C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
コンデンサの識別 ················································································································· 1
1 一般事項························································································································· 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 2
1.2 寸法 ···························································································································· 2
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 3
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 4
1.8 追加情報（非検査目的） ································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求性能 ········································· 4
2 検査要求事項 ··················································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報
技術産業協会（JEITA）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改
正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格であ
る。
これによって，JIS C 5101-18-1:1999は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ 評価水
準EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
（3）
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JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ
ンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ 評価水準EZ
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ 評価水準EZ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5101-18-1：2010
(IEC 60384-18-1：2007)
電子機器用固定コンデンサ−第18-1部：
ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム
固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 18-1: Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic surface
mount capacitors with solid (MnO2) electrolyte-Assessment level EZ
序文
この規格は，2007年に第2版として発行されたIEC 60384-18-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない又は変更した事項である。
ブランク個別規格
この規格は，品種別通則JIS C 5101-18の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要な要求性能を規定
したものである。これらの要求性能を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみな
し，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5101-18の1.4に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表に記載してある括弧内の数字は，指定の位置に
記入する，次の事項と対応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議（IEC）の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項，又はIEC規格番号，版及び
西暦年
(3) 品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年，又はIEC規格番号，版及び西暦年
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（個別規格に規定がある場合）
(7) 互換性の上で，重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
注記 個別規格に規定する評価水準は，品種別通則JIS C 5101-18の3.5.4から選定する。このブラン
2
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ク個別規格の試験の群構成と同じ場合は，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会
(1) 個別規格番号
(2)
例 電子機器用固定コンデンサ
第1部：品目別通則
(3)
JIS C 5101-1:2010
例 JIS C 5101-18-1（ブランク個別規格番号）
(4)
個別規格の名称
(5)
例 表面実装用固定アルミニウム
固体（MnO2）電解コンデンサ
構造の説明
(6)
外形図（表1参照）
(7)
（第三角法）
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい。）
評価水準：EZ
(8)
注記 (1)〜(8)：個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は，品質認証書（Qualification
approval certificate）に示されている。*
注*
この記載は，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合に適用する。
(9)
注記 (9)：コンデンサの識別を参照。
1
一般事項
1.0
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-18を品種別通則とするブランク個別規格で，主に電子機器用の直流回路に用い
る表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ（以下，コンデンサという。）の評価水準EZ
について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-18-1:2007，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 18-1: Blank detail
specification−Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO2) electrolyte
−Assessment level EZ（IDT）
なお，対応の程度を表す記号（IDT）は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，一致していること
を示す。
1.1
推奨する取付方法
取付けは，JIS C 5101-18の1.4.2及び4.3による。
1.2
寸法
外形寸法記号及び寸法は，表1による。
表1−外形寸法記号及び寸法
単位 mm
外形寸法記号
寸法
φ
L
H
d
･･････
注記1 外形寸法記号がない場合は，この表1を削除し，寸法を表2に記載して，それを表1とする。
注記2 寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
3
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.3
定格及び特性
定格及び特性は，次による。
公称静電容量範囲（表2による。）
公称静電容量許容差
定格電圧（表2による。）
カテゴリ電圧（個別規格に規定がある場合）（表2による。）
耐候性カテゴリ
定格温度
定格リプル電流（表3による。）
損失角の正接（表3による。）
漏れ電流（表3による。）
インピーダンス（個別規格に規定がある場合）（表3による。）
逆電圧（個別規格に規定がある場合）
注記 対応国際規格に“絶縁抵抗”の記載があるが，明らかに誤りであるため，削除した。
表2−外形寸法に関連する公称静電容量及び定格電圧値
定格電圧
V
カテゴリ電圧a)
V
公称静電容量
μF
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
注a) 定格電圧と異なる場合。
表3−漏れ電流，損失角の正接，インピーダンス及び定格リプル電流
UR
V
CN
μF
漏れ電流
… ℃，… V
… Ω，… min
µA
損失角の正接
… ℃，… Hz
インピーダンス
… ℃，… Hz
（個別規格に規定
がある場合）
Ω
定格リプル電流
… ℃，… Hz
A
1.4
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0025:1988 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 5101-18:2010 電子機器用固定コンデンサ−第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウ
4
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-18:2007，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 18:
Sectional specification−Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO2)
and non-solid electrolyte（IDT）
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes（MOD）
1.5
表示
コンデンサの本体及び包装への表示は，JIS C 5101-18の1.6による。
注記 コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定することが望ましい。
1.6
発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって，少なくとも次の項目を
含む。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 個別規格に記載の番号及び発行年並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8
追加情報（非検査目的）
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求性能
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求性能は，表4による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表4−その他の特性
この表は，JIS C 5101-18の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために用いる。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順は，JIS C 5101-18の3.4による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画（表5）は，抜取方法，周期，厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの
構成は，JIS C 5101-18の3.5.1による。
5
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)
又は
ND
試験条件a)
試料数及び
合格判定数c)
要求性能a)
IL b)
n b)
c b)
群A検査（ロットごと）
副群A0
ND
100 % e)
4.22 大電流サージ
（個別規格に規定があ
る場合）
副群A1
4.4 外観
ND
S-3 f)
f)
0
4.4.2による。表示は，明りょう
とし，この規格の1.5による。
4.4 寸法（詳細）d)
この規格の表1による。
副群A2
ND
S-3 f)
f)
0
4.5.1 漏れ電流
保護抵抗：1 000 Ω
≦0.15CU μA
4.5.2 静電容量
周波数： Hz
規定する許容差以内とする。
4.5.3 損失角の正接
（tan δ）
周波数： Hz
4.5.3による。
群B検査（ロットごと）
D
S-3
f)
0
副群B1
4.5.4 インピーダンス
（個別規格に規定が
ある場合）
周波数： Hz
この規格の表3による。
4.7 はんだ付け性
ND
試験方法：はんだ槽法又は
リフロー法
はんだ組成：…
フラックス種類（はんだ
槽）：不活性又は活性
はんだ槽温度プロファイル
又はリフロー温度プロフ
ァイル：…
4.7.2 最終測定
外観
4.7.2による。
4.21 表示の耐溶剤性
（個別規格に規定があ
る場合）g)
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法 1
ラビング材料：綿毛
後処理時間：…
表示は明りょうとする。
6
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)
又は
ND
試験条件a)
試料数及び
合格判定数c)
要求性能a)
p b)
n b)
c b)
群C検査（定期的）
副群：C1
D
3
12
0
4.6 はんだ耐熱性
リフロー温度プロファイ
ル：…
後処理時間：24 h±2 h
4.6.2 最終測定
外観
4.6.2による。
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接（tan δ）
個別規格の規定による。
4.20 部品の耐溶剤性
（個別規格に規定が
ある場合）
溶剤：…
溶剤の温度：… ℃
方法 2
後処理時間：… h
個別規格の規定による。
副群：C2
4.9 耐プリント板曲げ
性h)
D
静電容量及びインピーダン
ス（プリント配線板を曲げ
た状態）
曲げ深さD：mm
3
12
0
個別規格の規定による。
最終測定（JIS C 5101-1
の4.35.3）
外観
外観に損傷がない。
副群：C3
D
4.3 取付け
プリント配線板の材質：… i)
外観
外観に損傷がない。
漏れ電流
≦0.15CU μA
静電容量
−
初期測定値に対して
｜ΔC/C｜≦5 %
損失角の正接（tan δ）
4.5.3による。
インピーダンス（個別規格に
規定がある場合）
この規格の表3による。
副群：C3.1
D
6
18
0
4.8 固着性
外観
外観に損傷がない。
4.10.1 初期測定
静電容量（副群C3での測定
値を用いてもよい。）
4.10 温度急変
TA：カテゴリ下限温度
TB：カテゴリ上限温度
サイクル数：5回
試験期間t1＝30 min
後処理時間：1 h〜2 h
4.10.3 最終測定
漏れ電流
初期規格値以下
静電容量
4.10.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦5 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値以下
インピーダンス（個別規格に
規定がある場合）
この規格の表3による。
4.11 一連耐候性
4.11.1 初期測定
静電容量
4.11.2 高温
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16 h
7
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)
又は
ND
試験条件a)
試料数及び
合格判定数c)
要求性能a)
p b)
n b)
c b)
副群：C3.1（続き）
D
6
18
0
4.11.3 温湿度サイクル
（試験Db），最初のサイ
クル
4.11.4 低温
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2 h
4.11.5 温湿度サイクル
（試験Db），残りのサイ
クル
後処理時間：1 h〜2 h
4.11.6 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は，
明りょうとする。
漏れ電流
初期規格値以下
静電容量
4.11.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値の1.2倍以下
副群C3.2
D
6
9
0
4.12 高温高湿（定常）
後処理時間：1 h〜2 h
4.12.1 初期測定
静電容量（副群3での測定値
を用いてもよい。）
4.12.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は，
明りょうとする。
漏れ電流
初期規定値以下
静電容量
4.12.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値の1.2倍以下
インピーダンス
この規格の表3の規定値の1.2
倍以下
副群C3.3
D
3
24
0
4.15 耐久性
試験時間：1 000 h
試験温度：カテゴリ上限温度
印加電圧：… V
後処理時間：1 h〜2 h
4.15.1 初期測定
静電容量（副群3での測定値
を用いる。）
4.15.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %
4.15.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は，
明りょうとする。
漏れ電流
初期規定値以下
静電容量
4.15.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値の1.2倍以下
インピーダンス
この規格の表3の規定値の1.2
倍以下
8
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)
又は
ND
試験条件a)
試料数及び
合格判定数c)
要求性能a)
p b)
n b)
c b)
副群C3.4
D
6*
15*
0*
4.13 高温及び低温特
性
コンデンサを段階順に測定
する。
段階1：20 ℃
静電容量（個別規格に規定が
ある場合）
比較用に用いる。
インピーダンス（段階2と同
じ測定周波数）
比較用に用いる。
損失角の正接（tan δ）（個別
規格に規定がある場合）
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量（個別規格に規定が
ある場合）
段階1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦20 %
インピーダンス
段階1の測定値の2倍以下
損失角の正接（tan δ）（個別
規格に規定がある場合）
初期規定値の2倍以下
段階3：カテゴリ上限温度
漏れ電流
125 ℃（UR）で
4.5.1規定値の15倍以下
125 ℃（UC）で
4.5.1規定値の8倍以下
105 ℃（UR）で
4.5.1規定値の12.5倍以下
100 ℃（UR）で
4.5.1規定値の12.5倍以下
85 ℃（UR）で
4.5.1規定値の10倍以下
静電容量（個別規格に規定が
ある場合）
段階1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦20 %
損失角の正接（tan δ）（個別
規格に規定がある場合）
初期規定値以下
4.19 充放電（個別規格
に規定がある場合）
温度：20 ℃
サイクル数：106回
充電時間：0.5 s
放電時間：0.5 s
4.19.1 初期測定
静電容量
4.19.3 最終測定
漏れ電流
初期規定値以下
静電容量
4.13の段階3の測定値に対し
て｜ΔC/C｜≦5 %
注*
対応国際規格の明らかな記載漏れのため，p＝周期（月），n＝試料数，c＝合格判定数（許容不適合数）を追加
した。
9
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)
又は
ND
試験条件a)
試料数及び
合格判定数c)
要求性能a)
p b)
n b)
c b)
副群C3.5A
4.17 高温保存
D
温度：カテゴリ上限温度
時間：96 h±4 h
後処理時間：16 h以上
12
6
0
4.17.1 初期測定
静電容量（副群C3での測定
値を用いる。）
4.17.3 最終測定
外観
外観に損傷がない。
漏れ電流
初期規定値以下
静電容量
4.17.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦5 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値以下
4.14 サージ
サイクル数：1 000回
温度：… ℃
充電電圧：1.15 UR又は1.15
UC
保護抵抗：RC＝0.1 s±0.05 s
充電時間：30 s
無負荷時間：5 min 30 s
4.14.3 最終測定
外観
外観に損傷がない。
漏れ電流
初期規定値以下
静電容量
4.17.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値以下
副群C3.5 B
4.16 逆電圧（個別規格
に規定がある場合）
D
カテゴリ上限温度で0.15UC
の直流電圧を極性と逆方
向に125時間印加する。引
き続いてカテゴリ上限温
度でカテゴリ電圧を極性
と正方向に125時間印加す
る。
12
6
0
4.16.1 初期測定
静電容量（副群C3での測定
値を用いる。）
4.16.3 最終測定
漏れ電流
初期規定値以下
静電容量
4.16.1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %
損失角の正接（tan δ）
初期規定値以下
10
C 5101-18-1：2010 (IEC 60384-18-1：2007)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は，JIS C 5101-18及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は，次による。
IL：検査水準，p＝周期（月），n＝試料数，c＝合格判定数（許容不適合数），D＝破壊試験，ND＝非破壊試験
c) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
d) 製造業者が，管理限界を超えるコンデンサを取り除くため，寸法測定に統計的工程管理（SPC）又はその他の仕
組みを取り入れている場合には，この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
e) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準
は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために抜
取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質水
準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する
f) 試料数（n）は，JIS Z 9015-1に規定の付表1の検査水準（IL）とロットサイズとで割り当てるサンプル文字に
従い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
g) この試験は，コンデンサをプリント配線板の上に取り付けた状態で行ってもよい。
h) 個別規格にアルミナ基板に装着することを規定しているコンデンサには，適用しない。
i) 各副群で異なった材料のプリント配線板を用いる場合には，そのプリント配線板材料は，個別規格に規定する。