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C

 5

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9

1

 : 

1

9

9

7

 
解

説

JISと対応する国際規格との対比表 

JIS C 5991 : 1997 光伝送用フォトダイオード測定

方法 

IEC 747-5 (1992)，同Amd.1 (1994) 半導体デバイス 個別部品及び集積回路第5部：光エレクトロニクスデバイス，同追補1 

対比項目 

 
規定項目 

(I) JIS(原案)の規定内容 

(II) 国際規格番

号 

(III) 国際規格の規定内容 

(IV) JIS(原案)と国際規格との相違

点 

(V) JISと国際規格との一致

が困難な理由及び今後の
対策 

(1) 適用範囲 

○ 光伝送用フォトダイオード

に適用。 

IEC 747-5 

○ フォトダイオードの他，半導体レ

ーザ，発光ダイオードなどの光半
導体デバイス全般に広く適用。 

＝ 国際規格から光伝送用フォ

トダイオードに適用できる
ものだけを抽出した。 
なお，光伝送用半導体レーザ
はJIS C 5940，JIS C 5941に，
再生・記録用半導体レーザは
JIS C 5942，JIS C 5943に，
光伝送用半導体レーザモジ
ュールは，JIS C 5944，JIS C 
5945に，光伝送用発光ダイオ
ードはJIS C 5950，JIS C 
5951に規定。 

(2) 試験項目 

○ 光伝送用フォトダイオード

に関する測定項目を規定。 

IEC 747-5 

○ フォトダイオードのほか，半導体

レーザ，発光ダイオードなどの光
半導体デバイス全般についても
規定されている。 

＝ 国際規格からフォトダイオ

ードに対応する部分を抽出
し，国際規格にない以下の項
目を追加している。 
端子間容量測定 

既に国内では製品の特性評
価項目として一般的に使わ
れており，市場におけるフォ
トダイオードの信頼性確保
のため。