JISC5402-12-4:2016 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１２－４部：はんだ付け試験

C 5402-12-4：2016

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 準備······························································································································· 2

3.1 一般 ···························································································································· 2

3.2 試料の準備 ··················································································································· 2

3.3 前処理条件 ··················································································································· 2

4 試験方法························································································································· 2

4.1 手順 ···························································································································· 2

4.2 測定 ···························································································································· 2

5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 4

C 5402-12-4：2016

（2）

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まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）

及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5402規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 5402-12-4：2016

電子機器用コネクタ−試験及び測定−

第12-4部：はんだ付け試験−

試験12d：はんだ耐熱性，はんだ槽法

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-

Part 12-4: Soldering tests-

Test 12d: Resistance to soldering heat, solder bath method

序文

この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 60512-12-4を基とし，技術的内容及び構成を変更し

て作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に

は，類似の部品にも用いてよい。

この規格は，一括はんだ付けによる加熱ストレスに対するコネクタのはんだ耐熱性を評価するための標

準の試験方法について規定する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60512-12-4:2006，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 12-4:

Soldering tests−Test 12d: Resistance to soldering heat, solder bath method（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観

注記対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）

JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

C 5402-12-4：2016

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

注記1 対応国際規格：IEC 60068-2-20:1979，Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−

Test T: Soldering

注記2 鉛フリーはんだを取り入れるため，対応国際規格IEC 60068-2-20:2008による最新のJISを

採用した。

準備

3.1

一般

JIS C 60068-2-20の5.2.1（はんだ槽）に規定しているはんだ槽を準備する。

JIS C 60068-2-20の5.2.2（フラックス）で規定する不活性フラックスを準備する。

個別規格で要求する場合，JIS C 60068-2-20の5.2.4（試験条件）に記載している熱遮蔽板を準備する。

代わりの方法として，個別規格で要求する場合，ヒートシンクを用いる。ヒートシンクは，35 μmの銅

導体線路をもつ，厚さ1.6 mmの片面又は両面のプリント配線板からなる。導体パターンは，プリント配

線板の各面の（50±10）%を覆うよう均等に分布した導体で構成する。孔パターンは，コネクタの要求事

項に対応していなければならない。プリント配線板の長さ及び幅は，（平面図上の）試料の外形輪郭より，

全周にわたって15 mm以上大きくなければならない。

3.2

試料の準備

試料は，ターミネーションをもつコネクタとする。個別規格に規定する断熱材製の遮蔽板又はヒートシ

ンクを用いる。

個別規格に規定がない場合，はんだ付け試験の前にターミネーションを洗浄又は脱脂しない。

注記試験を行うターミネーションに触れたり又は汚したりしないように注意する。

3.3

前処理条件

はんだ付け試験の前に加速エージングを適用する場合，JIS C 60068-2-20の4.1.4（加速エージング）に

規定するエージング条件のいずれか一つを個別規格で規定する。個別規格に規定がない場合，エージング

条件は，JIS C 60068-2-20の4.1.1（試験方法）のエージング3bによって，温度155 ℃で16時間を用いる。

試験方法

4.1

手順

試験は，JIS C 60068-2-20の5.2［方法1（はんだ槽法）］に従って行う。試験温度は，鉛入りはんだ及び

鉛フリーはんだのいずれの場合も，JIS C 60068-2-20の表2［はんだ槽法によるはんだ耐熱試験の厳しさ（温

度及び時間）］によって，260 ℃±3 ℃を用いる。

熱遮蔽板を用いる場合，ターミネーションは，熱遮蔽板がはんだ槽の表面とほとんど接触するように浸

せきする。ヒートシンクを用いる場合，ヒートシンクは，ちょうどはんだ槽の表面と接触させる。浸せき

時間は，5 s±0.5 s又は10 s±1 sとし，個別規格で規定する。

4.2

測定

4.2.1

初期測定

試料は，JIS C 5402-1-1によって，外観検査を行う。試料に試験の妥当性を損なうような不適合があっ

てはならない。

4.2.2

最終測定

試料は，JIS C 5402-1-1によって，10倍の拡大鏡を用いて外観検査を行う。試料にコネクタの正常な機

能を損なうような不適合があってはならない。

C 5402-12-4：2016

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

注記拡大鏡の倍率は，コネクタの大きさを考慮して個別規格に記載することが望ましい。

4.2.3

特に注意する事項

結合，ブラインド結合及びコンタクト保持機能を損なう可能性のあるプリント配線板用コネクタのシュ

ラウド寸法について，特に注意して検査する。

個別規格に規定する事項

個別規格には，次の事項を規定する。

a) エージングの要求事項（3.3を適用しない場合）

b) 熱遮蔽板又はヒートシンクの使用の要否

c) 浸せき時間

d) はんだの種類

e) この規格に規定する試験方法との相違

C 5402-12-4：2016

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 5402-12-4:2016 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12-4部：はんだ
付け試験−試験12d：はんだ耐熱性，はんだ槽法

IEC 60512-12-4:2006，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part12-4: Soldering tests−Test 12d: Resistance to soldering heat, solder bath method

(I)JISの規定

(II)
国際
規格
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

3 準備

3.1 一般

3.1

JISとほぼ同じ。変更

JIS C 60068-2-20:2010に整合し，引用規
格の箇条番号を変更した。

鉛フリーはんだに対応するため，最
新版のJISを採用したことから変更
した。

削除

対応国際規格の注記を削除した。記載内
容に差異はない。

本文内容と重複するため，削除した。

追加

フラックスに関する規定を追加した。

対応国際規格に記載がなかったため
追加した。

3.3 前処理条件

3.3

JISとほぼ同じ。変更

3.1と同じ

4 試験方法 4.1 手順

4.1

JISとほぼ同じ。変更

3.1と同じ

追加

鉛フリーはんだの場合の試験温度を追
加した。

3.1と同じ

4.2.2 最終測定

4.2.2

JISとほぼ同じ。追加

JIS C 5402-1-1において，拡大鏡の倍率
はコネクタの大きさを考慮して，個別規
格に規定することとなっているため，注
記を追加した。

次回のIEC規格の見直しのとき，こ
の修正を提案する。

個別規格に規定
する事項

JISとほぼ同じ。追加

はんだの種類を追加した。

3.1と同じ

−

Bibliography
（参考文献）

削除

不要となり削除した。

3.1と同じ

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60512-12-4:2006，MOD

-1

-4

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 5402-12-4：2016

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。