C 5402-7-2：2019 (IEC 60512-7-2：2011)
（1）
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 1
3.1 試料の準備 ··················································································································· 1
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
5 要求事項························································································································· 3
6 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 5402-7-2：2019 (IEC 60512-7-2：2011)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
これによって，JIS C 5402:2014は廃止され，その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
日本工業規格 JIS
C 5402-7-2：2019
(IEC 60512-7-2：2011)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第7-2部：衝撃試験（可動形コネクタ）−
試験7b：機械的衝撃強さ
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 7-2: Impact tests (free connectors)-
Test 7b: Mechanical strength impact
序文
この規格は，2011年に第1版として発行されたIEC 60512-7-2を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，ケーブル又は電線の束の端に取り付けた可動形コネクタが，硬い面に落下したときに受け
る衝撃に耐える能力を評価するための標準の試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-7-2:2011，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 7-2: Impact
tests (free connectors)−Test 7b: Mechanical strength impact（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
3
準備
3.1
試料の準備
試料は，通常の方法で附属品を取り付け，通常のアプリケーションで用いるとおりに結線した可動形コ
ネクタとする。
2
C 5402-7-2：2019 (IEC 60512-7-2：2011)
試料は，個別規格に従って準備する。
個別規格に規定がない場合，試料は，48時間，温度15 ℃〜35 ℃及び相対湿度25 %〜75 %で前処理を行
う。
各種のケーブルを用いるコネクタの場合，最も細いケーブル及び／又は最も可とう性があるケーブルを
用いる。ケーブル又は電線の束の長さは，取り付けたコネクタの後端から2 250 mm±10 mmとする。
3.2
装置
試験装置は，300 mm×500 mm，厚さ25 mmの鋼板上にコネクタが水平位置から垂直位置まで自由に落
下することができる構造とする。
3.3
取付け
試料は，水平位置から垂直位置まで自由に落下できるように，コネクタの後端から2 250 mm±10 mmの
位置に取り付ける（図1参照）。
注記 ケーブル又は電線の束の端を回し継手へ取り付けることが適切な方法であるが，多くの場合は
単純なフックへ取り付けることで十分である。
試料は，次の推奨高さのいずれか一つに取り付ける。
− （2 000±10）mm
− （1 750±10）mm
− （1 500±10）mm
− （1 250±10）mm
− （1 000±10）mm
− （750±10）mm
− （500±10）mm
4
試験方法
規定する高さに取り付けた試料は，規定する姿勢で水平位置に保持した後に，図1に示すように鋼板上
に落下させる。個別規格に規定がない場合，このサイクルを合計3回繰り返す。
注記 JIS C 60068-2-31を引用してもよい。
3
C 5402-7-2：2019 (IEC 60512-7-2：2011)
単位 mm
図1−試験概要
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要求事項
コネクタは，JIS C 5402-1-1に従って外観検査を行う。正常な動作を損なう破損又は損傷があってはな
らない。
6
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の準備及び前処理
b) 附属品の種類（要求がある場合）
c) 用いるケーブル又は電線
d) 試験環境条件（標準大気条件以外の場合）
e) コネクタを落下させる高さ
f)
各高さでの落下回数
g) 落下ごとのコネクタの方向の変更（例えば，45°以上の回転）（該当する場合）
h) 動作試験及び要求事項
i)
試料の姿勢
j)
この規格に規定する試験方法との相違
ケーブル又は電線の束
可動形コネクタ
2 250
鋼板
高
さ
4
C 5402-7-2：2019 (IEC 60512-7-2：2011)
参考文献 JIS C 60068-2-31 環境試験方法−電気・電子−第2-31部：落下試験及び転倒試験方法（試験
記号：Ec）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-31，Environmental testing−Part 2-31: Tests−Test Ec: Rough
handling shocks, primarily for equipment-type specimens（IDT）
JIS C 5402-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部：一般
注記 対応国際規格：IEC 60512-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements
−Part 1: General（IDT）
JIS C 5402-1-100 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部：一般−試験方法規格一覧
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-100，Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 1-100: General−Applicable publications（MOD）