C 5101-15-1 : 1998
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質
をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認に
ついて，責任はもたない。
部編成規格 この規格の部編成規格を次に示す。
JIS C 5101群 電子機器用固定コンデンサ
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム
直流コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ評価水準E
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-4-2 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-8-1 第8部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1評価水準E
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-9-1 第9部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2評価水準E
JIS C 5101-10 第10部：品種別通則：固定積層磁器チップコンデンサ
JIS C 5101-10-1 第10部：ブランク個別規格：固定積層磁器チップコンデンサ評価水準E
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ（予定）
JIS C 5101-13-1 第13部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
評価水準E（予定）
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準D
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
C 5101-15-1 : 1998 まえがき
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水
準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ（予
定）
JIS C 5101-16-1 第16部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ
ンサ評価水準E（予定）
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ（予定）
JIS C 5101-17-1 第17部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ
ルスコンデンサ評価水準E（予定）
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデン
サ（予定）
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ
評価水準E（予定）
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水
準E（予定）
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直
流コンデンサ（予定）
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ評価水準EZ（予定）
C 5101-15-1 : 1998
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
コンデンサの識別 ················································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.8 追加情報（非検査目的）·································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 5
第2章 検査要求事項
2. 検査要求事項 ·················································································································· 5
2.1 手順 ···························································································································· 5
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-15-1 : 1998
電子機器用固定コンデンサ−
第15部：ブランク個別規格：
はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ
評価水準E
Fixed capacitors for use in electronic equipment
Part 15 : Blank detail specification :
Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode
Assessment level E
序文 この規格は，1984年初版として発行されたIEC 60384-15-1, Fixed capacitors for use in electronic
equipment Part15 : Blank detail specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode
Assessment Level E及びIEC 60384-15のAmendment 1 : 1987を翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変
更することなく作成した日本工業規格である。ただし，Amendmentについては，編集し，一体とした。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にない事項である。また，IEC規格番号は，
1997年1月1日より実施のIEC規格新番号体系によるものである。これより前に発行された規格につい
ては，規格票に記載された規格番号に60000を加えた番号に切り替える。これは，番号だけの切替えであ
り内容は同一である。
参考 序文中に，品種別通則の原国際規格IEC 60384-15 Amendment 1を引用したのは，この規格の”
逆電圧”試験方法の修正文が，このAmendmentによるためである。
ブランク個別規格
このブランク個別規格は，品種別通則JIS C 5101-15の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要な要
求事項を規定したものである。この規格が規定する要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に基
づくものでないものとみなし，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，品種別通則JIS C 5101-15の1.4（個別規格に規定する事項）に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表の数字は，指定の位置に規定する次の事項と対
応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，発効年及び国内の制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び発
行年
(3) 品目別通則の国内規格番号及び発効年又はIEC規格番号，版及び発行年
2
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
備考 コンデンサが，プリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのこと
を明記する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ
の図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
備考 個別規格に規定する評価水準は，品種別通則JIS C 5101-15の3.5.4（評価水準）から選定する。
このブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定して
もよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 日本工業標準調査会
(1)
個別規格番号
(2)
例 電子機器用固定コンデンサ
(3)
例 JIS C 5101-15-1
(4)
第1部：品目別通則：JIS C
5101-1 : 1998
QC 300201
例 はく電極形固定タンタル
(5)
非固体電解コンデンサ
リード線又はタグ端子付き
（サブファミリ1）
外形図（表Iによる。）
(7)
（第三角法）
構造の説明：
(6)
評価水準（複数可）：E
(8)
性能等級：例 長寿命等級
（規定寸法内であれば外形は異なってもよい。）
備考 QC 300201は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい情報は，品質認証電
子部品一覧表 (QPL) に示されている。(＊)
注(＊) この記載は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(9)
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5101-15を品種別通則とするブランク個別規格で，はく電極形固定タ
ンタル非固体電解コンデンサ評価水準Eについて規定する。
備考 この規格の対応国際規格を次に示す。
IEC 60384-15-1 : 1994, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 15 : Blank detail
specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode Assessment
level E
IEC 60384-15 Amendment 1 : 1987
3
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.1
推奨する取付方法 （挿入用）［品種別通則JIS C 5101-15の1.4.2（取付け）による。］
1.2
寸法
表I 寸法
外形寸法
記号
寸法（ミリメートル又はインチ及びミリメートル）
φ
L
H
d
…
備考1. 外形寸法記号がない場合は，表Iは削除し，寸法は表IIAに記載して表Iと
する。
2. 寸法は，最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。
3. 表I以外に説明が必要な場合は，追加する。
1.3
定格及び特性
定格静電容量範囲（表IIAによる。）
定格静電容量許容差
定格電圧（表IIAによる。）
カテゴリ電圧（適用する場合）（表IIAによる。）
耐候性カテゴリ
定格温度
温度による静電容量の変化（表IIBによる。）
損失角の正接（tanδ）（表IIBによる。）
漏れ電流（表IIBによる。）
インピーダンス（適用する場合）（表IICによる。）
逆電圧（適用する場合）
表IIA 外形寸法と組み合わせた定格静電容量及び定格電圧の値
定格電圧
カテゴリ電圧*
定格静電容量
μF
外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号
注*
定格電圧と異なる場合
4
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表IIB 高温及び低温での特性
UR
CR
静電容量変化率
最大値
損失角の正接
インピーダンス
（100Hz又は120Hz）
漏れ電流
%
Ω
μA
V
μF
θA
θR
θB
θA(2) 20℃ θB(2)
θA
20℃
θR
θB(1)
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
θR＝定格温度
(1) カテゴリ電圧で測定
(2) 適用する場合
表IIC インピーダンス...Hz（適用する場合）
外形寸法記号
インピーダンス
Ω
1
2
3
4
1.4
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
し，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
備考 IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification
並びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1989からのすべての
引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5101-15 電子機器用固定コンデンサ−第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解
コンデンサ
備考 IEC 60384-15 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 15 : Sectional
specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte並びにAmendment
1 : 1987及びAmendmemt 2 : 1992が，この規格と一致する。
JIS Z 9015 計数調整型抜取検査（供給者を選択できる場合の購入検査）
備考 IEC 60410 : Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用事項
は，この規格の該当事項と一致する。
1.5
表示 コンデンサ及び包装の表示は，JIS C 5101-15の1.6（表示）による。
備考 コンデンサ及び包装への表示は，個別規格に規定する。
1.6
発注情報 この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって少なくと
も次の事項を規定する。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格の番号及び版並びに種類
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する。又は要求しない。
1.8
追加情報（非検査目的）
5
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表III その他の特性
この表は，品種別通則に規定の厳しさに追加又はより厳
しい要求事項を規定するために使用する。
第2章 検査要求事項
2. 検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順は，品種別通則JIS C 5101-15の3.4（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査については，試験計画（表IV）にサンプリング方法，周期，厳しさ及び要求性能を
表す。検査ロットの構成は，品種別通則JIS C 5101-15の3.5.1（検査ロットの構成）による。
表IV 品質確認検査の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，品種別通則JIS C 5101-15及びこの規格の第1章による。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015から選定する。
3. 表中の記号は，次による。
p
＝周期（月）
n
＝試料数
c
＝合格判定個数（許容不良数）
D
＝破壊試験
ND ＝非破壊試験
IL ＝検査水準
JIS Z 9015
AQL ＝合格品質水準
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考2.参照）
（備考1.参照）
群A検査
（ロットごと）
副群A1
ND
S-4
2.5%
4.1 外観
4.1による。
表示が明りょうでありその
他この規格の1.5の規定によ
る。
4.2 寸法（ゲージ法）
表Iによる。
副群A2
ND
II
1.0%
4.2.1 漏れ電流
保護抵抗：
≤...μＡ
...Ω
表IIBによる。
4.2.2 静電容量
周波数：...Hz
規定の許容差以内
4.2.3 損失角の正接
周波数：...Hz
≤...，表IIBによる。
4.2.4 インピーダンス
（適用する場合）
周波数：...Hz
≤...Ω，表IICによる。
6
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考2.参照）
（備考1.参照）
群B検査
（ロットごと）
副群B1
D
S-3
2.5%
4.5 はんだ付け性
エージングなし
方法：...
端子にはんだが良好に付着
しているか，又ははんだ小球
法の場合は規定の...秒以内
にはんだが流れる。
副群B2
ND
S-3
2.5%
4.15 高温及び低温特性
（要求ある場合）
コンデンサは，各温度段階で測
定する。
段階1：20℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
インピーダンス*（段階2と
同じ周波数）
比較値として使用する。
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接*
≤...**
インピーダンス*
≤...Ω**
段階3：定格温度
漏れ電流
≤...μＡ**
静電容量
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接*
≤...**
段階4：カテゴリ上限温度
漏れ電流
≤...μＡ**
静電容量
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接*
≤...**
注*
適用する場合
** 表IIBによる。
7
C 5101-15-1 : 1998
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表IV 品質確認検査の試験計画（続き）
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
要求性能
個数（備考3.参照）
（備考1.参照）
p
n
c
群C検査
（定期的）
副群C1A
D
6
9
1
副群C1の試料の一部
4.3.1 初期測定
静電容量
4.3 端子強度
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
4.4 はんだ耐熱性
方法：...
4.4.2 最終測定
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
副群C1B
D
6
18
1
副群C1の残りの試料
4.6.1 初期測定
静電容量
4.6 温度急変
θA＝カテゴリ下限温度
θB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t＝30min
後処理：16h
4.6.3 最終測定
漏れ電流
≤...μＡ**
表IIBによる。
静電容量
4.6.1の測定値の
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接
≤...
表IIBによる。
4.7 振動
取付方法：この規格の1.1によ
る。
手順B4
周波数範囲：
...Hzから...Hz
振幅：...mm又は
加速度：...m/s2
のいずれか緩い方。
試験時間：...h
4.7.2 最終検査
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
4.8 バンプ（又は4.9衝撃に
よる。）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
バンプの回数：...
ピーク加速度：390m/s2
作用時間：6ms
4.9 衝撃（又は4.8バンプに
よる。）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度：...m/s2
作用時間：...ms
8
C 5101-15-1 : 1998
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項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
要求性能
個数（備考3.参照）
（備考1.参照）
p
n
c
4.8.2又は4.9.2
最終測定
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
副群C1
D
6
27
1
副群C1A及びC1Bの試料を
合わせた試料
4.10 一連耐候性
4.10.1 初期測定
静電容量
4.10.2 高温
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16h
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
4.10.3 温湿度サイクル
（12＋12時間サイク
ル），最初のサイクル
4.10.4 低温
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2h
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
4.10.5 減圧（個別規格で要
求がある場合）
気圧：8.5kPa
4.10.5.3 中間測定
外観
外装に破損，フラッシュオー
バ又は著しい変形がない。
4.10.6 温湿度サイクル
（12＋12時間サイク
ル），残りのサイクル
4.10.7 封止（個別規格で要
求がある場合）
方法：...
選定した方法による。
4.10.8 最終測定
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
漏れ電流
≤初期規定値
静電容量
C
C
⊿：
長寿命等級：
4.10.1の測定値に対する
≤5%及び
4.3.1又は4.6.1のどちらか
適用される測定値に対す
る≤8%
一般等級：
4.10.1の測定値に対する
≤12%
損失角の正接
≤初期規定値の1.15倍
9
C 5101-15-1 : 1998
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項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
要求性能
個数（備考3.参照）
（備考1.参照）
p
n
c
副群C2
D
6
9
1
4.11 高温高湿
（定常）
4.11.1 初期測定
静電容量
4.11.2 最終測定
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
表示が明りょうである。
漏れ電流
≤初期規定値
静電容量
C
C
⊿：
長寿命等級：
4.11.1の測定値に対する
≤5%
一般等級：
4.11.1の測定値に対する
≤12%
損失角の正接
≥初期規定値の1.15倍
外部絶縁の絶縁抵抗
（適用する場合）
≤100MΩ
名部絶縁の耐電圧
（適用する場合）
絶縁破壊又はフラッシュオ
ーバがない。
副群C3
D
3
24
1
4.12 耐久性
試験時間：...h
試験温度：...℃
（適用する場合）
試験電圧：...V
試験後の放置時間：16h
4.12.1 初期測定
静電容量
4.12.3 最終測定
外観
損傷がない。
表示が明りょうである。
漏れ電流
≤初期規定値の1.25倍
静電容量
4.12.1の測定値に対する
C
C
⊿：
注*
適用する場合
損失角の正接
≤初期規定値の1.3倍
10
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
要求性能
個数（備考3.参照）
（備考1.参照）
p
n
c
副群C4A
D
12
6
1
4.13 サージ
サイクル数：1 000
温度：...℃
保護抵抗：
1 000Ω±10%
充電時間：30s
放電時間：5min30s
4.13.1 初期測定
静電容量
4.13.3 最終測定
漏れ電流
≤初期規定値
静電容量
4.13.1の測定値に対する
%
5
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値の1.15倍
副群C4B
D
12
6
1
1
4.14 逆電圧
（適用する場合）
逆極性に125h,...Vを定格温度
で，引き続いて正極性に125h
定格電圧を定格温度で印加す
る。
4.14.1 初期測定
静電容量
4.14.3 最終測定
漏れ電流
≤初期規定値の1.25倍
静電容量
4.14.1の測定値の
%
10
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値の1.15倍
副群C5
D
6
15
1
4.15 高温及び低温特性***
コンデンサを各温度段階で測
定する。
段階1：20℃
比較値として使用する。
漏れ電流
静電容量
損失角の正接
インピーダンス*（段階2と
同じ周波数）
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接*
≤...**
インピーダンス*
≤...Ω**
段階3：定格温度
漏れ電流
≤...μＡ**
静電容量
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接*
≤...**
段階4：カテゴリ上限温度
漏れ電流
≤...μＡ**
静電容量
C
C
⊿≤...%**
損失角の正接*
≤...**
11
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験項目
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び合格判定
要求性能
個数（備考3.参照）
（備考1.参照）
p
n
c
4.16 充放電
（要求がある場合）
温度：20℃
サイクル数：106
充電時間：0.5s
充電抵抗：...Ω
放電時間：0.5s
放電抵抗：...Ω
4.16.1 初期測定
静電容量
4.16.3 最終測定
外観
損傷がなくまた電解質の漏
れがない。
静電容量
4.16.1の測定値に対する
%
10
≤
C
C
⊿
損失角の正接
≤初期規定値
注*
適用する場合
** 表IIBによる。
*** 試験を群B2で行う場合は適用しない。
12
C 5101-15-1 : 1998
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立工業技術センター
中 西 忠 雄
防衛庁装備局
岩 田 武
村 岡 桂次郎
竹田原 昇 司
通商産業省機械情報産業局電子機器課
藤 井 隆 宏
工業技術院標準部電気規格課
福 原 隆
沖電気工業株式会社
勝 田 明 彦
株式会社ケンウッド
山 本 克 己
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
清 水 正 弘
日本電気株式会社
大 平 昌 司
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
山 本 佳 久
三菱電機株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
白 井 洋 一
日通工株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
川 井 一 成
ルビコン株式会社
曽我部 浩 二
株式会社村田製作所
秦 考 生
松下電子部品株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
会 田 洋
東光株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
高 梨 健 一
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5101-15 (JIS C 5142) 分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
（委員）
北 島 義 正
日本電気株式会社
高 久 侑 也
エルナー株式会社
山 内 良 夫
株式会社高純度物質研究所
井 二 仁
三洋電機株式会社
鵜 沢 一 夫
ニチコン株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
飯 田 和 幸
日立エーアイシー株式会社
山 崎 正
富士通東和エレクトロン株式会社
栗 林 孝 志
松下電子部品株式会社
小 松 間兵衛
マルコン電子株式会社
村 岡 桂次郎
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
高 梨 健 一
社団法人日本電子機械工業会