C 5402-5-1：2004 (IEC 60512-5-1：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-5-1:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-1: Current-carrying capacity tests - Test 5a: Temperature rise
を基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-5-1：2004 (IEC 60512-5-1：2002)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 試料の準備 ····················································································································· 1
4. 試験方法 ························································································································ 2
5. 測定 ······························································································································ 2
5.1 試験中の測定 ················································································································ 2
5.2 最終測定 ······················································································································ 2
6. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-5-1：2004
(IEC 60512-5-1：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―
第5-1部：電流容量試験―試験5a：温度上昇
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements -
Part 5-1: Current-carrying capacity tests -
Test 5a: Temperature rise
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-5-1，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 5-1: Current-carrying capacity tests - Test 5a: Temperature riseを翻訳し，技術的内
容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，規定する温度上昇値を超えることなく，室温で，規定電流を流せる電子機器
用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験は，
類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-5-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-1:
Current-carrying capacity tests - Test 5a: Temperature rise (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。
3. 試料の準備 他に規定がない場合には，試料は3個とする。試料は，表1に規定する電線の最小長さ
で配線し，個別規格に規定するとおり取り付ける。個別規格に規定しない場合には，製造業者が推奨した，
又は業界標準の配線方法及び工具を用いる。熱容量が温度測定に重大な影響を及ぼさない温度センサを試
料に取り付ける。この温度センサは他に規定がない場合には，コンタクトの最も熱い部分にできる限り近
い箇所に取り付ける。非接触温度測定器を用いてもよい。
2
C 5402-5-1：2004 (IEC 60512-5-1：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 試験中の試料をすき間風及び人為的な冷却から守るよう注意する。これは囲いを用いるか，又
は無風の実験室を確保するかいずれかの方法で達成することができる。直流電流を用いる場合
には，逆方向の電流による試験を実施して熱電対におけるバイアス電圧の影響を避ける。
表 1 各試料に対する最小電線長さ
電線サイズ
mm2
最短長さ
mm
< 0.5
200
0.5 〜 5
500
> 5
1400
備考 この表は熱伝導率を基準とし，電線が，
それらの断面積に比較して確実に長く
なるよう設定している。
試料がプリント配線板を用いる場合に
は，これらの特性は個別規格に規定す
る。
4. 試験方法 個別規格に規定がない場合には，規定する試験電流を試料のすべてのコンタクトに同時に
流す。電流は，温度が安定するまで維持する。“温度が安定する”とは，“5分間隔で3回連続して温度上
昇を測定したときに2 ℃以上の差がないこと”と定義する。電流は，温度が安定した後1時間維持する。
試験中の周囲温度を記録する。放射熱の影響を最小にするよう注意する。
5. 測定
5.1
試験中の測定 個別規格に規定がない場合には，試料の各コンタクトは，規定する温度上昇30 Kを
超えることなく，規定電流を1時間通電できなければならない。
5.2
最終測定 試料を次の試験によって確認する。
外観：JIS C 5402-1-1試験1a
試料に正常な動作を妨げる可能性がある欠陥があってはならない。
6. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 電線サイズ
b) 試料の配線及びタ−ミネーションの種類
c) 試料の取付け
d) 温度センサの位置，性能及び特性
e) 電流，交流又は直流
f)
試料数（必要とする場合）
g) 同時に通電するコンタクト数 （必要とする場合）
h) 温度上昇（必要とする場合）
i)
この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。