C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。），又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触
する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性
質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確
認について，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5201群 電子機器用固定抵抗器
JIS C 5201-1 第1部：品目別通則
JIS C 5201-2 第2部：品種別通則：低電力非巻線固定抵抗器
JIS C 5201-2-1 第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-2-2 第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F
JIS C 5201-4 第4部：品種別通則：電力形固定抵抗器
JIS C 5201-4-1 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-4-2 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準F
JIS C 5201-4-3 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器ヒートシンク付き 評価水準H
JIS C 5201-5 第5部：品種別通則：精密級固定抵抗器
JIS C 5201-5-1 第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-5-2 第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準F
JIS C 5201-6 第6部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
JIS C 5201-6-1 第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器同一抵抗値及び
同一定格電力 評価水準E
JIS C 5201-6-2 第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器異種抵抗値又は
異種定格電力 評価水準E
JIS C 5201-8 第8部：品種別通則：チップ固定抵抗器
JIS C 5201-8-1 第8部：ブランク個別規格：チップ固定抵抗器 評価水準E
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1.0 適用範囲 ······················································································································ 1
ブランク個別規格 ··········································································································· 1
個別規格の識別 ·············································································································· 2
抵抗器の識別 ················································································································· 2
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 2
1.2 寸法，定格及び特性 ······································································································· 3
1.3 引用規格 ······················································································································ 3
1.4 表示 ···························································································································· 3
1.5 発注情報 ······················································································································ 4
1.6 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.7 追加事項 ······················································································································ 4
1.8 品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項 ······································ 4
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項 ··············································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5201-6-1 : 1999
(IEC 60115-6-1 : 1983)
電子機器用固定抵抗器−
第6部：ブランク個別規格：
個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
同一抵抗値及び同一定格電力
評価水準E
Fixed resistors for use in electronic equipment
Part 6 : Blank detail specification :
Fixed resistor networks with individually measurable resistors,
all of equal value and equal dissipation
Assessment level E
序文 この規格は，1983年に初版として発行されたIEC 60115-6-1, Fixed resistors for use in electronic
equipment Part6 : Blank detail specification : Fixed resistor networks with individually measurable resistors, all of
equal value and equal dissipation Assessment level Eを基に，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく
作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替える。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5201-6（電子機器用固定抵抗器−第6部：品種別通則：個別測定可能
な固定ネットワーク抵抗器）を品種別通則とするブランク個別規格で，個別測定可能な固定ネットワーク
抵抗器−同一抵抗値及び同一定格電力評価水準Eについて規定する。
備考 この規格の対応国際規格を次に示す。
IEC 60115-6-1 : 1983 Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 6 : Blank detail
specification : Fixed resistor networks with individually measurable resistors, all of equal value and
equal dissipation. Assessment level E
ブランク個別規格 この規格は品種別通則 (JIS C 5201-6) の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要
な事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格には基づいてい
ないものとみなす。
個別規格を作成する場合には，JIS C 5201-6の1.4（個別規格に規定する事項）の内容を考慮に入れる。
2
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の事項と
対応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 [IEC “International electrotechnical
commission”) の名称。
(2) 個別規格の国内規格番号，発効年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び発行
年。
(3) 品目別通則の国内規格番号及び発効年又はIEC規格番号，版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号。
抵抗器の識別
(5) 抵抗器の品種についての要約説明。
(6) 抵抗器の抵抗値の配列，電気的回路及び端子ピン番号などの詳細な仕様を明記する。この図は，個別
規格の附属書で示してもよい。
(7) 代表的な構造の説明（適用する場合）。
備考 抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのことを明記
する。
(8) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図，及び／又は，外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書で示してもよい。
(9) 適用範囲又は適用グループの範囲，及び／又は評価水準。
備考 個別規格に規定する評価水準は，JIS C 5201-6の3.3.3（評価水準）から選択する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(10) 異なる品種の抵抗器について，対比できる重要な特性に関する参照データ。
例 日本工業標準調査会
(1)
個別規格の番号
(2)
電子機器用固定抵抗器
第1部：品目別通則
JIS C 5201-1 : 1998
(3)
JIS C 5201-6-1
（ブランク個別規格番号）
(4)
個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
同一抵抗値及び同一定格電力
(5)
外形図：（表I参照）
（第三角法）
(8)
(6)
絶縁形／非絶縁形
(7)
評価水準：E
(9)
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい）
安定性クラス：... %
この個別規格で認証された抵抗器の詳しい内容は，
品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。
参考 この記載は，IECQの場合に適用する。
(10)
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.1
推奨する取付方法（挿入用）
3
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
［JIS C 5201-6の1.4.2（取付け）を参照］
1.2
寸法，定格及び特性
表I 寸法，定格及び特性
形式 素子定格電力
(70℃)
W
ネットワーク
定格電力
(70℃)
W
素子最高電圧
（V d.c.又はa.c.
の実効値）
各抵抗素子間の
アイソレーショ
ン電圧
（適用する場合）
寸法
寸法は，すべてミリメートル (mm)
抵抗値範囲*
... Ω〜... Ω
定格抵抗値の許容差
... ±... %
耐候性カテゴリ
- / - / -
減圧
8 kPa
安定性クラス
... %
抵抗値変化の限界：
−長期試験
± (... %R＋... Ω)
−短期試験
± (... %R＋... Ω)
抵抗温度係数
α：...10-6/℃
注*
推奨値は，JIS C 5063（抵抗器及びコンデンサの標準数列）のE標準数列である。
参考 上記の “... %R” のRは，各試験の試験前の抵抗値を示す。
1.2.1
負荷軽減 この規格を適用する抵抗器は，次の軽減曲線によって負荷を軽減する（適切な軽減曲線
は，個別規格に規定する。）。
備考 JIS C 5201-6の2.2.3（定格電力）を参照。
1.3
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
し，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977からのすべての引用事項は，この規格と一致している。
JIS C 5201-1 電子機器用固定抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60115-1 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification並
びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1993からのすべての引
用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5201-6 電子機器用固定抵抗器−第6部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
備考 IEC 60115-6 : 1983, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 6 : Sectional specification :
Fixed resistor networks with individually measurable resistors及びAmendment 1 : 1987からの
すべての引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015 計数調整型抜取検査（供給者を選択できる場合の購入検査）
備考 IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用
事項は，この規格の該当事項と同等である。
1.4
表示 抵抗器及び包装への表示は，JIS C 5201-6の1.5（表示）による。
4
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 抵抗器及び包装への表示の詳細は，個別規格による。
1.5
発注情報 この規格を適用する抵抗器を発注する場合には，少なくとも次の情報を明確に示すか，
又は記号の形で示す。
a) 素子定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 個別規格の番号及び発効年又は版並びに形式
1.6
出荷対象ロットの成績証明書
要求する／要求しない
1.7
追加事項（検査目的以外のもの）
1.8
品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合にだけ規定する。
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証のための手順は，JIS C 5201-6の3.2（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査のための試験計画（表II）には，抜取方法，周期，厳しさ及び要求事項を規定する。
検査ロットの構成は，JIS C 5201-6の3.3.1（検査ロットの構成）による。
備考 乾燥が要求される場合には，JIS C 5201-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
表II 品質確認検査の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5201-1による。ただし，抵抗値変化の要求事項は，JIS
C 5201-6の表I及び表IIから適切に選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015から選択する。
3. この表で：
参考 表中の要求性能欄の “...%R” のRは，各試験の試験前の抵抗値を示す。
5
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
群A検査
（ロットごと）
副群A1
ND
S-4
1.0%
4.4.1 外観
4.4.1による。
表示が明りょうで，この
規格の1.4を満足する。
副群A2
ND
S-4
1.0%
4.4.2 寸法
（ゲージ法）
...mmのゲージ板を使用
この規格の表Iの規定に
よる。
4.5 抵抗値
4.5.2による。
群B検査
（ロットごと）
副群B1
ND
S-3
1.0%
4.7 耐電圧（絶縁形抵
抗器だけに適用）
方法：...
絶縁破壊又はフラッシュ
オーバがない。
副群B2
D
S-3
2.5%
4.17 はんだ付け性
エージングなし
方法：...
端子のはんだのぬれは良
好でなければならない。
又ははんだ小球法を適用
する場合は，はんだの流
れは...秒間以内でなけれ
ばならない。
4.19 温度急変
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
外観
外観の損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
副群B3
ND
S-3
2.5%
4.8.4.2 抵抗温度係数
この試験は抵抗温度係数
が±50×10-6/℃未満を要
求される場合だけに適用
する。20℃〜70℃〜20℃
の1サイクルだけ。
α：...10-6/℃
6
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表II 品質確認検査の試験計画 （続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合
格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
群C検査
（定期的）
副群C1A
副群C1の試料の半分
D
3
5
4.16 端子強度
JIS C 5201-6の2.3.9
（端子強度）を参照
外観
外観の損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.18 はんだ耐熱性
方法：...
外観
外観の損傷がなく，表示
は明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.8 温度による抵抗
値変化
カテゴリ下限温度/20℃
R
R
∆
≦...%又は
α：...10-6/℃
20℃/カテゴリ上限温度
R
R
∆
≦...%又は
α：...10-6/℃
4.13 過負荷
JIS C 5201-6の2.3.4
（過負荷）を参照
外観
外観の損傷がなく，表示
は明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
副群C1B
副群C1の試料の残り
半分
D
3
5
4.19 温度急変
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
外観
外観の損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.22 振動（正弦波）
取付方法：
この規格の1.1を参照
掃引耐久試験
振動数範囲： 10Hz
〜500Hz
振幅：0.75mm
又は加速度
98m/s2（どちら
か緩い方）
総試験時間：6h
外観
外観の損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
副群C1
副群C1A及びC1Bの
全試料
D
3
10
1
4.23 一連耐候性
7
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合
格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
−高温（耐熱性）
−温湿度サイクル
（12＋12時間サイ
クル）
最初のサイクル
−低温（耐寒性）
−減圧
8kPa
−温湿度サイクル
（12＋12時間サイ
クル）
残りのサイクル
−直流負荷
外観
外観の損傷がなく，表示
は明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
抵抗素子間絶縁抵抗
（適用する場合）JIS C
5201-6の2.3.6（隣接した
抵抗素子間の絶縁抵抗）
を参照
R≧1GΩ
抵抗素子間耐電圧（適
用する場合）JIS C 5201-6
の2.3.7（隣接した抵抗素
子間の耐電圧）を参照
絶縁破壊又はフラッシュ
オーバがない。
副群C2
D
3
5
1
4.25.1 70℃での耐久性
JIS C 5201-6の2.3.5
（70℃での耐久性）を参
照
時間：1 000h
検査：48h，500h及び
1 000h
外観
外観の損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
1 000hでの検査：
抵抗素子間の絶縁抵抗
（適用する場合）JIS C
5201-6の2.3.6（隣接した
抵抗素子間の絶縁抵抗）
を参照
R≧1GΩ
毎年1個の試料を8 000h
まで延長検査する。
2 000h, 4 000h及び8 000h
での検査：
12
5
−
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（結果は，情報としてだ
け取り扱う。）
群D検査
（定期的）
8
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合
格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群D1
D
12 12
1
4.24 高温高湿（定常）
JIS C 5201-6の2.3.8［高
温高湿（定常）］を参照
外観
外観の損傷がなく，表示
は明りょうである。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
抵抗素子間絶縁抵抗
（適用する場合）JIS C
5201-6の2.3.6を参照
R≧1GΩ
抵抗素子間耐電圧（適
用する場合）JIS C 5201-6
の2.3.7を参照
絶縁破壊フラッシュオー
バがない。
副群D2
D
36 10
1
4.4.3 寸法（詳細）
この規格の表Iによる。
4.25.3 カテゴリ
上限温度での耐久性
時間：1 000h
48h, 500h及び1 000hでの
検査：
外観
外観の損傷がない。
抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
1 000hでの検査：
抵抗素子間絶縁抵抗
（適用する場合）JIS C
5201-6の2.3.6を参照
R≧1GΩ
9
C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成第1委員会構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局管理課調達補給室
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
永 松 荘 一
通商産業省機械情報産業局電子機器課
橋 爪 邦 隆
工業技術院標準部情報電気規格課
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 巳
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
中 島 眞 人
日本電気株式会社
小 林 弘
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
三 浦 春 夫
TDK株式会社
杉 岡 由 皓
日立エーアイシー株式会社
阿慈知 良 雄
ニチコン株式会社
栗 林 孝 志
松下電子部品株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
豊 嶋 協 一
TDK株式会社
平 野 芳 行
日本電気株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
宮 島 明 美
多摩電気工業株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5201-6分科会構成表
氏名
所属
（主査）
宮 島 明 美
多摩電気工業株式会社
（委員）
本 田 義 夫
KOA株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
嶋 田 真 人
北陸電気工業株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
笹 川 蔽 雄
理研電具製造株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会