定に従って行い，絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
i)
しゅう動雑音は，4.15の規定に従って測定し，個別規格に規定する限度を超えてはならない。
j)
個別規格に規定がある場合，封止（気密性）試験を4.31の規定に従って行い，個別規格の要求事項を
満足しなければならない。
k) 機械的耐久性試験の間，接触抵抗の連続した監視を規定する場合は，次の手順を用いる。
図30−接触抵抗の連続監視回路
端子aとbとの間に，（0.01 V/公称全抵抗値）±5 %の定電流又は個別規格に規定する定電流を加え
る。機械的操作サイクルの試験中，図30に示す回路を用いてしゅう動接点に基づく信号を連続して監
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視する。個別規格に規定がない場合は，4.40.4の方法1又は方法2に規定する範囲の0.1 %を超えて公
称全抵抗値の10倍の抵抗値を示す場合は，不連続とみなす。
注記 対応国際規格では，端子bとcとの間と記載しているが明らかに端子aとbの誤りであるため
修正した。
l)
一致性（直線性又はその他の規定方法）は，4.9の規定に従って試験し，個別規格の要求事項を満足し
なければならない。
4.41 電源スイッチの交流耐久性（容量性負荷）
個別規格に規定がある場合，この試験は，交流45 Hz〜65 Hzの交流負荷で使用する電源スイッチの電気
的開閉性能を評価するために行う。
4.41.1 供試品の準備
供試可変抵抗器は，個別規格の規定に従って配線し，試験回路に接続する。
4.41.2 試験方法
個別規格に規定がある場合には，図31に示す負荷回路は，多極スイッチの相対する各極の耐久試験に適
用する。操作サイクルのうち，スイッチオフの間に多極スイッチの相対する各極の接点が電気的に正しく
動作しているかを監視する。単極スイッチを試験する場合は，試験回路のJ1とJ2との間にスイッチを接続
し，試験回路のJ3とJ4との間を短絡して行う（図31参照）。
注記1 対応国際規格では，“試験回路のJ3とJ4との間を短絡して行う”の文章が欠落しているため，
誤解が生じないように追記した。
個別規格に規定がない場合には，スイッチは，合計10 000サイクルの開閉をする。デューティサイクル
は，約50 %で，サイクル率は，7〜12サイクル／分とする。
ランダム負荷の状態を得るため，スイッチの閉じを供給周波数に合わせない。
注記2 デューティサイクル約50 %とは，“負荷を接続した状態”と“負荷を接続しない状態”との
時間がほぼ等しいことである。
4.41.3 試験回路
試験回路を，図31に示す。
E
試験電源の電圧実効値（45 Hz〜65 Hz）
R1 100 Ω又はE/I（定格電流を規定している場合），R2は4.7 Ω，R3は390 Ω及びCは390 μF
D 適切な特性をもつシリコンダイオード
図31−スイッチの交流耐久性試験回路
スイッチの定格サージ電流を規定している場合は，次の値を用いる。
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R1 ：E/I（ここに，Eは試験電源の電圧実効値で，Iは定格負荷電流の実効値）
R2 ：R1×2/X（ここに，Xは，定格電流の実効値と定格サージ電流のピーク値との比）
R3 ：800×R1/X
R2C ：2 500×10−6 s
負荷回路の構成部品は，負荷電流を規定値の±10 %以内に保てるものとする。
電源のインピーダンスは，試験結果に影響を与えることのないように十分に低くする。
4.41.4 初期及び最終測定
接触抵抗及び接点の温度は，試験前及び試験後に測定する。
絶縁抵抗及び耐電圧は，試験後に測定する。
4.41.5 要求事項
接触抵抗，絶縁抵抗及び接点の温度上昇は，規定限度以内でなければならない。
規定の耐電圧試験中に，絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.41.6 個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 供試品の準備
b) 印加電圧E
c) 試験電流（供試品の通常の定格電流を超えてはならない）
d) サージ電流（既知の場合）
e) 10 000サイクル以外の場合の開閉サイクル数
f)
初期及び最終測定の要求事項
g) 必要がある場合は，その他の要求事項
4.42 電源スイッチの直流耐久性（容量性負荷）
4.42.1 図32に示すように，スイッチに負荷を加え，オン・オフを10〜17サイクル／分で5 000サイクル
操作し，更に無負荷で5 000サイクル操作する。
試験中の“オフ”の間，スイッチの接点は，1秒間以上“開”とする。
10 000サイクルの操作後（4.42.2参照），スイッチは，4.40の試験で要求している25 000サイクルまで連
続して操作する。ただし，10 000サイクルを超える操作については，検査しなくてもよい。
スイッチの用途
試験電圧
V d.c.
R1
Ω
R2
Ω
R3
Ω
交流電源用
225
225以下
15
4700
直流・交流電源用
225
225以下
15
210
34 V未満用
34
34以下
6.8
33
注記 抵抗器R1は，スイッチの各サイクル間に，1 000 μFのコンデンサを十分に充電する
ような値を選ぶことが望ましい。充電電流は，1 Aを超えないことが望ましい。1サ
イクルの操作とは，スイッチ接点の開閉をいう。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単極のスイッチを試験する場合は，試験回路の正側（R1とR2との間）にスイッチを接続する。
図32−スイッチの直流耐久性試験回路
4.42.2 10 000サイクルの操作後，次の試験を行う。
4.42.2.1 スイッチは，目視検査をする。外観に損傷があってはならない。
4.42.2.2 スイッチを操作するのに必要なトルクは，4.19の規定に従って測定し，その値は，個別規格に規
定する値以下でなければならない。
4.42.2.3 スイッチの絶縁抵抗は，4.13の規定に従って測定し，その値は，下位規格に規定する限度以上で
なければならない。
4.42.2.4 スイッチの接触抵抗は，4.11の規定に従って測定し，その値は，個別規格に規定する限度未満で
なければならない。スイッチは，5回〜10回負荷して操作し，各スイッチの接点が電気的に正しく動作し
ているかを監視する。
4.42.2.5 耐電圧試験は，4.12の規定に従って行い，絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.43 電気的耐久性
定格電力は，周囲温度70 ℃に関連付けて規定し，かつ，70 ℃での耐久性試験によって立証する。ただ
し，電力形可変抵抗器の場合は，4.43.1.3に規定する補正係数を用いて，室温での耐久性試験で立証する。
軽減曲線の傾斜が変わる点が，70 ℃以外の温度にある場合は，次の手順のいずれかを，4.43.1又は4.43.2
に追加して適用する。
a) 70 ℃未満の温度にある場合（例えば，可変抵抗器が，20 ℃〜70 ℃を通りカテゴリ上限温度のゼロ電
力点まで，直線的に軽減されている場合，又は，20 ℃〜40 ℃まで一定で，40 ℃〜70 ℃を通りカテ
ゴリ上限温度のゼロ電力点まで，直線的に軽減されている場合）には，可変抵抗器は，次の事項を除
いた4.43.2の条件で試験する。
1) 試験温度は，軽減曲線の傾斜が変わる点の温度とする。
2) 印加電圧は，定格電圧に補正係数（βu）を乗じた電圧又は素子最高電圧のいずれか低い方の値とす
る。補正係数は，次の式によって算出する。
)
70
UCT
(
)
UCT
(
t
u
℃
−
−
=
T
β
ここに， UCT： カテゴリ上限温度
Tt： 試験温度
b) 70 ℃を超える温度にある場合（例えば，可変抵抗器が，20 ℃〜70 ℃を通り125 ℃までが定格電力
で，そこからゼロ電力又はカテゴリ上限温度のカテゴリ電力のいずれかまで直線的に軽減されている
場合）には，可変抵抗器は，次の事項及び4.43.2の条件で試験する。試験温度は，軽減曲線の傾斜が
変わる点の温度とする。
上記のa)又はb)についての中間測定及び最終測定は，定格電力を立証するために行う耐久性試験に関わ
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る下位規格に規定する条件と同じとする。
4.43.1 室温での電気的耐久性
4.43.1.1 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。下位規格に従って，端子aとbとの
間，又は端子bとcとの間に負荷する供試可変抵抗器では，抵抗値は，それらの端子間で測定する（4.43.1.4
参照）。
4.43.1.2 可変抵抗器は，15 ℃〜35 ℃の間の周囲温度で，1 000時間（約42日間）の電気的耐久性試験を
行う。
4.43.1.3 定格電力が，10 W以下の可変抵抗器に対しては，リプル電圧が5 %を超えない直流電圧を用いる。
ただし，試験の“厳しさ”が同等であると実証できる場合は，交流電圧を用いてもよい。定格電力が，10 W
を超える可変抵抗器に対しては，交流電圧を用いる。
注記 対応国際規格では，0 Wとしているが明らかに10 Wの誤りであるため修正した。
印加電圧は，公称全抵抗値と70 ℃の定格電力の95 %との積から算出した電圧に補正係数（β0）を乗じ
た値又は素子最高電圧のいずれか低い方の値とする。
補正係数は，次の式によって算出する。
)
70
(
)
(
d0
t
d0
0
℃
−
−
=
T
T
T
β
ここに，
Td0： 軽減電力がゼロとなる温度
Tt： 試験温度
軽減電力がゼロとなる温度は，下位規格の軽減曲線から求める。
印加電圧は，算出した電圧値±5 %とする。
4.43.1.4 供試可変抵抗器の半数に対しては，試験中，電圧を1.5時間“オン”，0.5時間“オフ”のサイク
ルで，端子aとcとの間に印加する。残りの半数に対しては，しゅう動接点を全機械的操作範囲の95 %の
点（又は，逆対数形抵抗変化特性の可変抵抗器の場合は，5 %の点）に設定し，電圧を1.5時間“オン”，
0.5時間“オフ”のサイクルで，端子aとbとの間（個別規格に規定がある場合は，端子bとcとの間）に
印加する。
注記 0.5時間の“オフ”時間は，4.43.1.2の総試験時間に含めている。
4.43.1.5 その他の規定がない場合（注記参照），それぞれの可変抵抗器は，表18に規定する寸法で，厚さ
が1.5 mmの鋼鉄パネルに，相互の間隔がいかなる方向に対しても直径の4倍になるような位置に取り付
ける。
取付け位置は，可変抵抗器の軸受けに対応するように取付パネルにあけた孔の中心とする。
表18−取付パネルの大きさ
定格電力 P
W
パネルの寸法
mm
P≦4
50×50
4＜P≦63
100×100
63＜P
300×300
注記 端子でプリント配線板に取り付けるように設計した可変抵抗器は，この試験中，厚さ1.6 mmの
ガラス布基材エポキシ樹脂プリント配線板用銅張積層板に取り付けることが望ましい。
4.43.1.6 可変抵抗器は，48時間，168時間，500時間及び1 000時間後に試験槽から取り出す。その後，
標準状態で1時間〜4時間冷却（後処理）してもよい。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
中間測定の後，可変抵抗器は再び試験槽に戻す。試験槽から取り出してから再び試験槽に戻すまでの時
間は，12時間を超えてはならない。
可変抵抗器は，個別規格の規定に従って，次の試験を行う。
a) 可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷がなく，表示が判読できなければならない。
b) 端子aとcとの間及びaとb又はbとcとの間の抵抗値を測定する。4.43.1.1で測定した値と比較し，
その抵抗値の変化は，下位規格に規定する値を超えてはならない。
c) 絶縁抵抗は，4.13の規定に従って測定し，その値は，下位規格に規定する値以上でなければならない。
d) しゅう動雑音の出力は，4.15の規定に従って測定し，その値は，個別規格に規定する限度を超えては
ならない。
e) 連続性は，4.5の規定に従って試験し，個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。
f)
個別規格に規定がある場合，封止（気密性）試験を，4.31の規定に従って行い，個別規格の要求事項
を満足しなければならない。
4.43.2 70 ℃での電気的耐久性
4.43.2.1 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。下位規格に従って，端子aとbとの
間又は端子b とc との間に負荷した供試可変抵抗器に対しては，抵抗値は，それらの端子間で測定する
（4.43.2.4参照）。
4.43.2.2 可変抵抗器は，70 ℃±3 ℃の周囲温度で1 000時間（約42日間）の電気的耐久性試験を行う。
4.43.2.3 定格電力が，10 W以下の可変抵抗器に対しては，リプル電圧が±5 %を超えない直流電圧を用い
る。ただし，試験の厳しさが同等であるとを実証できる場合は，交流電圧を用いてもよい。定格電力が10 W
を超える可変抵抗器に対しては，交流電圧を用いる。
印加電圧は，定格電圧又は素子最高電圧のいずれか低い方の値とする。
試験中，印加電圧は，算出した電圧±5 %とする。
4.43.2.4 試験中，電圧は，供試可変抵抗器の半数に対しては，1.5時間“オン”，0.5時間“オフ”のサイ
クルで，端子aとcとの間に印加する。残りの半数に対しては，しゅう動接点を全機械的操作範囲の95 %
の点（逆対数形抵抗変化特性の可変抵抗器の場合は，5 %の点）に設定し，1.5時間“オン”，0.5時間“オ
フ”のサイクルで，端子aとb（個別規格に規定がある場合は，端子bとc）との間に印加する。
注記 0.5時間の“オフ”時間は，4.43.2.2の総試験時間に含めている。
4.43.2.5 その他の規定がない場合には，可変抵抗器は，4.43.1.5の規定に従って取り付ける。
可変抵抗器は，放射熱で直接加熱させない。また，可変抵抗器を置いているいかなる場所でも，試験槽
の公称温度±3 ℃を超えないように槽内の空気を循環させる。
4.43.2.6 可変抵抗器は，48時間，168時間，500時間及び1 000時間後試験槽から取り出して，標準状態
に1時間〜4時間冷却（後処理）してもよい。
中間測定の後，可変抵抗器は，再び試験槽に戻す。試験槽から取り出してから再び試験槽に戻すまでの
時間は，12時間を超えてはならない。
その後，可変抵抗器は，個別規格の規定に従って，次の試験を行う。
a) 可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷がない。
b) 端子aとcとの間及びaとb又はbとcとの間の抵抗値を測定する。4.43.2.1で測定した値と比較し，
その抵抗値の変化は，下位規格に規定する値を超えてはならない。
c) 絶縁抵抗は，4.13の規定に従って測定し，下位規格に規定する値以上でなければならない。
d) しゅう動雑音の出力は，4.15の規定に従って測定し，その値は，個別規格に規定する限度を超えては
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ならない。
e) 連続性は，4.5の規定に従って試験し，個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。
f)
気密性試験（個別規格に規定がある場合）は，4.31の規定に従って行い，個別規格に規定する要求事
項を満足しなければならない。
4.43.3 カテゴリ上限温度での電気的耐久性
4.43.3.1 この試験は，カテゴリ上限温度が70 ℃の可変抵抗器には適用しない。
4.43.3.2 端子aとcとの間の抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。端子aとbとの間又は端子bとc
との間に負荷した可変抵抗器に対しては，下位規格の規定に従い，それらの端子間の抵抗値を測定する。
4.43.3.3 可変抵抗器は，下位規格に規定するカテゴリ上限温度±3 ℃の周囲温度で1 000時間（約42日間）
の電気的耐久性試験を行う。
4.43.3.4 カテゴリ上限温度で，電力がゼロに軽減される可変抵抗器に対しては，試験は，ゼロ電力で行い，
その他の可変抵抗器に対しては，カテゴリ電力で行う。定格電力が，10 W以下の可変抵抗器に対しては，
リプル電圧が5 %を超えない直流電圧を用いる。ただし，試験の“厳しさ”が同等であることを実証でき
る場合は，交流電圧を用いてもよい。定格電力が10 Wを超える可変抵抗器に対しては，交流電圧を用い
る。
印加電圧は，素子最高電圧又はカテゴリ電力と公称全抵抗値とから算出した電圧のいずれか低い方の値
とする。
試験中，印加電圧は，算出した電圧値±5 %とする。
4.43.3.5 試験中，印加電圧は，供試可変抵抗器の半数に対しては，1.5時間“オン”，0.5時間“オフ”の
サイクルで，端子aとcとの間に印加する。残りの半数に対しては，しゅう動接点を全電気的操作範囲の
95 %の点（又は逆対数形抵抗変化特性の可変抵抗器の場合は，5 %の点）に設定し，1.5時間“オン”，0.5
時間“オフ”のサイクルで，端子aとbとの間，又は適切な場合は，端子bとcとの間に印加する。
注記 0.5時間“オフ”の時間は，4.43.3.3の総試験時間に含めている。
4.43.3.6 その他の規定がない場合には，可変抵抗器は，4.43.1.5の規定に従って取り付ける。
可変抵抗器は，放射熱で直接加熱させない。また，可変抵抗器を置いているいかなる場所でも，試験槽
の公称温度±3 ℃を超えないように槽内の空気を循環させる。
4.43.3.7 48時間，168時間，500時間及び1 000時間後，可変抵抗器は，中間測定のために試験槽から取
り出して標準状態で1時間〜4時間冷却してもよい。
中間測定の後，可変抵抗器は，再び槽に戻す。試験槽から取り出してから再び試験槽に戻すまでの時間
は，12時間を超えてはならない。
その後，可変抵抗器は，個別規格の規定に従って，次の試験を行う。
a) 可変抵抗器は，外観を検査する。外観に損傷があってはならない。
b) 端子aとcとの間及び端子aとbとの間又は適切な場合は端子bとcとの間の抵抗値を測定する。
4.43.3.2で測定した値と比較し，その抵抗値の変化は，下位規格に規定する値を超えてはならない。
c) 絶縁抵抗を，4.13の規定に従って測定し，その値は，下位規格に規定する値以上とする。
4.44 本体の耐溶剤性
4.44.1 初期測定
下位規格に規定する測定を行う。
4.44.2 可変抵抗器は，次の条件で，JIS C 60068-2-45に規定する試験XAを行う。
a) 用いる溶剤 ：2-プロパノール（イソプロピルアルコール）（JIS C 60068-2-45の3.1.2参照）
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b) 溶剤の温度 ：23 ℃±5 ℃（個別規格に規定がない場合）
c) 条件 ：方法2（ラビングなし）
d) 後処理時間 ：48時間（個別規格に規定がない場合）
4.44.3 下位規格に規定する測定を行い，規定の要求事項を満足しなければならない。
4.45 表示の耐溶剤性
4.45.1 可変抵抗器は，次の条件で，JIS C 60068-2-45に規定する試験XAを行う。
a) 用いる溶剤 ：2-プロパノール（イソプロピルアルコール）（JIS C 60068-2-45の3.1.2参照）
b) 溶剤の温度 ：23 ℃±5 ℃
c) 条件 ：方法1（ラビングをする）
d) ラビングの材料：脱脂綿
e) 後処理時間 ：個別規格に規定がない場合には，適用しない。
4.45.2 試験後，表示は，判読できなければならない。
4.46 微小範囲直線性（microlinearity）
4.46.1 微小範囲直線性は，供試可変抵抗器のしゅう動接点の端子bに，最大負荷電流1 μAを負荷して測
定する。操作の不安定な速度の影響は，除外する。
微小範囲直線性の値は，測定位置での操作微小枠に沿った直線性の変化に対応する（図33参照）。測定
枠は，50 %以上を重複させる。測定の原理を，図34に示す。
図33−微小範囲直線性の測定例
4.46.2 個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 有効電気的操作範囲の1 %と異なる場合の微小枠。
b) 有効電気的操作範囲と異なる場合，電気的操作範囲の包含する部分。
c) 微小範囲直線性の要求は，電気的操作範囲の異なる箇所では異なってもよい。
試験回路の実用例を図34に，同時評価の例を図35に示す。
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注記 デジタル関連ユニットの基本的解説及び微小範囲直線性の測定方法は，附属書Eに規定する。
図34−微小範囲直線性評価回路のブロック図
図34に示すフィルタは，低域遮断周波数fcから100 fcまでの全周波数を通す帯域フィルタである。フィ
ルタの目的は，可変抵抗器の抵抗変化特性及び電圧の不安定による低速の電圧変化を取り除くためである。
低域遮断周波数fcは，次の式によって算出する。
m
c
t
L
m
f
×
=
（Hz）
ここに，
L： 微小枠（mm）
m： 有効電気的操作範囲（mm）
tm： mを通過する時間（s）
図35−直線性及び微小範囲直線性の同時評価の例
4.47 取付け（表面実装用可変抵抗器だけに適用）
4.47.1 可変抵抗器は，適切なプリント配線板上に取り付ける。取付方法は，可変抵抗器の構造による。プ
リント配線板は，厚さ1.6 mmのガラス布基材エポキシ樹脂プリント配線板用銅張積層板（JIS C 6484参照）
又は厚さ0.635 mmのアルミナ基板とし，いかなる試験又は測定の結果に影響を及ぼさない材質とする。
個別規格には，電気的試験に用いる基板の材質を規定する。
プリント配線板は，可変抵抗器の取付けができる適切な大きさのメタライズしたランド領域をもち，可
変抵抗器の端子（又は電極）との接続ができる。詳細は，個別規格に規定する。
機械的及び電気的試験のための試験用基板の例を，図36及び図37に示す。ただし，図36に示す試験用
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基板は，インピーダンス測定には適さない場合がある。その他の取付方法を適用する場合は，個別規格に
その他の方法を明確に規定することが望ましい。
4.47.2 個別規格で，ウエーブソルダリングを規定している場合には，個別規格に規定するような適切な接
着剤を用いて，はんだ付けをする前に可変抵抗器をプリント配線板に固定する。
再現性のある結果を確実にする適切な手段によって，プリント配線板の導体部間に接着剤の小滴を塗布
する。
可変抵抗器は，ピンセットを用いて接着剤の小滴を塗布した上に置く。接着剤が導体部に付着しないよ
うにするため，可変抵抗器を必要以上に動かしてはならない。
可変抵抗器を装着したプリント配線板を，100 ℃の加熱槽で15分間加熱する。
プリント配線板は，適切なウエーブソルダリング装置ではんだ付けをする。その装置は，予備加熱温度
80 ℃〜100 ℃，はんだ槽温度260 ℃±5 ℃，はんだ付け時間5秒±0.5秒間に設定する。
はんだ付けの操作を2回繰り返す（合計2サイクル）。
はんだ付けが終了したプリント配線板は，適切な溶剤（JIS C 60068-2-45の3.1.2参照）で3分間洗浄す
る。
4.47.3 個別規格で，リフローソルダリングを規定している場合には，次の取付け手順を適用する。
a) はんだは，ペースト状又はプリフォームしたものを用い，JIS C 60068-2-20の試験Tに規定する非活
性フラックスを用いた質量分率で銀（Ag）2 %以上のすず−鉛（Sn-Pb）系の共晶はんだとする。はん
だ食われ防止用の層をもつ端子（又は電極）構造の表面実装用可変抵抗器では，Sn60Pb40又はSn63Pb37
のはんだを代替として用いてもよい。ペースト状又はプリフォームした鉛フリーはんだは，JIS C
60068-2-58に規定するフラックスとともに，Sn96.5Ag3.0Cu0.5又は類似組成（Sn-Ag-Cu系）のものを
用いる。
b) 可変抵抗器は，試験用プリント配線板のメタライズしたランドの決められた範囲で，端子（又は電極）
が接触するように装着する。
c) プリント配線板は，適切な加熱装置（溶融はんだ，ホットプレート，トンネル炉など）の上又はその
中に置く。はんだが溶融し，均一なはんだ付けができるまで，ユニットの温度は，215 ℃〜260 ℃に
維持する。ただし，時間は，10秒間以内とする。
注記1 フラックスは，適切な溶剤（JIS C 60068-2-45の3.1.2参照）で取り除くことが望ましい。そ
の後の全ての作業でも汚さないように注意する。また，試験槽内及び試験後の測定中でも清
浄を保つように注意する。
注記2 個別規格には，より狭い温度範囲を規定してもよい。
注記3 ベーパーフェーズソルダリングを適用する場合は，同様の手順で，その方法に適切な温度を
適用してもよい。
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単位 mm
試験用基板は，次による。
−
の部分は，はんだ付けをする領域で，
の部分は，はんだ付けをしない（ソルダレジ
ストで覆った）領域である（図37も同じ）。
− 基板の材質がガラス布基材エポキシ樹脂で，厚さが1.6 mm±0.1 mmのものを用いる。
− 寸法Wは，試験装置の設計による。
注a) この導体部は，省略するか又は電極の保護に用いてもよい。
図36−機械的及び電気的試験用基板
単位 mm
試験用基板は，次による。
− 基板の材質がアルミナの純度90 %〜98 %で，厚さが0.635 mm±0.05 mmのものを用いる。
− 図36及び図37に規定していない寸法は，供試可変抵抗器の構造及び外形寸法を考慮して
選定することが望ましい。
図37−電気的試験用基板
4.48 固着性（表面実装用可変抵抗器だけに適用）
4.48.1 可変抵抗器は，4.47の規定に従って取り付ける。
4.48.2 可変抵抗器は，次の条件で，JIS C 60068-2-21の試験Ue3で試験する。
可変抵抗器本体側面に衝撃を加えることなく，5 Nの力を加え，10秒±1秒間保持する。
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4.48.3 要求事項
可変抵抗器は，取付けた状態で外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
4.49 耐プリント板曲げ性（表面実装用可変抵抗器だけに適用）
4.49.1 可変抵抗器は，ガラス布基材エポキシ樹脂材質のプリント配線板に，4.47の規定に従って取り付け
る。
4.49.2 抵抗値を，4.6の規定に従って測定する。
4.49.3 可変抵抗器は，下位規格に規定する曲げ深さD及び曲げ回数の条件で，JIS C 60068-2-21の試験
Ue1を行う。
4.49.4 可変抵抗器の抵抗値は，プリント配線板を曲げた状態で，4.6の規定に従って測定する。4.49.2で
測定した値と比較し，抵抗値の変化は，個別規格に規定する限度を超えてはならない。
4.49.5 プリント配線板は，曲げた状態から元に戻して試験ジグから取り外す。
4.49.6 最終検査及び要求事項
可変抵抗器は，外観検査を行う。外観に損傷があってはならない。
4.50 はんだ付け性（表面実装用可変抵抗器だけに適用）
可変抵抗器は，JIS C 60068-2-58に規定するリフロー法又ははんだ槽法を適用する。下位規格には，試
験の厳しさ及び表面実装用可変抵抗器の形状に適合したはんだぬれ性，はんだはじき又は電極のはんだ食
われ性に用いる試験方法を規定する。
4.51 はんだ耐熱性（表面実装用可変抵抗器だけに適用）
可変抵抗器は，JIS C 60068-2-58に規定するリフロー法又ははんだ槽法を適用する。下位規格には，試
験の厳しさ及び表面実装用可変抵抗器の形状に適合したはんだ耐熱性に用いる試験方法を規定する。
66
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の電子機器用
コンデンサ及び抵抗器の個別規格を作成するための規則
A.1 個別規格の作成要件
IEC/TC40（電子機器用コンデンサ及び抵抗器）の技術委員会によって完全な個別規格の起草の要求があ
る場合は，次の全ての要件を満足する場合だけ作成できる。
a) 品目別通則が承認になっている場合。
b) 適切な時期に，品種別通則が，最終国際規格案（FDIS）の承認のため各国に回覧している場合。
c) 関連するブランク個別規格が，最終国際規格案（FDIS）の承認のため各国に回覧している場合。
d) 3か国以上の国内委員会が，その国の国家規格の部品の性能が非常に類似した規格である証拠を正式
に認めた場合。
他国の国家規格の一部を，実際に用いているか又は意味があることを国内委員会が正式に主張した場合
は，上記の要求に対して有効としてもよい。
A.2 個別規格への引用内容
TC40技術委員会の責任で作成する個別規格は，適切な品目別通則又は品種別通則に規定する推奨値，
定格及び特性，環境試験の厳しさなどの標準を用いる。
TC40技術委員会が承認する場合には，この規格の例外は，規定する個別規格だけに与えられる。
A.3 個別規格の回送
品種別通則及びブランク個別規格が承認されて発行するまで，個別規格を最終国際規格案（FDIS）とし
て回覧しない方がよい。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の
IEC 60410の抜取計画及び手順の説明
B.1
IEC 60410の箇条及び細分箇条
計数値検査に対してIEC 60410を用いる場合には，次に示すIEC 60410の箇条及び細分箇条の説明は，
この規格に適用する。
1
権限及び責任があるのは，基本規則及び施行規則に定める国の代表機関である。
1.5
製品の単位は，個別規格に規定する可変抵抗器である。
2
この箇条は，次の用語及び定義だけに適用する。
− “不適合”は，規定する要求性能を満たさない製品単位の不適合である。
− “不適合品”は，一つ以上の不適合を含む製品の単位である。
3.1
製品の不適合の範囲は，不良率で，百分率（%）で表す。
3.3
適用しない。
4.5
品目別通則又は品種別通則の部を構成するブランク個別規格を作成する権限及び責任がある
のは，IEC技術委員会である。
5.4
権限及び責任があるのは，管理責任者（DMR）であり，国内監督検査機関（NSI）が認証した
認定製造業者の検査部門の規定した手順に従って行う。
6.2
権限及び責任があるのは，管理責任者（DMR）である。
6.3
適用しない。
6.4
権限及び責任があるのは，管理責任者（DMR）である。
8.1
なみ検査は，検査の開始に当たって，常に用いる。
8.3.3 d) 権限及び責任があるのは，管理責任者（DMR）である。
8.4
権限及び責任があるのは，国内監督検査機関（NSI）である。
9.2
品目別通則又は品種別通則の部を構成するブランク個別規格を作成する権限及び責任がある
のは，IEC技術委員会である。
9.4
第4文は，適用しない。
第5文において，権限及び責任があるのは，管理責任者（DMR）である。
10.2
適用しない。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（規定）
しゅう動雑音の測定方法
C.1 方法A（定電圧法）
可変抵抗器のしゅう動雑音を測定する装置の回路を，図C.1に示す。
この装置は，基本的に二極整流管の給電する利得調整形オーディオ増幅器であり，色ランプを制御する。
信号入力が，あるレベルに達したときに色ランプが点灯する。
ランプは，可変抵抗器の雑音出力が，あらかじめ設定したレベルを超えているか又はレベル以下である
ことを示すために用いる。この装置は，可変抵抗器に，1 kΩの抵抗器を通じて直流20 Vを供給するよう
に調整している。
次のデータは，増幅器の応答値を示す。
− 60 Hz及び20 kHzで−6 dB
− 20 Hz及び45 kHzで−20 dB
− 80 kHz以上で−30 dB以下
− ゼロレベルが得られるのは，1 kHzである。
赤ランプ動作する約1 kHzでのプリセット入力レベルは，4.7 mV，6.8 mV，10 mV，15 mV，22 mV，
33 mV，47 mV，68 mV，100 mV，150 mV及び220 mV（r.m.s）とする。
増幅器が，低音部に広い応答をもっている場合，抵抗変化特性が対数形及び逆対数形の可変抵抗器を検
査するときは，操作周波数0.5 Hzの調波によって，低雑音の可変抵抗器の読みに誤差が生じる場合がある。
これを避けるためには，増幅器が，50 Hz以下を素早く遮断（カットオフ）するように設計する。
その回路では，持続時間の短い雑音が観察できるほど長く赤ランプが動作する。
プリセットレベルの1/10で操作すると，緑ランプが点灯する。限度値の1/10未満の雑音レベルをもっ
た可変抵抗器はないので，緑ランプは適合の可変抵抗器で，また，赤ランプは不適合の可変抵抗器で動作
する。
注記 雑音出力を電圧で監視する場合は，ランプ制御の代わりに指示計を用いてもよい。
図C.1−方法Aのしゅう動雑音測定回路
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C.2 方法B（定電流法−CRV）
可変抵抗器のしゅう動雑音を測定する装置の回路を，図C.2に示す。
RX 供試可変抵抗器
オシロスコープの帯域幅 100 Hz〜50 kHz
最小入力インピーダンス 供試可変抵抗器の公称全抵抗値の10倍
注記 校正用抵抗器を校正する場合，供試可変抵抗器のしゅう動接点を，端子aの終端に
置くことが望ましい。校正用抵抗器の校正は，供試可変抵抗器の公称全抵抗値の接
触抵抗変化（CRV）レベルに対して設定することが望ましい。
図C.2−方法B（CRV）のしゅう動雑音測定回路
C.3 方法C（定電流法−ENR）
可変抵抗器のしゅう動雑音を測定する装置の回路を，図C.3に示す。
RX 供試可変抵抗器
RS 校正用抵抗器
D ツェナーダイオード（6 V）
オシロスコープの帯域幅 直流〜50 kHz
最小入力インピーダンス 供試可変抵抗器の公称全抵抗値の10倍
図C.3−方法C（ENR）のしゅう動雑音測定回路
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D
（規定）
機械的確度の測定装置
D.1 ダイヤル指示計（ダイヤルゲージ）
最小の目盛分割は，規定の許容差の10 %以下であり，25 μm未満の測定の場合には，1 μmまで読み取れ
るものとする。指示計の誤差補正を行わない場合は，指針の全可動範囲の1/3を超える範囲にわたって用
いないことが望ましい。ダイヤル指示計をピボット形の測定子とともに用いる場合には，測定中は，測定
子の縦方向の中心線を被測定物に対して直角に保つか，又は適用できる補正係数を用いる。
ダイヤル指示計を保持する装置は，測定中，被測定物に対して本来の姿勢を維持してダイヤル指示計を
しっかりと保持する。さらに，測定子が，可変抵抗器に近接する場合は，ダイヤル指示計が損傷しないよ
うにダイヤル指示計の位置を調整する機構を備えていることが望ましい。
D.2 円筒形軸アダプタ
滑らかな円筒状の表面をもつアダプタを，可変抵抗器の軸に取り付けた場合は，規定のがた限度の10 %
を超える偏心率が加わらないものでなければならない。
D.3 可変抵抗器の取付装置（取付具）
この装置は，可変抵抗器の操作軸を自由に動かせるようにしたまま，供試可変抵抗器を，通常の取付方
法でしっかりと保持できるものでなければならない。
D.4 可変抵抗器の操作軸保持装置（操作軸固定具）
この装置は，可変抵抗器の本体が自由に動くようにしたまま，供試可変抵抗器の操作軸を，水平又は垂
直のいずれかの位置に保持できるものでなければならない。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E
（規定）
微小範囲直線性の測定方法
デジタル照合ユニット（合成高精度マスタユニット）の基本的説明及び微小範囲直線性の測定方法を示
す。
図E.1の合成マスタ照合ユニットの適切なD-A変換器を選ぶ場合は，次のE.1〜E.3
の基本事項を考慮することが望ましい。
図E.1−デジタル照合ユニット（合成高精度マスタ）のブロック図
E.1
分解能ビット
D-A変換器のビット（b）の最小値は，次によって算出したbv及びbiの値以上とする。
電圧精度に要求されるビットの数bvは，次による。
×
=
max
e
e
v
μ
5
log
2
log
1
b
ここに，
μmax： 微小範囲直線性の最大許容値（1 %＝0.01）
2
log
1
e
： 1.443
測定のために，規定した相対的な操作範囲の増分幅によって要求されるビットのbi値は，次による。
×
=
i
m
30
log
2
log
1
b
e
e
i
ここに，
i： 増分幅
m： 有効電気的操作範囲
2
log
1
e
： 1.443
これらは，同一ユニットのものである。
注記 対応国際規格では，1.433となっているが明らかに1.443の誤記であるため修正した。
E.2
DA変換器の出力確度
最小要求1/2（LSB），及びE.1によって選定したbを満足する場合，結果的にデジタル合成マスタは，
測定に要求される10倍の確度の電圧設定が得られる。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
E.3
最大測定速度
測定速度は，D-A変換器の設定時間を考慮して，含まれる全ての設定時間の合計の2倍以上とすること
が望ましい。したがって，一つの測定行程に対して要求される最小時間tmは，次の式によって算出する。
tm＝2b×2ts
ここに，
ts： D-A変換器の設定時間
b： 操作範囲に含まれるビット数
注記 対応国際規格では，式中2bとなっているが明らかに2bの誤記であるため修正した。
例 電圧確度の要求が0.03 %で，相対的増加分の要求i/mが1 %の場合，
結果は，bv＝1.443×loge(5/0.000 3)＝14.03： bv＝14 bit
bi＝1.443×loge(30/0.01)＝11.55：
bi＝12 bit
注記 対応国際規格では，biが1.433となっているが明らかに1.443の誤記であるため修正した。
D-A変換器のビットの桁数は，電圧精度（bv）又は操作範囲の増分幅（bi）のいずれか大きい方とする。
算出した値の比較には，小数点以下を四捨五入し丸めた整数を用いる。
例えば，D-A変換器は，14ビットタイプ以上を用いなければならず，これによって，測定される偏差を
比較した場合，通常の10倍の確度のマスタ可変抵抗器に近似しているとみなすことができる。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F
（規定）
可変抵抗器の操作軸及び取付部の推奨寸法
この規格に規定する操作軸先端の推奨寸法は，JIS C 5270から選択したものである。手動操作形可変抵
抗器の操作軸先端の寸法で，この附属書に含まれていない大きさのものを要求する場合は，JIS C 5270に
従って選択することが望ましい。
F.1
操作軸の形状及び推奨寸法
関連規格及び／又は個別規格に規定がない場合は，次による。
a) 丸形操作軸は，JIS C 5270の図1（丸形操作軸の形状）及び表1（丸形操作軸の推奨寸法）による。
b) 平形操作軸は，JIS C 5270の図2（平形操作軸の形状）及び表2（平形操作軸の推奨寸法）による。
c) 溝形操作軸は，JIS C 5270の図3（溝形操作軸の形状）及び表3（溝形操作軸の推奨寸法）による。
d) 同心二重軸形操作軸は，JIS C 5270の図4（同心二軸形操作軸の形状）及び表4（同心二軸形操作軸の
推奨寸法）による。
F.2
取付ねじ，取付孔及び本体回転止めの推奨寸法
関連規格及び／又は個別規格に規定がない場合は，次による。
a) 取付面に本体回転止めのある場合の取付孔は，JIS C 5270の図5（部品各部の寸法），図6［取付パネ
ルの切抜き（取付孔）寸法］及び表5（取付ねじ，本体回転止め及び関連部の推奨寸法）による。
b) 片側又は両側平形取付ねじの場合は，JIS C 5270の図7（取付ねじの各部の寸法），図8［取付パネル
の切抜き（取付孔）寸法］及び表6（取付ねじ及び取付孔の推奨寸法）による。
c) 本体回転止め付き取付ねじの場合は，JIS C 5270の図9（取付ねじの各部の寸法），図10［取付パネル
の切抜き（取付孔）寸法］及び表7（取付ねじ，本体回転止め及び取付孔の推奨寸法）による。
注記 対応国際規格では，b)で片側及び両側と記載しているが明らかな誤りであるため修正した。
F.3
取付けナットの推奨寸法
関連規格及び／又は個別規格に規定がない場合は，次による。
取付ナットは，JIS C 5270の図11（取付ナットの形状）及び表8（取付ナットの推奨寸法）による。
F.4
取付用座金（平形，スプリング及び内歯付き）の推奨寸法
取付用座金の形状及び寸法は，受渡当事者間の協定による。必要がある場合には，取付用座金の形状及
び寸法は，個別規格に規定する。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G
（参考）
可変抵抗器の抵抗変化特性の例
G.1
回転角
可変抵抗器の全機械的回転角及び電気的回転角は，図G.1による。スイッチ付き可変抵抗器の電気的回
転角は，全機械的回転角からスイッチの操作角を除いた範囲である。
図G.1−回転角の定義（操作軸側から見た場合）
G.2
抵抗変化特性及び記号
抵抗変化特性及び記号は，表G.1による。
表G.1−抵抗変化特性及び記号
記号
減衰百分率
%
センタタップの
有無
抵抗変化特性
操作軸の位置（有効電気的回転角度に対する百分率）
20 a)
50
80 a)
0B
−
40〜60
−
なし
図G.2参照
2B
2〜10
40〜60
90〜98
3B
1〜7
40〜60
93〜99
0BM
−
b)
−
あり
図G.3参照
2BM
3BM
10A
15A
−
6〜15
10〜25
−
なし
図G.4参照
10AM
−
b)
−
あり
図G.5参照
15AM
10C
−
6〜15
−
なし
図G.6参照
15C
10〜25
15CM
−
b)
−
あり
図G.7参照
注a) これらの値は，設計目標値である。
b) 公称タップ抵抗値の±30 %
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
G.3
時計方向の変化特性（直線形及び対数形）
時計方向の変化特性は，図G.2〜図G.5に示す抵抗変化曲線である。操作軸側から見た場合に，操作軸
の時計方向の回転に対して抵抗値が増加する。抵抗値は，端子aとbとの間で測定する。
有効電気的回転角度に対する百分率（%）
時計方向
有効電気的回転角度に対する百分率（%）
時計方向
図G.2−直線形：センタタップなし
図G.3−直線形：センタタップ付き
有効電気的回転角度に対する百分率（%）
時計方向
有効電気的回転角度に対する百分率（%）
時計方向
図G.4−対数形：センタタップなし
図G.5−対数形：センタタップ付き
G.4
反時計方向の変化（逆対数形C）
反時計方向の変化特性は，図G.6及び図G.7に示す抵抗変化曲線である。操作軸から見た場合に，操作
軸の反時計方向の回転に対して抵抗値が増加する。抵抗値は，端子bとcとの間で測定する。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
有効電気的回転角度に対する百分率（%）
時計方向
有効電気的回転角度に対する百分率（%）
時計方向
図G.6−逆対数形：センタタップなし
図G.7−逆対数形：センタタップ付き
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H
（規定）
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の
品質評価手順
H.1 一般事項
この規格及び下位規格を，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）のような総合的な品質評価制度に用い
る場合は，H.5，H.6又はH.14の手順を適用する。
これらの規格を，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）以外の設計審査又は形式試験のような目的で用
いる場合は，H.5.1又はH.5.3 b)の手順及び要求事項を用いてもよい。ただし，これらの試験の全て及び一
部は，試験計画に示す順で行う。
この箇条の手順によって可変抵抗器の認証を取得する前に，製造業者は，IEC QC 001002-3によって，
自らの製造業者認定を取らなければならない。
可変抵抗器の品質評価の認証に利用できる三つの方法は，次による。
− IEC QC 001002-3の箇条3（電子部品の品質認証）による品質認証
− IEC QC 001002-3の箇条4（電子部品の能力認証）による能力認証
− IEC QC 001002-3の箇条6（電子部品の技術認証）による技術認証
可変抵抗器にサブファミリがある場合には，品質認証用及び能力認証用の品種別通則が個々に必要であ
り，能力認証は，関連の品種別通則が制定されている場合だけに利用できる。
H.1.1 品質認証の適用性
品質認証は，類似の設計及び製造工程で製造された可変抵抗器の標準範囲に対して適切であって，発行
された個別規格に従う。
適切な品質評価水準及び性能水準に応じた個別規格に規定する試験プログラムは，H.5及び関連品種別
通則の規定によって，認証を受ける可変抵抗器の範囲に対して直接適用する。
H.1.2 能力認証の適用性
能力認証は，共通の設計基準に基づく可変抵抗器を，共通の製造工程で製造する場合に適切である。特
に，可変抵抗器を顧客からの指定の要求事項に基づいて製造する場合に適切である。
能力認証では，個別規格を，次の三つのカテゴリに分類する。
H.1.2.1 工程の妥当性評価素子を含む能力認証用部品（CQC）
個別規格は，国内監督検査機関（NSI）で承認された能力認証用部品（CQC）ごとに作成する。個別規
格には，能力認証用部品（CQC）の目的を明確にし，全ての関連試験の厳しさ及び規定値を含めて規定す
る。
H.1.2.2 標準カタログ部品
製造業者が能力認証手順に基づいて，IECQ認証登録に記載しようとする可変抵抗器の認証を要求する
場合には，ブランク個別規格に適合した能力認証用の個別規格を作成する。この規格は，IECQに登録さ
れ，ISO 9000を含めて，IECQ制度で承認した品質認証電子部品一覧表（QPL）による1)。
注1) 対応国際規格では，IEC QC 001005を記載しているが廃止されている。IEC QC 001005に記載
の品質認証電子部品一覧表（QPL）は，IECオンラインサービス（http://certificates.iecq.org/）で
参照できる。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
H.1.2.3 顧客指定部品
個別規格の内容［顧客用個別仕様書（CDS）ともいう。］は，IEC QC 001002-3の4.4.3（出荷のための
部品個別規格）に基づき，受渡当事者間の協定によって規定する。
これらの個別規格に関して，より詳細な情報は，関連する品種別通則に規定する。
顧客の承認は，妥当性を確認した設計基準，工程及び品質管理手順並びに工程の妥当性評価用素子を含
む能力認証用可変抵抗器の試験結果に基づき，製造設備に与える。より詳細な情報に対しては，H.6及び
関連する品種別通則による。
H.1.3 技術認証の適用性
技術認証は，全ての技術的プロセス（設計，製造ラインの設置，製品製造，試験及び出荷）が技術によ
って決定する全ての可変抵抗器に共通の資格側面を範囲としている場合に適切である。
H.2 製造の初期工程
製造の初期工程は，品種別通則に規定する。
H.3 下請負契約
製造の初期工程及び／又はそれに続く工程の下請負契約を行う場合には，IEC QC 001002-3の4.2.2（専
門契約事業書の利用及び契約）による。
品種別通則は，IEC QC 001002-3の4.2.2.2によって下請負契約を制限してもよい。
H.4 構造的に類似な可変抵抗器
品質認証，能力認証又は技術認証の下で行う品質認証試験又は品質確認試験に対する構造的に類似な可
変抵抗器の群分けは，関連する品種別通則に規定する。
H.5 品質認証手順
H.5.1 品質認証を取る資格
製造業者は，IEC QC 001002-3の3.1.1（品質認証を得る資格）に従う。
H.5.2 品質認証の申請
製造業者は，IEC QC 001002-3の3.1.3（品質認証の申請）に従う。
H.5.3 品質認証用試験手順
次の二つの手順のうち，いずれかによる。
a) 製造業者は，定期検査用の1ロット及びできるだけ短期間内に抜き取ったロットごとの検査用の3ロ
ットを用いて，個別規格の要求事項に適合する試験証明書を作成する。製造工程での大きな変更は，
検査ロットを抜き取っている期間には行わない。
試料は，IEC 60410（附属書A参照）に従って，そのロットから抜き取る。
注記 IECQ制度を適用しない場合は，IEC 60410に替えてJIS Z 9015-1を適用してもよい。
検査には，なみ検査を用いる。ただし，合格判定数がゼロ個となる抜取数の場合には，合格判定数
が1個となるように試料数を増加する。
b) 製造業者は，品種別通則に規定する定数抜取計画によって，個別規格の要求事項に適合していること
を示す試験証明書を作成する。
試料は，現在製造中の生産品から無作為に抜き取るか，又はIECQ制度の認証を受ける場合には，
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
国内監督検査機関（NSI）の承認によって選定する。
二つの手順の試料数及び合格判定数は，同一水準とする。その試験条件及び要求事項は，同じとする。
H.5.4 品質認証の認可
品質認証は，IEC QC 001002-3の3.1.4（品質認証試験）による手順を完全に満足している場合に認可す
る。
H.5.5 品質認証の維持
品質認証は，品質確認検査（H.5.6参照）の要求事項を満足することを，定期的に実証することによっ
て維持する。
H.5.6 品質確認検査
品種別通則に関連するブランク個別規格には，品質確認検査のための試験計画を規定する。この試験計
画には，ロットごとの検査及び定期的検査のための群分け，サンプリング及び周期も規定する。
群Cで，ゆるい検査への切換えルールの運用は，耐久性を除く全ての副群で行ってもよい。
抜取検査方式及び検査水準は，IEC 60410又はJIS C 5005-2に規定するものから選択する。
必要がある場合は，二つ以上の試験計画を規定してもよい。
注記 IECQ制度を適用しない場合は，IEC 60410に替えてJIS Z 9015-1を適用してもよい。
H.6 能力認証手順
H.6.1 一般事項
能力認証は，次の範囲とする。
− 管理手順並びに試験を含む完全な設計，材料準備及び製造技術
− 工程及び生産に要求する性能限界，能力認証用可変抵抗器（CQC）及び工程管理パラメータ（PCP）
に対する規定値
− 認証を保証するための機械的構造の範囲
能力認証の一般的な概要は，図H.1による。
80
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図H.1−能力認証の一般的な仕組み
H.6.2 能力認証を取る資格
製造業者は，IEC QC 001002-3の4.2.1（能力認証を得る資格）の要求事項に従う。
H.6.3 能力認証の申請
製造業者は，IEC QC 001002-3の4.2.4（能力認証の申請）の要求事項及び関連する品種別通則の要求事
項に従う。
H.6.4 能力の記述
IEC QC 001002-3の4.2.5（能力の記述）及び関連する品種別通則の要求事項に基づき，能力マニュアル
の中に能力を規定する。
能力マニュアルには，少なくとも次の事項を含めるか又は引用する。
− 関連する技術の一般的な紹介及び説明
− 適切な場合には，設計基準の規定を含む顧客との連絡対応及び顧客が要求事項を作成する場合の協力
についての側面
− 用いる設計基準の詳細な記述
− 個別規格に従い製造している関連の可変抵抗器技術に関して，設計基準を遵守していることを確認す
る手順
− 関連する購入仕様書及び受入検査規格で引用する全ての使用材料のリスト
− 品質管理ポイント及び許可された手直し経路を示し，全ての工程及び品質管理手順への引用を含む，
全体が分かる工程フローチャート
可変抵抗器の範囲
工程管理パラメータ（PCP）の選定
（H.6.10.2）
能力認証用可変抵抗器（CQC）
の選定（H.6.5.1）
管理計画の準備
（H.6.10.3）
能力認証用部品（CQC）用
個別規格の準備
（H.6.5.1）
工程管理の開始
能力認証用部品（CQC）用
試験計画の準備
（H.6.6）
初期の能力認証
（H.6.10）
工程管理
ロットごとの検査
能力範囲の検証
（H.6.10.4）
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 認証が関連する品種別通則の要求事項で規定する工程の宣言
− 認証が関連する品種別通則の要求事項で規定する範囲の宣言
− 宣言した能力範囲を特定の能力認証用可変抵抗器（CQC）の設計によって実証することを示す詳細な
表によって補足する。各々に一般的な説明を付けた能力評価に用いる能力認証用可変抵抗器（CQC）
のリスト
− 各能力認証用可変抵抗器（CQC）に対する個別規格
− 各工程管理パラメータ（PCP）の一般的な説明を付けた工程管理に用いる工程管理パラメータ（PCP）
を含み，その工程管理パラメータ（PCP）と完成品の関連特性及び性能との関係を示す詳細な管理計
画書
− 品質確認検査の抜取計画で構造的な類似性の適用に関するガイダンス
国内監督検査機関（NSI）は，機密文書として能力マニュアルを取扱う。製造業者が望む場合には，製
造業者は，第三者機関にその一部又は全てを公表してもよい。
H.6.5 能力の実証及び検証
製造業者は，IEC QC 001002-3の4.2.6（能力の実証及び検証）及び次の詳細事項を規定する関連の品種
別通則の要求事項に従ってその能力を実証し，証明する。
H.6.5.1 能力を実証する能力認証用可変抵抗器（CQC）
製造業者は，能力マニュアルに規定する能力範囲を実証するために必要な工程管理パラメータ（PCP）
及び能力認証用可変抵抗器（CQC）の範囲の決定について国内監督検査機関（NSI）に同意する。
能力マニュアルに従って設計，製造及び工程パラメータを管理した能力認証用可変抵抗器（CQC）の承
認範囲を試験することで実証を行う。能力認証用可変抵抗器（CQC）は，次の要求事項に従う。
a) 用いる能力認証用可変抵抗器（CQC）の範囲は，宣言した能力の全ての限界を代表する。能力認証用
可変抵抗器（CQC）は，相互に達成できる限界の組合せを実証するよう選定する。
b) 能力認証用可変抵抗器（CQC）は，次の一つとする。
− 能力の範囲の組合せを実証するために特別に設計した可変抵抗器
− 一般的な生産に用いる設計の可変抵抗器
− a)の要求事項を満足することを条件に，これらの両方の組合せ
能力認証用可変抵抗器（CQC）を能力認証だけを目的に設計及び製造する場合には，製造業者は，出荷
品に適用するように同じ設計規則，材料及び製造工程を用いる。
個別規格は，各能力認証用可変抵抗器（CQC）に対して作成し，表紙は，図H.2に示す形式をとる。
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IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合のPCP/CQC仕様書の最初のページのレイアウト
製造業者名（Manufacturerʼs name）
住所（Location）
能力認証番号
PCP/CQC規格番号
（Capability approval number）
（PCP/CQC specification number）
版（Issue）
能力マニュアル引用番号
日付（Date）
（Capability manual reference number）
工程管理パラメータ（PCP）／能力認証用可変抵抗器（CQC）の記述
（Description of PCP/CQC）
工程管理パラメータ（PCP）／能力認証用可変抵抗器（CQC）の目的
（Purpose of PCP/CQC）
引用仕様書（Drawing reference）
部品の証明（Part identity）
注記 対応国際規格では，Annex Cを引用しているが，この規格の附属書Cは別の規定で該当がな
く誤りである。そのため，この附属書Hの意図する内容を類似規格（JIS C 5101-1及びJIS C
5201-1）から引用して記載した。
図H.2−IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の
PCP/CQC仕様書の最初のページのレイアウト
個別規格は，能力認証用可変抵抗器（CQC）の目的を明確にし，全ての関連したストレス水準及び試験
範囲を含める。個別規格には，工程の管理及び維持並びに能力の範囲を実証するために，工程検査及び記
録を規定する内部管理文書を引用してもよい。
H.6.5.2 能力の範囲
能力の範囲は，関連する品種別通則に規定する。
H.6.6 能力認証のプログラム
IEC QC 001002-3の4.2.6（能力の検証及び実証）に従って，製造業者は，宣言した能力の評価のための
プログラムを作成する。このプログラムは，宣言した各能力の範囲が適切な能力認証用可変抵抗器（CQC）
によって検証されるように設計する。
そのプログラムには，次の事項を含める。
− 認証試験に対して計画された日程表を示すバーチャート又はその他の手法
− 適用する個別規格に引用する全ての能力認証用可変抵抗器（CQC）の詳細
− 各能力認証用可変抵抗器（CQC）によって実証する特性を示すチャート
− 工程管理に対して用いる管理計画の引用
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H.6.7 能力認証試験報告書
IEC QC 001002-3の4.2.6.3に従って，能力認証試験報告書を発行する。この報告書には，日付を付けて
次のa)〜c)に規定する情報を含める。
a) 共通事項
− 製造業者名及び住所
− 上記と異なる場合の製造場所
− 品目別通則及び品種別通則の規格番号，発行日並びに追補の番号及び発行日
− 能力の記述の版番号及び日付
− 工程管理パラメータ（PCP）／能力認証用可変抵抗器（CQC）仕様書の引用
− 適用する場合の能力認証のための試験計画の引用
− 適切な測定の不確定さ及び一緒に用いる試験装置のリスト
b) ［各能力認証用可変抵抗器（CQC）用］試験情報の概要
− 試験
− 試験する試料数
− 許容不適合数
− 検出された不適合数
c) 測定の記録 測定結果の記録は，試験後の要求性能又は最終測定を規定する様々な機械的，環境的及
び耐久性試験の前後に行う。
注記 対応国際規格では，Annex Dを引用しているが，この規格の附属書Dは別の規定で該当がな
く誤りである。そのため，この附属書Hの意図する内容を類似規格（JIS C 5101-1及びJIS C
5201-1）から引用して記載した。
また，この試験報告書には，次の事項も含める。
− 能力マニュアルの発行番号及び発行日
− H.6.6による能力認証用プログラム
− プログラムの実施中に得た全ての試験結果
− 用いた試験方法
− 不適合が発生した場合に実施した是正内容の報告書（H.6.10.1参照）
報告書は，得られた結果の正式文書として管理責任者（DMR）が署名し，能力認証の認可に責任があり，
国内規則で指定した機関［国内監督検査機関（NSI）］に提出する。
H.6.8 能力の概要
能力の概要は，能力認証が認可された後に，品質認証電子部品一覧表（QPL）の中で公表することを意
図する。
注記 対応国際規格では，IEC QC 001005を記載しているが廃止されている。IEC QC 001005に記載
の品質認証電子部品一覧表（QPL）は，IECオンラインサービス（http://certificates.iecq.org/）
で参照できる。
それには，製造業者の能力の簡潔な説明を含めて，認定した製造業者の技術，製造方法及び製品の範囲
の十分な情報を含む。
H.6.9 能力認証に影響を及ぼす変更
能力認証に影響を及ぼすいかなる変更も，IEC QC 001002-3の4.2.11（能力認証に影響を及ぼす変更）
の要求事項を満足する。
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H.6.10 初期能力認証
この認証は，次の場合に許可する。
− 能力認証用可変抵抗器（CQC）の選定範囲は，不適合がなく，能力認証用可変抵抗器（CQC）の個別
規格の評価要求事項を全体的に満足している。
− 管理計画を，工程管理体系の中で十分に実施している。
H.6.10.1 不適合になった場合の手順
不適合になった場合の手順は，IEC QC 001002-3の4.2.10（能力認証の維持でCQCの不具合が発生した
場合の手続き）によるほか，次による。
可変抵抗器が，検査要求事項に不適合となった場合には，製造業者は，国内監督検査機関（NSI）に通
知し，次のa)及びb)に規定する処置の一つに従うことを表明する。
a) 製造業者が提案した能力の適用範囲を変更する。
b) 不適合の原因が，次のいずれであるかを確定するために，不適合品の調査を行う。
− 試験そのものの失敗（例えば，試験装置の故障，検査員の誤操作）
− 設計又は工程の不具合
不適合の原因が，試験そのものの失敗として確定した場合には，見かけ上の不適合品又は適切な場合に
は，新しい可変抵抗器のいずれかを，必要な是正処置を行った後に試験プログラムに戻す。新しい可変抵
抗器を用いる場合には，見かけ上不適合となった可変抵抗器と同様に，試験プログラムの一連の全ての試
験を実施する。
不適合の原因が，設計又は工程の不具合として確定した場合には，試験プログラムは，不適合の原因を
根絶して，文書化を含めて全ての是正処置が実施されたことを実証する。これが成し遂げられた場合には，
不適合が発生した一連の試験は，新しい能力認証用可変抵抗器（CQC）を用いて全てやり直す。
是正処置が完了した後，製造業者は，能力認証の試験報告書（H.6.7参照）の中に是正内容の報告書の
写しを含めて国内監督検査機関（NSI）に送付する。
H.6.10.2 工程管理パラメータ（PCP）及び能力認証用可変抵抗器（CQC）の選定の一般的計画
各製造業者は，関連する品種別通則の例に基づいて，工程フローチャートを作成する。製造業者は，フ
ローチャートに含む全ての工程段階に対応する工程管理項目を入れる。
管理項目は，関連する品種別通則で例示するように，製造業者が指定する。
H.6.10.3 工程管理試験計画
試験計画は，製造業者が用いる工程管理体系の一部を構成する。統計的工程管理（SPC）を用いる場合
には，統計的工程管理（SPC）の基本的な要求事項によって実施する。統計的工程管理（SPC）計画は，
工程の重要管理項目での必須管理とする。
生産設備を用いる各工程段階では，製造業者は，定期的に工程パラメータを監視し，製造業者が設定す
る管理範囲と対策範囲とを比較する。
H.6.10.4 能力の範囲を実証するための能力認証用可変抵抗器（CQC）の試験計画
能力範囲を実証するための能力認証用可変抵抗器（CQC）の試験計画は，関連する品種別通則に規定す
る。
H.6.11 能力認証の許可
能力認証は，IEC QC 001002-3の4.2.6（能力の実証及び検証）による手順を十分に満足し，関連する品
種別通則の要求事項を満足した場合には許可する。
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H.6.12 能力認証の維持
能力認証は，IEC QC 001002-3の4.2.9（能力認証の維持）の要求事項を満足し，関連する品種別通則の
中に規定する維持予定表に従う能力マニュアルで宣言した要求事項を満足することによって維持する。
さらに，能力認証には，次の詳細を適用する。
a) 能力認証は，2年間再試験なしで有効とする。
b) 能力認証用可変抵抗器（CQC）の再試験プログラムは，製造業者によって決定する。工程管理に対し
て，製造業者は，管理体系を確立する。管理プログラムの例は，品種別通則の中の規定に従ってもよ
い。能力の範囲を立証するために，製造業者は，製造業者の能力認証に関するH.6.10.4の全ての試験
計画を少なくとも2年に1度は確実に行う。
c) 出荷のための可変抵抗器の品質確認検査は，関連する能力認証の維持を立証するために用いてもよい。
特に，製造業者が，同じ工程で製造し，かつ，能力認証を保持する能力範囲内にある可変抵抗器の範
囲の品質認証を維持する場合には，工程管理の検査結果及び品質認証から発生する定期的な品質確認
結果を，能力認証の維持を立証するために用いてもよい。
d) 製造業者は，能力認証用可変抵抗器（CQC）の範囲が，出荷品の代表のままであること，更に，関連
の品種別通則の要求事項と一致していることを確実にする。
e) 製造業者は，次のように製造を維持する。
− H.6.9の手順に従って，国内監督検査機関（NSI）が承認したいかなる追加又は削除を除き，能力マ
ニュアルで規定した工程は，変更しない。
− 製造場所及び最終検査を行う場所は，変更しない。
− 製造業者は，6か月を超えて能力認証での生産を中断しない。
f)
製造業者は，常に立証された能力範囲及び規定期間での証明をもつ能力範囲が，証明できるように能
力プログラムの維持の経過を記録する。
H.6.13 能力認証の拡張
製造業者は，拡張できる範囲の種類に関するH.6.10.4の試験計画を実施することによって，製造業者の
能力認証の範囲を拡張してもよい。拡張案が，H.6.10.4に規定する能力範囲から異なる種類の範囲まで引
用する場合には，製造業者は，用いるサンプリング及び試験を提案し，国内監督検査機関（NSI）の承認
を得る。製造業者は，新しい能力範囲のために必要な全ての工程管理を確立する。
能力認証の拡張は，最初の認証と同じ方法で行う。
H.6.14 品質確認検査
品質確認検査の要求事項は，個別規格に規定し，IEC QC 001002-3の4.3.1（品質確認検査）に従って行
う。
H.7 手直し及び修理
H.7.1 手直し
関連する品種別通則によって禁止する場合は，IEC QC 001002-3の4.1.4（手直し）に規定する手直しは
行わない。特定の部品について，手直しの回数を制限する場合には，そのことを関連する品種別通則に規
定する。
全ての手直しは，個別規格の要求によって検査する検査ロットを構成する前に実施する。
手直しの手順は，製造業者が作成する関連文書の中に全て規定する。また，管理責任者（DMR）の直接
管理の下に実施する。手直しは，下請負契約をしない。
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H.7.2 修理
IEC QC 001002-3の4.1.5（修理）に規定する修理をした可変抵抗器は，IECQ制度の下では出荷しない。
H.8 出荷
個別規格に規定する品質確認検査を実施した後，可変抵抗器は，H.5.6及びIEC QC 001002-3の4.3.2（出
荷及び出荷の妥当性）に従って出荷する。
注記 対応国際規格では，H.2.6と記載しているが明らかにH.5.6の誤りであるため修正した。
H.8.1 品質認証中での群B検査完了前の出荷
全ての群B検査について，IEC 60410のゆるい検査への移行の条件を満足する場合には，製造業者は，
群B検査の完了前に可変抵抗器を出荷できる。
注記 IECQ制度を適用しない場合は，IEC 60410に替えてJIS Z 9015-1を用いてもよい。
H.9 出荷ロット成績証明書
購入者から，出荷ロット成績証明書の要求がある場合には，出荷ロット成績証明書の内容を，個別規格
に規定する。
注記 能力認証では，出荷ロット成績証明書は，能力認証用可変抵抗器（CQC）で行う試験だけを引
用する。
H.10 長期保管後の出荷
ロットの出荷後，2年（品種別通則に規定がない場合）を超えて長期保管した可変抵抗器は，出荷前に
個別規格に規定するはんだ付け性及び電気的特性について再検査する。
製造業者の管理責任者（DMR）が採用する再検査手順は，国内監督検査機関（NSI）が承認したものと
する。
ロットの再検査結果が満足するものである場合には，その品質は，規定する期間再保証する。
H.11 代替試験方法
代替試験方法は，IEC QC 001002-3の3.2.3.7（代替試験方法）によるほか，次による。
判定及び基準に対して疑義がある場合には，規定する方法だけを用いる。
H.12 IECQの国内監督検査機関（NSI）の対象地域外での製造
IEC QC 001002-3の2.5.1.3の要求事項を満足する場合には，関連する技術的な領域に対して，国内監督
検査機関（NSI）がない国に所在する製造業者の工場は，この国がIECQメンバー国であるかどうかにか
かわらず，製造業者は，可変抵抗器の一部又は全ての製造範囲に，その認証を拡張してもよい。
H.13 規定していないパラメータ
個別規格に規定があって，試験の対象になった可変抵抗器のパラメータだけが規定の範囲内であるとみ
なす。規定していないいかなるパラメータも，ある可変抵抗器から別の可変抵抗器まで不変のままとはみ
なさない。いかなる理由があっても，一つ以上の追加パラメータを管理する必要がある場合には，新たに，
更に広範囲にわたる規格を用いる。
追加の試験方法は，十分な規定内容，適切な規定値，抜取検査方式及び検査水準を規定する。
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H.14 技術認証手順
H.14.1 一般事項
可変抵抗器の技術認証は，全ての技術プロセスを対象とする。既存の品質認証及び能力認証の概念に次
の原則を付加し，技術認証の必須要件として拡張する。
a) 工程管理手法の使用，例えば，統計的管理手法（SPC）
b) 継続的な品質改善の戦略
c) 総合的な技術及び作業の監視
d) 品質管理システム及び市場要求に適合する実施面での柔軟性
e) 迅速な認証又は認証の拡張を可能にするための製造業者の作業文書の承認。
H.14.2 技術認証を取る資格
製造業者は，IEC QC 001002-3の6.2.1（技術認証を得る資格）に従う。
H.14.3 技術認証の申請
製造業者は，IEC QC 001002-3の6.2.2（技術認証の申請）に従う。
H.14.4 技術認証の記述
技術は，IEC QC 001002-3の6.4に従って，技術認証申請書（TADD）及び技術認証スケジュール（TAS）
に記述する。
H.14.5 技術の実証及び証明
製造業者は，IEC QC 001002-3の6.4（技術認証の要求事項）及び6.5（検証）に従って，技術の実証及
び証明をする。
H.14.6 技術認証の許可
技術認証は，IEC QC 001002-3の6.7.3（内部監査）による手順を完全に満足する場合には認可する。
H.14.7 技術認証の維持
技術認証は，IEC QC 001002-3の6.7.5（技術認証の妥当性確認）の要求事項を満足することによって維
持する。
H.14.8 品質確認検査
品質確認検査の試験項目及び要求事項は，関連する個別規格及び技術認証スケジュールに従って行う。
H.14.9 故障率水準の決定及び認可
故障率水準の決定及び認可は，下位規格に規定する。
H.14.10 出荷品質水準
出荷品質水準の要求事項は，受渡当事者間の協定による。
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附属書JA
（参考）
形名及び表示
JA.1
一般事項
この附属書は，2.4.1及び2.4.2の注記に記載する電子機器用可変抵抗器の表示及び形名の記号化につい
て説明するもので，対応国際規格にはない事項である。
JA.2
形名の構成
形名の構成は，次の配列とし，品種別通則及び個別規格で規定する。
例 RV
24
Y
N
20S
0B
102
K
EZ
K
SE
注記 一軸多連及び二軸多連形の場合，抵抗変化特性及び公称全抵抗値の表し方は，次による。
例1 一軸二連形の場合
a) 0B103×2 抵抗変化特性が0Bで，公称全抵抗値が10 kΩの可変抵抗器を2個連結
したもの。
b) 0B102×15A103 操作軸側の抵抗変化特性が0Bで，公称全抵抗値が1 kΩの可変抵
抗器と，操作軸と反対側の抵抗変化特性が15Aで，公称全抵抗値が10 kΩの可変抵
抗器とを連結したもの。
例2 二軸二連形の場合
a) 0B102＋0B102 抵抗変化特性が0Bで，公称全抵抗値が1 kΩの可変抵抗器を2個連
結したもの。
b) 0B103＋15A103 操作軸側の抵抗変化特性が0Bで，公称全抵抗値が10 kΩの可変抵
抗器と，操作軸と反対側の抵抗変化特性が15Aで，公称全抵抗値が10 kΩの可変抵
抗器とを連結したもの。
JA.2.1
可変抵抗器の種類
可変抵抗器を表す記号は，2英大文字で表す。第1文字は，可変抵抗器を示す英大文字Rとする。第2
文字は，I，O及びZを除く英大文字とし，主に抵抗素子によって区分する。代表的な組合せを，表JA.1
に示す。必要がある場合，品種別通則又は個別規格で1文字を追加してもよい。
表JA.1−可変抵抗器の種類を表す記号
記号
主な抵抗素子
記号
主な抵抗素子
記号
主な抵抗素子
RA
抵抗線（低電力形）
RM
金属皮膜（薄膜）
RR
抵抗線（精密級）
RG
金属系混合体（厚膜）
RP
抵抗線（電力形）
RT
抵抗線（半固定）
RJ
非金属（半固定）
RQ
非巻線（精密級）
RV
炭素系混合体
可変抵
抗器の
種類を
表す記
号
JA.2.1
大きさ
を表す
記号
JA.2.2
特性を
表す記
号
JA.2.3
形状を
表す記
号
JA.2.4
操作軸
を表す
記号
JA.2.5
抵抗変
化特性
を表す
記号
JA.2.6
公称全
抗抵値
を表す
記号
JA.2.7
公称全
抵抗の
許容差
を表す
記号
JA.2.8
評価水
準を表
す記号
JA.2.9
安定性
クラス
を表す
記号
JA.2.10
その他，
必要な
事項を
表す記
号
JA.2.11
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JA.2.2
大きさ
大きさを表す記号は，1〜3数字で表し，表JA.2による。
なお，大きさは，回転形及び半固定形ではその外形を表し，スライド形は全機械的操作距離を表す。
その他の操作方法の可変抵抗器は，個別規格の規定による。
表JA.2−大きさを表す記号
単位 mm
記号
大きさ
記号
大きさ
記号
大きさ
記号
大きさ
2
2.5
12
12.5
28
28
100
100
3
3.2
14
14.5
30
31.5
125
125
4
4.0
16
16
35
35
160
160
5
5.0
20
20
40
40
200
200
6
6.3
22
22
50
50
250
250
8
8.0
24
24
60
60
−
−
10
10
25
25
80
80
−
−
JA.2.3
特性
特性を表す記号は，I及びOを除く1〜2英大文字で表し，個別規格の規定による。
JA.2.4
形状
形状を表す記号は，1英大文字で表し，表JA.3による。ただし，必要がある場合，記号の後に個別規格
の規定によって1数字又は1英大文字を加えて，2英大文字又は1英大文字と1数字とで表してもよい。
表JA.3−形状を表す記号
半固定可変抵抗器
回転形可変抵抗器
記号
構造区分・取付方法
記号
構造区分・取付方法
A
表面実装用半固定，上面調整，金属内曲げ端子
D
同心二軸，中心ねじ取付け，ラグ端子
B
表面実装用半固定，上面調整，金属外曲げ端子
G
一軸二連，中心ねじ取付け，ラグ端子
C
表面実装用半固定，側面調整，金属内曲げ端子
L
単動，中心ねじ取付け，ラグ端子操作軸固定機構
付き
D
表面実装用半固定，側面調整，金属外曲げ端子
E
表面実装用半固定，下面調整，金属外曲げ端子
N
単動，中心ねじ取付け，ラグ端子
F
表面実装用半固定，上面調整，電極端子
P
単動，中心ねじ取付け，プリント配線板用端子
G
表面実装用半固定，側面調整，電極端子
S
単動，中心ねじ取付け，ラグ端子，防水形
P
回転形，上面調整，プリント配線板用端子
−
−
ねじ駆動形，側面調整，プリント配線板用端子
−
−
X
回転形，側面調整，プリント配線板用端子
−
−
ねじ駆動形，側面調整，プリント配線板用端子
−
−
注記 ねじ駆動形半固定可変抵抗器の形状を表す記号P及びXは，それぞれの形状（正方形，長方形）によって区
分し，個別規格に規定する。
JA.2.5
操作軸
操作軸を表す記号は，長さを表す記号と，続く操作軸先端の形状を表す記号とを組み合わせて表す。
形状の記号は，表JA.4による。
なお，二軸多連形の場合の操作軸の長さは，取付面から内側操作軸の先端までの長さとする。
90
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JA.4−操作軸の形状を表す記号
記号
形状
操作手段
R
丸形
単回転操作軸及び多回転操作軸並びに
押し引き操作軸
S
溝形
F
平形
K
セレーション
形（18山）
H
割り形
単回転操作軸及び多回転操作軸並びに
押し引き操作軸
T
内ねじ形
U
外ねじ形
A
A形
スライド形の操作軸
B
B形
C
C形
D
D形
X
X形
スライド形の絶縁操作軸
Y
Y形
Z
Z形
注記 この表の形状を用いる場合，操作手段に関係なくこの記号を適用することが望ましい。
JA.2.6
抵抗変化特性
抵抗変化特性を表す記号は，1〜2数字と1〜2英大文字とを組み合わせて表す。表JA.5〜表JA.8は，主
に炭素系混合体を抵抗素子とする可変抵抗器に適用する。
なお，その他の抵抗素子を用いた可変抵抗器については，個別規格の規定による。
91
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JA.5−A群（対数形）抵抗変化特性を表す記号
単位 %
記号
減衰百分率
回転スイッチの
有無
抵抗変化曲線
操作軸の位置（有効電気的回転角度に対する百分率）
40
50
60
02A
−
0.5〜5
−
あり
図JA.1 a)参照
05A
−
2〜10
−
10A
−
6〜15
−
15A
−
10〜25
−
25A
−
18〜34
−
15AL
公称タップ抵抗
値の±30 %
−
−
なし
図JA.1 b)参照
10AM
−
公称タップ抵抗
値の±30 %
−
あり
図JA.1 c)参照
15AM
15AN
−
−
公称タップ抵抗
値の±30 %
なし
図JA.1 d)参照
a) 中間タップなし
b) 40 %タップ付き
c) 50 %タップ付き
d) 60 %タップ付き
図JA.1−A群（対数形）の抵抗変化曲線
92
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JA.6−B群（直線形）抵抗変化特性を表す記号
単位 %
記号
減衰百分率
回転スイッチ
の有無
抵抗変化曲線
操作軸の位置（有効電気的回転角度に対する百分率）
10 a)
20 a)
30
50
70
80 a)
90 a)
0B
−
−
−
40〜60
−
−
−
あり
図JA.2 a)参照
1B
0.2〜4
−
−
−
−
96〜99.8
なし
2B
−
2〜10
−
−
90〜98
−
あり
3B
−
1〜7
−
−
93〜99
−
4B
−
−
5〜15
85〜95
−
−
なし
5B
−
−
1〜7
93〜99
−
−
0BM
−
−
−
公称タ
ップ抵
抗値の
±30 %
−
−
−
あり
図JA.2 b)参照
1BM
2BM
3BM
注a) 10 %，20 %，80 %及び90 %の位置に対する値は，設計目標値とする。
a) 中間タップなし
b) 50 %タップ付き
図JA.2−B群（直線形）の抵抗変化曲線
表JA.7−C群（逆対数形）抵抗変化特性を表す記号
単位 %
記号
減衰百分率
回転スイッチ
の有無
抵抗変化曲線
操作軸の位置（有効電気的回転角度に対する百分率）
40
50
60
10C
−
6〜15
−
なし
図JA.3 a)参照
15C
10〜25
25C
18〜34
15CM
−
公称タップ抵抗値の±30 %
−
−
図JA.3 b)参照
93
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 中間タップなし
b) 50 %タップ付き
図JA.3−C群（逆対数形）の抵抗変化曲線
表JA.8−H群抵抗変化特性を表す記号
単位 %
記号
測定する
端子間
減衰百分率
回転スイッチ
の有無
抵抗変化曲線
操作軸の位置a)
（有効電気的回転角度に対する百分率）
25
50
75
1H
a−b
40〜60
100
100
なし
図JA.4参照
2H
b−c
100
100
40〜60
注a) 反時計方向に回しきった位置を0 %とする。
図JA.4−H群（バランス調整形）の抵抗変化曲線
注記 通常，抵抗変化特性1Hと2Hとは，一軸で連動させて一組として用いる。
JA.2.7
公称全抵抗値
公称全抵抗値を表す記号は，3数字で表す。第1及び第2数字は，オーム（Ω）を単位とし，第3数字は，
有効数字に続くゼロの数を表す。
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C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
なお，小数点がある場合，小数点を英大文字Rで表し，この場合の数字は全て有効数字とする。
例 1R0 ···· 1.0 Ω
100 ···· 10 Ω
102 ·····1 kΩ
2R0 ···· 2.0 Ω
101 ·· 100 Ω
104 ··100 kΩ
JA.2.8
公称全抵抗値許容差
公称全抵抗値の許容差を表す記号は，1英大文字で表し，表JA.9による。
表JA.9−公称全抵抗値の許容差を表す記号
記号
D
F
G
H
J
K
M
N
許容差 %
±0.5
±1
±2
±3
±5
±10
±20
±30
JA.2.9
評価水準
評価水準を表す記号は，1又は2英大文字で表し，品種別通則で規定する。
JA.2.10 安定性クラス
安定性を表す記号は，1英大文字で表し，長期試験の抵抗値変化の許容変化量によって区分し，表JA.10
の記号による。また，安定性クラスを表す記号は，下位規格に規定がある場合に適用する。
表JA.10−安定性クラスを表す記号
記号
クラス
%
短期試験の抵抗値変化量
長期試験後の抵抗値変化量
温度変化試験
その他の試験
F
1.0
±(0.05 %＋0.005 Ω)
±(0.25 %＋0.01 Ω)
±(1 %＋0.1 Ω)
G
2.0
±(1 %＋0.05 Ω)
±(0.5 %＋0.05 Ω)
±(2 %＋0.1 Ω)
±(1 %＋0.1 Ω)
±(2 %＋0.1 Ω)
±(1 %＋0.05 Ω)
H
±(1 %＋0.05 Ω)
±(1 %＋0.05 Ω)
±(3 %＋0.1 Ω)
±(2 %＋0.1 Ω)
J
±(2 %＋0.1 Ω)
±(1 %＋0.05 Ω)
±(5 %＋0.1 Ω)
±(1 %＋0.1 Ω)
±(2 %＋0.1 Ω)
±(3 %＋0.1 Ω)
K
±(3 %＋0.1 Ω)
±(2 %＋0.1 Ω)
±(10 %＋0.5 Ω)
±(5 %＋0.1 Ω)
±(5 %＋0.1 Ω)
L
±(5 %＋0.1 Ω)
±(3 %＋0.1 Ω)
±(15 %＋0.5 Ω)
M
±(5 %＋0.1 Ω)
±(5 %＋0.1 Ω)
±(20 %＋0.5 Ω)
N
±(5 %＋0.1 Ω)
±(5 %＋0.1 Ω)
±(30 %＋0.5 Ω)
JA.2.11 その他必要な事項
その他必要な事項を表す記号は，JA.2.1〜JA.2.10では表せない性能，構造，材質など，その他必要な事
項を表す場合に適用し，品種別通則又は個別規格に規定する。ただし，誤認を避けるため，安定性クラス
の記号を用いない。
JA.3
表示
JA.3.1
製品に対する表示
可変抵抗器の本体には，容易に消えない方法で明瞭に次の事項を表示する。ただし，l)又はm)のいずれ
かを省略してもよい。
a) 可変抵抗器の種類
95
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 大きさ
c) 特性
d) 形状
e) 操作軸
f)
抵抗変化特性
g) 公称全抵抗値
h) 公称全抵抗値の許容差
i)
評価水準
j)
安定性クラス
k) その他必要な事項を表す記号
l)
製造年月，製造年週又はそれらの略号
m) 製造ロット番号
n) 製造業者名，商標又はそれらの略号
JA.3.2
表示の方法
表示は，文字又は色による。
a) 表示の記号化は，JA.2及びJIS C 5062の規定による。
b) 色による表示が必要な場合は，JIS C 5062による。
c) 1文字で表す製造年月の表示は，表JA.11による。
表JA.11−1文字による製造年月表示
年
月
略号
年
月
略号
年
月
略号
年
月
略号
2000
2004
2008
2012
2016
2020
2024
2028
2032
1
A
2001
2005
2009
2013
2017
2021
2025
2029
2033
1
N
2002
2006
2010
2014
2018
2022
2026
2030
2034
1
a
2003
2007
2011
2015
2019
2023
2027
2031
2035
1
n
2
B
2
P
2
b
2
p
3
C
3
Q
3
c
3
q
4
D
4
R
4
d
4
r
5
E
5
S
5
e
5
s
6
F
6
T
6
f
6
t
7
G
7
U
7
g
7
u
8
H
8
V
8
h
8
v
9
J
9
W
9
J
9
w
10
K
10
X
10
k
10
x
11
L
11
Y
11
l
11
y
12
M
12
Z
12
m
12
z
注記 48か月（4年）を1サイクルとして繰り返す。
96
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JB
（参考）
用語及び定義の索引
JB.1 一般事項
2.2に規定する“用語及び定義”の項目が多く探しにくいため，この規格の利用者の利便性，対応国際規
格の今後の改正などを考慮して用語はアルファベット順にした（表JB.1参照）。
表JB.1−用語の索引
記号
細分箇条
番号
英語
日本語
A
2.2.48.10
absolute conformity
絶対一致性
2.2.48.14
absolute linearity
絶対直線性
2.2.46
attenuation
減衰量
B
2.2.48.28
backlash
バックラッシュ
C
2.2.13
category dissipation
カテゴリ電力
2.2.7
category temperature range
カテゴリ温度範囲，使用温度範囲
2.2.36.1
common potentiometer laws and classification
可変抵抗器の抵抗変化特性及び分類
2.2.48.9
conformity
一致性
2.2.48.22
contact resistance variation (CRV)
接触抵抗変化
2.2.48.8
continuity
連続性
2.2.10
critical resistance
臨界抵抗値
2.2.32.1
current tap
電流タップ
2.2.37
cycle of operation
操作サイクル
D
2.2.29
designation of terminals
端子の記号
2.2.28
direction of rotation
回転方向
2.2.48.29
dither
ディザ
2.2.24
dual concentric potentiometer
同心二重軸形可変抵抗器
E
2.2.48.3
effective electrical travel (or anngle of rotation)
有効電気的操作範囲（有効電気的回転角度）
2.2.48.6
effective resistance
有効抵抗値
2.2.48.18
effective tap width
有効タップ幅
2.2.48.23
equivalent noise resistance (ENR)
等価雑音抵抗
F
2.2.5
family (of electronic components)
ファミリ（可変抵抗器における）
2.2.27
fully sealed potentiometer
完全気密形可変抵抗器
G
2.2.23
ganged potentiometer
連動形可変抵抗器
2.2.3
grade
等級
I
2.2.48.12
independent linearity (best straight line)
単独直線性（最良直線性）
2.2.48.16
index point A
指標点A
2.2.48.4
ineffective mechanical travel (or angle of rotation)
無効機械的操作範囲（無効機械的回転角度）
2.2.16
insulation voltage
絶縁電圧
L
2.2.22
lead-screw actuated potentiometer
ねじ駆動形可変抵抗器
2.2.15
limiting element voltage
素子最高電圧，最高使用電圧
2.2.17
limiting moving contact current
しゅう動接点許容電流
2.2.48.11
linearity
直線性
2.2.47
loading error
負荷誤差
2.2.41
loard resistance
負荷抵抗，RL
2.2.9
lower category temperature
カテゴリ下限温度，最低使用温度
97
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.1−用語の索引（続き）
記号
細分箇条
番号
英語
日本語
M
2.2.48.30
microlinearity
微小範囲直線性
2.2.45
minimum output ration
最小出力電圧比
2.2.48.7
minimum effective resistance
最小有効抵抗値
2.2.31
moving contact (or wiper)
しゅう動接点
N
2.2.11
nominal total resistance
公称全抵抗値
2.2.35
number of turns (of an actuating device)
回転数（駆動機構の場合）
O
2.2.36.2
other potentiometer law
その他の抵抗変化特性
2.2.44
output ratio
出力電圧比
2.2.48.24
output smoothness
出力平滑性
2.2.43
output voltage
出力電圧
P
2.2.48.19
phasing
位相調整
2.2.48.20
phasing point
位相調整点
2.2.20
potentiometer
可変抵抗器
2.2.50
power potentiometer
電力形可変抵抗器
2.2.51
precision potentiometer
精密級可変抵抗器
2.2.21
pre-set, trimmer or trimming potentiometer
半固定又は微調整形可変抵抗器
R
2.2.12
rated dissipation
定格電力
2.2.14
rated voltage
定格電圧
2.2.40
residual resistance
終端残留抵抗値
2.2.36
resistance law
抵抗変化特性
2.2.48
resistance/travel (or angle of rotation) relationships
抵抗値と操作範囲（又は回転数）との関係
2.2.49
rotary potentiometer (single-turn or multi-turn)
回転形可変抵抗器（単回転又は多回転）
2.2.48.21
rotational noise
しゅう動雑音
S
2.2.48.25
setting ability or adjustability (including resolution)
設定能力又は調整能力（分解能を含む）
2.2.48.31
setting stabiliry
設定安定性
2.2.26
shaft-sealed and panel-sealed potentiometer
操作軸及びパネル気密形可変抵抗器
2.2.25
shaft-sealed potentiometer
操作軸気密形可変抵抗器
2.2.38
shorted-segment
短絡領域
2.2.48.27
simultaneous conformity phasing
同時一致性位相調整
2.2.52
slide potentiometer
スライド形可変抵抗器
2.2.2
style
形状
2.2.34
stop-clutch device
クラッチ機構
2.2.6
sub-family (of electronic components)
サブファミリ（可変抵抗器における）
2.2.53
surface mount potentiometer
表面実装用可変抵抗器
T
2.2.32
tap
タップ
2.2.48.17
tap location
タップ位置
2.2.18.1
temperature characteristic of resistance
抵抗温度特性
2.2.18.3
temperature coefficient of output ratio
出力電圧比温度係数
2.2.18.2
temperature coefficient of resistance
抵抗温度係数
2.2.48.15
terminal based linearity
端子間直線性
2.2.39
terminal resistance
端子間抵抗値
2.2.48.26
theoretical resolution
理論分解能
2.2.42
total applied voltage
全印加電圧
2.2.48.2
total electrical travel
全電気的操作範囲
2.2.48.1
total mechanical travel (or rotation)
全機械的操作範囲（全機械的回転角度）
2.2.48.5
total resistance
全抵抗値，Rac
98
C 5260-1：2014 (IEC 60393-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表JB.1−用語の索引（続き）
記号
細分箇条
番号
英語
日本語
T
2.2.33
track
トラック
2.2.1
type
品種
U
2.2.8
upper category temperature
カテゴリ上限温度，最高使用温度
V
2.2.30
variable resistor (two terminals)
2端子形可変抵抗器
2.2.4
variant
特殊品
2.2.18
variation of resistance and voltage output ratio with
temperature
温度による抵抗値及び出力電圧比の変化
2.2.19
visual damage
外観の損傷
2.2.32.2
voltage tap
電圧タップ
Z
2.2.48.13
zero based linearity
ゼロ基点直線性
参考文献 JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
JIS C 5201-1 電子機器用固定抵抗器−第1部：品目別通則
JIS C 5402-2-1:2005 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−
試験2a：接触抵抗−ミリボルトレベル法
注記 対応国際規格：IEC 60512-2-1:2002，Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2a: Contact
resistance−Millivolt level method（IDT）
JIS C 5402-2-2:2005 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-2部：導通及び接触抵抗試験−
試験2b：接触抵抗−規定電流法
注記 対応国際規格：IEC 60512-2-2:2003，Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 2-2: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2b: Contact
resistance−Specified test current method（IDT）