C 5402-22-1：2016 (IEC 60512-22-1：2010)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 試料の準備······················································································································ 1
3 試験方法························································································································· 1
4 要求事項························································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
C 5402-22-1：2016 (IEC 60512-22-1：2010)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-22-1：2016
(IEC 60512-22-1：2010)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第22-1部：静電容量試験−試験22a：静電容量
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 22-1: Capacitance tests-Test 22a: Capacitance
序文
この規格は，2010年に第1版として発行されたIEC 60512-22-1を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，コネクタの導体間の静電容量を評価するための標準の試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-22-1:2010，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 22-1:
Capacitance tests−Test 22a: Capacitance（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
試料の準備
試料は，個別規格に従って準備し，取り付ける。
3
試験方法
次のコンタクトの組合せのいずれかを測定する。
a) 一つのコンタクトと，共通の点で全てアースに接続した次の部品との間。
− その他全てのコンタクト
− 全ての金属部品
− 取付け板
b) 任意の隣接した二つのコンタクト間。次の部品は，共通の点で全てアースに接続する。
− その他全てのコンタクト
− 全ての金属部品
− 取付け板
c) 個別規格に規定するその他の測定箇所又は動作条件。
静電容量は，適切な試験装置，例えば，±5 %よりもよい確度をもつ静電容量ブリッジを使用して，個
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C 5402-22-1：2016 (IEC 60512-22-1：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
別規格に規定する周波数で測定する。
測定周波数は，次のいずれかを推奨する。
− 1 kHz±200 Hz
− 1 MHz±200 kHz
4
要求事項
静電容量は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の準備
b) 試料の取付け
c) 測定するコンタクトの組合せ
d) 測定周波数
e) 静電容量の最大許容値
f)
この規格に規定する試験方法との相違