JISC5101-14-2:2020 電子機器用固定コンデンサ－第１４－２部：ブランク個別規格－電源用電磁障害防止固定コンデンサ

C 5101-14-2：2020

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

0 ブランク個別規格 ············································································································· 1

0.1 一般事項 ······················································································································ 1

0.2 個別規格の識別 ············································································································· 1

0.3 コンデンサの識別 ·········································································································· 2

1 一般事項························································································································· 3

1.0A 適用範囲 ···················································································································· 3

1.1 推奨する取付方法（実装する場合）··················································································· 3

1.2 寸法 ···························································································································· 3

1.3 定格及び特性 ················································································································ 3

1.4 引用規格 ······················································································································ 3

1.5 表示 ···························································································································· 4

1.6 発注情報 ······················································································································ 4

1.7 追加情報（非検査目的） ································································································· 4

1.8 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 4

2 検査要求事項 ··················································································································· 4

2.1 手順 ···························································································································· 4

2.2 試験計画 ······················································································································ 4

附属書A（規定）設計の宣言 ·································································································· 8

参考文献 ····························································································································· 9

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 10

C 5101-14-2：2020

（2）

まえがき

この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人

電子情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本

産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって，JIS C 5101-14-2:2009は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1 第1部：品目別通則

JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ

JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン

サ評価水準EZ

JIS C 5101-4 第4部：品種別通則−固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水

準EZ

JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ

JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ

JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ

JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−安全性試験

JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

C 5101-14-2：2020

（3）

JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価

水準E

JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準

JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E

JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-18 第18部：品種別通則−表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ

ンデンサ

JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ

ンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準EZ

JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ

JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ

JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ

JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解

コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ

ンサ

JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）

電解コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ

日本産業規格 JIS

C 5101-14-2：2020

電子機器用固定コンデンサ−

第14-2部：ブランク個別規格−

電源用電磁障害防止固定コンデンサ−安全性試験

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 14-2: Blank detail specification-

Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and

connection to the supply mains-Safety tests only

序文

この規格は，2016年に第2版として発行されたIEC 60384-14-2を基に，対応する部分については技術的

内容を変更することなく作成した日本産業規格であるが，対応国際規格に規定されていない規定項目（適

用範囲など）を日本産業規格として追加している。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

ブランク個別規格

0.1

一般事項

この規格は，共通の国際安全標準の手順として基本となるものである。また，品種別通則であるJIS C

5101-14の中の安全性試験のための認証計画を実施し，安全に関するパラメータに対する設計の宣言を要

求するものであり，出荷に先立つ全てのロットで行う適合性試験及び宣言した設計の変更に応じた部品の

再認証試験を規定している。

安全性試験を含む品質確認試験を規定するJIS C 5101-14-1（評価水準DZ）に対して，この規格は安全

性試験だけを規定している。

大量生産する部品には，JIS C 5101-14-1の使用が，より適切なことがあるが，部品の認証試験及び再認

証試験が，部品コストに大きな負担になる場合には，この規格が必要になることがある。

ブランク個別規格は，品種別通則の補足規格であって，個別規格の様式，体裁及び最小限の記載事項を

規定している。

この規格が規定している要求事項を満足しない個別規格は，日本産業規格に基づいていないものとみな

し，そのことを個別規格に記載することが望ましい。

個別規格は，JIS C 5101-14:2014の1.4に基づいて作成することが望ましい。

0.2

個別規格の識別

個別規格の最初のページには，このブランク個別規格の2ページで推奨する表枠を用いることが望まし

C 5101-14-2：2020

い。次の[1]〜[4]の事項は，0.3（コンデンサの識別）の[9]の表枠の括弧内の数字と対応している。

[1] 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議（IEC）の名称

[2] 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び西

暦年

[3] 品目別通則又は品種別通則のJIS規格番号及び西暦年，又はIEC規格番号，版及び西暦年

[4] ブランク個別規格のJIS規格番号又はIEC規格番号

0.3

コンデンサの識別

次の[5]〜[9]の事項は，この規格の次の二つの表枠の括弧内の数字と対応している。

[5] コンデンサの品種についての要約説明

個別規格に規定する文は，IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。

[6] 代表的な構造の説明（適用可能な場合）

個別規格に規定する文は，IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。

[7] 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関するJIS又はIEC規格の引用。

この図は，個別規格の附属書としてもよい。ただし，[7]には，部品の一般的な外形図が含まれてい

ることが望ましい。

[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び／又は評価水準

[9] 同一又は類似の用途を対象とした様々な部品タイプ間の比較を可能とする，部品の最も重要な特性

に関する情報を提供する参照データ

例一般社団法人電子情報技術産業協会

[1]

個別規格番号

[2]

電子機器用固定コンデンサ

[3]

第1部：品目別通則：JIS C 5101-1:2019
第14部：品種別通則：JIS C 5101-14:2014

JIS C 5101-14-2

[4]

電源用電磁障害防止固定コンデンサ

[5]

（安全性試験）

外形図（表1参照）

[7]

（第三角法）
（規定寸法内であれば外形は異なってもよい。）

構造の説明

[6]

安全性試験

[8]

JIS C 5101-14-2に基づく個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は，品質認証電子部品一覧表（QPL）に示
されている。

[9]

注記上記の表枠内の[1]〜[9]は，0.2及び0.3の該当する番号を参照することを示している。

C 5101-14-2：2020

一般事項

1.0A 適用範囲

この規格は，JIS C 5101-14を品種別通則とするブランク個別規格で，電源用電磁障害防止固定コンデン

サ（以下，コンデンサという。）の安全性試験について規定する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60384-14-2:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-2: Blank detail

specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the

supply mains−Safety tests only（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

1.1

推奨する取付方法（実装する場合）

取付けは，JIS C 5101-14:2014の1.4.2による。

1.2

寸法

寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表し，製造業者の仕様書による。

1.3

定格及び特性

定格及び特性は，次の項目のとおりである。

a) 公称静電容量範囲

b) 公称静電容量許容差

c) 定格電圧

d) 定格電流（適用可能な場合）

e) 耐候性カテゴリ

定格温度

g) 誘電正接（tan δ）

h) 絶縁抵抗

耐炎性カテゴリ

静電容量値は，定格電圧，寸法及び発注コード／種類の指定に関連し，製造業者の仕様書による。

1.4

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。

JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）

注記対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）

JIS C 5101-14:2014 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ

注記1 対応国際規格：IEC 60384-14:2013，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:

Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and

connection to the supply mains（IDT）

注記2 対応国際規格IEC 60384-14のAmendment 1:2016に対応するJIS C 5101-14の追補1:2019が

発行されている。

C 5101-14-2：2020

1.5

表示

適用する場合，コンデンサ及び包装への表示は，JIS C 5101-14:2014の1.6による。

部品及び包装への表示の詳細は，個別規格に全て規定する。

1.6

発注情報

個別規格によるコンデンサの発注情報には，明瞭な文字又は記号で，次の事項が含まれていなければな

らない。

a) 公称静電容量

b) 公称静電容量許容差

c) 定格電圧

d) 製造業者名又はその商標

e) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名

1.7

追加情報（非検査目的）

注記非検査目的とは，検査目的以外のことであり，検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.8

品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に限定することが望ましく，表1によるのがよい。

表1−その他の特性

この表は，JIS C 5101-1及び／又はJIS C 5101-14への追加，
又はより厳しい特性を規定するために使用している。

検査要求事項

2.1

手順

品質認証の手順は，JIS C 5101-14:2014の3.4による。

2.2

試験計画

2.2.1

初期認証

初期認証の試験計画は，表2による。

2.2.2

再認証品質確認検査

品質確認検査の試験計画は，附属書Aに関連して，表3による。

C 5101-14-2：2020

表2−安全性試験の初期認証試験計画

細分箇条番号及び

試験項目a)

D又は

ND b)

試験条件a)

試料数n及び

合格判定数c

a), b)

要求事項a)

群0
4.1 外観

4.2.2 静電容量

4.2.4 抵抗値c)

4.2.1 耐電圧

4.2.5 絶縁抵抗

表3による。

損傷がない。
表示は，明瞭とする。

規定の許容差以内

規定の許容差以内

永久破壊又はフラッシオー
バがない。

表11による。

群1A
4.1.1 沿面距離及び
空間距離

4.3 端子強度

4.4 はんだ耐熱性c), e)

4.20 表示の耐溶剤性

4.4.2 最終測定

厳しさ：...d)

予備乾燥なし
方法：...d)

外観
静電容量
抵抗値c)

表3による。

4.1.1による。

損傷がない。

4.4.2による。

表示は，明瞭とする。

損傷がない。
表13による。
表13による。

群2
4.12 高温高湿（定常）

4.12.1 初期測定e)

4.12.2 試験条件

4.12.3 最終測定

この表の群0の測定値を用い
る。

磁器コンデンサ：試料の半数
に定格電圧URを印加し，残り
の試料には印加しない。
その他のコンデンサ：電圧印
加しない。

外観

静電容量
抵抗値c)
耐電圧
絶縁抵抗

表3による。

損傷がない。
表示は，明瞭とする。
表15による。
表15による。
表15による。
表15による。

C 5101-14-2：2020

表2−安全性試験の初期認証試験計画（続き）

細分箇条番号及び

試験項目a)

D又は

ND b)

試験条件a)

試料数n及び

合格判定数c

a), b)

要求事項a)

群3
4.13.1 初期測定e)

4.13 インパルス電圧

4.14 耐久性

4.14.7 最終測定

この表の群0の測定値を用い
る。

インパルスの回数：3回
（連続して適合を示す波形が
現れた場合，又は3回以上適
合を示す波形が現れるまで最
大24回）
ピーク電圧：表1及び表2に
よる。

時間：1 000 h
電圧，電流及び温度：
4.14.3，4.14.4，4.14.5及び4.14.6
による。

外観

静電容量
抵抗値c)
耐電圧
絶縁抵抗

表3による。

4.13.2及び4.13.3による。

損傷がない。
表示は，明瞭とする。
表16による。
表16による。
表16による。
表16による。

群6
4.17 耐炎性

表3による。

4.17.1による。

群7
4.18 発炎性

表3による。

4.18.4による。

注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は，JIS C 5101-14による。

b) この表の記号は，次による。

D＝破壊試験，ND＝非破壊試験

n＝試料数，c＝合格判定数

c) 適用可能な場合。

d) 個別規格の規定による。

e) 磁器コンデンサで，静電容量のずれの正確な測定が要求される場合は，製造業者が推奨する前処理をJIS C

5101-14:2014の附属書Gに従って実施することが望ましい。

C 5101-14-2：2020

表3−ロットごとの品質確認検査の試験計画

安全性試験

群

細分箇条番号及び試験項目

（JIS C 5101-14:2014の箇条4による。）

検査水準

試料数

合格判定数

4.2.2

静電容量

4.2.4

抵抗値a)

4.2.1

耐電圧d)

100 % b)

4.1

外観

4.1

寸法c)

S-4

4.2.5

絶縁抵抗（試験A）

群A0及び群A1における試験はどの順番でも実施できるが，磁器コンデンサの場合は静電容量値を最初に計測す

る。

試料数（n）は，JIS C 5005-2:2010の表1に規定するロットサイズで割り当てるサンプルサイズとすることが望ま

しい。
注a) 適用可能な場合。

b) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査である。抜

取水準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，抜取試料を全て検査する。この検査
は，工程の最終検査として実施してもよい。

c) 製造業者が，寸法測定に統計的工程管理（SPC）又は不適合部品を避けるための手法を導入している場合は，

この試験を工程検査と置き換えてもよい。

d) 耐電圧試験は，絶縁抵抗での不適合品を発見するための適切な判定装置を兼ね備えていなければならない。

e) JIS C 5005-2:2010の4.3による。

附属書Aによって宣言された設計を変更する場合，表2に従って再認証試験を認証機関は要求してもよ

い。

認証機関は，意図された変更に関して通知を受け，再認証試験の実施について決定する。

最大限として，附属書Aに完全に一致する再認証が必要となる場合がある（箇条0参照）。

C 5101-14-2：2020

附属書A

（規定）

設計の宣言

この宣言は製造業者及び認証機関の機密事項であることに注意する。

この規定は，認証を得ようとするコンデンサの基本設計及び必要なデータを登録することが目的である。

次の事項を記載した書類を，全ての認証試験に先立って関連する認証機関に提出する。その他の機関へ

の配布は，製造業者の決定に任される。

宣言した設計の変更は，書面で認証機関に通知した後にだけ許可される。この場合，認証機関は，講じ

る必要な措置を決める。最大限のものとして，全面的な再認証を要求される場合がある。

登録番号：

（登録番号は，認証機関が付与する。）

出願者

製造業者

生産地

形式の指定

クラス／サブクラス

回路図

誘電体

7.1

材質

7.2

厚さ

7.3

密度（紙コンデンサだけに適用）

7.4

個々の層の数

電極

8.1

材質

8.2

種類（例えば，ホイル，フィルム又は紙上への蒸着など）

コンデンサ素子，個々の層の配置など

含浸剤（適用可能な場合）

封止

11.1

ケース，樹脂などの材質（該当するもの）

11.2

外側絶縁の材質（適用可能な場合）

外形寸法

̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲ ̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲ ̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲ ̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲

場所

日付

氏名

自署

C 5101-14-2：2020

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 5101-14-2:2020 電子機器用固定コンデンサ−第14-2部：ブランク個別規
格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−安全性試験

IEC 60384-14-2:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-2: Blank
detail specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains−Safety tests only

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

0 ブランク
個別規格

0.2 個別規格の識別
[3]，[4]

0.2
[3]
[4]

JISとほぼ同じ

追加

規格番号の表記について説明を追
加した。

JIS規格番号を記載する場合の記
載方法が必要なため。

表枠[1]

表枠
[1]

JISとほぼ同じ

変更

記入内容を具体的例に置き換えた。この規格の表枠が用いられる場合

の具体的記載例を示すため。

表枠[2]

表枠
[2]

JISとほぼ同じ

変更

記入例を記入内容の説明に置き換
えた。

この規格の表枠が用いられる場合
の記載方法を示すため。

1 一般事項 1.0A 適用範囲

1.0A 適用範囲以外は
JISとほぼ同じ

追加

対応国際規格にない適用範囲の細
分箇条を追加した。

次回IEC規格改訂時に適用範囲の
箇条の追加を提案する。

1.4 引用規格

1.4

JIS C 5101-1の対応国
際規格IEC 60384-1の記
載

変更

JIS C 5101-1（対応国際規格IEC
60384-1）を引用規格から参考文献
へ移動した。

この規格はJIS C 5101-1の要求事
項を直接引用していないため。
次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

1.7 追加情報（非検
査目的）

1.7

JISとほぼ同じ。

追加

注記として説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

2 検査要求
事項

表2−安全性試験の
初期認証試験計画，
群1A，
4.4 はんだ耐熱性，
要求事項

表2
群1A，
4.4，
要求事
項

記載なし。

追加

引用元の細分箇条を追加した（対応
国際規格の記載漏れ）。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

-1

-2

：

C 5101-14-2：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

2 検査要求
事項（続き）

表2−安全性試験の
初期認証試験計画，
群2，
4.12.1 初期測定，
試験条件

表2
群2，
4.12.1，
試験条
件

JISとほぼ同じ。

追加

補足説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表2
群2，
4.12.2 試験条件，
試験条件

表2
群2，
4.12.2，
試験条
件

JISとほぼ同じ。

追加

補足説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表2
群3，
4.13.1 初期測定，
試験条件

表2
群3，
4.13.1，
試験条
件

JISとほぼ同じ。

追加

補足説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表2
群3，
4.13 インパルス電
圧，試験条件

表2
群3,
4.13,
試験条
件

JISとほぼ同じ

追加

補足説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表3−ロットごとの
品質確認検査の試
験計画

表3

JISとほぼ同じ。

追加

“試料数”欄を追加し，“試料数”
の記号を設定した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表3
注b)

JISとほぼ同じ。

追加

補足説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表3
注e)

表3

JISとほぼ同じ。

追加

各群の試料数の根拠となるJISを
追加した。

次回IEC規格改訂時に試料数の根
拠となるIEC規格の追加を提案す
る。

-1

-2

：

C 5101-14-2：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

2 検査要求
事項（続き）

2.2.2 最終段落（文
末）

JISとほぼ同じ

変更

“See also introduction”を“箇条0
参照”へ変更した。

対応国際規格において，箇条0は
Introductionに含まれているが，こ
の規格において，参照している箇
所は，Introductionではなく，箇条
0であるため。

参考文献

参考文
献

記載なし。

追加

JIS C 5101-1を記載した。

次回IEC規格改訂時に記載を提案
する。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60384-14-2:2016，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。

-1

-2

：