C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 3
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 5
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5
3.2 構造的に類似なコンデンサ······························································································· 5
3.3 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 6
3.4 品質認証 ······················································································································ 6
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 12
4 試験及び測定方法 ············································································································ 13
4.1 外観及び寸法 ··············································································································· 13
4.2 電気的試験 ·················································································································· 13
4.3 端子強度 ····················································································································· 16
4.4 はんだ耐熱性 ··············································································································· 16
4.5 はんだ付け性 ··············································································································· 16
4.6 温度急変 ····················································································································· 16
4.7 振動 ··························································································································· 17
4.8 バンプ ························································································································ 17
4.9 衝撃 ··························································································································· 17
4.10 一連耐候性 ················································································································· 18
4.11 高温高湿（定常） ········································································································ 18
4.12 耐久性 ······················································································································· 19
4.13 部品の耐溶剤性 ··········································································································· 19
4.14 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 19
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報
技術産業協会 (JEITA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 5101-13 : 1999は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4-2 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
（3）
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JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデ
ンサ
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ
評価水準E
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準
EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準
EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ（予定）
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ 評価水準EZ（予定）
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ（予定）
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ 評価水準EZ（予定）
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
（4）
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白 紙
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日本工業規格 JIS
C 5101-13：2009
(IEC 60384-13：2006)
電子機器用固定コンデンサ−
第13部：品種別通則：
固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 13 : Sectional
specification-Fixed polypropylene film dielectric metal foil d.c. capacitors
序文
この規格は，2006年に第3版として発行されたIEC 60384-13を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，誘電体にポリプロピレンフィルムを用い，
電極に金属はくを用いた直流用固定コンデンサ（以下，コンデンサという。）について規定する。
この規格で規定するコンデンサは，電子機器用である。1)
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-13 : 2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 13 : Sectional specification
−Fixed polypropylene film dielectric metal foil d.c. capacitors (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示
す。
注1) 電磁障害防止用コンデンサは，JIS C 5101-14を適用する。
1.2
目的
この規格の目的は，この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1
から適切な品質評価手順と試験方法及び測定方法とを選定し，一般的要求性能を規定することである。
この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格と同等か又は高
い水準とする。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）には適用しない。
JIS C 5063 : 1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063 : 1963，Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1 : 1967及びAmendment 2 : 1977 (IDT)
2
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
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JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1 : 1982，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 : Generic
specification並びにAmendment 2 : 1987，Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1992 (MOD)
なお，JIS C 5101-1 : 1998は，対応国際規格：IEC 60384-1 : 1999，Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1 : Generic specificationの最新版として制定されておらず，該当する
事項の項番は，JIS C 5101-1の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項
番に相違がある場合は，IEC 60384-1 : 1999の項番を注記に示す。
JIS C 5101-13-1 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピ
レンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
注記 対応国際規格：IEC 60384-13-1 : 2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 13-1 :
Blank detail specification−Fixed polypropylene film dielectric metal foil d.c. capacitors−Assessment
level E (IDT)
JIS C 5101-14 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14 :
Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection
to the supply mains (IDT)
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1 : 1988，Environmental testing−Part 1 : General and guidance及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS Z 8601 : 1954 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3 : 1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 : 2006 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410 : 1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は，JIS C 5101-1（品目別通則），この
規格及びJIS C 5101-13-1（ブランク個別規格）の要求性能よりも低い水準の内容を規定してはならない。
より厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，試験計画の中に，例
えば，アステリスク (＊) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
各個別規格には次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，すべての寸法値は，
ミリメートル (mm) で規定する。
寸法は，本体の長さ，幅及び高さ並びに端子間隔とする。円筒形の場合は，本体の直径及び長さ，並び
に端子の長さ及び直径を規定する。“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”のように幾つかの
組合せを個別規格に規定する場合は，必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。
3
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンデンサがプリント配線板用でない場合には，個別規格の中にその旨を明記する。
1.4.2
取付け
個別規格に，通常に用いる場合の取付方法並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方
法を規定する。コンデンサは，その規定した方法で取り付ける。コンデンサの設計上特別な取付具を必要
とする場合には，個別規格にその取付具を規定し，振動及びバンプ又は衝撃の各試験には，この取付具を
用いてコンデンサを取り付ける。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.3.1
定格静電容量範囲
定格静電容量の範囲は，2.2.1による。
注記 IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるときは，次の文章を追加する。
“各定格電圧での定格静電容量の範囲は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合には，追加の規定をしてもよい。
1.4.3.3
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法，厳しさ及び要求性能は，個別規格の規定による。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合には，
その事項を個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1によるほか次による。
1.5.1
安定性区分 (stability class)
規定された試験後の静電容量の許容変化値と温度係数の許容値との組合せ。
1.5.2
定格電圧 (rated voltage) (UR)
定格温度でコンデンサに連続的に印加できる直流電圧の最大値。
注記 コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は，定格電圧を超えないことを示
している。また，交流電圧の最大値は，次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対する割合
又は280 Vを超えてはならないことを示している。
50 Hz : 20 %
100 Hz : 15 %
1 kHz : 3 %
10 kHz : 1 %
1.6
表示
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
1.6.1
表示事項は，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順とする。
a) 定格静電容量
b) 定格電圧（直流電圧を表す記号d.c. は，記号 ̲ ̲ ̲ 又は で表してもよい。）
4
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 定格静電容量の許容差
d) 製造年月（又は年週）
e) 製造業者名又はその商標
f)
温度係数又は安定性区分
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i)
引用個別規格
1.6.2
コンデンサの本体には，1.6.1のa)，b) 及びc) 並びに必要な項目をできるだけ多く明りょうに表
示する。コンデンサの表示内容の重複は，避けることが望ましい。
1.6.3
コンデンサの包装には，1.6.1のすべての事項を明りょうに表示する。
1.6.4
表示を追加する場合には，混乱しないように行う。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する値は，次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは，JIS C 60068-1の8.（部品耐候性カテゴリ）によっ
て分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃，
カテゴリ上限温度：＋85 ℃，及び＋100 ℃
高温高湿（定常）の試験期間：10日，21日及び56日
低温及び高温の試験温度は，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
注記 高温高湿（定常状態）の試験条件は，温度40 ℃，相対湿度90 %〜95 %である。
2.1.2
試験前に乾燥を適用する場合は，温度55 ℃±2 ℃，相対湿度20 %以下で1時間〜6時間行う。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格静電容量 (CR)
定格静電容量の推奨値は，JIS C 5063に規定するE6，E12，E24，E48及びE96の標準数列並びにそれら
の10n倍（×10n，nは整数）から選定する。
2.2.2
定格静電容量の許容差
定格静電容量の標準数列と定格静電容量の許容差との相関は，表1による。
表1−定格静電容量の標準数列と定格静電容量の許容差との相関
推奨標準数列
推奨許容差
許容差の記号
E6
±20 %
M
E12
±10 %
K
E24
±5 %
J
E48
±2 %
G
E96
±1 %
F
いずれの場合にも，最小の許容差は±1 pFとする。E96の標準数列以外の追加静電容量値及び追加許容
5
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
差を規定してもよい。
2.2.3
定格電圧 (UR)
定格電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR5 標準数列で，40 V，63 V，100 V，160 V，250 V及びこ
れらの数値の10n倍（×10n，nは整数）とする。
ただし，コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧とのピーク値の和は，定格電圧を超えてはならない。
また，交流電圧の最大値も，個別規格に規定がない場合は，次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対
する割合を超えてはならない。このとき280 Vを上限とする。
50 Hz : 20 %
100 Hz : 15 %
1 kHz : 3 %
10 kHz : 1 %
この値は，個別規格に規定がない場合に適用する。
2.2.4
温度係数及び静電容量変化に関係する安定性区分
温度係数 (α) の推奨値及びそれと組み合わせる温度係数許容差並びに静電容量の許容変化の推奨値を，
安定性区分として表2に示す。この表は，定格静電容量50 pF未満の場合には適用しない。
表2−推奨値及び組合せ
安定性区分
温度係数α及びその許容差
10−6/℃
静電容量変化の許容値 a)
カテゴリ上限温度
−80
−100
−125
−160
−250
85 ℃
100 ℃
1
±40
± 50
± 60
± 80
±120
±(0.5 %＋0.5 pF)
±(1 %＋0.5 pF)
2
±100
±125
±160
±250
±(1 %＋1 pF)
±(2 %＋1 pF)
3
±160
±250
±(2 %＋2 pF)
±(5 %＋2 pF)
注a) 次の各試験後の静電容量変化の許容値である。
− はんだ耐熱性
− 温度急変
− 振動
− バンプ又は衝撃
− 温湿度サイクル
− 高温高湿（定常）
− 耐久性
2.2.5
カテゴリ電圧 (UC)
85 ℃のカテゴリ電圧は，定格電圧 (UR) とする。
カテゴリ上限温度が100 ℃の場合のカテゴリ電圧は，0.7 URとする。
2.2.6
定格温度
定格温度は，85 ℃とする。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ生産工程及び材
6
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
料で製造されたコンデンサとする。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合には，JIS C 5101-1の3.5.1（出荷対象
ロットの成績証明書）によって，出荷対象ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求性能は，
静電容量の変化，誘電正接 (tan δ) 及び絶縁抵抗とする。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.5.1は，IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4
品質認証
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1の3.4（品質認証手順）による。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.4は，IEC 60384-1 : 1999の3.5と同等である。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は，この規格の3.5の規定による。定
数抜取手順は，3.4.1.1，3.4.1.2及び3.4.1.2Aの規定による。
3.4.1
定数抜取手順に基づく品質認証
3.4.1.1
抜取方法
定数抜取手順は，JIS C 5101-1の3.4.2 b) の規定による。試料は，認証を得ようとするコンデンサのす
べての範囲を代表するものとし，個別規格に規定するすべての範囲，又はその一部でもよい。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.4.2 b) は，IEC 60384-1 : 1999の3.5.3 b) と同等である。
抜き取る試料は，最低及び最高の定格電圧のものと，それぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静
電容量のものとする。定格電圧が4種類を超える場合は，中間の定格電圧のものも追加して試験する。こ
のように一つの認証範囲の試験には，4組合せ（定格静電容量と定格電圧との組合せ）又は6組合せのも
のを試料とする。認証範囲からの試料が，4組合せ未満で構成される場合には，試料数は4組合せの場合
と同数とする。
予備の試料は，次による。
a) 群 “0” での許容不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
群 “0” に規定する試料は，すべての群の試験を適用する場合の試料数であり，すべての試験を適用しな
い場合には，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群 “0” の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数並びに合格判定数を，表3及び表3Aに示す。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
3.4.1.2
試験（評価水準Eの場合）
表3及び表4に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群 “0” の試験を行った後に，その他の群に配分する。
群 “0” の試験中に発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても，“不適合品数は1個”と数え
る。
品質認証は，各群又は各副群での不適合数が合格判定数以下であり，かつ，不適合数の合計が総合格判
定数を超えない場合に，合格とする。
注記 表3及び表4は，定数抜取手順に基づく品質認証試験の計画を構成する。表3は，各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表4は，箇条4に規定する試
7
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
験の詳細と併せ，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試
験方法，試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する
品質確認検査と同じとする。
表3−品質認証試験の抜取試験計画及び合格判定数−評価水準E
群番号
試験項目
この規格
の細分箇
条番号
試料数 (n) 及び合格判定数 (c)
1組合せc)
につき
n
4組合せc) 以下の場合
6組合せc) の場合
4n
c
c合計
6n
c
c合計
0
外観
寸法
静電容量
誘電正接 (tan δ)
耐電圧
絶縁抵抗
4.1
4.1
4.2.2
4.2.3
4.2.1
4.2.4
29
116
2 b)
174
3 c)
予備試料
2
8
12
1
1A
端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性 a)
4.3
4.4
4.13
3
12
1
4
18
1
6
1B
はんだ付け性
表示の耐溶剤性 a)
温度急変
振動
バンプ又は衝撃 a)
4.5
4.14
4.6
4.7
4.8
又は4.9
6
24
1
36
2 b)
一連耐候性
4.10
9
36
2
54
3
2
高温高湿（定常）
4.11
5
20
1
30
2 b)
3
耐久性
4.12
10
40
2 b)
60
3 b)
4
温度特性
インダクタンスd)
外側はく端子d)
4.2.5
4.2.6
4.2.7
5
20
1
30
2
注a) 個別規格の規定による。
b) 1組合せの中から2個以上の不適合があってはならない。
c) 定格静電容量と定格電圧との組合せは，3.4.1による。
d) 個別規格に規定がある場合に適用する。
8
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.4.1.2A 試験（評価水準EZの場合）
表3A及び表4に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であ
り，各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群 “0” の試験を行った後に，その他の群に配分する。
群 “0” の試験中に発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても，“不適合品数は1個”と数える。
品質認証は，各群又は各副群での不適合数が合格判定数以下であり，かつ，不適合数の合計が総合格判
定数を超えない場合に，合格とする。
表3A−品質認証試験の抜取試験計画及び合格判定数−評価水準EZ
群番号
試験項目
この規格の細分箇条番
号
試料数
n b)
合格判定数
c
0
外観
寸法
静電容量
誘電正接 (tan δ)
耐電圧
絶縁抵抗
4.1
4.1
4.2.2
4.2.3
4.2.1
4.2.4
120
0
予備試料
2
1
1A 端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性 a)
4.3
4.4
4.13
12
0
1B はんだ付け性
表示の耐溶剤性 a)
温度急変
振動
バンプ又は衝撃 a)
4.5
4.14
4.6
4.7
4.8又は4.9
24
0
一連耐候性
4.10
36
0
2
高温高湿（定常）
4.11
24
0
3
耐久性
4.12
36
0
4
温度特性
インダクタンスa)
外側はく端子a)
4.2.5
4.2.6
4.2.7
24
0
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格静電容量と定格電圧との組合せは，3.4.1による。
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C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ
細分箇条番号及び
試験項目a)
Db)又は
ND b)
試験条件a)
試料数 (n)
及び合格判定
数 (c)
要求性能a)
群0
4.1 外観
4.1 寸法（詳細）
4.2.1 耐電圧
4.2.2 静電容量
4.2.3 誘電正接 (tan δ)
4.2.4 絶縁抵抗
ND
方法は，個別規格の規定による。
方法は，個別規格の規定による。
表3又は
表3Aによる。
4.1による。
表示は明りょうとする。そ
の他は個別規格の規定に
よる。
個別規格の規定による。
絶縁破壊又はフラッシオー
バがない。
規定の許容差による。
4.2.3.2による。
4.2.4.2による。
群1A
4.3.1 初期測定
4.3 端子強度
4.4 はんだ耐熱性
4.4.2 最終測定
4.13 部品の耐溶剤性
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)
外観
初期乾燥なし
方法は，個別規格の規定による。
（1A又は1B）
後処理時間：1 h〜2 h
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
溶剤：．．．
溶剤の温度：．．．
方法2
後処理時間：．．．
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がない。
外観に損傷がなく，表示は
明りょうとする。
4.3.1の測定値に対する
ΔC/Cは，2.2.4のカテゴリ上
限温度での安定性区分の
許容差による。
4.2.3.2による。
個別規格の規定による。
群1B
4.5 はんだ付け性
4.14 表示の耐溶剤性
（適用する場合）c)
4.6.1 初期測定
D
エージングは行わない。
方法は個別規格の規定による。
溶剤：．．．
溶剤の温度：．．．
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理時間：．．．
静電容量
誘電正接 (tan δ)
表3又は
表3Aによる。
端子に，はんだが良好に付
着しているか又ははんだ
小球法の場合は，…s以内
にはんだが流れる。
表示は明りょうとする。
10
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D b)
又は
ND b)
試験条件a)
試料数 (n)
及び合格判
定数 (c)
要求性能a)
4.6 温度急変
4.7 振動
4.7.2 最終測定
4.8 バンプ
（又は4.9衝撃）
4.9 衝撃
（又は4.8バンプ）
4.8.3又は4.9.3 最終測
定
D
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t1＝．．．
外観
取付方法は，個別規格の規定によ
る。
周波数範囲：…Hz〜…Hz
振幅：0.75 mm又は加速度：100 m/s2
（いずれか緩い方）
合計時間：6 h
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
取付方法は，個別規格の規定による。
バンプ回数：．．．
ピーク加速度：．．．m/s2
作用時間：．．．ms
取付方法は，個別規格の規定によ
る。
ピーク加速度：．．．m/s2
作用時間：．．．ms
外観
静電容量
誘電正接 (tanδ)
表3又は
表3Aによ
る。
外観に損傷がない。
外観に損傷がない。
4.6.1の測定値に対する
ΔC/Cは，2.2.4のカテゴリ
上限温度での安定性区分
の許容差による。
4.2.3.2による。
外観に損傷がない。
4.7.2の測定値に対する
ΔC/Cは，2.2.4のカテゴリ
上限温度での安定性区分
の許容差による。
4.2.3.2による。
群1
4.10 一連耐候性
4.10.2 高温
4.10.3 温湿度サイクル
（12＋12時間サイク
ル）最初のサイクル
4.10.4 低温
D
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
表3又は
表3Aによ
る。
11
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D b)
又は
ND b)
試験条件a)
試料数 (n)
及び合格判
定数 (c)
要求性能a)
4.10.5 減圧（個別規格に
規定がある場合）
4.10.5.3 中間測定
4.10.6 温湿度サイクル
（12＋12時間サイク
ル）残りのサイクル
4.10.6.2 最終測定
D
圧力：8 kPa
時間：1 h
外観
後処理時間：1 h〜2 h
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
永久破壊，フラッシオーバ又
はケースに有害な変形が
ない。
外観に損傷がなく，表示は明
りょうとする。
4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測定
値に対するΔC/Cは，2.2.4
の85 ℃での安定性区分の
許容差による。
tan δ：4.3.1又は4.6.1の測定
値の1.4倍以下
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群2
4.11 高温高湿（定常）
4.11.1 初期測定
4.11.3 最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)
測定周波数：1 kHz
後処理時間：1 h〜2 h
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がなく，表示は明
りょうとする。
4.11.1の測定値に対する
ΔC/Cは，2.2.4の85 ℃で
の安定性区分の許容差に
よる。
tan δ：4.11.1の測定値の1.4
倍以下
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群3
4.12 耐久性
4.12.1 初期測定
4.12.5 最終測定
D
時間：．．．h
静電容量
誘電正接 (tan δ)
外観
静電容量
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がなく，表示は明
りょうとする。
4.12.1の測定値に対する
ΔC/Cは，2.2.4のカテゴリ
上限温度での安定性区分の
許容差による。
12
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D b)
又は
ND b)
試験条件a)
試料数 (n)
及び合格判
定数 (c)
要求性能a)
4.12.5 最終測定（続き）
D
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによ
る。
tan δ：4.2.3.2の規定値又は
4.12.1の測定値の1.4倍の
いずれか大きい値以下
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群4
4.2.5 温度特性
4.2.6 インダクタンス
（適用する場合）c)
4.2.7 外側はく端子（適
用する場合）c)
D
静電容量
表3又は
表3Aによ
る。
4.2.5による。
個別規格に規定する値以下
4.2.7による。
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は，この規格の箇条4による。
b) この表でD は破壊試験，NDは非破壊試験を示す。
c) 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
a) 群A及び群B検査 これらの検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件で，製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
2a) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び定格静電容量）と外形寸法との組合せを
代表し，次の事項を考慮する。
− 組合せ数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，1組合せ当たりの試料数が4個以下の場合には，製
造業者は，国内監督検査機関の承認が必要になる。
b) 群C検査 これらの検査は，定期的に行う。
試料は，ある一定の期間に工程に流れている製品を代表するもので，定格電圧の高，中及び低電圧
群に分類する。いかなる期間でも，認証範囲を対象とするために，定格電圧の高，中及び低電圧群ご
とに一つの外形寸法のものを試験する。
その後の期間では，すべての範囲を対象とするために，製造中のその他の定格電圧及び／又は外形
寸法のものを試験する。
3.5.2
試験計画
ロットごと及び定期的な品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格JIS C 5101-13-1の箇条2（検査
要求事項）の表4による。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1の3.5.2（長期保管後の出荷）の規定に従って，はんだ付け性及び静電容量について群A及
び群Bの再検査を行う。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.5.2は，IEC 60384-1 : 1999の3.10と同等である。
13
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表5及び表6から選定することが望ましい。
表5−ロットごとの品質確認検査
検査副群 b)
D a)
E
F a)
G a)
EZ
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
n
c
A0
A1
A2
B1
S-3
S-3
S-3
2.5
1.0
2.5
100 % c)
S-3
S-3
S-3
d)
d)
d)
0
0
0
注記 IL
：検査水準
AQL ：合格品質限界
n
：試料数
c
：合格判定数
注a) 表6参照
b) 表6参照
c) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査データによって算出する。
d) 試料数 (n) は，JIS Z 9015-1 : 2006に規定する付表1の検査水準 (IL)／ロットサイズで割り当てるサンプル
文字に従い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
表6−定期的品質確認検査
検査副群 b)
D a)
E
F a)
G a)
EZ
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
C1A
C1B
C1
C2
C3
C4
6
6
6
6
3
12
9
18
27
15
21
9
1
1
2
1
1
1
6
6
6
6
6
6
5
5
10
10
10
10
0
0
0
0
0
0
注記 p
：検査周期（月）
n
：試料数
c
：合格判定数
注a) 評価水準D，F及びGは，検討中。
b) 検査副群の内容は，ブランク個別規格JIS C 5101-13-1の箇条2（検査要求事項）による。
4
試験及び測定方法
この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定方法）に規定する事項を補足する。
4.1
外観及び寸法
JIS C 5101-1の4.4（外観及び寸法）による。
4.2
電気的試験
4.2.1
耐電圧
JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，次による。
14
C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.1.1
試験回路
R1と試料 (CX) の定格静電容量との積は，0.01秒を超え1秒以下とする。
R1は，電源の内部抵抗を含む。
R2は，放電電流を1 A以下に制限する値とする。
4.2.1.2
試験電圧
JIS C 5101-1の4.5.3の表1に規定する測定箇所に，表7に示す電圧を，品質認証試験の場合は1分間，
ロットごとの品質確認検査の場合は1秒間印加する。
表7−試験電圧
測定箇所
試験電圧
1a)
2UR
1b) 及び1c)
2UR又は400 Vのいずれか高い値
注記 JIS C 5101-1 : 1998の4.5.3の表1は，IEC 60384-1 : 1999の4.5.3の表3と同等である。
4.2.2
静電容量
JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
4.2.2.1
静電容量は，次の周波数で測定するか，又は次の周波数の値に補正する。
a) 定格静電容量CR≦1 000 pF
測定：1 MHz±20 %又は100 kHz±20 %
判定：1 MHz±20 %
b) 定格静電容量CR＞1 000 pF
測定：1 kHz±20 %又は10 kHz±20 %
判定：1 kHz±20 %
測定時の印加電圧のピーク値は，定格電圧の3 %又は5 Vのいずれか小さい値以下とする。
4.2.2.2
静電容量は，規定の許容差による。
注記 10 pF未満のコンデンサ又は1 µFを超えるコンデンサの場合には，測定方法及び要求性能は，
個別規格に規定する。
4.2.3
誘電正接 (tan δ)
JIS C 5101-1の4.8［誘電正接 (tan δ)］によるほか，次による。
4.2.3.1
測定条件
誘電正接 (tan δ) は，次の方法で測定し，判定のために記録する。
測定周波数は，4.2.2.1の静電容量測定と同じとする。
測定器の確度は，10−4以下とする。
4.2.3.2
要求性能
誘電正接 (tan δ) は，次の規定値以下とする。
定格静電容量 規定値 測定周波数
CR≦1 000 pF 10×10−4 1 MHz又は100 kHz
1 000 pF＜CR≦0.1 µF 5×10−4 1 kHz又は10 kHz
CR＞0.1 µF 10×10−4 1 kHz
定格静電容量が10 pFより小さいか，又は1 µFより大きいコンデンサについては，個別規格に規定値を
規定する。
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C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.4
絶縁抵抗
JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，次による。
4.2.4.1
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗値とコンデンサの定格静電容量との積
は，0.01秒以上又は個別規格の規定による。
4.2.4.2
測定電圧は，JIS C 5101-1の4.5.2（絶縁抵抗の測定電圧）による。
電圧は，電源の内部抵抗を通じて規定値を直接印加する。
電源の内部抵抗とコンデンサの定格静電容量との積は，1秒未満又は個別規格の規定による。
絶縁抵抗は，表8に示す要求性能を満足する。
表8−絶縁抵抗の要求性能
JIS C 5101-1の4.5.3の
表1による測定箇所
要求性能
RC積の最小値
（R＝端子間絶縁抵抗
CR＝定格静電容量）
s
端子間
絶縁抵抗の最小値
MΩ
端子・外装間
絶縁抵抗の最小値
MΩ
CR＞0.1 µF
CR≦0.1 µF
1a)
10 000
100 000
−
1b) 及び1c)
−
−
100 000
注記 安定性区分3の絶縁抵抗の最小値は，30 000 MΩとする。
両端子が容器から絶縁されているコンデンサで，端子間が非常に高い絶縁抵抗の測定は，3端子測定法
又はガードリング測定法を用いる。
4.2.4.3
温度補正
20 ℃以外の温度で測定した場合は，必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑義が生じた場合は，20 ℃で測定する。表9に示す補正係数は，ポリプロピレンフィルム金属はくコ
ンデンサの平均値を示す。
表9−試験温度に対する補正係数
温度
℃
補正係数
15
0.75
20
1.0
23
1.25
27
1.5
30
1.75
35
2.0
4.2.5
温度特性
JIS C 5101-1の4.24.1（静的方法）によるほか，次による。
4.2.5.1
測定条件
コンデンサは，試験前に乾燥しなければならない［JIS C 5101-1の4.3（乾燥）参照］。
サイクル数：1サイクル
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C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.5.2
温度サイクル中及び温度サイクル後の静電容量変化（静電容量の温度係数及び温度サイクル後の
ドリフト）は，2.2.4の安定性区分に従い，温度サイクル中は規定の温度係数及びその許容差を満足し，
試験後はカテゴリ上限温度に対する静電容量変化の既定値を満足しなければならない。
4.2.6
インダクタンス（適用する場合）
JIS C 5101-1の4.11（インダクタンス）によるほか，次による。コンデンサのインダクタンスの測定値
は，個別規格の規定を満足しなければならない。
注記1 インダクタンスの近似値は，吸引法によって測定した共振周波数の値と4.2.2によって測定し
た静電容量の値との積から算出する方法などによる。
注記2 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
4.2.7
外側はく端子（適用する場合）
JIS C 5101-1の4.12（外側はく端子）によるほか，次による。
外側はく端子に接続された端子の目印が正しいかどうかを，コンデンサを破壊しない方法で検査する。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
4.3
端子強度
JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
4.3.1
初期測定
静電容量は，4.2.2によって測定する。
誘電正接は，4.2.3.1によって測定する。
4.4
はんだ耐熱性
JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。
4.4.1
試験条件
初期乾燥は，行わない。
4.4.2
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.5
はんだ付け性
JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。
4.5.1
試験条件
加速蒸気エージングなどの前処理は行わない。
はんだ小球法を適用する場合は，個別規格の規定による。はんだ槽法又ははんだ小球法のいずれも適用
できない場合には，はんだこて法のはんだこて先寸法Aによって試験を行う。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
4.5.2
要求性能
表4に規定する要求性能を満足する。
4.6
温度急変
JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
4.6.1
初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.6.2
試験サイクル数
5サイクルとする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度での放置時間は，30分間又は3時間とし個別規格に規定する。
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C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンデンサは，表4に規定する要求性能を満足する。
4.7
振動
JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，次による。
4.7.1
試験条件
次のうちの一つの周波数範囲，10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz又は10 Hz〜2 000 Hzで，振幅0.75 mm又
は加速度100 m/s2のいずれか緩い方の振幅とする。総試験時間は，6時間とする。
個別規格には，周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端
子）のコンデンサをリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2
最終測定及び要求性能
表4に規定する要求性能を満足する。
4.8
バンプ
JIS C 5101-1の4.18（バンプ）によるほか，次による。
個別規格には，バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するか規定する。
4.8.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.8.2
個別規格に，次に推奨する厳しさのいずれの条件を適用するか規定する。
バンプの総回数：1 000回又は4 000回
ピーク加速度： 400 m/s2
又は
100 m/s2
作用時間 ： 6 ms
16 ms
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サをリード線だけで固定する場合には，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.9
衝撃
JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，次による。
個別規格には，バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するか規定する。
4.9.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.9.2
個別規格には，表10に示す試験条件のいずれを適用するか規定する。
パルス波形：正弦半波
表10−ピーク加速度及び作用時間
ピーク加速度
m/s2
作用時間
ms
300
18
500
11
1 000
6
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）コンデンサ
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C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
をリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.10 一連耐候性
JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.10.1 初期測定
測定は行わず，4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測定値を適用する。
4.10.2 高温
JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
4.10.3 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），最初のサイクル
JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），最初のサイクル］による。
4.10.4 低温
JIS C 5101-1の4.21.4（低温）による。
4.10.5 減圧
JIS C 5101-1の4.21.5（減圧）によるほか，次による。
4.10.5.1 この試験は，個別規格に規定がある場合に適用し，温度15 ℃〜35 ℃，気圧8 kPaの条件下で試
験を行う。試験時間は，1時間とする。
4.10.5.2 規定する圧力に達した後，1時間の試験時間の最後の5分間，定格電圧を印加する。この試験を
適用する必要がある場合，試料は，2分割又は3分割し，それぞれJIS C 5101-1の4.5.3の表1に規定する
測定箇所に電圧を印加する。
4.10.5.3 中間測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.10.6 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），残りのサイクル
JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），残りのサイクル］によるほか，次によ
る。
4.10.6.1 試験槽からコンデンサを取り出し15分間以内に，4.2.1に規定する試験回路及び条件によって測
定箇所Aに定格電圧を1分間印加する。
注記 測定箇所A：端子間（JIS C 5101-1の4.5.3の表1による。）
4.10.6.2 最終測定及び要求性能
後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.11 高温高湿（定常）
JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
4.11.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.11.2 試験槽からコンデンサを取り出し，15分間以内に4.2.1の規定によって耐電圧試験を行う。ただし，
印加電圧は，定格電圧とする。
個別規格に規定がある場合は，2.1.2の規定によって耐電圧試験前に乾燥を行う。乾燥後コンデンサは，
標準状態に1時間〜2時間放置する。
4.11.3 最終測定及び要求性能
後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
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C 5101-13：2009 (IEC 60384-13：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.12 耐久性
JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
4.12.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.12.2 コンデンサは，1 000時間の試験を行う。個別規格に規定がない場合には，表11による。
表11−試験条件
カテゴリ
-/085/-
-/100/-
温度
85 ℃
100 ℃
85 ℃
電圧（直流）
1.5 UR
1.5 UC
1.5 UR
試料の分割
分割しない
2分割
4.12.3 試験電圧は，それぞれコンデンサに直列保護抵抗器を通じて印加する。
その抵抗値は，約1 Ω/Vの値で最大1 200 Ωの値とする。
4.12.4 規定の時間放置後，コンデンサを回復させた後に4.12.3と同じ抵抗器Rを通じて放電する。
4.12.5 最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.13 部品の耐溶剤性
JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。
4.14 表示の耐溶剤性
JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。