C 5260-3-1 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，通
商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権，又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5260-3-1には，次に示す附属書がある。
附属書（参考） JISと対応する国際規格の対比表
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
C 5260-3-1 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ·············································································································· 1
個別規格の識別 ················································································································· 1
可変抵抗器の識別 ·············································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 3
1.0 適用範囲 ······················································································································ 3
1.1 推奨する取付方法（挿入用） ···························································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.3.1 負荷軽減 ···················································································································· 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 4
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注時の情報 ················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.8 追加事 ························································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項 ······································ 4
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項 ············································································································ 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表 ·································································· 14
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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日本工業規格 JIS
C 5260-3-1 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第3部：ブランク個別規格：
回転形精密級可変抵抗器
評価水準 E
Potentiometers for use in electronic equipment−
Part 3 : Blank detail specification :
Rotary precision potentiometers
Assessment level E
序文 この規格は，1992年に第1版として発行されたIEC 60393-3-1, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part3 : Blank detail specification : Rotary precision potentiometers, Assessment level Eを元に，規格票
の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の現状に即して
変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
ブランク個別規格 この規格は，品種別通則 (JIS C 5260-3) の補足規格で，個別規格の様式，配列及び最
小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に
基づいていないとみなす。
個別規格を作成する場合には，JIS C 5260-3の1.4（個別規格に規定する事項）の内容を考慮に入れる。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の事項と対
応する。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International electrotechnical
commission) の名称。
(2) 個別規格の日本工業規格番号，発効年及び国内制度で要求される事項，又はIEC規格の番号，版及び
発行年。
(3) 品目別通則の日本工業規格の名称，番号及び発効年又はIEC規格の番号，版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の日本工業規格番号又はIEC規格番号。
可変抵抗器の識別
2
C 5260-3-1 : 2000
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(5) 可変抵抗器の品種についての要約説明。
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）。例えば，非巻線，単回転形。
備考 可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのことを
明記する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ
の図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準。
備考 個別規格に規定する評価水準は，JIS C 5260-3の3.3.3（評価水準）から選択する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 異なる品種の可変抵抗器について，対比できる重要な特性に関する参照データ。
（例 日本工業標準調査会）
(1) 個別規格の番号
(2)
電子機器用可変抵抗器
第1部：品目別通則
JIS C 5260-1 : 1999
(3)
例 JIS C 5260-3-1
（ブランク個別規格番号）
(4)
回転形精密級可変抵抗器
(5)
外形図（表1参照）
（第三角法）
(7)
（必要がある場合，寸法を個別規格の附属書と
してもよい。）
端子の接続
代表的な構造：
例 非巻線，単回転形
(6)
評価水準：E
安定性クラス：...%
(8)
この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容は，品
質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。
参考 この記載は，IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用す
る。
(9)
表1 定格及び特性
形状
定格電力 (70℃) W
素子最高電圧 V
（直流又は交流の
実効値）
アイソレーション電圧 V
直流又は交流ピーク値
大気圧下
減圧下
3
C 5260-3-1 : 2000
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第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-3を品種別通則とするブランク個別規格で，回転形精密級可変抵
抗器 評価水準E（以下，可変抵抗器という。）について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60393-3-1 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Blank detail
specifica-tion : Rotary precision potentiometers, Assessment level E (MOD)
1.1
推奨する取付方法（挿入用） ［JIS C 5260-3の1.4.2（取付け）を参照］
1.2
寸法 （必要がある場合には，寸法は，個別規格の附属書に規定してもよい。）
すべての寸法は，ミリメートル (mm) で示す。
1.3
定格及び特性
定格抵抗値範囲*
各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲，IECQの場
は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) で示す。
定格抵抗値の許容差
±...%
抵抗変化特性及び一致性
...
抵抗温度特性
≦...%
(20℃〜70℃) (∆R/R)
温度係数
≦...×10-6/℃
耐候性カテゴリ
−/−/−
減圧
8kPa
抵抗値の許容変化（端子aとcとの間）
± (...%R＋...Ω)
（電気的耐久性試験1 000h後）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
駆動機構の回転数
...
全機械的操作範囲
≧...゜
有効電気的操作範囲
≧...゜
無効操作範囲（時計方向）
≦...゜
無効操作範囲（反時計方向）
≦...゜
しゅう動接点許容電流
...mA
端子間抵抗値
...Ω
終端残留抵抗値（適用する場合）
...Ω
最小有効抵抗値
...Ω
注*
定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063のEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズである。
参考 ∆R/Rは，抵抗値変化の定格抵抗値に対する百分率 (%) を示す。減圧の8kPaはJIS C 5260-1で
引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。%Rは，定格抵抗値に対する百分率を示す。
1.3.1
負荷軽減 この規格を適用する可変抵抗器は，次の軽減曲線によって負荷を軽減する。
（適切な軽減曲線は，個別規格に規定する。）
4
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 JIS C 5260-3の2.2.3（定格電力）を参照。
1.4
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の版だけがこの規格を
構成するものであって，その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年又は発行年を付記し
ていない引用規格は，その最新版（追補・Amendmentを含む。）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : General specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-3 電子機器用可変抵抗器−第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
備考 IEC 60393-3 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification :
Rotary precision potentiometersからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は，こ
の規格の該当事項と同等である。
1.5
表示 可変抵抗器及び包装への表示は，JIS C 5260-3の1.5（表示）による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は，個別規格による。
1.6
発注時の情報 この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には，少なくとも次の事項を明確に
示すか，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）及び一致性
c) 個別規格の番号，発効年及び形状
d) 形状の情報で分からない場合には，操作軸及び取付ねじの寸法
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する，又は要求しない。
1.8
追加事項（検査目的以外のもの） （個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲
線，図面及び備考による情報を含めてもよい。）
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合だけに規定する。
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証のための手順は，JIS C 5260-3の3.2（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査のための試験計画（表2）には，サンプリング，周期，厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は，JIS C 5260-3の3.3.1（検査ロットの構成）による。
品質確認検査では，承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する（群A，群B及び群C
5
C 5260-3-1 : 2000
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だけ）。
備考 乾燥が要求される場合には，JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
表2 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の厳しさ及び抵抗値
又は出力電圧比の許容限界は，JIS C 5260-3の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015-1から選択する。
3. この表2で
参考 表中の
ac
ab
U
U
⊿
は，全印加電圧に対する百分率 (%) で表した出力電圧比の変化を表す。“∆R”は抵
抗値の変化量を示す。“%R”は，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表2 品質確認検査のための試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
群A検査（ロットごと）
副群A1
ND
I
1.5%
4.6 素子抵抗値
4.6.3による。
副群A2
ND
I
1.5%
4.4.1 外観
4.4.1による。
表示が明りょうで，この規格の
1.5による。
4.4.2 寸法（ゲージ法）
個別規格の規定による。
4.18 始動トルク
個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲
個別規格の規定による。
副群A3
ND
S-2
4.0%
4.4.4 全機械的操作範囲
個別規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲
有効電気的操作角度
無効操作角度（反時計方向）
無効操作角度（時計方向）
θ≧...゜
θ≦...゜
θ≦...゜
4.9 抵抗変化特性
（品種別通則の2.1.5から選択
した適切な試験方法及び性能
要求事項を個別規格に規定す
る。）
4.15 しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用）
∆θ0：...
R≦...%R
4.29 出力平滑性
（非巻線抵抗器だけに適用）
U≦...%Uac
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
4.12 耐電圧
（絶縁形可変抵抗器だけに適
用）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考11.による。）
大気圧下
4.12.5による。
副群A4
ND
S-2
1.5%
4.32 はんだ付け性（適用する
場合）
はんだ槽方式
温度：235℃±5℃
時間：2s±0.5s
又は
方法2：はんだこて法
はんだこて：サイズB
温度：350℃±10℃
時間：2s±0.5s
端子は，はんだが良好に付着し
ている。
4.45 表示の耐溶剤性（適用す
る場合）
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法1
ラビング材質：脱脂綿
後処理：...
表示が，明りょうである。
副群A5
ND
S-2
2.5%
（この副群が適用されないような可変抵抗器の設計の場合は，個別規格ではこの副群は除く。）
4.23 操作軸の偏心（シャフト
ランアウト）
半径方向の荷重：...N
取付面からの操作軸の長さ
全指示値 (l) ：≦...mm
4.24 取付面の平たん度（ラテ
ラルランアウト）
(l) ：...mm
半径方向の荷重：…N
操作軸方向の荷重：...N
4.25 取付ガイド円面の真円度
（スピゴットダイヤメータラ
ンアウト）
取付面の半径 (r) ：...mm
半径方向の荷重：...N
全指示値 (r) ：≦...mm
全指示値：≦...mm
4.26 操作軸の軸方向がた（シ
ャフトエンドプレイ）
A方向
B方向
全指示値：≦...mm
全指示値：≦...mm
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群B検査：適用しない
群C検査
（定期的）
副群C1
ND
3
5
0
4.20 回転止め強度
（全回転形可変抵抗器には適用
しない。）
外観
4.20.1による。
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
4.22 操作軸の押し及び引張
り（試験が副群A5で実施
されている場合は適用しな
い）
− 試料数3個
4.22.2を適用
連続性
− 試料数2個
4.22.3を適用
4.22.2による。
出力電圧比
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
副群C2A
D
3
2
副群C2の試料の一部
4.30 端子強度
端子の種類に適応した試験を行
う。
外観
素子抵抗値
4.30.8による。
∆R≦±（...%R＋...Ω）
4.33はんだ耐熱性（適用する
場合）
試験Tb,方法1B
温度：350℃±10℃
時間：3.5s±0.5s
又は
方法2
はんだこて：サイズB
温度：350℃±10℃
時間：10s±1s
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
端子間抵抗値
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
適用する場合は，端子bと各
タップ端子間の抵抗値
R≦...Ω
R≦...Ω
R≦...Ω
4.4.4 本体の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理：...
個別規格に規定する
副群C2B
D
3
3
副群C2の残りの部分
4.34 温度変化
備考5.による。
TA(1)＝カテゴリ下限温度
TB(1)＝カテゴリ上限温度
放置時間t1＝30min
外観
4.34.5による。
出力電圧比（半固定可変抵抗器
だけに適用）
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
4.36 バンプ（又は4.37衝撃）
（備考6.参照）
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
取付方法：この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度：400 m/s2(2)
バンプ回数：4 000
外観
4.36.3による。
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
4.37 衝撃（又は4.36バンプ）
（備考6.参照）
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
取付方法：この規格の1.1によ
る。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：...m/s2
作用時間：11ms
外観
4.37.3による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
4.35 振動（正弦波）
（備考7.参照）
取付方法：この規格の1.1によ
る。
掃引耐久試験
振動数範囲：
...Hz〜...Hz
振幅：0.75mm又は加速度
98m/s2（いずれかゆるい方を
適用）
総試験時間：6h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性
（4.35.4を適用）
100μsを超える不連続がない。
最終測定
外観
4.35.5による。
出力電圧比（半固定可変抵抗
器だけに適用）
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
副群C2
D
3
5
1
副群C2A及びC2Bの全試
料
4.38 一連耐候性
− 高温（耐熱性）
外観
4.38.2.2による。
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の最初の
サイクル
− 低温（耐寒性）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
− 減圧
（備考8.参照）
8kPa(3)
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は，こ
の規格の1.1及び備考11.
による。）
4.38.5.3による。
− 温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の残りの
サイクル
− 直流負荷
備考9.による。
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
− アイソレーション電圧最
終測定
備考9.による。
4.38.8による。
外観
4.38.10.1による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，この
規格の1.1及び備考11. によ
る。）
R≧100MΩ
連続性
始動トルク
適用する場合4.5.1及び4.5.2に
よる。
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用）（取付方法は，この規
格の1.1及び備考11.による。）
...mN･m〜...mN･m
4.38.10.7による。
副群C3
D
3
5
1
4.43.2 70℃での電気的耐久
性
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.2.6a)による。
素子抵抗値
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
∆R≦± (...%R＋...Ω)
外観
4.43.2.6a)による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
− 全試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
R≧1GΩ
しゅう動雑音
R≦...%R
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用），
∆θ0：...
出力平滑性（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
別規格に要求がある場合に
は，試験時間を8 000hまで
延長する。
U≦...%Uac
2 000h，4 000h及び8 000hで
の検査：
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
測定結果は情報としてだけ扱
う。
10
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群C4
D
6
5
1
4.40 機械的耐久性
（備考4参照）
操作サイクル数：...
操作軸回転速度：...min−1
外観
40.6による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
端子間抵抗値（最小抵抗値）
端子aとbとの間の抵抗値
R≦...Ω
端子bとcとの間の抵抗値
R≦...Ω
適用する場合は，端子bと各
タップ端子間の抵抗値
R≦...Ω
絶縁抵抗値（絶縁形可変抵抗器
だけに適用），（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
R≧1GΩ
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
連続性
4.5.1による。
操作軸の押し及び引き（備考4.
による。）
A方向
全指示値：≦...mm
B方向
全指示値：≦...mm
操作軸の押し及び引き（備考4.
による。）
− 試料数3個
4.22.2連続性の規定による。
4.22.2による。
− 試料数2個
4.22.3出力電圧比の規定によ
る。
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だけ
に適用），（取付方法は，この
規格の1.1及び備考11. によ
る。）
4.40.6による。（備考8.参照）
しゅう動雑音
R≦...%
方法B（巻線可変抵抗器だけに
適用），
∆θ0：...
U≦...%Uac
出力平滑性（非巻線可変抵抗器
だけに適用）
11
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
群D検査
（定期的）
副群D1
D
12
5
1
4.39 高温高湿
（定常）
1) 4.39.2.1
第1のグループ：試料数2個
第2のグループ：試料数2個
第3のグループ：試料数1個
2) 4.39.2.2
第1のグループ：試料数3個
第2のグループ：試料数2個
直流負荷（備考9.による。）
アイソレーション電圧
（備考9.による。）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考11.による。）
4.39.4による。
最終測定
外観
4.39.6.1による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考11.による。）
R≧100MΩ
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
しゅう動雑音
方法B（巻線可変抵抗器だけ
に適用），
R≦...%R
∆θ0：...
出力平滑性（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
U≦...%Uac
副群D2
ND
12
5
0
4.14 抵抗温度特性
（備考10.参照）
カテゴリ下限温度/20℃
R
R
⊿
≦...%
20℃/70℃
R
R
⊿
≦...%
20℃/カテゴリ上限温度
R
R
⊿
≦...%
副群D3
D
12
5
1
4.28 ディザ（非巻線可変抵抗
器だけに適用）
サイクル数：...
接続時間：...h
外観
4.28.3による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
出力平滑性（非巻線可変抵抗器
だけに適用）
U≦...%Uac
12
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群D4
D
36
5
1
4.43 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
4.43.3 カテゴリ上限温度で
の電気的耐久性
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷：
48h，500h及び1000hでの検
査：
外観
4.43.3.7a)による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
− 試料数2個
端子aとbとの間の負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.3.7a)による。
端子aとbとの間の抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
− すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
R≧1GΩ
副群D5
4.4.3 70℃以外の温度での耐
久性（適用する場合）
D
（この副群は，この規格の2.2.3
に示した以外の軽減曲線を規定
した場合だけに適用する。）
試験時間：1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷：
48h，500h及び1 000hでの検
査：
36
5
1
外観
4.43.1.6a)による。
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（副群C3と同じ）
− 試料数2個
端子aとbとの間の負荷
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
4.43.1.6a)による。
端子aとbとの間の抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
（副群C3と同じ）
素子抵抗値
∆R≦± (...%R＋...Ω)
− すべての試料
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考11.
による。）
R≧1GΩ
13
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注(1) 原国際規格では，温度を表す記号としてθA及びθBを用いているが，JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
(2) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
注(3) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
備考4. 副群A5が試験計画に含まれている場合は，操作軸の軸方向がた試験を，操作軸の押し及び引
張試験の代わりに実施する。
5. 適用できる場合は，半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. バンプ試験及び衝撃試験は，いずれか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に
規定する。
7. この試験は，耐候性カテゴリが25/−/−，40/−/−，55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
8. この試験は，JIS C 5260-1の4.38.5.1に規定した事項を追加して，65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
14
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 5260-3-1 : 2000
電子機器用可変抵抗器−第3部：
ブランク個別規格：回転形精密級
可変抵抗器 評価水準 E
IEC 60393-3-1 : 1992
電子機器用可変抵抗器−第3
部：ブランク個別規格：回転形精
密級可変抵抗器 評価水準 E
対比項目
規定項目
(I) JISの規定内容
(III) 国際規格の規定
内容
(IV) JISと国際規格と
の相違点
(V) JISと国際規格との整合が困
難な理由及び今後の対策
(1)一般事項
○
○
1.3 定格及び特性
Eシリーズ及び
／又は1，2，5
シリーズとす
る。
Eシリーズとす
る。
MOD/
追加
1，2，5シリー
ズを追加。
理由：市場で多く使用されてい
る。今後の対策：改正提案予定
1.4 引用規格
JIS Z 9015-1
IEC 60415
MOD/
変更
JIS Z 9015-1
対応国際規格が引用している
IEC 60415の改正によって，JIS
Z 9015が廃止され新たに，JIS Z
9015-0〜3が制定された。整合
させるため内容的に類似のJIS
Z 9015-1を採用した。
(2)検査要求事項
○
○
バンプ
ピーク加速度：
400m/s2
ピーク加速度：
390m/s2
MOD/
変更
390m/s2を400
m/s2に変更
理由：IEC 60115-1及びIEC
60384-1が改正され，また引用
しているJISも改正されてお
り，整合させるため改正内容を
採用した。
今後の対策：改正提案予定
減圧
減圧下：8kPa
減圧下：8.5kPa
MOD/
変更
8.5kPaを8kPa
に変更。
(3)品質評価手順
○
○
IDT
−
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT ················技術的差異がない。
− MOD/追加 ·······国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD/変更 ·······国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD ··············国際規格を修正している。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
窪 田 明
通商産業省
15
C 5260-3-1 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
橋 爪 邦 隆
通商産業省
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 巳
ソニー株式会社
西 村 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己
三菱電機株式会社
松 本 眞 弓
セイデンテクノ株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司
アルプス電気株式会社
石 井 勝
第一電子工業株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-3分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
中 村 之 大
株式会社緑測器
（委員）
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
吉 田 實
アルプス電気株式会社
本 田 義 夫
KOA株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 本 克 巳
ソニー株式会社
林 里 志
ツバメ無線株式会社
野 原 明
帝国通信工業株式会社
三 本 久 明
日本電気株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
一 木 義 和
株式会社村田製作所
（客員）
松 本 眞 弓
セイデンテクノ株式会社
曽我部 浩 二
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会