JISC5101-14-1:2020 電子機器用固定コンデンサ－第１４－１部：ブランク個別規格－電源用電磁障害防止固定コンデンサ

C 5101-14-1：2020

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

0 ブランク個別規格 ············································································································· 1

0.1 一般事項 ······················································································································ 1

0.2 個別規格の識別 ············································································································· 1

0.3 コンデンサの識別 ·········································································································· 2

1 一般事項························································································································· 3

1.0A 適用範囲 ···················································································································· 3

1.1 推奨する取付方法（実装する場合）··················································································· 3

1.2 寸法 ···························································································································· 3

1.3 定格及び特性 ················································································································ 3

1.4 引用規格 ······················································································································ 4

1.5 表示 ···························································································································· 4

1.6 発注情報 ······················································································································ 4

1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 4

1.8 追加情報（非検査目的） ································································································· 4

1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 4

2 検査要求事項 ··················································································································· 4

附属書A（規定）設計の宣言 ································································································· 10

参考文献 ···························································································································· 11

附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 12

C 5101-14-1：2020

（2）

まえがき

この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人

電子情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本

産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって，JIS C 5101-14-1:2009は改正され，また，JIS C 5101-14-3:2009は廃止さ

れ，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1 第1部：品目別通則

JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ

JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン

サ評価水準EZ

JIS C 5101-4 第4部：品種別通則−固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水

準EZ

JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ

JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ

JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ

JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−安全性試験

C 5101-14-1：2020

（3）

JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価

水準E

JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準

JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E

JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-18 第18部：品種別通則−表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ

ンデンサ

JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ

ンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準EZ

JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ

JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ

JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ

JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解

コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ

ンサ

JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）

電解コンデンサ−評価水準EZ

日本産業規格 JIS

C 5101-14-1：2020

電子機器用固定コンデンサ−

第14-1部：ブランク個別規格−

電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 14-1: Blank detail specification-

Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and

connection to the supply mains-Assessment level DZ

序文

この規格は，2016年に第3版として発行されたIEC 60384-14-1を基に，対応する部分については技術的

内容を変更することなく作成した日本産業規格であるが，対応国際規格に規定されていない規定項目（適

用範囲など）を日本産業規格として追加している。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

ブランク個別規格

0.1

一般事項

この規格は，共通の国際安全標準の手順として基本となるものである。また，品種別通則であるJIS C

5101-14の中の安全性試験のための認証計画を実施し，安全に関するパラメータに対する設計の宣言を要

求するものであり，出荷に先立つ全てのロットで行う適合性試験及び宣言した設計の変更に応じた部品の

再認証試験を規定している。

この規格は，評価水準DZ（不具合数0）を示している。

大量生産する部品には，この規格を適用するのがより適切なことがある。一方，部品の認証試験及び再

認証試験が，部品コストに大きな影響がある場合には，JIS C 5101-14-2（安全性試験）の適用が必要にな

ることがある。

ブランク個別規格は，品種別通則の補足規格であって，個別規格の様式，体裁及び最小限の記載事項を

規定している。

この規格が規定している要求事項を満足しない個別規格は，この規格に基づいていないものとみなし，

そのことを個別規格に記載することが望ましい。

個別規格は，JIS C 5101-14:2014の1.4に基づいて作成することが望ましい。

0.2

個別規格の識別

個別規格の最初のページには，このブランク個別規格の2ページで推奨する表枠を用いることが望まし

い。次の[1]〜[4]の事項は，0.3（コンデンサの識別）の［9］の下の表枠の括弧内の数字と対応している。

C 5101-14-1：2020

[1] 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議（IEC）の名称

[2] 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び西

暦年

[3] 品目別通則又は品種別通則のJIS規格番号及び西暦年，又はIEC規格番号，版及び西暦年

[4] ブランク個別規格のJIS規格番号又はIEC規格番号

0.3

コンデンサの識別

次の[5]〜[9]の事項は，この規格の次の二つの表枠の括弧内の数字と対応している。

[5] コンデンサの品種についての要約説明

個別規格に規定する文は，IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。

[6] 代表的な構造の説明（適用可能な場合）

個別規格に規定する文は，IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。

[7] 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関するJIS又はIEC規格の引用。

この図は，個別規格の附属書としてもよい。ただし，[7]には，部品の一般的な外形図が含まれてい

ることが望ましい。

[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び／又は評価水準

[9] 同一又は類似の用途を対象とした様々な部品タイプ間の比較を可能とする，部品の最も重要な特性

に関する情報を提供する参照データ

例一般社団法人電子情報技術産業協会

[1]

個別規格番号

[2]

電子機器用固定コンデンサ

[3]

第1部：品目別通則：JIS C 5101-1:2019
第14部：品種別通則：JIS C 5101-14:2014

JIS C 5101-14-1（ブランク個別規格）

[4]

電源用電磁障害防止固定コンデンサ

[5]

（評価水準DZ）

外形図（表1参照）

[7]

（第三角法）
（規定寸法内であれば外形は異なってもよい。）

構造の説明

[6]

評価水準：DZ

[8]

JIS C 5101-14-1に基づく個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は，品質認証電子部品一覧表（QPL）に示
されている。

[9]

注記上記の表枠内の[1]〜[9]は，0.2及び0.3の該当する番号を参照することを示している。

C 5101-14-1：2020

一般事項

1.0A 適用範囲

この規格は，JIS C 5101-14を品種別通則とするブランク個別規格で，電源用電磁障害防止固定コンデン

サ（以下，コンデンサという。）の評価水準DZについて規定する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60384-14-1:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-1: Blank detail

specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the

supply mains−Assessment level DZ（MOD）

なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”

ことを示す。

1.1

推奨する取付方法（実装する場合）

取付けは，JIS C 5101-14:2014の1.4.2による。

1.2

寸法

寸法は，表1による。

表1−外形寸法記号及び寸法

外形寸法記号

寸法 mm

...

外形寸法記号がない場合は，表1は削除してもよい。その場合，外形寸法は表2に記載して，それを表

1とする。

外形寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び特性

定格及び特性は，次の項目のとおりである。

a) 公称静電容量範囲

（表2による。）

b) 公称静電容量許容差

c) 定格電圧

（表2による。）

d) 耐候性カテゴリ

e) 定格温度

誘電正接（tan δ）

g) 絶縁抵抗

表2−外形寸法と定格電圧及び公称静電容量との組合せ

定格電圧 V

公称静電容量

pF及び／又はnF

外形寸法

注記外形寸法の欄は，該当する寸法を記載し，下の空欄には外形寸法ごとの公称静電容量の対象範囲を

記載する。

C 5101-14-1：2020

1.4

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。

JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）

注記対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）

JIS C 5101-14:2014 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ

注記1 対応国際規格：IEC 60384-14:2013，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:

Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and

connection to the supply mains（IDT）

注記2 対応国際規格IEC 60384-14のAmendment 1:2016に対応するJIS C 5101-14の追補1:2019

が発行されている。

1.5

表示

適用する場合，コンデンサ及び包装への表示は，JIS C 5101-14:2014の1.6による。

部品及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定する。

1.6

発注情報

個別規格のコンデンサの発注情報には，明瞭な文字又は記号で，次の事項が含まれていなければならな

い。

a) 公称静電容量

b) 公称静電容量許容差

c) 定格電圧

d) 製造業者名又はその商標

e) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

顧客からの試験成績証明書要求の有無を明記する。

1.8

追加情報（非検査目的）

注記非検査目的とは検査目的以外のことであり，検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9

品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に限定することが望ましく，表3によるのがよい。

表3−その他の特性

この表は，JIS C 5101-1及び／又はJIS C 5101-14への追加又は
より厳しい特性を規定するために使用している。

検査要求事項

品質認証の手順は，JIS C 5101-14:2014の3.4による。

品質確認検査の試験計画（表4及び表5）は，サンプリング，周期，厳しさ及び要求事項を示す。検査

ロットの構成は，JIS C 5101-14:2014の3.5.1による。

C 5101-14-1：2020

表4−ロットごとの品質確認検査の試験計画（群A及び群B検査）−評価水準DZ

細分箇条番号及び

試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

検査水準，試料数及び

合格判定数b)

要求事項a)

群A1
4.1 外観

4.1 寸法（ゲージ法）

S-4

損傷がない。
表示は，明瞭とする。
この規格の表1による。

群A2
4.2.2 静電容量

4.2.4 抵抗値

（適用可能な場合）

4.2.3 誘電正接（tan δ）

（メタライズドコン

デンサ及び磁器コンデン
サに適用）

4.2.1 耐電圧c)

（試験A）

4.2.5 絶縁抵抗

（試験A）

周波数：... Hz

方法：...

方法：...

規定の許容差以内

規定の許容差以内

規定値以内

永久破壊又はフラッシオ
ーバがない。

表12による。

群B1
4.5 はんだ付け性

（適用可能な場合）

エージングなし
方法：...

S-3

方法1及び方法2：はんだ
が良好に付着している。
はんだ槽平衡法：3秒未満

試料数（n）は，JIS C 5005-2:2010の表1に規定するロットサイズで割り当てるサンプルサイズとすることが望ま

しい。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は，JIS C 5101-14による。

b) この表の記号は，次による。

D＝破壊試験，ND＝非破壊試験
IL＝検査水準，n＝試料数，c＝合格判定数

c) 耐電圧試験は，絶縁抵抗試験での不適合を検知するための適切な監視方法を用いて実施しなければならない。

d) JIS C 5005-2:2010の4.3による。

C 5101-14-1：2020

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査）−評価水準DZ

細分箇条番号及び

試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

周期，試料数及

び合格判定数b)

要求事項a)

群C1A
4.1

寸法（詳細）

4.4.1 初期測定

4.3

端子強度

4.4

はんだ耐熱性d)

4.19 部品の耐溶剤性
（適用可能な場合）

4.4.2 最終測定

静電容量
誘電正接（tan δ）（適用可能な場合）

抵抗値（適用可能な場合）

厳しさ：...
外観

予備乾燥なし
方法：...

溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理時間：...

外観
静電容量
誘電正接（tan δ）（適用可能な場合）

抵抗値（適用可能な場合）

表9及びこの規格の表1
による。

損傷がない。

損傷がない。
表13による。
参考値
表13による。

群C1B
4.5

はんだ付け性

（適用可能な場合）

4.20 表示の耐溶剤性

4.6

温度急変d)

4.6.1 最終検査

4.7

振動c)

4.7.2 最終検査

エージングなし
方法：...

溶剤：...
溶剤の温度：...
方法1
ラビングの材質：脱脂綿
後処理時間：...

TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度

5サイクル
保持時間t＝30 min

外観

取付方法は，この規格の1.1によ
る。
厳しさ：...

外観

方法1及び方法2：はんだ
が良好に付着している。
はんだ槽平衡法：3秒未満

表示は，明瞭とする。

損傷がない。

損傷がない。

C 5101-14-1：2020

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査）−評価水準DZ（続き）

細分箇条番号及び

試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

周期，試料数及

び合格判定数b)

要求事項a)

4.8 バンプ
（バンプ試験は衝撃試
験に統合され，試験規
格が廃止になったた
め，この規格では適用
しない。）

4.9 衝撃c)

4.9.2 最終測定

取付方法は，この規格の1.1による。
厳しさ：...
外観
静電容量
誘電正接（tan δ）（適用可能な場合）

抵抗値（適用可能な場合）

損傷がない。
4.9.2による。
4.9.2による。
4.9.2による。

群C1
4.10 封止
（適用可能な場合又は
要求がある場合）

4.11 一連耐候性
4.11.1 初期測定d)

4.11.2 高温

4.11.3 温湿度サイク
ル
（試験Db），最初のサ
イクル

4.11.4 低温

4.11.5 温湿度サイク
ル
（試験Db），残りのサ
イクル

4.11.6 最終測定

試験Qc又は試験Qdを適用する。

4.4.2又は4.9.2のいずれかによって
測定する。

4.11.2による。

4.11.3による。

4.11.4による。

4.11.5による。

外観

静電容量
抵抗値（適用可能な場合）
誘電正接（tan δ）（適用可能な場合）

耐電圧
絶縁抵抗

漏れの痕跡がない。

損傷がない。
表示は，明瞭とする。
表14による。
表14による。
表14による。
表14による。
表14による。

C 5101-14-1：2020

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査）−評価水準DZ（続き）

細分箇条番号及び

試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

周期，試料数及

び合格判定数b)

要求事項a)

群C2
4.12 高温高湿（定常）
4.12.1 初期測定d)

4.12.2 試験条件

4.12.3 最終測定

静電容量
抵抗値（適用可能な場合）
誘電正接（tan δ）（メタライズドコ

ンデンサに適用）

磁器コンデンサ：試料の半数に定格
電圧URを印加し，残りの半数は印
加しない。
その他のコンデンサ：電圧印加しな
い。

外観

静電容量
抵抗値（適用可能な場合）
誘電正接（tan δ）（適用可能な場合）

耐電圧
絶縁抵抗

損傷がない。
表示は，明瞭とする。
表15による。
表15による。
表15による。
表15による。
表15による。

群C3
Xコンデンサ
Yコンデンサ
貫通コンデンサ

4.13.1 初期測定d)

4.13 インパルス電圧

4.14 耐久性

静電容量
抵抗値（適用可能な場合）
誘電正接（tan δ）（メタライズドコ

ンデンサに適用）

インパルスの回数：3回
（連続して適合を示す波形が現れ
た場合，又は3回以上適合を示す波
形が現れるまで最大24回）
ピーク電圧：表1及び表2による。

時間：1 000 h
電圧，電流及び温度：
4.14.3，4.14.4，4.14.5及び4.14.6に
よる。

3
3
3

12
12

0
0
0

4.13.2及び4.13.3による。

C 5101-14-1：2020

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査）−評価水準DZ（続き）

細分箇条番号及び

試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

周期，試料数及び

合格判定数b)

要求事項a)

4.14.7 最終測定

外観

静電容量
抵抗値（適用可能な場合）
誘電正接（tan δ）（適用可能な場合）

耐電圧
絶縁抵抗

損傷がない。
表示は，明瞭とする。
表16による。
表16による。
表16による。
表16による。
表16による。

群C4
4.15 充放電
（適用可能な場合）

4.15.1 初期測定

4.15.3 最終測定

メタライズドコンデンサ及び磁器
コンデンサ並びにこれらのコンデ
ンサを用いたRCユニットに適用。

この規格の表4の群A2の測定値
を用いてもよい。ただし，RCユニ
ットを除いて，誘電正接（tan δ）

は次の条件で測定する。

CN≦1 µF：10 kHz
CN＞1 µF： 1 kHz

静電容量
初期測定と同じ周波数の誘電正接
（tan δ）（RCユニットには適用し

ない。）
抵抗値（適用可能な場合）
絶縁抵抗

表17による。
表17による。

表17による。
表17による。

群C5
4.16 無線周波数特
性
（要求がある場合）

規定の方法による。

規定限界値による。

群C6
4.17 耐炎性

6〜18

4.17.1による。

群C7
4.18 発炎性

4.18.4による。

注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は，JIS C 5101-14による。

b) この表の記号は，次による。

D＝破壊試験，ND＝非破壊試験，p＝検査周期（月単位），n＝試料数，c＝合格判定数

c) これらの試験は，12か月ごとに実施される。

d) 磁器コンデンサで，静電容量のずれの正確な測定が要求される場合は，製造業者が推奨する前処理をJIS C

5101-14:2014の附属書Gに従って実施することが望ましい。

附属書Aによって宣言する設計を変更する場合，再認証試験を認証機関は要求してもよい。

認証機関は，意図された変更に関して通知を受け，再認証試験の実施について決定する。

最大限として，附属書Aに完全に一致する再認証が必要となる場合がある（箇条0参照）。

C 5101-14-1：2020

附属書A

（規定）

設計の宣言

この宣言は製造業者及び認証機関の機密事項であることに注意する。

この規定は，認証を得ようとするコンデンサの基本設計及び必要なデータを登録することが目的である。

次の事項を記載した書類を，全ての認証試験に先立って関連する認証機関に提出する。その他の機関へ

の配布は，製造業者の決定に任される。

宣言した設計の変更は，書面で認証機関に通知した後にだけ許可される。この場合，認証機関は，講じ

る必要な措置を決める。最も厳しい場合，全面的な再認証を要求される場合がある。

登録番号：

（登録番号は，認証機関が付与する。）

出願者

製造業者

生産地

形式の指定

クラス／サブクラス

回路図

誘電体

7.1

材質

7.2

厚さ

7.3

密度（紙コンデンサだけに適用）

7.4

個々の層の数

電極

8.1

材質

8.2

種類（例えば，ホイル，フィルム又は紙上への蒸着など）

コンデンサ素子，個々の層の配置など

含浸剤（適用可能な場合）

封止

11.1 ケース，樹脂などの材質（該当するもの）

11.2 外側絶縁の材質（適用可能な場合）

外形寸法

̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲ ̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲ ̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲ ̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲̲
場所

日付

氏名

自署

C 5101-14-1：2020

附属書JA

（参考）

JISと対応国際規格との対比表

JIS C 5101-14-1:2020 電子機器用固定コンデンサ−第14-1部：ブランク個別規
格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ

IEC 60384-14-1:2016，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-1: Blank
detail specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains−Assessment level DZ

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

0 ブランク
個別規格

0.1 一般事項

0.1

JISとほぼ同じ

追加

評価水準DZの説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

0.2 個別規格の識別
[3]，[4]

0.2
[3]
[4]

JISとほぼ同じ

追加

規格番号の表記について説明を追
加した。

JIS規格番号を記載する場合の記
載方法が必要なため。

表枠[1]

0，
表枠
[1]

JISとほぼ同じ

変更

記入内容を具体例に置き換えた。

この規格の表枠が用いられる場合
の具体的記載例を示すため。

表枠[2]

0，
表枠
[2]

JISとほぼ同じ

変更

記入例を記入内容の説明に置き換
えた。

この規格の表枠が用いられる場合
の記載方法を示すため。

表枠[8]

0，
表枠
[8]

JISとほぼ同じ

変更

記入内容を具体例に置き換えた。

この規格の表枠が用いられる場合
の具体的記載例を示すため。

1 一般事項 1.0A 適用範囲

1.0A 適用範囲以外は
JISとほぼ同じ

追加

対応国際規格にない適用範囲の細
分箇条を追加した。

次回IEC規格改訂時に適用範囲の
箇条の追加を提案する。

表2−外形寸法と定
格電圧及び公称静
電容量との組合せ

表4

JISとほぼ同じ。

追加

注記として記入方法の補足説明を
追加した。

次回IEC規格改訂時に追加又は表
の見直しを提案する。

-1

：

C 5101-14-1：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

1 一般事項
（続き）

1.4 引用規格

1.4

JIS C 5101-1の対応国
際規格IEC 60384-1の記
載

変更

JIS C 5101-1（対応国際規格IEC
60384-1）を引用規格から参考文献
へ移動した。

この規格はJIS C 5101-1の要求事
項を直接引用していないため。
次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

1.8 追加情報（非検
査目的）

1.8

JISとほぼ同じ。

追加

注記として説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

2 検査要求
事項

表4−ロットごとの
品質確認検査の試
験計画（群A及び群
B検査）−評価水準
DZ

表4

JISとほぼ同じ。

追加

“試料数”欄を追加し，“試料数”
の記号を設定した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表4
注d)

表4

JISとほぼ同じ。

追加

各群の試料数の根拠となるJISを
追加した。

次回IEC規格改訂時に試料数の根
拠となるIEC規格の追加を提案す
る。

表5−定期的品質確
認検査の試験計画
（群C検査）−評価
水準DZ
群C1B，
4.9.2 最終測定，
試験条件（誘電正
接）要求事項

表5
群C1B，
4.9.2

記載なし。

追加

引用元の細分箇条を追加した。（対
応国際規格の記載漏れ）

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表5
群C1B，
4.9.2 最終測定，
試験条件（抵抗値）
要求事項

表5
群C1B，
4.9.2

JISとほぼ同じ

変更

“Specify limit”を“4.9.2による。”
へ変更した。

次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

表5
群C1，
4.11.2 高温，
試験条件

表5
群C1，
4.11.2

JISとほぼ同じ

変更

“No measurements”を“4.11.2によ
る。”へ変更した。

実施する試験の条件を明確にする
ため。
次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

-1

：

C 5101-14-1：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

2 検査要求
事項（続き）

表5
群C1，
4.11.3温湿度サイク
ル（試験 Db），最
初のサイクル
試験条件

表5
群C1，
4.11.3

記載なし。

変更

“4.11.3による。”と追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表5
群C1，
4.11.4 低温
試験条件

表5
群C1，
4.11.4

JISとほぼ同じ

変更

“No measurements”を“4.11.4によ
る。”へ変更した。

実施する試験の条件を明確にする
ため。
次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

表5
群C1，
4.11.5温湿度サイク
ル（試験 Db），残
りのサイクル
試験条件

表5
群C1，
4.11.5

JISとほぼ同じ

変更

“No measurements”を“4.11.5によ
る。”へ変更した。

実施する試験の条件を明確にする
ため。
次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

表5
群C3，
4.13 インパルス電
圧，試験条件

表5
群C3，
4.13，
試験条
件

JISとほぼ同じ

追加

補足説明を追加した。

次回IEC規格改訂時に追加を提案
する。

表5
群C4，
4.15.1 初期測定，
試験条件

表5
群C4，
4.15.1，
試験条
件

JISとほぼ同じ

変更

試験条件の引用元を変更した。

引用元が容易に理解できるように
するため変更した。
次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。

-1

：

C 5101-14-1：2020

(I)JISの規定

(II)
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

2 検査要求
事項（続き）

最終段落（文末）

JISとほぼ同じ

変更

“See also Introduction”を“箇条0
参照”へ変更した。

対応国際規格において，箇条0は
Introductionに含まれているが，こ
の規格において，参照している箇
所は，Introductionではなく，箇条
0であるため。

参考文献

参考文
献

記載なし。

追加

JIS C 5101-1及びJIS C 5101-14-2
を記載した。

次回IEC規格改訂時に記載を提案
する。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60384-14-1:2016，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD ··············· 国際規格を修正している。

-1

：