C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項·································································································· 3
1.5 用語及び定義 ················································································································ 4
1.6 表示 ···························································································································· 8
1.7 クラスXのコンデンサ及びクラスYのコンデンサの分類······················································· 9
2 推奨特性及び定格 ············································································································ 11
2.1 推奨特性 ····················································································································· 11
2.2 推奨定格値 ·················································································································· 11
2.3 スリーブ，テープ，チューブ及び電線絶縁の要求事項 ·························································· 12
3 品質評価手順 ·················································································································· 12
3.1 製造の初期工程 ············································································································ 12
3.2 構造的に類似なコンデンサ······························································································ 12
3.3 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 12
3.4 認証試験 ····················································································································· 12
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 21
4 試験及び測定方法 ············································································································ 24
4.1 外観及び寸法 ··············································································································· 24
4.2 電気的試験 ·················································································································· 25
4.3 端子強度 ····················································································································· 28
4.4 はんだ耐熱性 ··············································································································· 28
4.5 はんだ付け性 ··············································································································· 29
4.6 温度急変 ····················································································································· 29
4.7 振動 ··························································································································· 29
4.8 バンプ ························································································································ 29
4.9 衝撃 ··························································································································· 30
4.10 封止 ·························································································································· 30
4.11 一連耐候性 ················································································································· 30
4.12 高温高湿（定常） ········································································································ 31
4.13 インパルス電圧 ··········································································································· 32
4.14 耐久性 ······················································································································· 33
4.15 充放電 ······················································································································· 35
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4.16 無線周波数特性 ··········································································································· 36
4.17 耐炎性 ······················································································································· 36
4.18 発炎性 ······················································································································· 37
4.19 部品の耐溶剤性（適用する場合） ··················································································· 39
4.20 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 39
附属書A（規定）インパルス電圧試験回路················································································ 40
附属書B（規定）耐久性試験回路 ···························································································· 42
附属書C（規定）充放電試験回路 ··························································································· 43
附属書D（規定）設計の宣言 （製造業者及び認証機関の機密事項） ············································· 44
附属書E（参考）パルス試験回路 ···························································································· 45
附属書F（規定）表面実装用コンデンサの安全性試験のための固有の要求事項 ································ 46
附属書G（参考）固定磁器コンデンサ種類2の静電容量エージング ··············································· 49
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって，JIS C 5101-14:2009は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水
準EZ
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-13
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013) 目次
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JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18
第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コン
デンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20
第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-25
第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
（5）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26
第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-14：2014
(IEC 60384-14：2013)
電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：
電源用電磁障害防止固定コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 14: Sectional specification-Fixed capacitors for electromagnetic
interference suppression and connection to the supply mains
序文
この規格は，2013年に第4版として発行されたIEC 60384-14を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電源用電磁障害防止固定コンデンサにつ
いて規定する。この規格は，直流1 000 V以下，交流1 000 V（実効値）以下で，周波数100 Hz以下の交
流電源又はその他の電源回路に接続するコンデンサ及び抵抗器とコンデンサとを組み合わせた部品（以下，
RCユニットという。）に適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-14:2013，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14: Sectional specification
−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply mains
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.2
目的
この規格は，この品種のコンデンサの推奨定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1から適切な
品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般的要求性能を規定することを主な目的とする。この
品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格よりも低い水準であっ
てはならず，同等又は高い水準になる。
この規格は，試験機関による認証が要求されている国での試験機関が適用する安全性についての試験計
画を規定することも目的とする。
この規格を適用するコンデンサに対する交流電源電圧との組合せの過電圧カテゴリは，JIS C 60664-1か
ら選定することが望ましい。
2
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は
適用しない。西暦年の付記のない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 2809 平形接続子
注記 対応国際規格：IEC 61210，Connecting devices−Flat quick-connect terminations for electrical
copper conductors−Safety requirements（MOD）
JIS C 5005-2 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択
及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
注記 対応国際規格：IEC 61193-2，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of sampling
plans for inspection of electronic components and packages（IDT）
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063，Preferred number series for resistors and capacitors（IDT）
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 6065 オーディオ，ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60065:2001，Audio, video and similar electronic apparatus−Safety
requirements並びにAmendment 1:2005及びAmendment 2:2010（MOD）
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60950-1，Information technology equipment−Safety−Part 1: General
requirements（MOD）
JIS C 9335-1 家庭用及びこれに類する電気機器の安全性−第1部：通則
注記 対応国際規格：IEC 60335-1，Household and similar electrical appliances−Safety−Part 1: General
requirements（MOD）
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1:1988，Environmental testing−Part 1: General and guidance（IDT）
JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-17，Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test Q:
Sealing（IDT）
JIS C 60664-1 低圧系統内機器の絶縁協調−第1部：基本原則，要求事項及び試験
注記 対応国際規格：IEC 60664-1，Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−
Part 1: Principles, requirements and tests（IDT）
JIS C 60695-11-10 耐火性試験−電気・電子−第11-10部：試験炎−50 W試験炎による水平及び垂直
燃焼試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60695-11-10，Fire hazard testing−Part 11-10: Test flames−50 W horizontal
and vertical flame test methods（IDT）
IEC 60060-1:2010，High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60417:2002，Graphical symbols for use on equipment
IEC 60940，Guidance information on the application of capacitors, resistors, inductors and complete filter units
3
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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for radio interference suppression
ISO 7000，Graphical symbols for use on equipment−Index and synopsis
CISPR 17，Methods of measurement of the suppression characteristics of passive EMC filterting devices
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式によって作成する。個別規格は，品目別通則，品種別通
則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の性能を規定してはならない。個別規格に，より厳し
い要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，さらに，試験計画の中にも，例えば，
アステリスク（*）を付けて明示する。
個別規格に，次の事項を規定し，それぞれの規定値は，この規格の該当する項目の中から選定すること
が望ましい。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表で表してもよい。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性並びに取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，全ての寸法は，通
常，ミリメートル（mm）で規定する。
寸法は，本体の長さ，幅，高さ及び端子間隔を規定する。ただし，円筒形の場合は，本体の直径及び長
さ，並びに端子の長さ及び直径を規定する。例えば，幾つかの組合せ（公称静電容量と定格電圧との組合
せ範囲）を個別規格に規定する場合は，必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が上記のコンデンサと異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法表示を個別規格に規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合には，個別規格の中にそのことを明記する。
1.4.2
取付け
通常使用での取付方法並びに振動及び衝撃試験用の取付方法は，個別規格に規定する。コンデンサは，
個別規格に規定する方法で取り付ける。
コンデンサの設計上，使用時に特別な取付具が必要となることがある。この場合，振動及び衝撃試験に
は，この取付具を用いなければならない。
表面実装用コンデンサの安全性試験のための固有の要求事項については，附属書Fによる。
“通常使用”の推奨取付方法がある場合，個別規格の1.8［追加情報（非検査目的）］に記載することが
望ましい。個別規格に，代替取付方法を記載する場合，“個別規格の1.1［推奨する取付方法（実装する場
合）］に規定する以外の取付方法では，十分な耐振動及び耐衝撃特性が得られないことがある。”との注意
文を記載してもよい。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.3.1
公称静電容量範囲
公称静電容量の範囲は，2.2.1によることが望ましい。
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合，個別規格の公称静電容量数列と認証を受けた範囲とが異
なるときは，“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認証電子部品一覧表（QPL）による。”の文章
を追加することが望ましい。
なお，品質認証電子部品一覧表（QPL）は，IECオンラインサービス（http://certificates.iecq.org/）で参
照できる［JIS C 5101-1のQ.1.2.2（標準カタログ部品）参照］。
4
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.4.3.2
公称抵抗値範囲（適用する場合）
公称抵抗値範囲は，2.2.4によることが望ましい。
1.4.3.3
固有な特性
コンデンサの設計及び使用目的を適切に表すために，必要な場合は，そのコンデンサに特有な特性を追
加してもよい。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。この場合，1.6の表示事項も参照す
る。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1によるほか，次による。
注記 用語の一部は，JIS C 5101-1に規定する用語の定義を拡張した形で定義している。拡張した用
語の定義には，注記を設けその差異を記載している。
1.5.1
交流用コンデンサ（a.c. capacitor）
基本的に交流電源用に設計したコンデンサ。
注記 交流用コンデンサは，交流（実効値）定格電圧と同じ直流電圧の電源に用いてもよい。
1.5.2
電磁障害防止コンデンサ（electromagnetic interference suppression capacitor）
電波障害防止コンデンサ（radio interference suppression capacitor）
電気装置，電子装置又はその他の発生源から発生する電磁障害を低減するために用いる交流用コンデン
サ。
1.5.3
クラスXのコンデンサ又はクラスXのRCユニット（capacitor or RC unit of class X）
コンデンサ又はRCユニットが故障した場合，火災の危険がある箇所に用いる交流用コンデンサ又はRC
ユニット。ただし，感電の危険がない場合に限る。
1.5.4
クラスYのコンデンサ又はクラスYのRCユニット（capacitor or RC unit of class Y）
コンデンサが故障した場合，感電の危険がある箇所に用いるコンデンサ又はRCユニット。
1.5.5
2端子電磁障害防止コンデンサ（two-terminal EMI suppression capacitor）
二つの端子をもつ電磁障害防止コンデンサ（図1参照）。
図1−2端子電磁障害防止コンデンサ
1.5.6
直列RCユニット（series RC unit）
抵抗器とクラスX又はクラスYのコンデンサとを直列に接続したもの（図2参照）。
5
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 この規格では，“コンデンサ”という用語が“コンデンサ又はRCユニット”を含む場合がある。
図2−RCユニット
1.5.7
貫通コンデンサ（同軸形）［lead-through capacitor (coaxial)］
コンデンサ素子が給電電流用中心導体を取り巻き，その中心導体及び外部ケースに対称的にこの素子を
結合して，同軸構造を形成しているコンデンサ。
このコンデンサは，接地円板取付け用フランジを用いて同軸上に取り付ける（図3参照）。
図3−貫通コンデンサ（同軸形）
1.5.8
貫通コンデンサ（非同軸形）［lead-through capacitor (non-coaxial)］
給電電流が，電極の電源側から負荷側に流れるか，又は電極に接して流れるコンデンサ（図4参照）。
a) 対称形貫通コンデンサ（非同軸形）
b) 非対称形貫通コンデンサ（非同軸形）
図4−貫通コンデンサ（非同軸形）
6
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 対称及び非対称形複合貫通コンデンサ（非同軸形）
d) 複合貫通コンデンサ（非同軸形）
図4−貫通コンデンサ（非同軸形）（続き）
1.5.9
バイパスコンデンサ（by-pass capacitor）
電磁障害電流をバイパスするコンデンサ（図5参照）。
注記 一般に，シングル形，デルタ形及びT接続形の三つの種類がある。シングル形コンデンサは，
一つのコンデンサを金属ケースの中に入れたもので，図5 a) のように一つの端子は，ケースに
接続する。デルタ形は，一つのクラスXのコンデンサ，及び二つのクラスYのコンデンサによ
って，図5 b) のようにデルタ回路網を形成する。T接続形は，三つのコンデンサ，すなわち
CA，CB及びCCを，図5 c) のようにT接続形に接続したものである。
デルタ形及びT接続形は，電気的に等価である（スター−デルタ変換）。T接続形の場合，ク
ラスXに相当するコンデンサはCBとCCとを直列接続したものであり，クラスYに相当するコ
ンデンサはCAとCB及びCAとCCとを直列接続したものである。
T接続形コンデンサの試験で，クラスXのコンデンサに相当する電圧印加を規定する場合，
ライン端子（L）と中性端子（N）との間に電圧を印加する。また，クラスYコンデンサに相
当する電圧印加を規定する場合には，ライン端子と中性端子とを一括接続し，それと接地端子
との間に電圧を印加する。
7
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) シングル形バイパスコンデンサ（金属ケース）
b) デルタ形バイパスコンデンサ（金属ケース）
c) T接続形バイパスコンデンサ（非金属ケース）
注記 非金属ケースのコンデンサでは，接地端子は，図5 c) に示すように独立端子として引き出している。
図5−バイパスコンデンサ
1.5.10
定格電圧（rated voltage）
カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度との間の全ての温度で，コンデンサの端子に連続して印加できる
定格周波数の交流実効動作電圧又は直流動作電圧のいずれかの電圧。
注記 この規格を適用するコンデンサのカテゴリ電圧は，定格電圧に等しくなっている。
1.5.11
定格電力（rated power）（直列RCユニットの場合に適用）
定格温度で連続動作中のRCユニットが消費する最大電力。
1.5.12
カテゴリ上限温度，最高使用温度（upper category temperature）
設計上，コンデンサを連続的に使用できる端子を含む最高表面温度。
注記1 貫通コンデンサ及びRCユニットでは，表面温度は通過する電流による内部発熱の影響を受
ける。
注記2 この規格を適用するコンデンサは，電源回路用であり，内部発熱を伴う場合があるため，JIS
C 5101-1の2.2.41（カテゴリ上限温度）を修正している。
1.5.13
カテゴリ下限温度，最低使用温度（lower category temperature）
設計上，コンデンサを連続的に使用できる端子を含む最低表面温度。
8
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 この定義が，JIS C 5101-1の2.2.10（カテゴリ下限温度）の定義と異なる理由は，1.5.12の注記
2と同じである。
1.5.14
定格温度（rated temperature）（貫通コンデンサ又は直列RCユニットの場合に適用）
貫通コンデンサでは，定格貫通電流を流すことができ，直列RCユニットでは定格電力を消費すること
ができる最高周囲温度。
注記 この定義が，JIS C 5101-1の2.2.24（定格温度）と異なる理由は，上記1.5.12の注記2と同じで
ある。
1.5.15
挿入損失（insertion loss）
障害防止器を挿入する前及び後の回路端子で測定した電圧比。
注記 デシベル（dB）で測定する場合の挿入損失は，10を底とした電圧比の対数の20倍で表す。
1.5.16
導体の定格電流（rated current of the conductors）（貫通コンデンサの場合に適用）
定格温度で連続動作中のコンデンサの導体に流すことができる最大許容電流。
1.5.17
主共振周波数（main resonant frequency）（2端子電磁障害防止コンデンサの場合に適用）
正弦波電圧を印加した場合，コンデンサのインピーダンスが最小となる最低周波数。
1.5.18
インパルス電圧（impulse voltage）
IEC 60060-1に規定する波形の非周期過渡電圧。
1.5.19
耐炎性（passive flammability）
コンデンサに外部の熱源を当てることに対する燃えにくさの度合い［JIS C 5101-1の2.2.16（耐炎性）参
照］。
1.5.20
発炎性（active flammability）
コンデンサが電気的負荷によって炎を出して燃える度合い。
1.6
表示
1.6.0A 一般事項
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
表示項目は，一般に，次の中から選定する。表示の優先順位は，記載の順とする。
a) 製造業者名又はその商標若しくは略号
b) 製造業者の形名又は個別規格に規定する形名
c) コンデンサのクラス及びサブクラス
d) 認証マーク
e) 公称静電容量又は公称抵抗値
f)
定格電圧及び電源の種類［交流電圧は記号“〜”（IEC 60417-5032参照），直流電圧は記号“ ”
（IEC 60417-5031参照）又は“ ”で表してもよい。さらに，交流電圧及び直流電圧には，それ
ぞれa.c.及びd.c.も用いることができる。］
9
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
g) 接続方法（必要がある場合）
h) 導体の定格電流（貫通コンデンサの場合）
i)
公称静電容量許容差（±20 %以外の場合）
j)
耐候性カテゴリ及び耐炎性カテゴリの記号
k) 定格温度
l)
製造年月（又は年週）
m) 引用個別規格
1.6.1
コンデンサ本体への表示
コンデンサには，1.6.0Aのa)，b)，c)及びd)を，また，b)によって定格が判断できない場合は，e)及び
f)並びに必要な項目をできるだけ多く，製造業者によって表示する。表示項目は，コンデンサの定格など
を明確に識別するために十分なものでなければならない。
注記 表面実装用コンデンサの場合は，附属書Fによる。
ISO 7000-0434による注意記号は，安全部品を取り付けるプリント配線板上に表示することが望ましい。
この記号は，正立正三角形の中に感嘆符が入っている形をしている。
この注意記号は，JIS C 6065の5.3（注意表示）を引用する。コンデンサ本体への表示の重複情報は，避
けることが望ましい。
1.6.2
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.0Aに規定する全ての項目を明瞭に表示する。国内認証の表示は，認証マー
クに替えて文字を用いて表示してもよい。
1.6.3
表示の追加
表示項目を追加する場合には，混乱しないように表示する。
1.7
クラスXのコンデンサ及びクラスYのコンデンサの分類
1.7.1
クラスXのコンデンサの分類
クラスXのコンデンサは，電源電圧に重畳されたインパルスのピーク電圧によって，2種類のサブクラ
ス（表1参照）に分類する。このようなインパルスは，外部の電源線上の雷撃及び周辺装置のスイッチの
開閉又はコンデンサを用いる装置内のスイッチの開閉によって発生する。
10
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−クラスXのコンデンサの分類
サブクラス
給電線からのピークインパルス
電圧
用途
耐久性試験前に印加する
ピークインパルス電圧UP
X1
2.5 kV を超え
4 kV 以下
高パルス用
CN≦1.0 μFの場合
UP＝4 kV
CN＞1.0 μFの場合
UP＝
F
C
6
N
10
4
−
kV
X2
2.5 kV 以下
一般用
CN≦1.0 μFの場合
UP＝2.5 kV
CN＞1.0 μFの場合
UP＝
F
C
6
N
10
5.2
−
kV
X1コンデンサは，定格電圧URが同じか，又はURよりも高いY2コンデンサで代用してもよい。X2コンデン
サは，URが同じか，又はURよりも高いX1コンデンサで代用できる。
注記1 1 μFを超える公称静電容量CNをもつコンデンサに対するピークインパルス電圧UPの低減係数は，CN
に対して1/2CNUP2を一定に保つように設定している。CNは，ファラド（F）で表す。
注記2 定格インパルス電圧及び定格電源電圧に関連する過電圧カテゴリは，JIS C 60664-1に規定がある。
1.7.2
クラスYのコンデンサの分類
クラスYのコンデンサは，表2に規定する3種類のサブクラス（Y1，Y2及びY4）に分類する。
表2−クラスYのコンデンサの分類
サブクラス
橋絡（bridge）する絶縁の種類
定格電圧範囲
耐久性試験前に印加する
ピークインパルス電圧UP
Y1
二重絶縁又は強化絶縁
500 V以下
UP＝8.0 kV
Y2
基礎絶縁又は付加絶縁
150 V以上
500 V以下
CN≦1.0 μFの場合
UP＝5.0 kV
CN＞1.0 μFの場合
UP＝
F
C
6
N
10
5
−
kV
Y4
基礎絶縁又は付加絶縁
150 V未満
UP＝2.5 kV
サブクラスY2のコンデンサは，定格電圧URが同じか，又はより高いサブクラスY1のコンデンサで代用しても
よい。
注記1 基礎絶縁，付加絶縁，二重絶縁及び強化絶縁の定義は，JIS C 0365に規定がある。
注記2 1 μFを超える公称静電容量CNをもつコンデンサに対するピークインパルス電圧UPの低減係数は，CN
に対して1/2CNUP2を一定に保つように設定している。CNは，ファラド（F）で表す。
注記3 定格インパルス電圧及び定格電源電圧に関連する過電圧カテゴリは，JIS C 60664-1に規定がある。
サブクラスY1のコンデンサの場合には，その他の部品と入れ替えてはならない。ただし，それぞれの
コンデンサが，対応するクラスX及び対応するクラスYの要求性能を満足する場合は，デルタ形又はT
接続形のバイパスコンデンサのように，クラスYのコンデンサとクラスXのコンデンサとを複合して用い
てもよい。
基礎絶縁を，一つのクラスYのコンデンサで橋絡してもよい。また，付加絶縁を，一つのクラスYのコ
ンデンサで橋絡してもよい。ただし，基礎絶縁と付加絶縁との組合せを，二つ以上のサブクラスY2又は
Y4のコンデンサの直列接続で橋絡する場合，これらのコンデンサは，同じクラス及びサブクラス，並びに
11
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
同じ定格電圧及び同じ公称静電容量値のものでなければならない。
注記 橋絡（bridge）とは，絶縁部を挟む両側の導電部間を，コンデンサの各端子によって，またい
で接続している状態をいう。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する推奨耐候性カテゴリは，次による。
この規格に規定するコンデンサは，JIS C 60068-1の附属書A（部品の耐候性カテゴリー）に規定する一
般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
カテゴリ下限温度 ：−65 °C，−55 °C，−40 °C，−25 °C及び−10 °C
カテゴリ上限温度 ：＋85 °C，＋100 °C，＋105 °C，＋125 °C及び＋155 °C
高温高湿（定常）の試験期間 ：21日及び56日
低温及び高温の試験温度は，カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
カテゴリ選定の指針は，IEC 60940による。
注記 IEC 60940の引用箇所を翻訳して，次に示す。
4.3 環境分類（耐候性カテゴリ）
環境分類は，例えば，25/085/21のように三つの数値で構成する。順に，カテゴリ下限温度：
−25 °C，カテゴリ上限温度：＋85 °C及び高温高湿（定常）の試験期間：21日を表す。
電磁障害防止部品を機器に組み込み使用する場合，部品の外部表面温度がカテゴリ温度範囲
を超える条件で使用してはならない。
耐湿性の分類は，機器の使用が予測される環境によって規定する。例えば，21日の規定は，
一般によく選定される。
2.2
推奨定格値
2.2.1
公称静電容量（CN）
公称静電容量値は，JIS C 5063に規定するE6の標準数列から選定することが望ましい。
公称静電容量の推奨値は，1.0，1.5，2.2，3.3，4.7，6.8及びこれらの10n倍（nは，整数とする。）とする。
2.2.2
公称静電容量許容差
公称静電容量許容差は，±20 %以下とする。
2.2.3
定格電圧（UR）
交流定格電圧の推奨値は，125 V，250 V，275 V，400 V，440 V，500 V，760 V，及び1 000 Vとする。
交流定格電圧は，コンデンサを接続する電源の定格電圧に等しいか，又はより高い電圧を選定すること
が望ましい。コンデンサを設計する場合は，電源電圧が定格電源電圧よりも，最大10 %高くなる場合があ
ることを，考慮することが望ましい。スター接続では，コンデンサに印加する最大電圧は，用いるコンデ
ンサの公称静電容量許容差を考慮して算出する。
2.2.4
公称抵抗値（RN）
公称抵抗値の推奨値は，JIS C 5063のE6の標準数列から選定する。
2.2.5
定格温度
貫通コンデンサ及び直列RCユニットの定格温度は，＋40 °C以上とする。
12
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.6
耐炎性
推奨する耐炎性カテゴリ［JIS C 5101-1の表7（厳しさ及び要求性能）参照］は，カテゴリBとする。
カテゴリCを用いる場合は，受渡当事者間の協定による。試験方法及び代替耐炎性試験は，4.17を参照す
る。
ただし，コンデンサの体積が1 750 mm3未満の場合は，耐炎性カテゴリをCとしてもよい。
カテゴリCよりも厳しい耐炎性カテゴリの適用には，環境に影響を及ぼす可能性がある難燃性の添加物
が必要となる場合がある。これらのカテゴリを適用する場合には，火炎に対する安全性と環境要求事項と
の妥協案を見出すため，受渡当事者間で協議することが望ましい。
2.3
スリーブ，テープ，チューブ及び電線絶縁の要求事項
この規格を適用する部品に用いるスリーブ，テープ，チューブ及び電線の絶縁物は，実使用中に想定で
きる印加電圧及び到達する温度条件に，適合しなければならない。これらの材質は，難燃性クラスVW1
に，適合しなければならない。
絶縁形端子の要求がある場合には，無色透明又は白色であることが望ましい。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
コンデンサの製造の初期工程は，次のいずれかによる。
− 巻回形のコンデンサ：コンデンサ素子の巻取工程
− 単板磁器コンデンサ：誘電体への電極塗布工程
− 固定積層磁器コンデンサ：誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程
− その他のコンデンサ：用いる誘電体による品種別通則の規定と同じ工程
3.2
構造的に類似なコンデンサ
本質的に同じ製造工程及び材料を用いて製造したコンデンサは，同じクラス及び定格電圧である場合，
外形寸法及び公称静電容量値が異なっていても，構造的に類似なコンデンサとみなす。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
製造業者は，個別規格に規定があり，かつ，購入者の要求がある場合には，JIS C 5101-1のQ.9（出荷
ロット成績証明書）によって出荷対象ロットの成績証明書を作成する。耐久性試験後に要求する性能は，
静電容量値の変化，抵抗値の変化（RCユニットの場合），誘電正接（tan δ）及び絶縁抵抗とする。
3.4
認証試験
3.4.1
安全性を要求する試験の認証
表3及び表6は，安全性要求に限定した試験計画である。安全性要求だけの品質認証の試験計画は，3.4.3
及び表3に規定する定数抜取手順に基づく。実施する認証試験に先立って，製造業者は，品質認証試験前
に，認証を得ようとするコンデンサの基本的な仕様及び設計の詳細を登録することによって，設計の宣言
（附属書D参照）を認証機関に提出しなければならない。表面実装用コンデンサの安全性試験のための固
有の要求事項については，附属書Fによる。
3.4.2
品質認証
表4，表5及び表7は，品質認証を要求する場合に用いる。
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証
用試験手順）のa) に規定するロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験
の試験計画は，この規格の3.5及び表8による。JIS C 5101-1のQ.5.3 b)に規定する定数抜取手順に基づく
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
品質認証試験の計画は，この規格の3.4.3並びに表4及び表5による。二つの手順に対して，試料数及び
合格判定数は，同じ水準とする。試験条件及び要求性能は，同じとする。品質認証試験は，表4及び表5
に規定する定数抜取手順に基づき実施することが望ましい。
3.4.3
定数抜取手順に基づく品質認証
3.4.3.1
サンプリング方法
コンデンサの製造方法，定格電圧，クラス及びサブクラスが異なるコンデンサは，個々に認証を取得し
なければならない。各群の各定格電圧ごとのコンデンサの合計数は，表3，表4及び表5による。異なる
クラスを組み合わせた複合コンデンサ及び貫通コンデンサの場合は，表の規定に対応する個数を追加する。
試料は，4.17に規定する耐炎性及び4.18に規定する発炎性以外の試験には，認証を取得しようとする範
囲の中で，最大の公称静電容量及び最小の公称静電容量のものを同数ずつ用いる。耐炎性試験は，4.17の
抜取基準のほか，表3の注d) 及び表4の注g)による。発炎性試験は，4.18に規定する抜取基準による。RC
ユニットでは，最大及び最小の公称静電容量の試料は，認証範囲で最大及び最小の抵抗値の抵抗器を同数
ずつ用いる。公称静電容量が一つだけの場合は，表3，表4及び表5に規定するコンデンサの合計数を用
いて試験を実施する。
予備試料は，次による。
a) 群0での許容不適合品の置換え用として公称静電容量ごとに1個。
b) 表3又は表4に規定する注a) に基づいて試験を繰り返す必要がある場合，残りの予備試料を用いる。
群0に規定する試料は，全ての群の試験を適用する場合の数量である。全ての群の試験を適用しない場
合は，それに従い数量を減らす。
品質認証試験の計画に群を追加する場合，群0の試料数に，追加する群に必要な個数を追加する。
品質認証試験の場合の各群及び副群の試験試料数及び合格判定数を，表3，表4及び表5に規定する。
認証する磁器コンデンサの範囲が異なる温度特性若しくは温度係数からなる場合，又は範囲で用いる材
料が著しく異なる場合には，群2，群3及び群7の試料は，温度特性若しくは温度係数又は次に示す誘電
体材料ごとに規定する試料数とする。
− 誘電体材料区分A：比誘電率εr＜500の材料
− 誘電体材料区分B：比誘電率500≦εr＜5 000の材料
− 誘電体材料区分C：比誘電率εr≧5 000の材料
3.4.3.2
試験
一つの個別規格に規定する一つの定格電圧のコンデンサの品質認証を得るためには，表3，表4又は表5
に規定する一連の試験の一つを実施する。各群の試験は，記載の順に実施する。
全ての試料は，群0の試験を実施した後，その他の群に配分する。
群0の試験中に生じた不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内の全て又は一部の試験で不適合となった場合，“1個の不適合品”と数
える。
不適合品数がゼロの場合，品質認証は，承認される。
品質認証に関連する試験計画などの記載は，次による。
a) 安全性だけを要求する場合の定数抜取手順の試験計画は，表3，表5及び表6に規定している。
b) 安全性及び性能品質認証は，表4，表5及び表7に規定している。
c) 表3，表4又は表5には，各試験又は試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。
d) 表6又は表7には，箇条4に規定する試験の細目を規定するとともに試験条件及び要求性能の要点を
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
示している。
e) 個別規格に選定する試験方法，試験条件などを規定している。
定数抜取手順の試験計画についての試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する品質確認検査と同じ
とすることが望ましい。
表3−サンプリング計画 安全性を要求する試験
群番号
試験項目
細分箇条
番号
定格電圧及び
サブクラスごとの試料数
定格電圧及びサブクラス
ごとの合格判定数
群ごと
0
外観
4.1
群1A：6
群2 ：10
群3 ：(12〜24) b)＋6 c)
群6 ：(6〜18) d)
群7 ：24 f)
0
静電容量
4.2.2
抵抗値
4.2.4
耐電圧
4.2.1
絶縁抵抗
4.2.5
予備試料
−
14＋6 c)
1A
沿面距離及び空間距離
4.1.1
6
0 a)
端子強度
4.3
はんだ耐熱性
4.4
表示の耐溶剤性
4.20
2
高温高湿（定常）
4.12
10
0 a)
3
インパルス電圧
4.13
(12〜24) b)＋6 c)
0 a)
耐久性
4.14
クラスX及びRCユニット
4.14.3
12 b)
クラスY及びRCユニット
4.14.4
12 b)
貫通形e)
4.14.5
6 c)
6
耐炎性
4.17
(6〜18) d)
0
7
発炎性
4.18
24 f)
0
群0における試験は，どの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測する。
注a) 不適合が1個発生した場合は，その群の全ての試験を新しい試料で再試験し，不適合がない場合は合格とす
る。
b) クラスX及びYのコンデンサを組み合わせた複合コンデンサを試験する場合，12個の試料でクラスXのコ
ンデンサの試験を実施し，別の12個の試料でクラスYのコンデンサの試験を実施する。
c) 貫通コンデンサを試験する場合に追加する試料数。
d) 最小，中間（外形寸法が5種類以上の場合）及び最大外形寸法ごとに最大公称静電容量の試料3個及び最小
公称静電容量の試料3個の合計6個の試料で試験を実施する。
e) 電圧及び／又は電流組合せ試験を実施する場合は，4.14.6による。
f) サブクラスY1以外のコンデンサの場合。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−サンプリング計画 安全性及び性能試験 品質認証 評価水準DZ
群番号
試験項目
細分箇条
番号
定格電圧及び
サブクラスごとの試料数
定格電圧及びサブクラス
ごとの合格判定数
群ごと
DZ
0
外観
4.1
群1：6＋12
群2：10
群3：(12〜24) d)＋6 e)
群4：6
群5：4
群6：(6〜18) g)
群7：24 i)
0 a)
寸法（ゲージ法）
4.1
静電容量
4.2.2
抵抗値b)
4.2.4
誘電正接（tan δ）f)
4.2.3
耐電圧
4.2.1
絶縁抵抗
4.2.5
予備試料
−
20
1A
寸法（詳細）
4.1
6
0 a)
端子強度
4.3
はんだ耐熱性
4.4
部品の耐溶剤性
4.19
1B
はんだ付け性
4.5
12
0 a)
表示の耐溶剤性
4.20
温度急変
4.6
振動
4.7
衝撃g)
4.9
1
封止c)
4.10
18
0 a)
一連耐候性
4.11
2
高温高湿（定常）
4.12
10
0 a)
3
インパルス電圧
4.13
(12〜24) d)＋6 e)
0 a)
耐久性
4.14
クラスX及びRCユニット
4.14.3
12 d)
クラスY及びRCユニット
4.14.4
12 d)
貫通形h)
4.14.5
6 e)
4
充放電b)
4.15
6
0 a)
5
無線周波数特性c)
4.16
4
0 a)
6
耐炎性
4.17
(6〜18) g)
0
7
発炎性
4.18
24 i)
0
群0における試験は，どの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測する。
注a) 不適合が1個発生した場合は，その群の全ての試験を新しい試料で再試験し，不適合がない場合は合格とす
る。
b) 適用する場合。
c) 個別規格に規定がある場合。
d) クラスX及びYのコンデンサを組み合わせた複合コンデンサの試験を実施する場合，12個の試料でクラスX
のコンデンサの試験を実施し，別の12個の試料でクラスYのコンデンサの試験を実施する。
e) 貫通コンデンサの試験を実施する場合に追加する試料数。
f) RCユニット，又はメタライズドコンデンサ以外のコンデンサには要求しない。
g) 最小，中間（外形寸法が5種類以上の場合）及び最大外形寸法ごとに最大公称静電容量の試料3個及び最小
公称静電容量の試料3個の合計6個の試料の試験を実施する。
h) 貫通コンデンサの耐久性の電圧及び／又は電流の組合せ試験は，4.14.6による。
i) サブクラスY1以外のコンデンサの場合。
16
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−ロットごとの試験のための試験計画及びサンプリング計画
安全性を要求する試験
群番号
細分箇条番号及び試験項目
検査水準e)
IL
試料数
n
合格判定数
c
A0
4.2.2
静電容量
4.2.4
抵抗値a)
4.2.1
耐電圧d)
100 % b)
0
A1
4.1
外観
4.1
寸法c)
S-4
e)
0
4.2.5
絶縁抵抗（試験A）
I
e)
0
群A0における試験はどの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測する。
試料数（n）は，JIS C 5005-2の表1（サンプルサイズ）に規定するロットサイズで割り当てるサンプルサイズと
することが望ましい。
注a) 適用する場合。
b) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査である。抜
取水準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，抜取試料を全て検査する。この検査
は，工程の最終検査として実施してもよい。
c) 製造者が，寸法測定に統計的工程管理（SPC）又は不適合部品を避けるための手法を導入している場合は，こ
の試験を工程検査と置き換えてもよい。
d) 耐電圧試験は，絶縁抵抗での不適合品を発見するための適切な判定装置を兼ね備えていなければならない。
e) JIS C 5005-2の4.3.1（検査水準）による。
品質認証 評価水準DZ
群番号
細分箇条番号及び試験項目
検査水準
IL
試料数
n
合格判定数b)
c
A1
4.1
外観
4.1
寸法（ゲージ法）
S-4
c)
0
A2
4.2.2
静電容量
4.2.4
抵抗値a)
誘電正接（tan δ）（メタライズドコンデンサ及び
磁器コンデンサに適用する。）
4.2.1
耐電圧（試験A）
4.2.5
絶縁抵抗（試験A）
I
c)
0
B1
4.5
はんだ付け性a)
S-3
c)
0
群A2における試験はどの順番でも実施できるが，磁器コンデンサは静電容量値を最初に計測する。
注a) 適用する場合。
b) 不適合が1個発生した場合は，その群の全ての試験を新しい試料で再試験し，不適合がない場合は合格とす
る。
c) 試料数（n）は，JIS C 5005-2の表1に規定するロットサイズで割り当てるサンプルサイズとすることが望ま
しい。
17
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−安全性を要求する試験の計画
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数n
及び合格判
定数c b)
要求性能a)
群0
4.1
外観
ND
表3による。
損傷がない。
表示は，判読できる。
4.2.2
静電容量
規定の許容差以内
4.2.4
抵抗値
（適用する場合）
規定の許容差以内
4.2.1
耐電圧
方法：... d)
永久破壊又はフラッシ
オーバがない。
4.2.5
絶縁抵抗
方法：... d)
表11による。
群1A
4.1.1
沿面距離及び空間距
離
D
表3による。
4.1.1による。
4.3
端子強度
厳しさ：個別規格の規定による。
損傷がない。
4.4
はんだ耐熱性c)
（適用する場合）
試験前乾燥なし
試験方法は，個別規格による。
4.20
表示の耐溶剤性
溶剤：... d)
溶剤の温度：... d)
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理：... d)
表示は，判読できる。
4.4.2
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
損傷がない。
表13による。
表13による。
群2
4.12 高温高湿（定常）
D
表3による。
4.12.1
初期測定c)
群0の測定値を用いる。
4.12.2
試験条件
磁器コンデンサ：
試料の半数にURを印加し，残りの
半数は印加しない。
その他のコンデンサ：電圧は印加し
ない。
4.12.3
最終検査及び測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
損傷がない。
表示は，判読できる。
表15による。
表15による。
表15による。
表15による。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−安全性を要求する試験の計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数n
及び合格判
定数c b)
要求性能a)
群3
4.13.1
初期測定c)
D
群0の測定値を用いる。
表3による。
4.13 インパルス電圧
インパルスの回数：最大24回
ピーク電圧：表1及び表2による。
4.13.2及び4.13.3によ
る。
4.14 耐久性
試験時間：1 000 h
電圧，電流及び試験温度：4.14.3，
4.14.4，4.14.5及び4.14.6による。
4.14.7
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
損傷がない。
表示は，判読できる。
表16による。
表16による。
表16による。
表16による。
群6
4.17 耐炎性
D
表3による。
4.17.1による。
群7
4.18 発炎性
D
表3による。
4.18.4による。
群0における試験はどの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測する。
注a) 試験の細分箇条番号，試験条件及び要求性能は，箇条4を参照。
b) n＝試料数，c＝合格判定数，D：破壊試験，ND：非破壊試験
c) 磁器コンデンサで，静電容量のずれの正確な測定が要求される場合は，製造業者が推奨する前処理を附属書
Gに従って実施することが望ましい。
d) “... ”で示す値及び内容は，この規格では規定せずに，個別規格で規定することを示す。
表7−安全性及び性能試験計画 品質認証 評価水準DZ
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数n
及び合格判
定数c b)
要求性能a)
群0
4.1
外観
ND
表4による。
損傷がない。
表示は，判読できる。さ
らに，個別規格の規定に
よる。
4.1
寸法（ゲージ法）
個別規格の規定による。
4.2.2
静電容量
規定の許容差以内
4.2.4
抵抗値
（適用する場合）
規定の許容差以内
4.2.3
誘電正接（tan δ）
（メタライズドコンデンサ
及び磁器コンデンサに適用）
周波数：... d)
個別規格の規定による。
4.2.1
耐電圧
方法：... d)
永久破壊又はフラッシ
オーバがない。
4.2.5
絶縁抵抗
方法：... d)
表12による。
19
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−安全性及び性能試験計画 品質認証 評価水準DZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数n
及び合格判
定数c b)
要求性能a)
群1A
4.1
寸法（詳細）
D
表4による。
個別規格の規定及び表
9による。
4.3
端子強度
厳しさ：個別規格の規定による。
損傷がない。
4.4
はんだ耐熱性c)
（適用する場合）
試験前乾燥なし
試験方法は，個別規格による。
個別規格の規定による。
4.19 部品の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：... d)
溶剤の温度：... d)
方法2
後処理：... d)
4.4.2
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
損傷がない。
表13による。
表13による。
群1B
4.5
はんだ付け性
（適用する場合）
D
エージングなし
方法：個別規格の規定による。
表4による。
端子にはんだが良好に
付着しているか，又はは
んだ平衡法を適用する
場合は，3秒間以内には
んだが流れる。
4.20 表示の耐溶剤性
溶剤：... d)
溶剤の温度：... d)
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理：... d)
表示は，判読できる。
4.6
温度急変c)
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
期間t1＝30 min
4.6.1 最終検査
外観
損傷がない。
4.7
振動
取付方法及び厳しさ：個別規格の規
定による。
4.7.2
最終検査
外観
損傷がない。
4.9
衝撃
取付方法及び厳しさ：個別規格の規
定による。
4.9.2
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
損傷がない。
4.9.2による。
表14による。
20
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−安全性及び性能試験計画 品質認証 評価水準DZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数n
及び合格判
定数c b)
要求性能a)
群1
4.10 封止（適用する場合）
D
JIS C 60068-2-17の試験Qc又は試
験Qdのいずれによるかは個別規格
の規定による。
表4による。
漏れの痕跡がない。
4.11 一連耐候性
4.11.1
初期測定c)
測定は，4.4.2又は4.9.2による。
温度：カテゴリ上限温度
4.11.2
高温
試験時間：16 h
4.11.3
温湿度サイクル
（試験Db），最初のサイクル
温度：カテゴリ下限温度
4.11.4
低温
試験時間：2 h
4.11.5
温湿度サイクル
（試験Db），残りのサイクル
4.11.6
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接（tan δ）（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
損傷がない。
表示は，判読できる。
表14による。
表14による。
表14による。
表14による。
表14による。
群2
4.12 高温高湿（定常）
D
表4による。
4.12.1
初期測定c)
群0の測定値を用いる。
4.12.2
試験条件
磁器コンデンサ：試料の半数にUR
を印加し，残りの半数は印加しな
い。
その他のコンデンサ：電圧は印加し
ない。
4.12.3
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接（tan δ）（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
損傷がない。
表示は，判読できる。
表15による。
表15による。
表15による。
表15による。
表15による。
群3
4.13.1
初期測定c)
D
群0の測定値を用いる。
表4による。
4.13 インパルス電圧
インパルスの回数：最大24回
ピーク電圧：... d)，表1及び表2に
よる。
4.13.2及び4.13.3によ
る。
4.14 耐久性
試験時間：1 000 h
電圧，電流及び試験温度：4.14.3，
4.14.4，4.14.5及び4.14.6による。
4.14.7
最終測定
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接（tan δ）（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
損傷がない。
表示は，判読できる。
表16による。
表16による。
表16による。
表16による。
表16による。
21
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−安全性及び性能試験計画 品質認証 評価水準DZ（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数n
及び合格判
定数c b)
要求性能a)
群4
4.15 充放電
D
メタライズドコンデンサ，磁器コン
デンサ及びこれらのコンデンサを
用いたRCユニットに適用。
表4による。
4.15.1
初期測定
測定条件がこの試験の要求条件と
同じ場合は，群0の測定値を用いて
もよい。ただし，RCユニットを除
いて，誘電正接（tan δ）は，次の条
件で測定する。
CN≦1 μF：10 kHz
CN＞1 μF： 1 kHz
4.15.3
最終測定
静電容量
初期測定と同じ周波数の誘電正接
（tan δ）（RCユニット以外）
抵抗値（適用する場合）
絶縁抵抗
表17による。
表17による。
表17による。
表17による。
群5
4.16 無線周波数特性
ND
個別規格に規定がある場合，測定方
法は，個別規格の規定による。
表4による。
個別規格の規定による。
群6
4.17 耐炎性
D
−
表4による。
4.17.1による。
群7
4.18 発炎性
D
−
表4による。
4.18.4による。
群0における試験はどの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測する。
注a) 試験及び要求性能の細分箇条番号は，箇条4による。
b) n＝試料数，c＝合格判定数，D＝破壊試験，ND＝非破壊試験
c) 磁器コンデンサで，静電容量のずれの正確な測定が要求される場合は，製造業者が推奨する前処理を附属書
Gに従って実施することが望ましい。
d) “... ”で示す値及び内容は，この規格では規定せずに，個別規格で規定することを示す。
3.5
品質確認検査
品質確認検査を実施する前に，表10によって全数の端子間に耐電圧試験を実施する。
試験の詳細は，製造業者が指定する。ただし，試験時間は1秒間以上とする。
試験を1秒〜2秒間で実施する場合の試験電圧は，表10に規定する電圧に図6の線Bの値を乗じた値以
上とする。
22
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図6−試験時間−電圧軽減率
クラスYのコンデンサに，交流に替えて直流の試験電圧を印加する場合，電圧は，表10の交流試験電
圧の1.5倍とし，更に図6の線Bの値を乗じた値以上とする。
ロットごとの品質確認検査の前に全ての不適合品は，除去する。
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1
群A及び群B検査
検査は，表8に基づいてロットごとに実施する。
製造業者は，次の事項に従って製造中の製品の複数検査ロットを集約してもよい。
a) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサによって構成する（3.2参照）。
b) 試料は，検査ロットに含まれる定格値（定格電圧及び公称静電容量）及び外形寸法の代表とする。
1) 試料数に関して
2) 一組合せ当たり5個以上
c) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，一組合せ当たり4個以下のとき，製造業者は，試料
の抜取基準について，認証機関の承認が必要である。
群A検査の検査ロットは，同一の定格電圧，クラス及びサブクラスのコンデンサで構成し，また，一つ
の連続生産品から抜き取る。
耐電圧試験では，クラスYのコンデンサの不適合があってはならない。
群B検査に対しては，検査内容に応じて類似な工程及び材料によって製造したコンデンサで構成する。
3.5.1.2
群C検査
3.5.1.2.1
安全性を要求する試験
附属書Dに規定する設計の宣言を変更するときには，認証機関から，表6に従った再認証試験の実施を
要求される場合がある。
認証機関は，意図した変更に関して連絡を受けた後，再認証試験の実施について決定する。
3.5.1.2.2
定期的品質確認検査
群C検査は，定期的に実施する。
表8に規定する定期的品質確認検査に用いる試料は，特定の期間の製品を代表するもので，同一の定格
23
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電圧，クラス及びサブクラスから抜き取る。その後の期間では，認証の全範囲に及ぼすように，製造中の
その他の外形寸法のものを試験する。
耐電圧試験では，クラスYのコンデンサの不適合があってはならない。
3.5.2
試験計画
3.5.2.1
安全性を要求する試験の試験計画
ロットごとの検査の計画又は再認証試験の基準は，表5及び附属書Dによる。
3.5.2.2
品質確認検査の試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブランク個別規格
｛例えば，JIS C 5101-14-3の箇条2（検査要求事項）の表4［ロットごとの品質確認検査の試験計画（群A
及び群B検査）−評価水準DZ］｝に規定する。
3.5.3
長期保管品の出荷
長期保管品を出荷する場合の再検査は，3年以内の間隔で実施する。JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後
の出荷）の規定に基づいて再検査を実施する。この場合，最大試験電圧での耐電圧，静電容量，抵抗値（適
用する場合）及び絶縁抵抗は，群A検査の規定によって実施し，はんだ付け性は，群B検査の規定によっ
て実施する。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格には，評価水準DZ（表8参照）を規定することが望ましい。
表8−評価水準DZの試験計画
検査副群b)
評価水準 DZ
IL
c
A1
S-4
0
A2
I
0
B1
S-3
0
検査副群b)
評価水準 DZ
p
n
c a)
C1A
6
6
0
C1B c)
6
12
0
C1
6
18
0
C2
6
10
0
C3
クラスX及びRCユニット
3
12 d)
0
クラスY及びRCユニット
12 d)
貫通形
6 e)
C4
6
6
0
C5
12
4
0
C6
12
6〜18
0
C7
12
24
0
24
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表8−評価水準DZの試験計画（続き）
試料数（n）は，JIS C 5005-2に規定する表1（サンプルサイズ）のロットサイズで割り当てるサンプルサイズと
することが望ましい。
IL＝検査水準，p＝周期（月），n＝試料数，c＝合格判定数
注a) 不適合が1個発生した場合は，その群の全ての試験を新しい試料で再試験し，不適合がない場合は合格とす
る。
b) 検査副群の項目は，ブランク個別規格の箇条2に規定している。
c) この検査副群の振動又は衝撃の試験は，12か月ごとに実施する。
d) クラスX及びYのコンデンサを組み合わせた複合コンデンサを試験する場合，12個の試料でクラスXのコ
ンデンサの試験を実施し，別の12個の試料でクラスYのコンデンサの試験を実施する。
e) 貫通コンデンサの試験を実施する場合に追加する試料数。
4
試験及び測定方法
この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。
50 Hzと100 Hzとの間の周波数で実施する交流試験は，50 Hzと100 Hzとの間のいかなる公称周波数に
対しても有効とする。疑義がある場合には，50 Hzを測定周波数の基準とする。
4.1
外観及び寸法
4.1.0A 一般事項
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）によるほか，次による。
4.1.1
沿面距離及び空間距離
極性が異なる充電部間，又は充電部と金属ケースとの間のコンデンサ外部の沿面距離及び空間距離は，
表9に規定する値以上とする。
表9は，JIS C 60664-1に基づくが，機器の安全規格JIS C 9335-1，JIS C 6065及びJIS C 6950-1も，考
慮している。詳細については，JIS C 60664-1を参照してもよい。
表9は，次の環境条件を主要な指針として用いて作成している。
− 汚損度2
− 標高≦2 000 m
− 材料のCTI（比較トラッキング指数）≧100
部品の材料のCTIについて，JIS C 60664-1の規定に適合すれば，表9に規定する距離よりも小さい沿面
距離を用いることができる。沿面距離は，常に，この表からの空間距離に等しいか，又はより大きくなけ
ればならない。機器の規格は，ここに規定するよりも大きい距離を要求する場合がある。
適否は，コンデンサ外部の測定についてのJIS C 60664-1に規定する方法によって測定し判定する。汚損
度2以外の環境での使用を意図するコンデンサ［例えば，防滴形コンデンサ及び防まつ（沫）形コンデン
サ］又は標高が2 000 mよりも高いところで用いるコンデンサの場合，追加の要求性能が必要となる場合
がある。これらの指針は，JIS C 60664-1を参照する。
25
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表9−沿面距離及び空間距離
測定点
定格電圧範囲
UR≦130 V
130 V＜UR≦250 V 250 V＜UR≦500 V 500 V＜UR≦760 V
760 V＜UR
≦1 000 V
沿面距離
mm
空間距離
mm
沿面距離
mm
空間距離
mm
沿面距離
mm
空間距離
mm
沿面距離
mm
空間距離
mm
沿面距離
mm
空間距離
mm
極性が異なる
充電部間
（機能絶縁）a)
2.0
1.5
3.0
2.5
4.0
3.0
6.3
5.5
8.0
5.5
基礎絶縁表面
上の充電部と
その他の金属
部との間b)
2.0
1.5
4.0
3.0
5.0
4.0
6.3
5.5
8.0
7.5
強化絶縁表面
上の充電部と
その他の金属
部との間c)
8.0
8.0
8.0
8.0
10.0
8.0
12.6
11.0
16.0
11.0
注記 500 Vを超える強化絶縁のデータは，参考事項であり規定ではない。この規格では，サブクラスY1のコンデ
ンサは，500 V以下を範囲としている。
注a) この規定値は，クラスXのコンデンサでの端子相互間の測定に適用する。
b) この規定値は，次の場合に適用する。
− クラスXのコンデンサの各端子と金属ケースとの間。
− サブクラスY2又はY4のコンデンサの端子間。
− サブクラスY2又はY4のコンデンサの各端子と金属ケースとの間。
c) この規定値は，（500 V以下の）サブクラスY1のコンデンサでの端子相互間の測定に適用する。
4.2
電気的試験
4.2.1
耐電圧
4.2.1.0A 一般事項
耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，次による。
4.2.1.1 直流試験回路
注記 回路は，JIS C 5101-1の図3（耐電圧試験回路）を参照する。
試料のコンデンサ又は試料を構成するコンデンサの一部が，メタライズドフィルムコンデンサ又はメタ
ライズド紙コンデンサの場合，コンデンサC1は用いない。
R1と（C1＋CX）との積は，0.01秒を超え1秒以下とする。
R1は，電源の内部抵抗を含む。
R2は，放電電流を0.05 A以下に制限する。
4.2.1.2
交流試験回路及び方法
品質認証試験及び定期的品質確認検査で50 Hz又は60 Hzの電圧を印加する場合，電圧は，しゅう（摺）
動変圧器から給電した変圧器を通して供給し，その電圧は，150 V/sを超えない割合で0 V近傍から試験電
圧まで上昇させ，試験電圧に到達後規定の時間保持する。その後，0 V近傍まで電圧を下げた後，適切な
抵抗器を通してコンデンサの放電を実施する。
ロットごとの品質確認検査及び全数検査は，規定する試験電圧を瞬時に印加するが，過電圧のピークが
発生しないようにすることが望ましい。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.1.3
印加電圧
表10に規定する電圧を，品質認証試験及び定期的品質確認検査の場合は1分間，ロットごとの品質確認
検査の場合は2秒間，JIS C 5101-1の表3（測定箇所）に規定する測定箇所に印加するほか，次による。
a) JIS C 5101-1の表3の2cの試験は，実施しない。
b) 非金属ケースを用いたコンデンサには，試験Cの耐電圧試験を，品質認証試験及び定期的品質確認検
査だけに対して実施する。
c) 試験Cの試験電圧印加方法は，個別規格に規定する。個別規格に規定がない場合，認定試験には，JIS
C 5101-1の4.6.2.3.2［金属はく（箔）法］の金属はく法を用いる。
注記 この試験は，非金属ケース又は絶縁金属ケースの絶縁コンデンサだけに適用できる｛JIS C
5101-1の4.6.2.3［試験C−外部絶縁（非金属ケース又は絶縁形金属ケースに入った絶縁形コン
デンサに適用）］参照｝。
d) 試験時間が1秒〜2秒間の間になる場合は，表10に規定する試験電圧を，図6に示す電圧軽減率を考
慮して増加させる。
繰返し耐電圧試験を実施する場合，コンデンサを損傷することがある。繰返し耐電圧試験を使用者が実
施する場合には，印加電圧は，表10に規定する試験電圧の66 %よりも大きくならないことが望ましい。
表10−耐電圧
サブクラス
定格電圧範囲
試験A
試験B又は試験C
X1
X2
1000 V以下
4.3UR (d.c.) c)
2UR＋1 500 V (a.c.)
ただし，2 000 V (a.c.)a)以上
Y1
500 V以下
4 000 V (a.c.)
4 000 V (a.c.)
Y2
150 V以上
500 V以下
UR＋1 200 V (a.c.)
ただし，1 500 V (a.c.)b)以上
2UR＋1 500 V (a.c.)
ただし，2 000 V (a.c.)b)以上
Y4
150 V未満
900 V (a.c.) b)
900 V (a.c.) b)
注a) 図5 b)及び図5 c)に示すデルタ形及びT接続形コンデンサに加える端子ケース間の試験電
圧は，クラスYのコンデンサの試験電圧とする。
b) サブクラスY2及びY4のコンデンサでのロットごとの品質確認検査の交流試験電圧は，
規定する交流電圧の1.5倍の直流電圧としてもよい。
c) この直流試験のURは，定格交流電圧である。
4.2.1.4
要求性能
試験中に永久的な絶縁破壊又はフラッシオーバが発生してはならない。
注記 メタライズドフィルムコンデンサは，試験電圧を印加中に自己回復する絶縁破壊の発生があっ
てもよい。
4.2.2
静電容量
4.2.2.0A 一般事項
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
4.2.2.1
測定条件
測定する静電容量は，等価直列静電容量とする。
測定周波数は，1 kHzとする。ただし，CN＜100 pF（種類2）及びCN≦1 000 pF（種類1）の磁器コンデ
ンサの測定周波数は，1 MHzとする。
測定温度は，JIS C 5101-1の4.2.1［測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）］による。
測定電圧は，定格電圧以下とし，磁器コンデンサに対しては，1.0 V±0.2 Vとする。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
測定した磁器コンデンサの公称静電容量は，微小信号での静電容量であり，製造業者は，磁器コンデン
サについて次の情報を提供する。
a) 静電容量許容差及び静電容量の温度特性（又は温度係数）を考慮した，定格電圧を印加したときにコ
ンデンサに流れる50 Hz又は60 Hzの予測最大電流。
b) 静電容量許容差及び静電容量の温度特性（又は温度係数）による変化を合算した予測最小静電容量。
4.2.2.2
要求性能
静電容量の値は，規定の許容差内とする。
4.2.3
誘電正接（tan δ）
この試験は，メタライズドコンデンサ及び磁器コンデンサに適用する。
誘電正接は，JIS C 5101-1の4.8.1［誘電正接（損失角の正接）］によるほか，次による。
測定周波数は，CNが1 μF以下の場合は10 kHz，CNが1 μFを超える場合は，1 kHzとする。
磁器コンデンサの場合の測定周波数は，1 kHzとする。ただし，CN＜100 pF（種類2）及びCN≦1 000 pF
（種類1）の磁器コンデンサの測定周波数は，1 MHzとする。
4.2.4
抵抗値［等価直列抵抗（ESR）］（RCユニットの場合に適用）
抵抗値は，等価直列回路での抵抗成分（ESR）として，次の周波数で測定する。
RN×CN＜50 μsの場合，100 kHz
RN×CN≧50 μsの場合，1 kHz
ここに，
RN： 公称抵抗値（Ω）
CN： 公称静電容量（F）
4.2.5
絶縁抵抗
4.2.5.0A 一般事項
絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，次による。
ロットごとの品質確認検査では，絶縁抵抗の値が表11及び表12に規定する値に到達するまでの測定時
間は，60秒間より短くてよい。
4.2.5.1
温度補正
個別規格に規定がある場合は，測定温度を記録する。温度が，20 °Cと異なる場合は，関連する品種別
通則又は個別規格に規定する補正係数を測定値に乗じて測定値を補正する。
4.2.5.2
要求性能
絶縁抵抗は，適用する表11又は表12のいずれかに規定する値以上とする。
表11−絶縁抵抗−安全性を要求する試験
試験A
試験B又は試験C
CN＞0.33 μFの場合
RCN積
s
CN≦0.33 μFの場合
R値
MΩ
R値
MΩ
2 000 b)
6 000 b)
6 000 b)
注記 表12の注記1〜注記4を参照。
注b) 表12の注b) による。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表12−絶縁抵抗−安全性及び性能試験
誘電体
試験A
試験B又は試験C
CN＞0.33 μFの場合
RCN積
s
CN≦0.33 μFの場合
R値
MΩ
R値
MΩ
紙a), b)
2 000
6 000
6 000
プラスチック
5 000
15 000
30 000
磁器
−
6 000
3 000
注記1 表中のCNは公称静電容量を表し，Rは絶縁抵抗の測定値を表している。
注記2 該当するJIS（又はIEC規格）を引用できる場合は，性能試験用の個別規格に，より厳しい
規定をしてもよい。
注記3 一つの端子を，ケースに接続するコンデンサでは，試験Aに対する絶縁抵抗の規定値を用
いることが望ましい。
注記4 放電抵抗器をもつコンデンサでは，測定は，放電抵抗器を切り離して実施することが望まし
い。コンデンサを破壊せずに，抵抗器を切り離せない場合は，群Aの絶縁抵抗検査は省略
することが望ましい。品質認証試験及び定期的品質確認検査は，試験試料の半数を，特別に
作製した放電抵抗器がないコンデンサの試料に対して実施することが望ましい。
注a) プラスチックと紙との複合誘電体にも適用する。
b) エステル含浸紙誘電体のコンデンサに対しては，表の値を左から500 s，1 500 MΩ及び2 000
MΩに変更する。
4.3
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
試験方法及び厳しさは，個別規格の規定による。
平形接続子の試験は，個別規格に規定する。試験方法及び厳しさは，JIS C 2809の適用できる部分に従
う。
4.4
はんだ耐熱性
4.4.0A 一般事項
はんだ耐熱性は，10 mmよりも長い絶縁リード線のコンデンサ，又はねじ接続用端子，平形接続子など
のはんだ付け用でない端子をもつコンデンサには適用しない。
前処理を実施する場合には，初期測定は，前処理後に実施する。
固定磁器コンデンサ種類2において，静電容量のずれを正確に測定する必要がある場合，製造業者が推
奨する前処理を実施することが望ましい（附属書G参照）。
この試験は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。
4.4.1
試験条件
試験前の乾燥は実施しない。
4.4.2
最終測定及び要求性能
試験後の最終測定は，表3，表4，表6，表7，表8及び表F.1の群1Aの試験後の測定であり，残りの群
1の試験を行う前のもので，中間測定に相当する。コンデンサは，外観検査及び測定試験を実施し，表13
に規定する要求性能を満足しなければならない。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表13−はんだ耐熱性−要求性能
検査又は測定項目
検査又は測定方法
要求性能
外観検査
4.1
損傷があってはならない。
静電容量
4.2.2
静電容量変化は，5 % a) 以下とする。
絶縁抵抗（適用する場合）
4.2.4
|∆R/R|≦5 %
注a) 磁器コンデンサの静電容量変化は，10 %以下とする。
4.5
はんだ付け性
4.5.0A 一般事項
ねじ接続用端子，平形接続子などのはんだ付け用でない端子をもつコンデンサには適用しない。
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。
4.5.1
試験条件
エージングは適用しない。
方法2を実施する場合は，こて先Aのはんだこて先を用いる。
4.5.2
要求性能
表7の群1Bの4.5の規定による。
4.6
温度急変
4.6.0A 一般事項
固定磁器コンデンサ 種類2において，静電容量のずれを正確に測定する必要がある場合，製造業者が推
奨する前処理を実施することが望ましい（附属書G参照）。
前処理を実施する場合には，初期測定は，前処理後に実施する。
温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
サイクル数：5サイクル
規定温度での保持時間：30分間
4.6.1
最終検査
コンデンサは，外観検査を実施し，視認できる損傷があってはならない。
4.7
振動
4.7.0A 一般事項
振動は，JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，次による。
4.7.1
試験条件
試験Fcの次の厳しさを適用する。
次のうちの一つの周波数範囲，10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz又は10 Hz〜2 000 Hzで，振幅0.75 mm又
は加速度100 m/s2のいずれか緩い方の振幅とする。全試験持続時間は6時間とする。
個別規格に周波数範囲及び用いる取付方法を規定する。リード線によって取り付けるアキシャルリード
線端子コンデンサは，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2
最終検査
コンデンサは，最終検査として外観検査を実施し，視認できる損傷があってはならない。
4.8
バンプ
（バンプ試験は衝撃試験に統合され，試験規格が廃止になったため，この規格では，適用しない。）
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.9
衝撃
4.9.0A 一般事項
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，次による。
4.9.1
試験条件
推奨する厳しさは，次による。
パルス波形：正弦半波であり，その条件は表13Aによる。
表13A−パルス条件
ピーク加速度
m/s2
対応するパルス持続時間
ms
500
11
1000
6
取付方法，厳しさ及び各軸ごとの試験回数を，個別規格に規定する。
4.9.2
最終測定及び要求性能
試験後の最終測定は，群1Bの試験後の測定であり，残りの群1の試験を行う前のもので，中間測定に
相当する。
コンデンサは，外観検査及び測定を実施し，次の要求性能を満足しなければならない。
− 外観には，視認できる損傷があってはならない。
− 表4の群0での測定値に対する静電容量の変化率が，5 %以下である。ただし，磁器コンデンサでは
10 %以下とする。
− 誘電正接（tan δ）は，個別規格に規定する値以下とする。
− 抵抗値の変化率（適用できる場合）は，表14に規定する値以下とする。
前処理を実施する場合には，基準となる初期測定は，前処理後に実施する。
4.10 封止
4.10.0A 一般事項
個別規格に規定がある場合に適用する。
封止は，JIS C 5101-1の4.20（封止）によるほか，次による。
4.10.1 試験条件
コンデンサには，JIS C 60068-2-17の試験Qc（ガスリークによる封止試験）又は試験Qd（充てん液のリ
ークによる容器の封止試験）のいずれかの対応する試験を実施する。個別規格に規定がない場合は，試験
Qcでは，試験方法1で実施する。
4.10.2 要求性能
適用する場合，試験中又は試験後に漏れの兆候があってはならない。
4.11 一連耐候性
4.11.0A 一般事項
固定磁器コンデンサ種類2において，静電容量のずれの正確な測定が必要な場合，製造業者が推奨する
前処理を実施することが望ましい（附属書G参照）。
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.11.1 初期測定
一連耐候性の初期測定は，4.4.2又は4.9.2のいずれかに対応する測定とする。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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4.11.2 高温
高温は，JIS C 5101-1の4.21.2（高温）によるほか，次による。
カテゴリ上限温度での測定は，適用しない。
4.11.3 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル
温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最
初のサイクル］による。
4.11.4 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.4（低温）によるほか，次による。
カテゴリ下限温度での測定は，実施しない。
4.11.5 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル
温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残
りのサイクル］による。
4.11.6 最終測定及び要求性能
最終測定は，JIS C 5101-1の4.21.7（最終測定）によるほか，次による。
後処理は，標準試験条件で24時間±2時間とする。
後処理後，コンデンサは外観検査及び測定を実施し，表14に規定する要求性能を満足しなければならな
い。
表14−一連耐候性−要求性能
検査又は測定項目
検査又は測定方法
要求性能
外観検査
4.1
損傷があってはならない。
表示は，判読できる。
静電容量
4.2.2
最終測定の静電容量変化は，対応する4.4.2又は
4.9.2の測定値に対して5 % a) 以下とする。
誘電正接（tan δ）
（メタライズドコンデンサの
場合に適用する。）
4.2.3
群0での測定からの誘電正接（tan δ）の増加は，
次の値を超えてはならない。
CN≦1 μF：0.008
CN＞1 μF：0.005
抵抗値（適用する場合）
4.2.4
|∆R/R|≦5 %
耐電圧
4.2.1
表10に規定する試験電圧で，永久的な絶縁破壊又
はフラッシオーバがあってはならない。
絶縁抵抗
4.2.5
表11又は表12に規定する値の50 %以上とする。
注a) 磁器コンデンサでは，静電容量変化を，10 %以下とする。
4.12 高温高湿（定常）
4.12.0A 一般事項
固定磁器コンデンサ種類2において，静電容量のずれを正確に測定する必要がある場合，製造業者の推
奨する前処理を実施することが望ましい（附属書G参照）。
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
4.12.1 初期測定
初期測定は，表3又は表4の群0での測定値を用いる。前処理を実施する場合には，初期測定は，前処
理後に実施する。
4.12.2 試験条件
試験条件は，次による。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
温度 ：40 ℃±2 ℃
相対湿度：(93±3) %
試験期間：21日又は56日
磁器コンデンサの試験では，試料の半数に定格電圧を印加し，残りの半数には電圧を印加しない。
磁器コンデンサ以外の試験では，試験中に電圧を印加しない。
4.12.3 最終測定及び要求性能
後処理は，標準状態で1時間〜2時間実施する。
後処理後，コンデンサは，外観検査及び測定を実施し，表15に規定する要求性能を満足しなければなら
ない。
表15−高温高湿（定常）−要求性能
検査又は測定項目
検査又は測定方法
要求性能
外観検査
4.1
損傷があってはならない。
表示は，判読できる。
静電容量
4.2.2
最終測定の静電容量変化は，対応する表3又は表
4の群0での測定値に対して5 % a) 以下とする。
誘電正接（tan δ）
（メタライズドコンデンサの
場合に適用）
4.2.3
群0での測定からの誘電正接（tan δ）の増加は，
次の値を超えてはならない。
CN≦1 μF：0.008
CN＞1 μF：0.005
抵抗値（適用する場合）
4.2.4
|∆R/R|≦5 %
耐電圧
4.2.1
表10に規定する試験電圧で，永久的な絶縁破壊又
はフラッシオーバがあってはならない。
絶縁抵抗
4.2.5
表11又は表12に規定する値の50 %以上とする。
注a) 磁器コンデンサでは，静電容量変化を，15 %以下とする。
4.13 インパルス電圧
4.13.0A 一般事項
インパルス電圧試験は，4.14に規定する耐久性と一連で実施する。
4.13.1 初期測定
初期測定は，表3又は表4の群0の測定値を用いる。
前処理を実施する場合には，初期測定は，前処理後に実施する。
4.13.2 試験条件
個々のコンデンサに対して，同極性の最大24回のインパルスを印加する。インパルスの時間間隔は，10
秒間以上とする。電圧インパルスのピーク電圧は，表1及び表2による。
立上がり時間trを，IEC 60060-1の7.1.18によって，次のように定義する。
tr＝(t90−t30)×1.67
減衰時間tdの定義は，IEC 60060-1の7.1.22による。
波形は，試験回路のパラメータによって決める。詳細な試験回路は，附属書Aによる。
試験の前に，Cxに0.01 μF及び0.1 μFを用い，その他の回路定数は，表A.1に規定する値を用いて回路
の機能を確認する。立上り時間tr及び減衰時間tdは，表A.2に規定する値（許容差
50
0
＋%）とする。この確
認に用いるコンデンサCxには，高誘電率系磁器コンデンサを使用しないほうがよい。
波形が減衰振動を示す場合，インパルスのピークツーピーク値Uppは，インパルスのピーク電圧UCRの
10 %以内とする（図7参照）。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Upp：インパルスのピークツーピーク値
UCR：インパルスのピーク電圧
図7−インパルスの波形
4.13.3 要求性能
永久的な絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
連続3回のインパルスに対し，オシロスコープ・モニタによって，コンデンサ内に自己回復しない絶縁
破壊又はフラッシオーバが起きなかったことを示す波形が表示された場合には，試料のコンデンサは，適
合したものとして扱い，それ以上のインパルスを印加しない。
全24回のインパルスをコンデンサに印加した場合には，自己回復しない絶縁破壊又はフラッシオーバの
発生がない波形を示す回数が，3回以上のときは適合とし，2回以下のときは不適合とする。
4.14 耐久性
4.14.0A 一般事項
固定磁器コンデンサ種類2において，静電容量のずれの正確な測定の必要がある場合，製造業者の推奨
する前処理を実施することが望ましい（附属書G参照）。
耐久性は，インパルス電圧試験の終了後，1週間以内に開始する。JIS C 5101-1の4.23（耐久性）による
ほか，次による。
4.14.1 共通する試験条件
コンデンサは，他のコンデンサとの間が25 mm以内に近づかないように試験槽内に入れる。
コンデンサの幅又は直径が25 mm未満の場合，コンデンサ間の距離は，コンデンサの幅又は直径まで縮
小してもよい。ただし，この場合は，コンデンサが温度上昇しない場合だけとする。疑義がある場合には，
25 mmの間隔とする。
コンデンサを直接ふく（輻）射によって加熱してはならないし，また，コンデンサを設置したどの位置
でも規定する温度から±3 °Cを超えないように槽内の空気を循環させる。
自己回復性がないコンデンサでは，1 A又は供試コンデンサの静電容量値から算出する電流値よりも大
きな容量の適切なヒューズを，電源回路に接続する。ヒューズは，試験中に溶断してはならない。
注記 自己回復性があるコンデンサでは，故障の発生が分かるように，コンデンサの回路ごとに，適
切な特性のヒューズ又はその他の部品を接続してもよい。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.14.1.1 サンプリング
必要がある場合，クラスXのコンデンサ，クラスYのコンデンサ及び貫通形構造のコンデンサに対して
分割試験が実施できるように，表3又は表4に規定する数量に基づいて耐久性の試料を2分割又は3分割
してもよい。
例えば，デルタ形コンデンサ（1.5.9参照）を試験する場合には，12個のコンデンサは4.14.3によって試
験し，別の12個は4.14.4によって試験する。クラスYの貫通形コンデンサ（1.5.8参照）を試験する場合
には，12個のコンデンサは4.14.4によって試験し，6個は4.14.5によって試験する。
4.14.2 初期測定
初期測定は，4.13.1による。
4.14.3 クラスXコンデンサ及びクラスXコンデンサを組み込んだRCユニットの耐久性
多素子コンデンサの場合は，全てのクラスXのコンデンサ部分は並列に試験し，必要に応じてクラスY
のコンデンサ部分は短絡しておく。T接続形コンデンサ（1.5.9参照）の場合，試験は，通常，ライン端子
と中性端子との間で実施する。
コンデンサ及び定格温度を規定していないRCユニットにカテゴリ上限温度で，1.25URの電圧を印加す
る。さらに，1時間ごとに0.1秒間，1.5 UR又は1 000 Vのいずれか高い方の交流電圧US（実効値）を印加
して，1 000時間の耐久性試験を実施する。これらの電圧は，47 Ω±5 %の抵抗器を通じて個々のコンデン
サにそれぞれ印加する。試験回路は，附属書Bによる。
注記 抵抗器の値は，電源の高周波インピーダンスを模擬するように選定している。10 µFを超える
静電容量のコンデンサでは，抵抗器での消費電力が大きくなる。静電容量の増加によって，消
費電力は，非現実的な水準にまで上昇する。このような場合，安全性試験の認証機関は，供試
コンデンサのリアクタンス値5 %のより低い抵抗値を用いることを認められている。
定格温度の規定がある場合，RCユニットは，製造業者が指定する方法で取り付け，コンデンサに電圧
を印加せずに，槽を定格温度で安定化させる。その後電圧を印加し，この時点から時間を計測する。
再設定した抵抗器の内部（自己）発熱によって熱安定に達した後，1個のコンデンサのケース温度を測
定する。ケース温度は，カテゴリ上限温度を超えてはならない。
試験回路は，電圧切替え中に過渡電圧及び電流サージを発生しないように設計することが望ましい。こ
のため，US（実効値）に昇圧し，その後元に戻すために必要な合計時間が30秒間以内の場合には，新た
な電圧に切り替える前にコンデンサを放電をしてもよい。
4.14.4 クラスYコンデンサ及びクラスYコンデンサを組み込んだRCユニットの耐久性
多素子コンデンサ場合は，全てのクラスYのコンデンサ部分は並列に試験し，必要に応じてクラスXの
コンデンサ部分は短絡しておく。T接続形コンデンサ（1.5.9参照）の場合，試験は，通常，ライン端子と
中性端子とを短絡して，それらの端子と接地端子との間で実施する。
コンデンサにカテゴリ上限温度で，1.7URの電圧を印加し，さらに，1時間ごとに0.1秒間，1.5 UR又は
1 000 Vのいずれか高い方の交流電圧US（実効値）を印加して，1 000時間の耐久性試験を実施する。これ
らの電圧は，47 Ω±5 %の抵抗器を通じて個々のコンデンサにそれぞれ印加する。試験回路は，附属書B
による。
試験回路は，電圧切替え中に過渡電圧及び電流サージを発生しないように設計することが望ましい。こ
のため，USに昇圧し，その後元に戻すために必要な合計時間が30秒間以内の場合には，新たな電圧に切
り替える前にコンデンサを放電してもよい。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.14.5 貫通形構造品の耐久性
4.14.3及び4.14.4に基づいたコンデンサの耐久性試験に追加して，貫通形構造品の通電容量を試験する。
全ての貫通線を直列に接続し，コンデンサに，貫通線を通じて1.1IRの電流を流して1 000時間の耐久性試
験を実施する。試験中コンデンサ誘電体には電圧を印加しない。
コンデンサを製造業者が指定する方法で取り付け，コンデンサの貫通線に電流を流さないで槽を定格温
度に安定化させる。その後，貫通線へ通電し，この時点から時間の計測を始める。
温度が安定後，1個のコンデンサのケース温度を測定する。測定した温度は，カテゴリ上限温度を超え
てはならない。
4.14.6 電圧及び／又は電流組合せ試験
同軸貫通形コンデンサなど何種類かのコンデンサの場合は，同時にコンデンサに電圧試験及び電流試験
の両方を簡便に実施できる試験方法がある。個別規格に規定がある場合は，1 000時間の組合せ耐久性試験
を4.14.3（又は4.14.4）及び4.14.5の試験に代えて，4.14.3（又は4.14.4）の試料数を用いて，貫通形構造
品に定格電流の1.1倍の電流を流して実施してもよい。
1個のコンデンサのケース電流を4.14.5のように測定する。測定した温度は，カテゴリ上限温度を超え
てはならない。
4.14.7 最終測定及び要求性能
コンデンサは，表16に規定する順に外観検査及び測定を実施し，要求性能を満足しなければならない。
表16−耐久性−要求性能
検査又は測定項目
検査又は測定方法
要求性能
外観検査
4.1
損傷があってはならない。
静電容量
4.2.2
最終測定の静電容量変化は，対応する表3又は表
4の群0の測定値に対して10 % a) 以下とする。
誘電正接（tan δ）
（メタライズドコンデンサの
場合に適用する。）
4.2.3
群0での測定からの誘電正接（tan δ）の増加は，
次の値を超えてはならない。
CN≦1 μF：0.008
CN＞1 μF：0.005
抵抗値（適用する場合）
4.2.4
|∆R/R|≦10 %
耐電圧
4.2.1
表10に規定する試験電圧で，永久的な絶縁破壊又
はフラッシオーバがあってはならない。
絶縁抵抗
4.2.5
表11又は表12に規定する値の50 %以上とする。
注a) 磁器コンデンサでは，静電容量変化を，20 %以下とする。
4.15 充放電
4.15.0A 一般事項
充放電は，メタライズドコンデンサ，磁器コンデンサ及びこれらのコンデンサを用いたRCユニットだ
けに適用する。
充放電は，JIS C 5101-1の4.27（充放電試験及び突入電流試験）によるほか，次による。
4.15.1 初期測定
初期測定値は，表3又は表4の群0の測定値を用いる。RCユニット以外について，誘電正接（tan δ）
の測定は，JIS C 5101-1の4.8［誘電正接（損失角の正接）及び等価直列抵抗（ESR）］によるほか，次に
よる。
CN ：1 μF以下
CN
：1 μF超え
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周波数：10 kHz
周波数
：1 kHz
電圧 ：1 V（実効値）以下
ピーク電圧：定格電圧の3 %以下
前処理を実施する場合には，初期測定は，前処理後に実施する。
4.15.2 試験条件
コンデンサに1秒間当たり約1回の割合で充放電を10 000回実施する。
各サイクルは，コンデンサへの充電と放電とで構成する。交流コンデンサの試験電圧は，2×URとし，
直流コンデンサに対しては，試験電圧はURとする。
コンデンサは，抵抗値が(220×10−6/CN) Ωか，又は充電電流を1 A（又は個別規格に規定する値よりも高
い電流値）に制限する抵抗値か，いずれか大きい方の値の抵抗器を通して個々に試験電圧を充電する。
各コンデンサは，電圧変化の割合（dU/dt）の最大が約100 V/μsとなる値の抵抗器を通して個々に放電す
る。
RCユニットにおいて，100 V/μsでの放電が困難な場合は，短絡して放電する。
試験回路は，附属書Cによる。
4.15.3 最終測定及び要求性能
コンデンサは，表17に規定する要求性能を満足しなければならない。
表17−充放電−要求性能
測定項目
測定方法
要求性能
静電容量
4.2.2
最終測定の静電容量変化は，対応する表3又は表
4の群0の値の10 % a) 以下とする。
誘電正接（tan δ）
CN≦1 μFの場合，f＝10 kHz
（適用する場合）
4.15.1
4.15.1の測定からの誘電正接（tan δ）の増加値は，
80×10−4以下とする。
誘電正接（tan δ）
CN＞1 μFの場合，f＝1 kHz
（適用する場合）
4.15.1
4.15.1の測定からの誘電正接（tan δ）の増加値は，
50×10−4以下とする。
抵抗値（適用する場合）
4.2.4
|∆R/R|≦10 %
絶縁抵抗
4.2.5
表11又は表12に規定する値の50 %以上とする。
注a) 磁器コンデンサでは，静電容量変化を，20 %以下とする。
4.16 無線周波数特性
無線周波数特性について個別規格に規定する場合は，次の中から一つ以上の測定方法及び要求性能を用
いて規定してもよい。
− コンデンサの主共振周波数
− 挿入損失（可能な場合，CISPR 17の測定方法を用いる。）
− 共振周波数での抵抗値
− コンデンサのインピーダンス
− コンデンサのインダクタンス
4.17 耐炎性
4.17.1 JIS C 5101-1による試験
4.17.1.0A 一般事項
耐炎性は，JIS C 5101-1の4.38（耐炎性）によるほか，次による。
群0による試験及び前処理は，実施しない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験する外形寸法の種類数によって，6個〜18個の試料の試験を実施する。認証を得ようとする範囲の
最小，中間（認証を得ようとする範囲に5種類以上の外形寸法がある場合）及び最大外形寸法について試
験を実施する。それぞれの外形寸法に対し，認証を得ようとする範囲の最大及び最小の公称静電容量の試
料を，各3個試験する。
個別規格に規定する試料数及び耐炎性カテゴリに対応した品目別通則に規定する時間で，炎を当てる。
推奨する耐炎性カテゴリは，カテゴリBとする。カテゴリCを用いる場合は，受渡当事者間の合意によ
る。
適用外：コンデンサの体積が1 750 mm3未満の場合には，カテゴリCを認める。
カテゴリCよりも厳しい耐炎性カテゴリの適用には，環境に影響を及ぼす可能性がある難燃性の添加物
が必要となる場合がある。これらのカテゴリを適用する場合には，火炎に対する安全性と環境要求事項と
の妥協案を見出すため，受渡当事者間で協議することが望ましい。
セラミック及び金属だけで構成する表面実装用コンデンサの場合は，耐炎性試験を省略してもよい。
4.17.1.1 要求性能
全ての試料は，品目別通則に規定する燃焼時間を超えてはならない。
ティッシュペーパには着火してはならない。電気的測定は，要求しない。
4.17.2 代替耐炎性試験
4.17.2.0A 一般事項
部品が次のいずれかの場合には，次の代替試験方法を用いることができる。
− 耐炎性カテゴリBでない場合
− カテゴリCで受渡当事者間の同意ができず，かつ，コンデンサの体積が1 750 mm3以上の場合
− プラスチック外装材の耐炎性等級（燃焼性分類）がJIS C 60695-11-10のV-0でない場合
代替試験方法：3個の試料について，試験炎を15秒間，3回当てる。炎を当てる間隔は，15秒間とする。
試料は，炎を当てた後，1回目及び2回目は15秒間以上，かつ，3回目では60秒間以上燃え続けてはなら
ない。
4.17.2.1 試験準備の要求事項
試験のために，常圧でおよそ37.6 MJ/m3の発熱量をもつガス及び直径9.5 mmのチリルバーナを用いる。
試験炎は，バーナの空気引込み口を閉じた状態で，高さ19 mmとする。
4.17.2.2 試験の熱伝導の要求事項
部品は，最も発火しやすく，かつ，部品の構造から許容できる姿勢で取り付けなければならない。試験
炎の先端は，部品のどのような場所にも当てられるようにする。電気的測定は，要求しない。
4.18 発炎性
4.18.1 一般事項
発炎性は，次の手順で行う。ただし，この試験は，サブクラスY1のコンデンサには実施しない。
4.18.2 試験
24個の試料は，認証を得ようとする範囲の最大，最小及び中間の公称静電容量で，同数の試料数を用い
て試験する。認証を得ようとする範囲に二つだけの公称静電容量をもつ場合は，12個ずつを試験し，一つ
だけの公称静電容量の場合は，その公称静電容量の試料を24個試験する。
試料は，個々にチーズクロスで，1回以上3回未満隙間なく巻く。チーズクロスは，単位面積当たりの
質量が20 g/m2〜60 g/m2で，1 cm当たりの条数が(22×27)〜(45×34)の未処理の純綿で，試験前の24時間
標準状態で前処理を実施する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
個々のコンデンサは，そのリード線によって取り付ける。リード線の長さは，25 mm以上あることが望
ましい。
図8に示す試験回路によるほか，次による。
U〜 ＝UR±5 %
Ui ＝5 kV
7
0
＋%
サブクラスY2のコンデンサの場合
＝4 kV
7
0
＋%
サブクラスX1のコンデンサの場合
＝2.5 kV
7
0
＋% サブクラスX2及びY4のコンデンサの場合
個々の試料に，供試コンデンサの端子間が，放電時にUiとなる電圧に充電したタンクコンデンサから
20回の放電を実施する。放電間隔は，5秒
1
0
＋秒間とする。供試コンデンサCxに印加する電圧波形を，図9
に示す。
試験を通じて，供試コンデンサには，U〜を試験期間中及び最終の放電後120秒
10
0
＋秒間印加する。ただ
し，ヒューズが切れて回路が開放となった場合を除く。
Tr
：二次電圧U〜のブロッキング用絶縁変圧器。ただし，0.9×U〜以上の電圧で試験回路へ16 Aの電流を
供給できる十分な容量をもつ変圧器とする。
C1，C2 ：フィルタ用コンデンサ 1 μF±10 %
L1 ... L4 ：棒コアチョーク 1.5 mH±20 %，16 A
C3
：コンデンサ 0.033 μF±5 %
R
：抵抗器
5 Ω±2 % Cx≧1 μFの場合
10 Ω±2 % 0.22 μF≦Cx＜1 μFの場合
40 Ω±2 % 0.068 μF≦Cx＜0.22 μFの場合
100 Ω±2 % Cx＜0.068 μFの場合
Cx
：供試コンデンサ
Ut
：タンクコンデンサCtに印加する電圧
Ct
：タンクコンデンサCxが1 μF以下の場合は3 μF±5 %，Cxが1 μFを超える場合は3×Cx
推奨値は，3×Cxであるが，それは，試験装置を標準化するために合理的により高い値を用いることが
許される。
F
：緩速溶断ヒューズ 定格16 A
注記 C1，C2及びL1〜L4は，主保護フィルタを構成する場合，別の構成でもよい。
C3及びCtの定格電圧は，試験中に印加するUtと比較して適切な電圧とすることが望ましい。
図8−交流電圧負荷状態のコンデンサへのパルス印加回路の例
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Ux：Cx端子間電圧
Ui：ピーク電圧
図9−非同期，ランダム重畳高電圧パルスをもつ基本交流波形
4.18.3 ピーク電圧Uiの調整
交流電流はS1によって遮断し，変圧器の二次巻線はS2によって短絡する。静電容量Cx±5 %の調整用コ
ンデンサをCxの位置に接続する。その後，オシロスコープに表示したコンデンサCxに印加するピーク電
圧Uiに，Utを調整する。設定したUtを用いてコンデンサを試験する。
4.18.4 要求性能
コンデンサを包んだチーズクロスが，炎を伴って燃焼してはならない。電気的測定は，適用しない。
4.19 部品の耐溶剤性（適用する場合）
4.19.0A 一般事項
部品の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）によるほか，次による。
品目別通則に規定する溶剤以外の溶剤を追加する場合は，個別規格に規定する。
4.19.1 要求性能
要求性能は，個別規格に規定する。
4.20 表示の耐溶剤性
4.20.0A 一般事項
表示の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）によるほか，次による。
品目別通則に規定する溶剤以外の溶剤を追加する場合は，個別規格に規定する。
4.20.1 要求性能
表示は，判読できなければならない。
40
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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附属書A
（規定）
インパルス電圧試験回路
機器の規格［例えば，JIS C 6065の附属書K（インパルス試験発生器）及びJIS C 6950-1の附属書N（イ
ンパルス発生器）］に規定する1.2/50のパルス波形は，開回路状態で定義しているため，負荷条件による
波形の変化は認められていることに留意しなければならない。
4.13に規定する試験は，図A.1に示す回路で実施する。このとき，インパルス電圧試験回路定数は，表
A.1に示す。また，CX，tr，tdの値及び許容差は，表A.2に示す。
CT ：タンクコンデンサ
CP ：並列コンデンサ
CX ：供試コンデンサ
RL ：充電保護抵抗器
RS ：直列抵抗器又は充電抵抗器
RP ：並列抵抗器又は放電抵抗器
UO ：直流電源
図A.1−インパルス電圧試験回路
表A.1−CX，CT，RP，RS，CPの値（インパルス電圧試験回路定数）
供試コンデンサCXの公称値
μF
CT
±10 %
μF
RP
±10 %
Ω
RS
±10 %
Ω
CP
±10 %
pF
CX≦0.003 9
0.25
234
62
7 800
0.003 9 ＜CX≦0.012
0.25
234
45
7 800
0.012 ＜CX≦0.018
0.25
234
27
7 800
0.018 ＜CX≦0.027
0.25
234
27
−
0.027 ＜CX≦0.039
20
3
25
3 300
0.039 ＜CX≦0.056
20
3
13
3 300
0.056 ＜CX≦0.082
20
3
9
3 300
0.082 ＜CX≦0.12
20
3
7
3 300
0.12
＜CX≦0.18
20
3
5
3 300
0.18
＜CX
20
3
3
3 300
41
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.2−CX，tr，tdの値及び許容差
CX
±2 %
μF
tr
50
0
＋%
μs
td
50
0
＋%
μs
0.01
1.7
46
0.1
1.6
47
42
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
耐久性試験回路
4.14に規定する試験は，図B.1に示す回路で実施する。
CX ：供試コンデンサ
US ：1.5×UR又は1 000 V（実効値）のいずれか高い方
図B.1−耐久性試験回路
コンデンサの放電回路部は，正弦波の電位ゼロの点で二つの電源回路間の切替えが設定できる場合は，
省略してもよい。
放電回路を用いる場合には，切替えは，USを印加するごとに次の繰返し操作を実施する。
a) スイッチをAからBに切り替える場合，切替え時間及びB接点上に止まっている時間をt1とする。
b) スイッチをBからCに切り替える場合，切替え時間及びC接点上に止まっている時間をt2とする。C
接点上の時間は，0.1秒間とする。
c) スイッチをCからBに切り替える場合，切替え時間及びB接点上に止まっている時間をt3とする。
d) スイッチをBからAに切り替える場合，切替え時間をt4とする。
供試コンデンサに対していかなる場合も，次の条件を満足しなければならない。
t1＋t2＋t3＋t4≦30 s
43
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附属書C
（規定）
充放電試験回路
4.15に規定する試験は，図C.1に示す回路で実施する。
CX
：供試コンデンサ
R1
：放電用保護抵抗器
R2
：充電用保護抵抗器
S
：スイッチング部品
U
：試験電圧
X1，X2 ：電圧の最大変化率を観測するためのオシロスコープ接続用端子
図C.1−充放電試験回路
44
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附属書D
（規定）
設計の宣言
（製造業者及び認証機関の機密事項）
この規定は，認証を得ようとするコンデンサの基本設計及び必要なデータを登録することが目的である。
次の事項を記載した書類を，全ての承認試験に先立って関連する認証機関に提出する。その他の機関への
配布は，製造業者の決定に任される。
宣言した設計の変更は，書面で認証機関に通知した後にだけ許可される。この場合，認証機関は，講じ
る必要な措置を決める。最大限のものとして，全面的な再認証を要求される場合がある。
登録番号は，認証機関が付与する。
登録番号：
1
申請者
2
製造業者
3
生産地
4
形名
5
クラス及び／又はサブクラス
6
回路図
7
誘電体
7.1
材質
7.2
厚さ
7.3
密度（紙コンデンサだけに適用）
7.4
個々の層の数
8
電極
8.1
材質
8.2
電極の製造方法［例えば，はく（箔），フィルム又は紙上への蒸着など］
9
コンデンサ素子，個々の層の配置
10
含浸剤（適用する場合）
11
封止
11.1
ケース，樹脂などの材質（適用する場合）
11.2
外側絶縁の材質（適用する場合）
12
外形寸法
＿＿＿＿＿＿＿
＿＿＿＿＿＿
＿＿＿＿＿＿
＿＿＿＿＿＿
場所
日付
氏名
署名
45
C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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附属書E
（参考）
パルス試験回路
（不要の参考情報のため，この規格では不採用とした。）
46
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附属書F
（規定）
表面実装用コンデンサの安全性試験のための固有の要求事項
表面実装用コンデンサは，一般に，この規格の全ての安全性の要求事項に従う。設計，材料及び実装技
術については，新しい試験を導入したり，幾つかの既存の方法及び要求事項を調整する必要がある。
F.1
一般事項
表面実装用コンデンサの安全性試験のための固有の要求事項は，この規格の一部を次によって読み替え
て適用する。
1.4.2（取付け）に次の文を追加する。
表F.1による安全性試験の取付けは，JIS C 5101-1の4.33［取付け（表面実装用コンデンサに適用）］に
よる。製造業者は，試料をそのまま又は図F.1に示す個々の試験基板上に取り付けて試験機関に提出する。
試験基板は，妥当性について製造業者と試験機関とが合意したものを用いなければならない。試験基板の
詳細は，試験報告書に記載しなければならない。導電性パターンをもつ基板の例を，図F.1に示す。
1.5（用語及び定義）の最後に，次の用語及び定義を追加する。
1.5.21
表面実装用コンデンサ（surface mount capacitor）
小さな寸法で端子形状が，ハイブリッド回路及びプリント配線板上への表面実装に適したコンデンサ。
1.6.1（コンデンサ本体への表示）を次の文に置き換える。
コンデンサには，1.6.0Aのa)及びb)を明瞭に表示する。さらに，コンデンサには，関連する重要な項目
をできるだけ多く表示してもよい。表示は，コンデンサを識別できなければならない。
F.2
試験及び測定手順
コンデンサは，表F.1によるほか，次に従って試験を行う。
非封止コンデンサは，4.2.1（耐電圧）及び4.2.5（絶縁抵抗）の試験Cを省略する。
4.3
端子強度
4.3（端子強度）はJIS C 5101-1の4.34（固着性）及び4.35（耐プリント板曲げ性）と置き換え，群2及
び群3の前に実施する。対プリント板曲げ性試験中の静電容量の測定は，省略してもよい。
4.4
はんだ耐熱性
適用する場合，JIS C 5101-1の4.14.2（試験手順）によって個別試験として行う。
4.4.2
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び測定を行い，表13に規定する要求性能を満足する。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表F.1−表面実装用コンデンサの安全性を要求する試験の試験計画及びサンプリング計画
群番号
試験項目
この規格の
細分箇条番号
定格電圧及び
サブクラスごとの試料数
定格電圧及びサブクラス
ごとの合格判定数
群ごと
合計
0
外観a)
4.1
群1A：6＋(6〜18) f)
群2 ：10
群3 ：(12〜24) d)＋6 e)
群4 ：24 i)
0
−
静電容量
4.2.2
抵抗値c)
4.2.4
耐電圧
4.2.1 j)
絶縁抵抗
4.2.5 j)
予備試料
−
14＋6 e)
1A
沿面距離及び空間距離a)
4.1.1
6
0 b)
0
はんだ耐熱性a), c)
4.4
表示の耐溶剤性a)
4.20
耐炎性a)
4.17
(6〜18) f)
0
1.4.2による取付け
10＋(12〜24) d)＋6 e)＋24 i)
2
固着性g)
4.34 h)
10
0 b)
耐プリント板曲げ性
4.35 h)
高温高湿（定常）
4.12
3
固着性g)
4.34 h)
(12〜24) d)＋6 e)
0 b)
耐プリント板曲げ性
4.35 h)
インパルス電圧
4.13
耐久性
4.14
クラスX及びRCユニット
4.14.3
12 d)
クラスY及びRCユニット
4.14.4
12 d)
貫通形
4.14.5
6 e)
4
発炎性
4.18
24 i)
0
群0における試験は，どの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測する。
電圧及び／又は電流の組合せ試験を実施する場合は，4.14.6による。
注記1 4.3（端子強度）はJIS C 5101-1の4.34（固着性）及び4.35（耐プリント板曲げ性）と置き換え，群2及び
群3の前に実施する。耐プリント板曲げ性試験中の静電容量の測定は，省略してもよい。
注記2 4.4（はんだ耐熱性）を適用する場合，JIS C 5101-1の4.14.2（試験手順）によって個別試験として実施する。
注a) 4.1，4.1.1，4.4，4.20及び4.17の試料は，試験中基板に取り付けない。
b) 不適合が1個発生した場合は，その群の全ての試験を新しい試料で再試験し，不適合がない場合は合格と判
定する。最初の1個の不適合は，合計の不適合数に数える。
c) 適用する場合。
d) クラスX及びYのコンデンサを組み合わせた複合コンデンサの試験を実施する場合，12個の試料でクラスX
のコンデンサの試験を実施し，別の12個の試料でクラスYのコンデンサの試験を実施する。
e) 貫通コンデンサを試験する場合に追加する試料数。
f) 最小，中間（外形寸法が5種類以上の場合）及び最大外形寸法ごとに最大公称静電容量の試料3個及び最小
公称静電容量の試料3個の，合計6個の試料の試験を実施する。
g) 個別規格が硬い基板（例えば，アルミナ）だけに取り付けることを規定している場合，この試験は，耐プリ
ント板曲げ性試験に代わって実施する。
h) 細分箇条番号4.34及び4.35は，JIS C 5101-1の4.34及び4.35参照。
i) サブクラスY1以外のコンデンサの場合。
j) 非封止コンデンサは，4.2.1及び4.2.5の試験Cを省略する。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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単位 mm
図F.1−表F.1による安全性試験の試験用基板の例
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G
（参考）
固定磁器コンデンサ種類2の静電容量エージング
G.1
一般
磁器コンデンサ種類2の磁器誘電体は，強誘電体特性をもち，キュリー温度（Curie temperature）をもつ。
このキュリー温度を超える高温では，立方晶形構造を示し，キュリー温度未満では非対称結晶構造となる。
単結晶ではこの晶形の移行が急激であるのに対し，実際の誘電体は，ある温度範囲内では緩やかに移行す
る。この移行は，静電容量対温度カーブのピークと関連している。
熱振動の影響で結晶中のイオンは，誘電体がキュリー温度未満で冷却されてから，長時間継続的により
低いポテンシャルエネルギーに移行する。静電容量のエージング現象は，このようにして起こり，これに
よってコンデンサの静電容量が連続的に減少する。ただし，コンデンサをキュリー温度を超える温度で熱
すると，例えば，エージングで減少した静電容量が回復し，脱エージングが起こる。コンデンサが冷やさ
れると，そのときから，エージングが再度始まる。
G.2
静電容量エージングの法則
キュリー温度未満まで冷却された最初の1時間は，静電容量の減少を定義することはできないが，この
時間以降は，静電容量は対数的に減少することからこれをエージング定数として表すことができる（K.W.
Plessner, Proc. Phys. Soc., vol. 69B, p1261, 1956参照）。
エージング定数kは，対数目盛の1ディケード，例えば，1時間から10時間までと10倍の時間経過で
のエージングによる静電容量の減少を，百分率で定義する。
静電容量の減少の規則が対数的となることから，静電容量の変化率は，1時間から100時間までは2k，1
時間から1 000時間までは3kとなる。このことは次の式で表すことができる。
×
−
=
t
k
C
C
log
100
1
1
t
ここに，
Ct： エージング開始t時間後の静電容量
C1： エージング開始1時間後の静電容量
k： エージング定数
t： エージング経過時間
エージング定数は，それぞれの磁器誘電体について製造業者が提示するか，又はコンデンサの脱エージ
ング後の2点の経過時間での静電容量を測定することによって求めるかの，いずれでもよい。
エージング定数kは，次の式によって算出する。
(
)
1
t2
2
t1
t2
t1
log
log
100
t
C
t
C
C
C
k
×
−
×
−
=
静電容量の測定を経過時間の3点以上で行った場合は，log tに対してプロットしたCtのグラフの傾斜か
らエージング定数kを求めることができる。
エージング中のコンデンサの測定は，温度特性による静電容量の変化が測定に悪影響を与えることを避
けるために一定の温度に保持して行う。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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G.3
静電容量の測定及び静電容量許容差
エージング特性があるため，静電容量許容差に標準エージング時間を規定する必要があり，1 000時間と
定めている。これは，1 000時間以上での静電容量の減少は小さいためである。
1 000時間後の静電容量C1 000を算出するには，エージング定数は既知であるか，又はG.2によって求め
ておく必要があり，次の式を用いて計算できる。
(
)
−
−
=
t
k
C
C
log
3
100
1
t
000
1
製造業者の検査測定時には，1 000時間後の容量減少量が計算可能なため，検査時にこの容量減少分を補
正した検査用の容量許容基準を用いることで，標準エージング時間での静電容量許容差に対応した検査を
行うことができる。例えば，静電容量の減少が5 %と既知のとき，規格値が±20 %の場合では，それに代
わって−15 %〜＋25 %で検査してもよい。
静電容量は，通常20 ℃での値を用いるため，20 ℃で測定するか，又はこの温度の値に補正する必要が
ある。手を通して伝わる温度によって誤差が生じるので，コンデンサは常にピンセットで取り扱うことが
望ましい。
G.4
特殊な前処理条件
この規格の中の試験の多くは，与えられた条件（例えば，一連耐候性）によって生じる静電容量変化を
測定する。エージングによる悪影響を避けるために，判定前にコンデンサはカテゴリ上限温度に1時間放
置し，引き続いて標準状態で24時間放置するという，特殊な前処理を行う。
これによって，カテゴリ上限温度未満のキュリー点をもつコンデンサに脱エージングを起こし，引き続
き24時間のエージングを行うわけである。これによってエージングによる静電容量値の変化及びばらつき
を最小にできる。
熱処理の脱エージングで静電容量が回復することもあるので，その後の24時間のエージングによって，
製造後からの静電容量変化を実用上，最小限とみなすことができる。
誘電体のキュリー温度がカテゴリ上限温度よりも高い場合，この特殊な前処理条件ではコンデンサの完
全な脱エージングを行うことができないが，処理されたコンデンサの静電容量値は過去の来歴を事実上受
けない状態とすることができるため，エージングによる悪影響を避けるという目的に対して完全な脱エー
ジングと同じ効果が達成される。
このようなコンデンサを完全に脱エージングするためには最大160 ℃の放置温度が必要な場合があり，
この温度が外装樹脂に悪影響を与えることがある。したがって，コンデンサを完全に脱エージングする必
要がある場合は，個別規格に詳細事項及び必要な注意事項を考慮して規定する。
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C 5101-14：2014 (IEC 60384-14：2013)
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参考文献
JIS C 0365 感電保護−設備及び機器の共通事項
注記 対応国際規格：IEC 61140，Protection against electric shock−Common aspects for installation and
equipment（IDT）
JIS C 5101-14-3 電子機器用固定コンデンサ−第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定
コンデンサ 評価水準DZ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14-3，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-3: Blank
detail specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to
the supply mains−Assessment level DZ（IDT）
K.W. Plessner: Ageing of the Dielectric Properties of Barium Titanate Ceramics, Proceedings of the Physical
Society, Section B, Volume 69, Issue 12, pp. 1261 to 1268 (1956)