C 5402-4-1：2005 (IEC 60512-4-1：2003)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-4-1 : 2003，Connectors for
electronic equipment−Tests and measurements−Part 4-1 : Voltage stress tests−Test 4a : Voltage proofを基礎とし
て用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100の試験一覧による。
C 5402-4-1：2005 (IEC 60512-4-1：2003)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 試料の取付け ·················································································································· 1
3. 測定方法 ························································································································ 1
4. 要求事項 ························································································································ 2
5. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-4-1：2005
(IEC 60512-4-1：2003)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第4-1部：電圧ストレス試験−
試験4a：耐電圧
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 4-1 : Voltage stress tests-Test 4a : Voltage proof
序文 この規格は，2003年に第1版として発行されたIEC 60512-4-1，Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 4-1 : Voltage stress tests−Test 4a : Voltage proofを翻訳し，技術的内容及び規
格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子機器用コネクタの規定の試験電圧に耐える能力を評価するための試験方
法について規定する。この試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-4-1 : 2003，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 4-1 :
Voltage stress tests−Test 4a : Voltage proof (IDT)
2. 試料の取付け 試料の取付けは，個別規格による。
3. 測定方法 直流又は交流ピーク値の試験電圧，個別規格に規定する方法A，B又はCを用いて，60秒
±5秒間印加する。
交流の試験電圧を使用する場合には，ほぼ正弦波形で，周波数は45 Hz〜60 Hzとする。
試験電圧の上昇速度は，500 V/s以下でなければならない。
方法A 試験する一つのターミネーションと一括接続した残りのすべてのターミネーション（ハウジング
及び／又は取付け板に接続）との間に，個別規格に規定する試験電圧を印加する。ターミネーシ
ョンを順次変えて測定する。
方法B ターミネーションを互い違いに一括接続し，二つの群を作る。一つの群に隣接するターミネーシ
ョンを含めてはならない。
備考 ターミネーションが2列以上の場合には，隣接するターミネーションの各対の耐電圧を測定す
るために他の組合せで二つの群を作る必要がある。
個別規格に規定する試験電圧を，試料の次の間に順次印加する。
a) 第一群のターミネーションとハウジング（及び／又は取付け板）に接続した第二群のターミネーショ
2
C 5402-4-1：2005 (IEC 60512-4-1：2003)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ンとの間
b) 第二群のターミネーションとハウジング（及び／又は取付け板）に接続した第一群のターミネーショ
ンとの間
方法C 個別規格に規定するように，隣接するターミネーション間に試験電圧を印加する。
4. 要求事項 個別規格に規定する電圧を印加したときに，個別規格に該当規定がない場合には，絶縁破
壊又はフラッシュオーバがなく，最大許容漏れ電流は2 mA以下とする。
備考 低減電圧値は，関連する規格に規定する減少係数の表に基づいた，高度，低気圧及び温度条件
から求めるとよい。
5. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 適用する試験方法
b) 試験電圧の値
c) 最大許容漏れ電流（適用する場合）
d) 試験するターミネーション
e) この試験方法との相違