C 5402-11-10：2004 (IEC 60512-11-10：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-10:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-10: Climatic tests - Test 11j: Coldを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-11-10：2004 (IEC 60512-11-10：2002)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 準備 ······························································································································ 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 試料の配線 ··················································································································· 2
3.3 前処理 ························································································································· 2
4. 試験方法 ························································································································ 2
4.1 供試条件 ······················································································································ 2
5. 測定 ······························································································································ 2
5.1 初期測定 ······················································································································ 2
5.2 試験中の測定 ················································································································ 2
5.3 最終測定 ······················································································································ 2
6. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 3
JIS C 0068：1995
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-11-10：2004
(IEC 60512-11-10：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第11-10部：耐候性試験―
試験11j：低温
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements -
Part 11-10: Climatic tests - Test 11j: Cold
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-10，Connectors for electronic equipment
- Tests and measurements - Part 11-10: Climatic tests - Test 11j: Coldを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を
変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，規定する低温条件下で，規定の方法によって保存及び／又は機能する電子機
器用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方
法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-11-10:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-10:
Climatic tests - Test 11j: Cold (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0020 環境試験方法−電気・電子−低温（耐寒性）試験方法
備考 IEC 60068-2-1:1990，Environmental testing - Part 2:Tests - Test A: Cold がこの規格と一致して
いる。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。
JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−試験2a：接
触抵抗−ミリボルトレベル法
C 5402-11-10：2004 (IEC 60512-11-10：2002)
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 IEC 60512-2-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:
Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level
methodが，この規格と一致している。
IEC 60512-5:1992 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and
measuring methods - Part 5: Impact tests (free components), static load tests (fixed components),
endurance test and overload tests
IEC 60512-7:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and
measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests
IEC 60512-8:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and
measuring methods - Part 8: Connector tests (mechanical) and Mechanical tests on contacts and
termination
3. 準備
3.1
試料の準備 標準のアクセサリを備えた試料を個別規格の規定によって取り付ける。
個別規格で要求する場合には，試料を試験前に規定回数，挿入及び引抜きをする。
各試験を行うに当たって，個別規格には，コネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。
3.2
試料の配線 試料は，個別規格の規定によって配線する。
3.3
前処理 前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間は行う。
参考 前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前
処理の規定による。
4. 試験方法
4.1
供試条件 この試験は，個別規格で規定する厳しさを用いてJIS C 0020の次の試験に従って行う。
−試験Aa：発熱がない供試品に対する急激な温度変化を伴う低温試験（試験中に測定を必要としない場合）
−試験Ab：発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温試験（試験中に測定を必要とする場合）
5. 測定
5.1
初期測定 初期測定は，個別規格の規定による。
5.2
試験中の測定 個別規格で要求する場合には，測定は，この試験の終了時，試料が個別規格で規定
する低温状態にある間に行う。
5.3
最終測定 試料は，個別規格に規定がない場合には次の試験を行い，個別規格で規定する要求事項
を満足しなければならない。
−接触抵抗−ミリボルトレベル法：JIS C 5402-2-1，試験2a
−挿入力及び引抜力：IEC 60512-7，試験13b
−外観：JIS C 5402-1-1，試験1a
−静的な力，軸方向：IEC 60512-5，試験8b
−ハウジング内のインサート保持（軸方向）：IEC 60512-8，試験15b
−浸せき，防水：IEC 60512-7，試験14d
供試条件終了後，接触抵抗を測定する前に試料にストレスを加えてはならない。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法
b) 供試条件の厳しさ（温度及び日数）
c) 初期測定
d) 測定に対する要求事項
e) 試験中の測定（必要とする場合）
f)
この試験方法との相違