C 5953-7：2017
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義並びに略号 ···································································································· 2
3.1 用語及び定義 ················································································································ 2
3.2 略号 ···························································································································· 3
4 分類······························································································································· 3
5 製品の定義 ······················································································································ 3
5.1 光トランシーバの種類 ···································································································· 3
5.2 適用形態の種類 ············································································································· 3
5.3 ブロック図 ··················································································································· 3
5.4 絶対最大定格 ················································································································ 4
5.5 機能仕様 ······················································································································ 4
6 試験······························································································································ 13
6.1 試験全般 ····················································································································· 13
6.2 特性評価試験 ··············································································································· 13
6.3 性能保証試験 ··············································································································· 13
7 環境仕様························································································································ 14
7.1 安全性全般 ·················································································································· 14
7.2 レーザ安全性 ··············································································································· 14
7.3 電磁放射 ····················································································································· 15
C 5953-7：2017
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5953の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5953-1 第1部：総則
JIS C 5953-3 第3部：2.5 Gbit/s変調器集積形半導体レーザモジュール
JIS C 5953-4 第4部：1 300 nmギガビットイーサネット用光トランシーバ
JIS C 5953-5 第5部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ATM-PON用光トラン
シーバ
JIS C 5953-6 第6部：650 nm，250 Mbit/sプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバ
JIS C 5953-7 第7部：GPON用光トランシーバ
日本工業規格 JIS
C 5953-7：2017
光伝送用能動部品−性能標準−
第7部：GPON用光トランシーバ
Fiber optic active components and devices-
Performance standards-Part 7: GPON transceivers
序文
光トランシーバは，電気信号を光信号に，又はその逆に変換するために使用する。光トランシーバの光
学的性能規格は，ITU-T G.984.2において規定されている。この規格は，GPONシステムにおいて，異なる
製造業者間の光トランシーバの互換性を確保することを目的として制定するものであるが，異なる製造業
者間の光トランシーバ同士の動作を保証するものではない。
この規格を使用する製造業者は，使用者などの承認を得た計画に基づいて，必要とされる性能及び／又
は信頼性並びに品質保証要求を満足する責任がある。
なお，対応国際規格は現時点で制定されていない。
1
適用範囲
この規格は，ITU-T G.984.2に基づくGPONシステムにおいて，JIS C 5953-1に規定する環境カテゴリC
又は環境カテゴリUに設置する機器環境条件で使用する光トランシーバ（以下，光トランシーバという。）
の性能標準について規定する。
注記 この規格は，光トランシーバの特性などについて規定するものであるが，この規格単独で適合
性評価を行うことは，意図していない。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5952-1 光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第1部：総則
JIS C 5953-1 光伝送用能動部品−性能標準−第1部：総則
JIS C 5954-3 光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第3部：単心直列伝送リンク用光送・受信モジ
ュール
JIS C 5954-4 光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第4部：GPON用光トランシーバ
JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
JIS C 61280-1-3 光ファイバ通信サブシステム試験方法−第1-3部：中心波長及びスペクトル幅測定
JIS C 61280-2-1 光ファイバ通信サブシステム試験方法−受信感度及びオーバロード測定
JIS C 61280-2-3 光ファイバ通信サブシステム試験方法−第2-3部：ジッタ及びワンダ測定
2
C 5953-7：2017
JIS C 61300-2-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-1部：正弦
波振動試験
JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部：低
温試験
JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部：高
温試験
JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部：高
温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部：温
度サイクル試験
JIS C 61300-2-27 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-27部：ダ
スト試験（層流）
JIS C 61300-2-46 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-46部：湿
熱サイクル試験
JIS C 61340-3-1 静電気−第3-1部：静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル（HBM）
の静電気放電試験波形
IEC 61000-6-3，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-3: Generic standards−Emission standard for
residential, commercial and light-industrial environments
ITU-T G.984.2，Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON): Physical Media Dependent (PMD) layer
specification
3
用語及び定義並びに略号
3.1
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5954-3の箇条3及びJIS C 5953-1の附属書A（性能標準
のための試験及びその条件）によるほか，次による。
3.1.1
光アクセスネットワーク，OAN（optical access network）
同一のネットワーク側インタフェースを共有する一組のアクセスリンク。光アクセス伝送システムによ
って構成する。OANには一般的に，同一のOLTに接続した複数のODNを含む。
3.1.2
光分配ネットワーク，ODN（optical distribution network）
OLTと使用者とを結ぶ光通信手段を提供する装置又は部品。光受動部品によって構成する。
3.1.3
光ライン接続，OLT（optical line termination）
OANにおいて，ネットワーク側のインタフェースを提供する装置。一つ以上のODNに接続する。
3.1.4
光ネットワークユニット，ONU（optical network unit）
OANにおいて，使用者側のインタフェースを直接的に又は遠隔操作によって提供する装置。ODNに接
続する。
3
C 5953-7：2017
3.1.5
光信号ペナルティ，OPP（optical path penalty）
信号が光路を伝送している間に反射，符号間干渉，モード分配雑音及びレーザチャープによって生じる
信号波形のひずみによる受信器感度の減少。
3.2
略号
CMOS
相補型金属酸化膜半導体
（Complementary metal oxide semiconductor）
ECL
エミッタ結合形論理回路
（Emitter coupled logic）
GPON
ギガビット・パッシブ光ネットワーク （Gigabit passive optical network）
IC
集積回路
（Integrated circuit）
PRBS
擬似ランダムビットパターン
（Pseudo random bit sequence）
RMS
自乗平均平方根
（Root mean square）
WDM
波長分割多重，波長多重
（Wavelength division multiplexing）
4
分類
光トランシーバは，JIS C 5952-1で規定する光伝送用能動部品の分類に基づき，タイプを分類する。
5
製品の定義
5.1
光トランシーバの種類
製造業者は，次に示す光トランシーバの構成要素を明示しなければならない。明示内容は，技術の詳細
を含んでいなければならない。例えば，CMOS，バイポーラなど，ICに使用する技術を記載する。
a) 送信器
− 半導体レーザ（単一モード，多モードなどの情報を含まなければならない。）
− モニタ用フォトダイオード
− 駆動用IC
− 温度センサ（必要に応じて）
b) 受信器
− フォトダイオード
− 前置増幅器IC
c) WDMデバイス
− このデバイスに使用する技術
d) パッケージ
5.2
適用形態の種類
ITU-T G.984.2に従って，伝送距離，適用ユニット（ONU又はOLT）及び光ファイバ本数（1心又は2
心）について記載する。
5.3
ブロック図
光トランシーバのブロック図又は等価回路を記載する。機能ブロック図の例を図1に示す。
次の端子は，識別できることが望ましい。
a) 電源端子：電源ラインに接続する端子
b) 入出力端子：信号が通過する端子
注記 “信号”は，パルス波形だけではなく，より複雑な波形及びストローブ信号並びに制御パル
4
C 5953-7：2017
スを含む。
データ出力
電源
光入出力
接地
アラーム
データ入力
バイアス制御
（必要に応じて）
シャットダウン
図1−機能ブロック図の例
5.4
絶対最大定格
表1に絶対最大定格を最小値及び最大値で規定する。絶対最大定格とは，瞬時でも超過してはならない
限界値である。いずれの規格値も，その範囲を逸脱してはならない。
表1−絶対最大定格
項目
記号
最小値
最大値
単位
説明
保存温度
Tstg
−40
85
℃
保存相対湿度
RHstg
5
95
%
動作ケース温度
Tc
−40，−5，0
70，85
℃
3×2通りの組合せ
からの選択
電源電圧
Vcc
−0.5
4
V
入力電圧
Vinmax
−0.3
Vcc＋0.3
V
5.5
機能仕様
動作環境は表2による。表3〜表7に示す項目の電気的特性及び光学的特性並びに電気インタフェース
特性は，表2に示す環境で満足しなければならない。表3にはONU光トランシーバの送信側機能に関す
る電気的特性及び光学的特性を，表4にはONU光トランシーバの受信側機能に関する電気的特性及び光
学的特性を，表5にはOLT光トランシーバの送信側機能に関する電気的特性及び光学的特性を，表6には
OLT光トランシーバの受信側機能に関する電気的特性及び光学的特性をそれぞれ規定する。また，表7に
はONU及びOLT双方の光トランシーバに共通する電気インタフェース特性を規定する。
この規格におけるそれぞれの電気的特性及び光学的特性は，JIS C 5954-4において規定した測定方法を
用いて測定しなければならない。
5
C 5953-7：2017
表2−動作環境
項目
記号
要求値
単位
説明
最小値
代表値
最大値
動作ケース温度
Tc
−40，−5，0
−
70，85
℃
3×2通りの組合せからの選択
動作相対湿度
RH
5
−
95
%
電源電圧
Vcc
3.135
3.3
3.465
V
伝送速度
−
−
1 244.16
−
Mbit/s
上り
−
−
2 488.32
−
Mbit/s
下り
6
C 5953-7：2017
表3−ONU光トランシーバの電気的特性及び光学的特性（送信側特性）
項目
クラス
記号
要求値
単位
試験方法及び条件
最小値
代表値
最大値
中心波長
B＋，C
λ0
1 260
−
1 360
nm
JIS C 5954-4
C＋
1 290
−
1 330
RMSスペクトル幅
MLM
Δλrms
−
−
1.4
nm
JIS C 5954-4
ODN光ファイバ長10 km以下に限定
20 dBダウンスペクトル幅
SLM
Δλ20 dB
−
−
1
nm
JIS C 5954-4
サイドモード抑圧比
SLM
−
30
−
−
dB
JIS C 5954-3，JIS C 61280-1-3，
SLM-LDの場合
バースト光出力パワー
B＋
Pmean
0.5
−
5
dBm
JIS C 5954-4
C
2
−
7
C＋
0.5
−
5
光出力パワー（オフ状態）
B＋，C，C＋
Poff
−
−
−38
dBm
JIS C 5954-4
消光比
B＋，C，C＋
ER
10
−
−
dB
JIS C 5954-4
最大送信イネーブル
（Maximum TX Enable）
B＋，C，C＋
Ton
−
−
16
bits
オシロスコープによるタイミング測定
最大送信ディスエーブル
（Maximum TX Disable）
B＋，C，C＋
Toff
−
−
16
bits
オシロスコープによるタイミング測定
光反射損失耐力
B＋，C，C＋
ORLT
−
−
15
dB
JIS C 5954-3
ODN反射減衰量
B＋，C，C＋
−
32
−
−
dB
ONUとODNとの接続点の条件規定
信号光ペナルティ
B＋，C，C＋
OPP
−
−
0.5
dB
JIS C 5954-4
ジッタ伝達特性
B＋，C，C＋
−
図2
−
JIS C 61280-2-3
ジッタ・ジェネレーション
B＋，C，C＋
−
−
−
0.33
UI p-p
JIS C 61280-2-3，4 kHz〜10 MHz
アイパターンマスク
B＋，C，C＋
−
図3
x1，x2，x3，x4，y1，y2，y3，y4＝
0.22，0.40，0.60，0.78，0.17，0.20，0.80，0.83
−
JIS C 5954-4
4
C
5
9
5
3
-7
：
2
0
1
7
7
C 5953-7：2017
周波数
スロープ= -20 dB／10倍
P
ジ
ッ
タ
ゲ
イ
ン
(d
B
)
fc
周波数
下り伝送速度（Mbit/s）
fc（kHz）
P（dB）
2 488.32
2 000
0.1
注記 この図は，ITU-Tの許可を得て次を基に記載している。
ITU-T G.984.2:2003，Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON):
Physical Media Dependent (PMD) layer specification, Figure 4
図2−ONUのジッタ伝達特性
-y1
x1
x2
x3
x4
1
0
1 UI
0.5
1
1+y1
y3
0.5
y2
0
y4
y1
振幅
注記 この図は，ITU-Tの許可を得て次を基に記載している。
ITU-T G.984.2:2003，Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON):
Physical Media Dependent (PMD) layer specification, Figure 3
図3−上り送信信号のアイパターンマスク
スロープ＝−20 dB／10倍
P
ジ
ッ
タ
ゲ
イ
ン
（
d
B
）
8
C 5953-7：2017
表4−ONU光トランシーバの電気的特性及び光学的特性（受信側特性）
項目
クラス
記号
要求値
単位
試験方法及び条件
最小値
代表値
最大値
中心波長
B＋，C，C＋
λ0
1 480
−
1 500
nm
−
最小受信光入力パワー
B＋
Pimin
−
−
−27
dBm
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C
−
−
−28
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C＋
−
−
−30
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-4
最大受信光入力パワー
B＋
Pimax
−8
−
−
dBm
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C
−8
−
−
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C＋
−8
−
−
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-4
信号検知アサートレベル
B＋
Passert
−
−
−27
dBm
JIS C 5954-4
C
−
−
−28
C＋
−
−
−30
信号検知アサート応答時間
a)
B＋，C，C＋
Tassert
−
−
100
μs
オシロスコープによるタイミング測定
光反射損失耐力
B＋，C，C＋
ORLT
−
−
10
dB
JIS C 5954-3
同一符号連続耐性
B＋，C，C＋
−
72
−
−
bit
JIS C 5954-3，JIS C 61280-2-1，
連続符号を含むテスト信号b)，
クラスB＋及びCは誤り率＝10-10，
クラスC＋は誤り率＝10-4
ジッタ耐力b)
B＋，C，C＋
−
図4
−
JIS C 61280-2-3
注a) この項目の定義図を図5に示す。
b) テスト信号は1連続符号，NRZ-PRBS 223-1，0連続符号及びNRZ-PRBS 223-1を含むシーケンスで構成され，1連続符号及び0連続符号は同数とする。
4
C
5
9
5
3
-7
：
2
0
1
7
9
C 5953-7：2017
スロープ= -20 dB／10
A2
入
力
ジ
ッ
タ
振
幅
A1
f
f0
ft
周波数
下り伝送速度（Mbit/s）
ft（kHz） f0（kHz） A1（Ulp-p） A2（Ulp-p）
2 488.32
1 000
100
0.075
0.75
注記 この図は，ITU-Tの許可を得て次を基に記載している。
ITU-T G.984.2:2003，Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON):
Physical Media Dependent (PMD) layer specification, Figure 5
図4−ONUのジッタ耐力マスク
光入力信号
信号検知出力信号
（正論理の場合）
高レベル信号検知アサート電圧
低レベル信号検知アサート電圧
振幅の50％値
高光入力レベル
低光入力レベル
振幅の50 ％値
信号検知アサート応答時間
信号検知デアサート応答時間
図5−信号検知出力信号の応答時間
スロープ＝−20 dB／10倍
A2
入
力
ジ
ッ
タ
振
幅
A1
10
C 5953-7：2017
表5−OLT光トランシーバの電気的特性及び光学的特性（送信側特性）
項目
クラス
記号
要求値
単位
試験方法及び条件
最小値
代表値
最大値
中心波長
B＋，C，C＋
λ0
1 480
−
1 500
nm
JIS C 5954-4
20 dBダウンスペクトル幅
B＋，C，C＋
Δλ20 dB
−
−
1
nm
JIS C 5954-4
サイドモード抑圧比
B＋，C，C＋
SMSR
30
−
−
dB
JIS C 5954-3，JIS C 61280-1-3
光出力パワー
B＋
Pave
1.5
−
5
dBm
JIS C 5954-3
C
3
−
7
C＋
3
−
7
光出力パワー（オフ状態）
B＋
Poff
−
−
−37
dBm
JIS C 5954-3
C
−
−
−38
C＋
−
−
−38
消光比
B＋，C，C＋
ER
8.2
−
−
dB
JIS C 5954-4
信号光ペナルティ
B＋
OPP
−
−
0.5
dB
JIS C 5954-4
C，C＋
−
−
1
光反射損失耐力
B＋，C，C＋
ORLT
−
−
15
dB
JIS C 5954-3
ODN反射減衰量
B＋，C，C＋
−
32
−
−
dB
OLTとODNとの接続点の条件規定
アイパターンマスク
B＋，C，C＋
−
図6
x1，x2，x3，x4，x3-x2，y1，y2＝
-，-，-，-，0.2，0.25，0.75
−
JIS C 5954-4
4
C
5
9
5
3
-7
：
2
0
1
7
11
C 5953-7：2017
表6−OLT光トランシーバの電気的特性及び光学的特性（受信側特性）
項目
クラス
記号
要求値
単位
試験方法及び条件
最小値
代表値
最大値
中心波長
B＋，C
λ0
1 260
−
1 360
nm
−
C＋
1 290
−
1 330
−
最小受信光入力パワー
B＋
Pimin
−
−
−28
dBm
JIS C 5954-4，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C
−
−
−29
JIS C 5954-4，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C＋
−
−
−32
JIS C 5954-4，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-4
最大受信光入力パワー
B＋，C
Pimax
−8
−
−
dBm
JIS C 5954-4，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-10
C＋
−8
−
−
JIS C 5954-4，
NRZ-PRBS 223-1 信号，誤り率＝10-4
信号検知アサートレベル
B＋
Passert
−
−
−28
dBm
JIS C 5954-4
C
−
−
−29
C＋
−
−
−32
光反射損失耐力
B＋，C，C＋
ORLT
−
−
10
dB
JIS C 5954-3，
最小受信光入力パワー時だけ
同一符号連続耐性
B＋，C，C＋
−
72
−
−
bit
JIS C 5954-4，
連続符号を含むテスト信号a)，
クラスB＋及びCは誤り率＝10-10，
クラスC＋は誤り率＝10-4
注a) テスト信号は1連続符号，NRZ-PRBS 223-1，0連続符号及びNRZ-PRBS 223-1を含むシーケンスで構成され，1連続符号及び0連続符号は同数とする。
4
C
5
9
5
3
-7
：
2
0
1
7
12
C 5953-7：2017
表7−電気インタフェース特性
項目
記号
要求値
単位
試験方法及び条件
最小値
代表値
最大値
【送信側特性】
バースト・イネーブル電圧（高レベル）
VbenL
2
−
Vcc
V
JIS C 5954-3，
送信器シャットダウン電圧試験方法に準じる。
バースト・イネーブル電圧（低レベル）
VbenH
0
−
0.8
V
JIS C 5954-3，
送信器シャットダウン電圧試験方法に準じる。
送信器シャットダウン電圧（低レベル）
VdisL
0
−
0.8
V
JIS C 5954-3
送信器シャットダウン電圧（高レベル）
VdisH
2
−
Vcc
V
JIS C 5954-3
レーザ故障アラーム電圧（低レベル）
VldaL
0
−
0.4
V
JIS C 5954-3，
信号検知出力電圧試験方法に準じる。
レーザ故障アラーム電圧（高レベル）
VldaH
2.4
−
Vcc
V
JIS C 5954-3，
信号検知出力電圧試験方法に準じる。
データ入力電圧（低レベル）
VIL-Vcc
−1.810
−
−1.475
V
JIS C 5954-3，
DC結合時（ECL系）
データ入力電圧（高レベル）
VIH-Vcc
−1.165
−
−0.880
V
JIS C 5954-3，
DC結合時（ECL系）
最小差動データ入力振幅
Vindiffmin
−
400
−
mV
JIS C 5954-3，
AC結合時，p-p
最大差動データ入力振幅
Vindiffmax
−
1 600
−
mV
JIS C 5954-3，
AC結合時，p-p
差動入力インピーダンス
Zindiff
80
100
120
Ω
TDR（時間領域反射）法，
AC結合時
【受信側特性】
データ出力電圧（低レベル）
VOL-Vcc
−1.810
−
−1.620
V
JIS C 5954-3，
DC結合時（ECL系）
データ出力電圧（高レベル）
VOH-Vcc
−1.025
−
−0.880
V
JIS C 5954-3，
DC結合時（ECL系）
最小差動データ出力振幅
Voutdiffmin
−
400
−
mV
JIS C 5954-3，
AC結合時，p-p
最大差動データ出力振幅
Voutdiffmax
−
1 600
−
mV
JIS C 5954-3，
AC結合時，p-p
信号検知出力電圧（低レベル）
VSDL
0
−
0.4
V
JIS C 5954-4
信号検知出力電圧（高レベル）
VSDH
2.4
−
Vcc
V
JIS C 5954-4
4
C
5
9
5
3
-7
：
2
0
1
7
13
C 5953-7：2017
1
1+y1
y2
0.5
y1
0
-y1
x1
x2
x3
x4
1
0
1 UI
振幅
0.5
注記 この図は，ITU-Tの許可を得て次を基に記載している。
ITU-T G.984.2:2003，Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON):
Physical Media Dependent (PMD) layer specification, Figure 2
図6−下り送信信号のアイパターンマスク
6
試験
6.1
試験全般
性能仕様を満足することを確認するための特性評価試験，及び，この性能標準で規定する環境負荷にお
いて，性能仕様を満足することを確認するための性能保証試験を行わなければならない。全試験の温度条
件は，特に指定がない限り（25±2）℃とする。
なお，この性能標準で示す試験は性能検証に関するものであり，性能寿命及び信頼性を保証するための
試験ではない。
6.2
特性評価試験
6.2.1
送信器
送信器の特性評価試験は，表2に示す動作環境において，ONU光トランシーバに関しては表3に，OLT
光トランシーバに関しては表5にそれぞれ規定する各項目が要求値を満足していることを確認する。試験
サンプル数は，異なる3グループ以上の生産ロットから，各ロットにつき必ず1個以上をサンプリングし，
全体で11個以上とする。光トランシーバの設計に何らかの変更を施した場合には，再度，この試験を実施
しなければならない。
6.2.2
受信器
受信器の特性評価試験は，表2に示す動作環境において，ONU光トランシーバに関しては表4に，OLT
光トランシーバに関しては表6にそれぞれ規定する各項目が要求値を満足していることを確認する。試験
サンプル数は，異なる3グループ以上の生産ロットから，各ロットにつき必ず1個以上をサンプリングし，
全体で11個以上とする。光トランシーバの設計に何らかの変更を施した場合には，再度，この試験を実施
しなければならない。
6.3
性能保証試験
特性評価試験の完了後，規定する環境負荷において，性能仕様を満足することを確認するために，性能
14
C 5953-7：2017
保証試験を実施する。この試験のサンプル数は，異なる3グループ以上の生産ロットから，各ロットにつ
き必ず1個以上をサンプリングし，全体で11個以上とする。試験サンプルは，新品であっても，特性評価
試験後のサンプルであってもよい。送信器の性能保証試験は，表2に示す動作環境において，ONU光トラ
ンシーバに関しては表3に，OLT光トランシーバに関しては表5にそれぞれ規定する次の各項目が要求値
を満足していることを確認する。受信器の性能保証試験は，表2に示す動作環境において，ONU光トラン
シーバに関しては表4に，OLT光トランシーバに関しては表6にそれぞれ規定する次の各項目が要求値を
満足していることを確認する。
環境負荷条件は表8によって，この製品を取り付ける機器の設置環境条件に対応した環境カテゴリ（環
境カテゴリC又は環境カテゴリU）を選択して試験を実施する。
表8−環境負荷条件
項目
引用規格
環境カテゴリC
環境カテゴリU
振動試験
JIS C 61300-2-1
10 Hz〜55 Hz，15掃引，3軸，0.75 mm
振動
10 Hz〜55 Hz，15掃引，3軸，0.75
mm振動
温度サイクル試
験
JIS C 61300-2-22
−10 ℃±2 ℃〜60 ℃±2 ℃
高温／低温温度にて60分保持，変化
率1 ℃/分，5サイクル以上
−25 ℃±2 ℃〜70 ℃±2 ℃
高温／低温温度にて60分保持，変
化率1 ℃/分，12サイクル以上
高温試験
JIS C 61300-2-18
＋60 ℃±2 ℃
96時間以上
＋70 ℃±2 ℃
96時間以上
低温試験
JIS C 61300-2-17
−10 ℃±2 ℃
96時間以上
−25 ℃±2 ℃
96時間以上
高温高湿試験
JIS C 61300-2-19
＋40 ℃±2 ℃
相対湿度：93±2 %
96時間
＋40 ℃±2 ℃
相対湿度：93±2 %
96時間
湿熱サイクル試
験
JIS C 61300-2-46
JIS C 5953-1
−
＋25 ℃±2 ℃〜55 ℃±2 ℃，相対
湿度＞95 %，方法1，96時間保持
ダスト試験
JIS C 61300-2-27
JIS C 5953-1
−
粉じんのサイズd＜150 μm，粉じん
状タルク，＋35 ℃ 相対湿度
60 %，10分保持
静電気放電試験
波形
JIS C 61340-3-1
人体帯電モデル
7
環境仕様
7.1
安全性全般
この規格に該当する全ての製品は，JIS C 6950-1に適合しなければならない。
7.2
レーザ安全性
光トランシーバは，全ての動作条件において，クラス1基準を満たさなければならない。これは，レー
ザ光が光ファイバに結合又は非結合でも，単一不具合条件下の場合を含む。光トランシーバは，JIS C 6802
への適合を保証しなければならない。
レーザ安全性に関する標準及び法規制は，レーザ製品製造業者に対して，製品に使用するレーザ，安全
性に関する特徴，ラベル，用途，保守方法及びサービスに関する情報の提供を要求する。この情報に関す
る書面には，これらの安全基準を満たすために必要な要求及びホストシステムにおける使用上の制限事項
を明確に示さなければならない。
15
C 5953-7：2017
7.3
電磁放射
この規格に該当する全ての製品は，IEC 61000-6-3に適合しなければならない。
参考文献
JIS B 0621 幾何偏差の定義及び表示
JIS C 0617（規格群） 電気用図記号
JIS C 5401-4 電子機器用コネクタ−第4部：品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付
JIS C 5944 光伝送用半導体レーザモジュール通則
JIS C 5945 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
JIS C 5946 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則
JIS C 5947 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法
JIS C 5953-5 光伝送用能動部品−性能標準−第5部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回
路内蔵ATM-PON用光トランシーバ
JIS C 5970 F01形単心光ファイバコネクタ（FCコネクタ）
JIS C 5971 F02形単心光ファイバコネクタ
JIS C 5973 F04形光ファイバコネクタ（SCコネクタ）
JIS C 5974 F05形単心光ファイバコネクタ
JIS C 5976 F07形2心光ファイバコネクタ
JIS C 5980 F11形光ファイバコネクタ
JIS C 5981 F12形多心光ファイバコネクタ（MTコネクタ）
JIS C 5982 F13形多心光ファイバコネクタ（MPOコネクタ）
JIS C 5983 F14形光ファイバコネクタ（MUコネクタ）
JIS C 5984 F15形光ファイバコネクタ
JIS C 5985 F16形光ファイバコネクタ（SC-SRコネクタ）
JIS C 5988 F19形光ファイバコネクタ（MT-RJコネクタ）
JIS C 6114-1 光変調器モジュール通則
JIS C 6114-2 光変調器モジュール測定方法
JIS C 6115-1 pin-FETモジュール通則
16
C 5953-7：2017
JIS C 6115-2 pin-FETモジュール測定方法
JIS C 6560 単頭プラグ･ジャック
JIS C 6820 光ファイバ通則
JIS C 6821 光ファイバ機械特性試験方法
JIS C 6822 光ファイバ構造パラメータ試験方法−寸法特性
JIS C 6823 光ファイバ損失試験方法
JIS C 6824 マルチモード光ファイバ帯域試験方法
JIS C 6825 光ファイバ構造パラメータ試験方法−光学的特性
JIS C 6827 光ファイバ波長分散試験方法
JIS C 6830 光ファイバコード
JIS C 6831 光ファイバ心線
JIS C 6833 多成分系マルチモード光ファイバ素線
JIS C 6834 プラスチッククラッドマルチモード光ファイバ素線
JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
JIS C 6836 全プラスチックマルチモード光ファイバコード
JIS C 6837 全プラスチックマルチモード光ファイバ素線
JIS C 6838 テープ形光ファイバ心線
JIS C 6850 光ファイバケーブル通則
JIS C 6851 光ファイバケーブル特性試験方法
JIS C 6861 全プラスチックマルチモード光ファイバ機械特性試験方法
ISO 1101，Geometrical product specifications (GPS)−Geometrical tolerancing−Tolerances of form, orientation,
location and run-out
IEC 60130 (all parts)，Connectors for frequencies below 3 MHz
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IEC 60603 (Part 1〜6，Part 8，Part 11〜14)，Connectors for frequencies below 3 MHz for use with printed boards
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template for essential ratings and characteristics
IEC 62007-2，Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications−Part 2: Measuring
methods