C 5260-5-2 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) ／財団
法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E（予定）
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器（予定）
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E（予定）
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F（予定）
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
C 5260-5-2 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
可変抵抗器の識別 ················································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法（挿入用） ···························································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.3.1 負荷軽減 ···················································································································· 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 3
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.8 追加事項 ······················································································································ 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項 ······································ 4
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項 ··············································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5260-5-2 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第5部：ブランク個別規格：
単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
評価水準 F
Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 :
Blank detail specification : Single-turn rotary low-power
potentiometers Assessment level F
序文 この規格は，1992年に第1版として発行されたIEC 60393-5-2, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 5 : Blank detail specification : Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level Fを
元に，規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の
現状に即して変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
ブランク個別規格 この規格は，品種別通則 (JIS C 5260-5) の補足規格で，個別規格の様式，配列及び最
小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に
基づいていないとみなす。
個別規格を作成する場合には，JIS C 5260-5の1.4（個別規格に規定する事項）の内容を考慮に入れる。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の丸括弧の数字は，指定の位置に記入する次の事項と対
応する。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International Electrotechnical
Commission) の名称。
(2) 個別規格の国内規格番号，発効年及び国内制度で要求される事項，又はIEC規格の番号，版及び発行
年。
(3) 品目別通則の国内規格の名称，番号及び発効年，又はIEC規格の番号，版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号。
可変抵抗器の識別
(5) 可変抵抗器の品種についての要約説明。
2
C 5260-5-2 : 2000
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(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）。例えば，非巻線，単回転形。
備考 可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのことを
明記する。
(7) 互換性のうえで重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準。
備考 個別規格に適用する評価水準は，JIS C 5260-5の3.3.3（評価水準）から選択する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 異なる品種の可変抵抗器について，対比できる重要な特性に関する参照データ。
（例 日本工業標準調査会）
(1)
個別規格の番号
(2)
電子機器用可変抵抗器
第1部：品目別通則
JIS C 5260-1 : 1999
(3)
例 JIS C 5260-5-2
（ブランク個別規格番号）
(4)
単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗
器
(5)
外形図（表I参照）
（第三角法）
（必要がある場合，寸法を個別規格の附属
書に規定してもよい。）
端子の接続
(7)
代表的な構造：
例 非巻線，単回転形
(6)
評価水準：F
安定性クラス：...%
(8)
この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容は，
品質認証電子部品一覧表 (QPL)に示されている。
(9)
参考 この記載は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に
適用する。
表I 定格及び特性
形状
定格電力 (70℃) W
素子最高電圧 V
（直流又は交流の
実効値）
アイソレーション電圧 V
直流又は交流ピーク値
抵抗変化特性
B
抵抗変化特性
A及びC
大気圧下
減圧下
参考 IEC 60393-5では，直線的特性をA，対数的特性をBと規定しているが，日本工業規格の関連規格
及び個別規格では，従前から直線的特性にB，対数的特性にAの記号を使用しており，取引上の
混乱を避けるため従前の記号のままとした。
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-5を品種別通則とするブランク個別規格で，単回転低電力形巻線
及び非巻線可変抵抗器 評価水準F（以下，可変抵抗器という。）について規定する。
3
C 5260-5-2 : 2000
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備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
IEC 60393-5-2 : 1992, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 : Blank detail
specification : Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level F
1.1
推奨する取付方法（挿入用） ［JIS C 5260-5の1.4.2（取付け）を参照］
1.2
寸法（必要がある場合，寸法は，個別規格の附属書に規定してもよい。）
すべての寸法は，ミリメートル，又はインチ及びミリメートルで示す。
1.3
定格及び特性
定格抵抗値範囲*
各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲。
IECQの場合は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) で示す。
定格抵抗値の許容差
±...%
抵抗変化特性
...
抵抗温度特性
(20℃〜70℃) (∆R/R)
≦...%
温度係数
≦...×10-6/℃
耐候性カテゴリ
−/−/−
抵抗値の許容変化（端子aとcとの間）
（電気的耐久性試験1 000 h後）
±(...%R＋...Ω)
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
全機械的操作範囲
≧...゜
有効電気的操作範囲
≧...゜
無効操作範囲（時計方向）
≦...゜
無効操作範囲（反時計方向）
≦...゜
スイッチトルク（適用する場合）
...mN･m〜...mN･m
スイッチ定格（適用する場合）
...A, ...V
しゅう動接点許容電流
...mA
端子間抵抗値
...Ω
終端残留抵抗値（適用する場合）
...Ω
最小有効抵抗値
...Ω
注*
定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063のEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズである。
参考 ∆R/Rは，抵抗値変化の定格抵抗値に対する百分率を示す。
%Rは，定格抵抗値に対する百分率を示す。
1.3.1
負荷軽減 この規格を適用する可変抵抗器は，次の軽減曲線によって負荷を軽減する。
（適切な軽減曲線は，個別規格に規定する。）
備考 JIS C 5260-5の2.2.3（定格電力）を参照。
1.4
引用規格 次の掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品種別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : General specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-5 電子機器用可変抵抗器−第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗
器
4
C 5260-5-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 IEC 60393-5 : 1992, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 : Sectional
specification : Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound potentiometersから
の引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は，
この規格の該当事項と同等である。
1.5
表示 可変抵抗器及び包装への表示は，JIS C 5260-5の1.5（表示）による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は，個別規格による。
1.6
発注情報 この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には，少なくとも次の事項を明確に示す
か，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
c) 個別規格の番号及び発効年並びに形状
d) 形状の情報で分からない場合，操作軸及び取付ねじの寸法
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する，又は要求しない。
1.8
追加事項（検査目的以外のもの） （個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲
線，図面及び備考による情報を含めてもよい。）
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合にだけ規定する。
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証のための手順は，JIS C 5260-5の3.2（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査のための試験計画（表II）には，サンプリング，周期，厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は，JIS C 5260-5の3.3.1（検査ロットの構成）による。
品質確認検査では，承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する（群A，群B及び群C
だけ）。
備考 乾燥が要求される場合には，JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
表II 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の厳しさ及び抵抗値
又は出力電圧比の許容限界は，JIS C 5260-5の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015から選択する。
3. この表で
5
C 5260-5-2 : 2000
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参考 表中の
ac
ab
U
U
⊿
は，全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
表中の∆Rは，抵抗値の変化量を示す。
表中の%Rは，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表II 品質確認検査のための試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
群A検査（ロットごと）
副群A1
ND
S-3
4.0%
4.4.1 外観
4.4.1による。
副群A2
ND
S-3
1.5%
4.4.1 表示
表示が明りょうで，この規格の1.5
による。
4.6 素子抵抗値
4.6.3による。
副群A3
ND
S-3
2.5%
4.15 しゅう動雑音
方法A（非巻線可変抵抗器に適用）
又は
U≦...mV
方法B（巻線可変抵抗器に適用），
∆θ0：...
R≦...%R
群B検査（ロットごと）
副群B1
ND
S-2
2.5%
4.12 耐電圧
（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法はこの規格の1.1及
び備考9.による。）
4.12.5による。
大気圧下
4.32 はんだ付け性
はんだ槽法：
端子は，はんだが良好に付着して
いる。
温度：235℃±5℃
時間：2 s±0.5 s
又は
方法2：はんだこて法：
はんだこて先：B
温度：350℃±10℃
時間：2 s±0.5 s
4.45 表示の耐溶剤性（適用する場
合）
溶剤：...
表示が明りょうである。
溶剤の温度：...
方法1
ラビング材質：脱脂綿
後処理：...
副群B2
ND
S-2
2.5%
4.7 端子間抵抗値（最小抵抗値）
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
R≦...Ω
4.9 抵抗変化特性
［個別規格に，適切な試験条件及
び要求性能をJIS C 5260-5の2.1.5
（抵抗変化特性）から選択して規
定する。］
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C 5260-5-2 : 2000
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判
定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
群C検査（定期的）
副群C1
ND
3
5
1
4.4.2 寸法（ゲージ法）
この規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲
この規格の規定による。
4.30 端子強度
端子の形式に対応した試験を行う。
3
5
1
外観
4.30.8による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
副群C2
ND
3
5
1
4.18 始動トルク
...mN･m〜...mN･m
4.19 スイッチトルク
この規格の規定による。
副群C3
D
6
8
1
4.40 機械的耐久性（可変抵抗器）
（備考4.参照）
操作サイクル数：...
操作速度：...サイクル/min
外観
4.40.6による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
しゅう動雑音
方法A（非巻線可変抵抗器に適用）
U≦...mV
又は
方法B（巻線可変抵抗器に適用），
R≦...%R
∆θ0：...
封止（適用する場合）
− 4.31.3を適用
4.31.3による。
（容器気密形可変抵抗器だけに適
用）
− 4.31.2.1を適用
4.31.2.1による。
備考 各方向への圧力を加
えるためケースに穴
を開けてもよい。
4.41 容量性負荷による電源スイ
ッチの交流耐久性（備考4.
及び備考10.参照）
外観
4.41.5による。
接触抵抗
R≦...mΩ
温度上昇
t≦...℃
絶縁抵抗
R≧...MΩ
耐電圧，電圧：...Vr. m. s.
絶縁破壊又はフラッシュオーバが
ない。
又は
4.42 スイッチの直流耐久性
（附属スイッチがある場合）
（備考4.及び備考10.参照）
外観
スイッチ接触抵抗
スイッチトルク
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は備考9.によ
る。）
4.42.2.1による。
R≦...mΩ
この群の始めに測定した始動トル
クの2倍以上で200 mN･m以下
である。
R≧1 GΩ
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判
定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群C4
D
6
8
1
4.43.2 70℃での電気的耐久
性
試験時間：1 000 h
48 h，500 h及び1 000 hでの検査：
外観
4.43.2.6 a)による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
1 000 hでの検査：
6
8
1
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法はこの
規格の1.1及び備考9.によ
る。）
R≧1 GΩ
しゅう動雑音：
方法A（非巻線可変抵抗器に適
用）
U≦...mV
又は
方法B（巻線可変抵抗器に適
用），∆θ0：...
R≦...%R
群D検査（定期的）
副群D1
D
12
5
1
4.39 高温高湿（定常）
1)
4.39.2.1
第1のグループ：試料数1
第2のグループ：試料数2
第3のグループ：試料数2
2)
4.39.2.2
第1のグループ：試料数2
第2のグループ：試料数3
直流負荷（備考9.による。）
アイソレーション電圧（備考9.に
よる。）（取付方法はこの規格の
1.1及び備考9.による。）
4.39.4による。
最終測定
外観
4.39.6.1による。
素子抵抗値
∆R≦±(：...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法はこの規
格の1.1及び備考9.による。）
R≧100 MΩ
スイッチ接触抵抗（適用する場合）
R≦...mΩ
連続性（巻線可変抵抗器だけに適
用）
適用する場合4.5.1及び4.5.2によ
る。
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
しゅう動雑音：
方法A（非巻線可変抵抗器に適用）
U≦...mV
又は
方法B（巻線可変抵抗器に適用），
∆θ0：...
R≦...%R
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに
適用）（取付方法はこの規格の1.1
及び備考9.による。）
4.39.6.8による。
8
C 5260-5-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判
定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群D2
ND
12
8
1
4.4.4 全機械的操作範囲
この規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲
有効電気的回転角度
θ≧...゜
無効回転角度（反時計方向）
θ≦...゜
無効回転角度（時計方向）
θ≦...゜
4.9 抵抗変化特性
［個別規格に，適切な試験条件及
び要求性能をJIS C 5260-5の
2.1.5（抵抗変化特性）から選択
して規定する。］
副群D3
ND
12
5
1
4.21 操作軸固定トルク（適用す
る場合）
出力電圧比
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
外観
4.21.2による。
備考 原国際規格では，
4.21.3と記載されてい
るが，4.21.2の誤りで
あり訂正した。
4.20 回転止め強度
外観
4.20.1による。
4.22 操作軸の押し及び引張り
− 試料数2
4.22.2を適用
連続性
4.22.2による。
− 試料数2
4.22.3を適用
出力電圧比
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
− 試料数1
4.22.4を適用
外観
4.22.4による。
副群D4
ND
24
5
1
4.14 抵抗温度特性（備考8.参照）
カテゴリ下限温度／20℃
R
R
⊿≦...%
20℃/70℃
R
R
⊿≦...%
20℃/カテゴリ上限温度
R
R
⊿≦...%
副群D5A
D
24
4
1
副群D5の一部
4.33 はんだ耐熱性（適用する場
合）
試験Tb，方法1B
温度：350℃±10℃
時間：3.5 s±0.5 s
又は
方法2
はんだこて先：A
温度：350℃±10℃
時間：10 s±1 s
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
端子間抵抗値：
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
R≦...Ω
4.44 本体の耐溶剤性（適用する
場合）
溶剤：...
個別規格に規定する。
溶剤の温度：...
方法2
後処理：...
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C 5260-5-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判
定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群D5B
D
24
4
1
副群D5の残りの部分
4.34 温度変化（備考11.参照）
備考5.参照
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
備考 記号θA及びθBをＴA及
びＴBに変更した。
放置時間t1＝30 min
外観
4.34.5による。
出力電圧比（半固定可変抵抗器だ
けに適用）
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω）
4.35 振動（正弦波）（備考6.参
照）
取付方法：この規格の1.1による。
掃引耐久試験
振動数範囲：...Hz〜...Hz
振幅：0.75 mm又は加速度98m/s2
（どちらか緩い方）
総試験時間：6 h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性（4.35.4を適用）
100μsを超える不連続がない。
最終測定
外観
4.35.5による。
出力電圧比（半固定可変抵抗器だけ）
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
素子抵抗値
∆R≦±(....%R＋...Ω)
副群D5
D
24
8
2
副群D5A及びD5Bの全試料
4.30 端子強度
端子の形式に対応した試験を行
う。
外観
4.30.8による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
4.36 バンプ（又は4.37衝撃）（備
考12.参照）
取付方法：この規格の1.1による。
ピーク加速度：400 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用し
ているJIS C 0042に合
わせて変更した。
バンプ回数：4 000
外観
4.36.3による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
4.37 衝撃（又は4.36バンプ）（備
考12.参照）
取付方法：この規格の1.1による。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：500 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用し
ているJIS C 0041に合
わせて変更した。
作用時間：11 ms
外観
4.37.3による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
10
C 5260-5-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判
定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
4.38 一連耐候性
− 高温（耐熱性）
外観
4.38.22による。
− 温湿度サイクル（12＋12時
間サイクル）の最初のサイ
クル
− 低温（耐寒性）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
− 温湿度サイクル（12＋12時
間サイクル）の残りのサイ
クル
スイッチトルク（適用する場合）
T≦400mN･m
− 直流負荷
備考7.による。
4.38.8による。
− アイソレーション電圧
備考7.による。
最終測定
外観
4.38.10.1による。
素子抵抗値
∆R≦±(...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法はこの規格
の1.1及び備考9.による。）
R≧100 MΩ
スイッチ接触抵抗（適用する場合）
R≦...mΩ
連続性
適用する場合4.5.1及び4.5.2によ
る。
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけに
適用）（取付方法はこの規格の
1.1及び備考9.による。）
4.38.10.7による。
備考4. スイッチ付可変抵抗器の場合は，可変抵抗器部とスイッチ部の機械的耐久性試験を一つの試験として同時に実
施する。
5. 適用できる場合は，半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. この試験は，耐候性カテゴリが25/−/−，40/−/−，55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は，どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格
に規定する。
8. JIS C 5260-1の4.14.2のd)及びf)に記載した温度は，カテゴリ上限温度が100℃の可変抵抗器に適用する。
9. 取付方法は，JIS C 5260-1の4.12（耐電圧）及び4.13（絶縁抵抗）の該当する方法によるほか，次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は，JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは，本体で取り付ける穴があっても，端子でプリント配線板
に取り付けて試験する。
10. 個別規格には，JIS C 5260-1の4.41（容量性負荷による電源スイッチの交流耐久性）及び4.42（スイッチの直
流耐久性）のどちらの試験を適用するかを規定する。
11. この試験は，カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との温度差が95℃以上である場合に適用する。
12. バンプ試験及び衝撃試験は，どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
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C 5260-5-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
窪 田 明
通商産業省
橋 爪 邦 隆
通商産業省
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 己
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
辻 伊佐男
株式会社タイツウ
川 井 一 成
ルビコン株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
吉 田 實
東北アルプス株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司
アルプス電気株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
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C 5260-5-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 6260-5分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
吉 田 實
東北アルプス株式会社
（委員）
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
松 浦 伸 夫
栄通信工業株式会社
本 田 義 夫
KOA株式会社
大 浦 昭 夫
高信頼性部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 本 克 己
ソニー株式会社
林 里 史
ツバメ無線株式会社
赤 津 洋 一
帝国通信工業株式会社
中 島 久 男
日本電気株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
野 津 秀 雄
株式会社村田製作所
曽我部 浩 二
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会