C 5402-12-5：2016
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 はんだこての準備 ·········································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
4.1 手順 ···························································································································· 2
4.2 測定 ···························································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 3
C 5402-12-5：2016
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-12-5：2016
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第12-5部：はんだ付け試験−
試験12e：はんだ耐熱性，はんだこて法
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 12-5: Soldering tests-
Test 12e: Resistance to soldering heat, soldering iron method
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 60512-12-5を基とし，技術的内容及び構成を変更し
て作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，はんだこてによる加熱ストレスに対するコネクタのはんだ耐熱性を評価するための標準の
試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-12-5:2006，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 12-5:
Soldering tests−Test 12e: Resistance to soldering heat, soldering iron method（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ
付け性及びはんだ耐熱性試験方法
2
C 5402-12-5：2016
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注記1 対応国際規格：IEC 60068-2-20:1979，Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−
Test T: Soldering
注記2 鉛フリーはんだを取り入れるため，対応国際規格IEC 60068-2-20:2008による最新のJISを
採用した。
3
準備
3.1
試料の準備
試料は，ターミネーションをもつコネクタとし，個別規格に規定する。
3.2
はんだこての準備
JIS C 60068-2-20の5.3.1（はんだこて）によってはんだこてを準備する。はんだこて先の種類は個別規
格に規定する。
4
試験方法
4.1
手順
試験は，JIS C 60068-2-20の5.3［方法2（はんだこて法）］によって行う。はんだこて先の温度は，350 ℃
±10 ℃又は370 ℃±10 ℃とし，個別規格に規定する。
4.2
測定
4.2.1
初期測定
試料は，JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。試料に試験の妥当性を損なうような不適合があって
はならない。
4.2.2
最終測定
試料は，JIS C 5402-1-1によって10倍の拡大鏡を用いて外観検査を行う。試料にコネクタの正常な機能
を損なうような不適合があってはならない。
注記 拡大鏡の倍率は，コネクタの大きさを考慮して個別規格に記載することが望ましい。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の準備（箇条3以外の場合）
b) 使用するはんだこて先の種類（A又はB）
c) 適用時間（10 s±1 s以外の場合）
d) はんだの種類
e) この規格に規定する試験方法との相違
3
C 5402-12-5：2016
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附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 5402-12-5:2016 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12-5部：はんだ
付け試験−試験12e：はんだ耐熱性，はんだこて法
IEC 60512-12-5:2006，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 12-5: Soldering tests−Test 12e: Resistance to soldering heat, soldering iron method
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3 準備
3.2 はんだこての準備
3.2
JISとほぼ同じ。
変更
JIS C 60068-2-20:2010に整合し，引
用規格の箇条番号を変更した。
鉛フリーはんだに対応するため，
最新版のJISを採用したことから
変更した。
4 試験方法 4.1 手順
4.1
JISとほぼ同じ。
変更
3.2と同じ。
3.2と同じ。
4.2.2 最終測定
4.2.2
JISとほぼ同じ。
追加
JIS C 5402-1-1において，拡大鏡の
倍率はコネクタの大きさを考慮し
て，個別規格に規定することとなっ
ているため，注記を追加した。
次回のIEC規格の見直しのとき，
この修正を提案する。
5
個別規格に規定する事項
5
JISとほぼ同じ。
追加
はんだの種類を追加した。
3.2と同じ。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60512-12-5:2006，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
C
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4
0
2
-1
2
-5
：
2
0
1
6
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。