C5101-15-2 : 1998
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質
をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認に
ついて，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格を次に示す。
JIS C 5101群 電子機器用固定コンデンサ
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム
直流コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ評価水準E
JIS C 51014 第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-4-2 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-8-1 第8部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1評価水準E
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-9-1 第9部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2評価水準E
JIS C 5101-10 第10部：品種別通則：固定積層磁器チップコンデンサ
JIS C 5101-10-1 第10部：ブランク個別規格：固定積層磁器チップコンデンサ評価水準E
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ（予定）
JIS C 5101-13-1 第13部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
評価水準E（予定）
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準D
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
C5101-15-2 : 1998 まえがき
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水
準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ（予
定）
JIS C 5101-16-1 第16部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ
ンサ評価水準E（予定）
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ（予定）
JIS C 5101-17-1 第17部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ
ルスコンデンサ評価水準E（予定）
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデン
サ（予定）
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ
評価水準E（予定）
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水
準E（予定）
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直
流コンデンサ（予定）
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ評価水準EZ（予定）
C5101-15-2 : 1998
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
コンデンサの識別 ················································································································· 2
第1章 一般的事項 ·············································································································· 2
1. 一般事項 ························································································································ 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付け方法 ······································································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 5
1.8 追加情報 ······················································································································ 5
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 5
第2章 検査要求事項 ··········································································································· 5
2. 検査要求事項 ·················································································································· 5
2.1 手順 ···························································································································· 5
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C5101-15-2 : 1998
電子機器用固定コンデンサ−
第15部：ブランク個別規格：
焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ
評価水準E
Fixed capacitors for use in electronic equipment
Part 15 : Blank detail specification :
Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and porous anode
Assessment level E
序文 この規格は，1984年初版として発行されたIEC 60384-15-2, Fixed capacitors for use in electronic
equipment Part 15 : Blank detail specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and porous
anode Assessment level E及びIEC 60384-15のAmendment 1 : 1987を翻訳し，技術的内容及び規格票の様式
を変更することなく作成した日本工業規格である。ただし，Amendmentについては，編集し，一体とした。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり内容は同一で
ある。
参考 序文中に，品種別通則の原国際規格IEC 60384-15Amendment 1を引用したのは，この規格の“逆
電圧”試験方法の修正文が，このAmendmentによるためである。
ブランク個別規格
このブランク個別規格は，品種別通則JIS C 5101-15の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要な要
求事項を規定したものである。この規格が規定する要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に基
づくものでないものとみなし，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，品種別通則JIS C 5101-15の1.4（個別規格に規定する事項）に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表の数字は，指定の位置に規定する次の事項と対
応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，発効年及び国内の制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び発
行年
(3) 品目別通則の国内規格番号及び発効年又はIEC規格番号，版及び発行年
2
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
備考 コンデンサが，プリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのこと
を明記する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ
の図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
備考 個別規格に規定する評価水準は，品種別通則JIS C 5101-15の3.5.4（評価水準）から選定する。
このブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定して
もよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 日本工業標準調査会
(1) 個別規格番号
(2)
例 電子機器用固定コンデンサ
(3) 例 JIS C 5101-15-2
(4)
第1部：品目別通則：JIS C 5101-1 :
QC 300202
1998
例 焼結形固定タンタル
(5)
非固体電解コンデンサ
リード線又はタグ端子付き
（サブファミリ2）
外形図（表Iによる。）
(7)
（第三角法）
構造の説明：
(6)
評価水準（複数可）：E
(8)
性能等級：例 長寿命等級
（規定寸法内であれば外形は異なってもよい。）
備考 QC 300202は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい情報は，品質認証
電子部品一覧表 (QPL) に示されている(*)。
注(*) この記載は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(9)
第1章 一般的事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5101-15を品種別通則とするブランク個別規格で，焼結形固定タンタ
ル非固体電解コンデンサ評価水準Eについて規定する。
備考 この規格の対応国際規格を次に示す。
IEC 60384-15-2 : 1984, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 15 : Blank detail
specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and porous anode. Assessment
3
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
level E
IEC 60384-15 Amendment 1 : 1987
1.1
推奨する取付方法（挿入用）［品種別通則JIS C 5101-15の1.4.2（取付け）による。］
1.2
寸法
表I 寸法
外形寸法
記号
寸法（ミリメートル又はインチ及びミリメートル）
φ
L
H
d
…
備考1. 外形寸法記号がない場合，表Iは削除し，寸法は表IIAに記載し表Iとする。
2. 寸法は，最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。
3. 表I以外に説明が必要な場合は，追加する。
1.3
定格及び特性
定格静電容量範囲（表IIAによる。）
定格静電容量許容差
定格電圧（表IIAによる。）
カテゴリ電圧（適用する場合）（表IIAによる。）
耐候性カテゴリ
定格温度
温度による静電容量の変化（表IIBによる。）
損失角の正接 (tanδ) （表IIBによる。）
漏れ電流（表IIBによる。）
インピーダンス（適用する場合）（表IICによる。）
逆電圧（適用する場合）
表IIA 外形寸法と組み合わせた定格静電容量及び定格電圧の値
定格電圧
カテゴリ電圧*
定格静電容量
μF
外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号
注*
定格電圧と異なる場合
4
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表IIB 高温及び低温での特性
UR
CR
静電容量変化率
最大値
損失角の正接
インピーダンス
（100Hz又は120Hz）
漏れ電流
%
Ω
μA
V
μF
θA
θR
θB
θA(2) 20℃ θB(2)
θA
20℃
θR
θB(1)
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
θR＝定格温度
(1) カテゴリ電圧で測定
(2) 適用する場合
表IIC インピーダンス...kHz（適用する場合）
外形寸法記号
インピーダンス
Ω
1
2
3
4
1.4
引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を
構成し，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
備考 IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification
並びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1989からのすべての
引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5101-15 電子機器用固定コンデンサ−第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解
コンデンサ
備考 IEC 60384-15 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 15 : Sectional
specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte Amendment 1 : 1987
及びAmendment2 : 1992が，この規格と一致する。
JIS Z 9015 計数調整型抜取検査（供給者を選択できる場合の購入検査）
備考 IEC 60410 : Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用事項
は，この規格の該当事項と一致する。
1.5
表示 コンデンサ及び包装の表示は，JIS C 5101-15の1.6（表示）による。
備考 コンデンサ及び包装への表示は，個別規格に規定する。
1.6
発注情報 この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって少なくと
も次の事項を規定する。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
5
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d) 個別規格の番号及び版並びに種類
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する。又は要求しない。
1.8
追加情報（非検査目的）
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表III その他の特性
この表は，品種別通則に規定の厳しさに追加又はより厳
しい要求事項を規定するために使用する。
第2章 検査要求事項
2. 検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順は，品種別通則JIS C 5101-15の3.4（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査については，試験計画（表IV）にサンプリング方法，周期，厳しさ及び要求性能を
表す。検査ロットの構成は，品種別通則JIS C 5101-15の3.5.1（検査ロットの構成）による。
表IV 品質確認検査の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，品種別通則JIS C 5101-15及びこの規格の第1章による。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015から選定する。
3. この表の記号は，次による。
p
＝ 周期（月）
n
＝ 試料数
c
＝ 合格判定個数（許容不良数）
D
＝ 破壊試験
ND
＝ 非破壊試験
IL
＝ 検査水準
JIS Z 9015
AQL ＝ 合格品質水準
項目番号及び試験項目
D
試験条件
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
又は
ND
（備考1.参照）
（備考2.参照）
（備考1.参照）
群A検査
（ロットごと）
副群A1
ND
S-4
2.5%
4.1 外観
4.1による。
表示が明りょうでありその他
この規格の1.5の規定による。
4.2 寸法（ゲージ法）
表Iによる。
副群A2
ND
II
1.0%
4.2.1 漏れ電流
保護抵抗：
μA
Κ
≤
…Ω
表IIBによる。
4.2.2 静電容量
周波数：…Hz
規定の許容差以内
バイアス電圧…V
6
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
D
試験条件
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
又は
ND
（備考1.参照）
（備考2.参照）
（備考1.参照）
4.2.3 損失角の正接
周波数：…Hz
Κ
≤
，表IIBによる。
4.2.4 インピーダンス
（適用する場合）
周波数：…Hz
Ω
≤Κ
，表IICによる。
群B検査
（ロットごと）
副群B1
D
S-3
2.5%
4.5 はんだ付け性
エージングなし
方法：…
端子にはんだが良好に付着し
ているか，又ははんだ小球法
の場合は規定の...秒以内には
んだが流れる。
副群B2
ND
S-3
2.5%
4.15 高温及び低温特性
（要求ある場合）
コンデンサは，各温度段階で測定
する。
段階1：20℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
比較値として使用する。
インピーダンス*（段階2と同じ
周波数）
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量
≤
%
Κ
C
C
⊿
損失角の正接*
≤Κ
インピーダンス*
Ω
≤Κ
段階3：定格温度
漏れ電流
≤
A
μ
Κ
静電容量
≤
%
Κ
C
C
⊿
損失角の正接*
≤Κ
段階4：カテゴリ上限温度
漏れ電流
≤
A
μ
Κ
静電容量
≤
%
Κ
C
C
⊿
損失角の正接*
≤Κ
注*
適用する場合
** 表IIBによる。
7
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表IV 品質確認検査の試験計画（続き）
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
個数（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
群C検査
（定期的）
副群C1A
D
6
9
1
副群C1の試料の一部
4.3.1 初期測定
静電容量
4.3 端子強度
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
4.4 はんだ耐熱性
方法：…
4.4.2 最終測定
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
副群C1B
D
6
18
1
副群C1の残りの試料
4.6.1 初期測定
静電容量
4.6 温度急変
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t＝30min
後処理：16h
4.6.3 最終測定
漏れ電流
≤
A
μ
Κ
表IIBによる。
静電容量
4.6.1の測定値の
%
Κ
≤
C
C
⊿
損失角の正接
Κ
≤
表IIBによる。
4.7 振動
取付方法：この規格の1.1によ
る。
手順B4
周波数範囲：
...Hzから…Hz
振幅：….mm又は
加速度：…m/s2
のいずれか緩い方。
試験時間：…h
4.7.2 最終検査
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
4.8 バンプ（又は4.9衝撃に
よる。）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
バンプの回数：…
ピーク加速度：390m/s2
作用時間：6ms
4.9 衝撃（又は4.8バンプに
よる。）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度：…m/s2
作用時間：…ms
8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
個数（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
4.8.2又は4.9.2
最終測定
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
副群C1
D
6
27
1
副群C1A及びC1Bの試料を合
わせた試料
4.10 一連耐候性
4.10.1 初期測定
静電容量
4.10.2 高温
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16h
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
4.10.3 温湿度サイクル（12
＋12時間サイクル），
最初のサイクル
4.10.4 低温
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2h
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
4.10.5 減圧（個別規格で規
定がある場合）
気圧：8.5kPa
4.10.5.3 中間測定
外観
破壊，フラッシュオーバ又は
著しい変形がない。
4.10.6 温湿度サイクル（12
＋12時間サイクル），
残りのサイクル
4.10.7 封止（個別規格に規
定がある場合）
方法：...
選定した方法による。
4.10.8 最終測定
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
漏れ電流
≤初期規定値
静電容量
C
C
⊿
長寿命等級：
4.10.1の測定値の≤5%及
び4.3.1又は4.6.1のどち
らか適用される測定値の
≤8%
一般等級：
4.10.1の測定値の≤12%
損失角の正接
≤初期規定値
副群C2
D
6
9
1
4.11 高温高湿
（定常）
4.11.1 初期測定
静電容量
4.11.2 最終測定
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
9
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
個数（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
漏れ電流
≤初期規定値
静電容量
C
C
⊿
：
長寿命等級：
4.11.1の測定値の≤5%
一般等級：
4.11.1の測定値の≤12%
損失角の正接
≤初期規定値の1.15倍
外部絶縁の絶縁抵抗
（適用する場合）
≥100MΩ
名部絶縁の耐電圧
（適用する場合）
破壊又はフラッシュオーバが
ない。
副群C3
D
3
24
1
4.12 耐久性
試験時間：…h
試験温度：…℃
（適用する場合）
試験電圧：…V
試験後の放置時間：16h
4.12.1 初期測定
静電容量
4.12.3 最終測定
外観
損傷がない。
表示が明りょうである。
漏れ電流
≤初期規定値の1.25倍
静電容量
4.12.1の測定値に対する
%
10
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値の1.3倍
副群C4A
D
12
6
1
4.13 サージ
サイクル数：1 000
温度：…℃
保護抵抗：
1 000Ω±10%
充電時間：30s
放電時間：5min30s
4.13.1 初期測定
静電容量
4.13.3 最終測定
漏れ電流
≤初期規定値
静電容量
4.13.1の測定値に対する
%
10
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値の1.3倍
副群C4B
D
12
6
1
1
4.14 逆電圧
（適用する場合）
逆極性に125h,…Vを定格温度
で，引き続いて正極性に125h定
格電圧を定格温度で印加する。
4.14.1 初期測定
静電容量
4.14.3 最終測定
漏れ電流
≤初期規定値の1.25倍
静電容量
4.14.1の測定値に対する
%
10
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値の1.15倍
10
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
個数（備考3．参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群C5
4.15 高温及び低温特性***
D
コンデンサを各温度段階で測定
する。
段階1：20℃
漏れ電流
6
15
1
比較値として使用する。
静電容量
損失角の正接
インピーダンス*
（段階2と同じ周波数）
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量
≤
%
Κ
C
C
⊿
損失角の正接*
≤Κ
インピーダンス*
Ω
≤Κ
段階3：定格温度
漏れ電流
≤
A
μ
Κ
静電容量
≤
%
Κ
C
C
⊿
損失角の正接*
≤Κ
段階4：カテゴリ上限温度
漏れ電流
≤
A
μ
Κ
静電容量
≤
%
Κ
C
C
⊿
損失角の正接*
≤Κ
4.16 充放電
（要求がある場合）
温度：20℃
サイクル数：106
充電時間：0.5s
充電抵抗：…Ω
放電時間：…s
放電抵抗：…Ω
4.16.1 初期測定
静電容量
4.16.3 最終測定
外観
損傷がなく，また電解質の漏
れがない。
静電容量
4.16.1の測定値に対する
%
10
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値
注*
適用する場合
** 表IIBによる。
*** 試験を群B2で行う場合は適用しない。
11
C5101-15-2 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立工業技術センター
中 西 忠 雄
防衛庁装備局
岩 田 武
村 岡 桂次郎
竹田原 昇 司
通商産業省機械情報産業局電子機器課
藤 井 隆 宏
工業技術院標準部電気規格課
福 原 隆
沖電気工業株式会社
勝 田 明 彦
株式会社ケンウッド
山 本 克 己
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
清 水 正 弘
日本電気株式会社
大 平 昌 司
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
白 井 洋 一
日通工株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
川 井 一 成
ルビコン株式会社
曽我部 浩 二
株式会社村田製作所
秦 考 生
松下電子部品株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
会 田 洋
東光株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
高 梨 健 一
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5142 原案作成分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
（委員）
北 島 義 正
日本電気株式会社
高 久 侑 也
エルナー株式会社
山 内 良 夫
株式会社高純度物質研究所
井 二 仁
三洋電機株式会社
鵜 沢 一 夫
ニチコン株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
飯 田 和 幸
日立エーアイシー株式会社
山 崎 正
富士通東和エレクトロン株式会社
栗 林 孝 志
松下電子部品株式会社
小 松 間兵衛
マルコン電子株式会社
村 岡 桂次郎
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
高 梨 健 一
社団法人日本電子機械工業会