C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

（1） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲 ························································································································· 1 

2 引用規格 ························································································································· 1 

3 記号······························································································································· 2 

4 製品仕様 ························································································································· 3 

4.1 絶対最大定格 ················································································································ 3 

4.2 動作環境 ······················································································································ 3 

4.3 機能仕様 ······················································································································ 3 

4.4 ブロック図 ··················································································································· 4 

5 試験······························································································································· 5 

5.1 特性評価試験 ················································································································ 5 

5.2 性能試験 ······················································································································ 6 

6 安全性···························································································································· 7 

附属書A（規定）試験要求項目 ······························································································· 8 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

（2） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会 (OITDA) 及び

財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日

本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は

もたない。 

JIS C 5953-6の規格群には，次に示す部編成がある。 

JIS C 5953 -1 第1部：総則 

JIS C 5953 -3 第3部：2.5 Gbit/s変調器集積形半導体レーザモジュール 

JIS C 5953 -4 第4部：1 300 nmギガビットイーサネット用光トランシーバ 

JIS C 5953 -5 第5部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ATM-PON用光トラン

シーバ 

JIS C 5953 -6 第6部：650 nm，250 Mbit/sプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバ 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 5953-6：2009 

(IEC 62149-6：2003) 

光伝送用能動部品−性能標準− 

第6部：650 nm，250 Mbit/sプラスチック光ファイバ 

伝送用光トランシーバ 

Fiber optic active components and devices-Performance standards- 

Part 6 : 650 nm 250 Mbit/s plastic optical fiber transceivers 

序文 

この規格は，2003年に第1版として発行されたIEC 62149-6を基に，技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

プラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバは，電気信号及び光信号の双方向変換に用いられる。こ

の規格は，プラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバモジュールの性能標準である。 

1 

適用範囲 

この規格は，650 nm，250 Mbit/sプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバの性能標準について規

定する。性能標準では，明確に定義された条件，厳しさ，及び合格又は不合格の判定基準を与えるパラメ

ータを規定する。すべての製品が性能標準要求事項を満たすためには，あらかじめ計画されていた性能試

験を最初の1回でクリアすることが必要である。性能標準の必要条件をすべて満たすと示された製品は，

性能標準に従うと宣言することができるが，一方では，品質保証及び／又は品質適合プログラムによって

もコントロールされていなければならない。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。 

IEC 62149-6 : 2003，Fibre optic active components and devices−Performance standards−Part 6 : 

650-nm 250-Mbit/s plastic optical fibre transceivers (IDT) 

なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示す。 

2 

引用規格 

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS C 0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法 

JIS C 5961 光ファイバコネクタ試験方法 

JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−低温（耐寒性）試験方法 

JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）−試験方法 

JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法 

JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法 

2 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

注記 対応国際規格：IEC 60068-2-20，Environmental testing. Part 2 : Tests. Test T: Soldering (IDT) 

JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法 

JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法 

IEC 60749-26，Semiconductor devices−Mechanical and climatic test methods−Part 26 : Electrostatic 

discharge (ESD) sensitivity testing−Human body model (HBM)  

IEC 60793-2-30，Optical fibres−Part 2-30 : Product specifications−Sectional specification for category A3 

multimode fibres 

IEC 60793-2-40，Optical fibres−Part 2-40 : Product specifications−Sectional specification for category A4 

multimode fibres 

IEC 60950-1，Information technology equipment−Safety−Part 1 : General requirements 

IEC 61280-1-4，Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-4 : General communication 

subsystems−Collection and reduction of two-dimensional nearfield data for multimode fibre laser 

transmitters 

IEC 61280-2-2，Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 2-2 : Digital systems−Optical eye 

pattern, waveform and extinction ratio measurement 

IEC 61280-4-1，Fibre-optic communication subsystem test procedures−Part 4-1 : Cable plant and links−

Multimode fibre-optic cable plant attenuation measurement 

UL 94，Tests for Flammability of Plastic Materials for Parts in Devices and Appliances 

3 

記号 

この規格で用いる主な記号の定義は，次による。 

a) Ex 

消光比 

b) Po 

ファイバ端光出力 

c) RH 

相対湿度 

d) S 

受信感度 

e) Tamb 

動作周囲温度 

f) Tcase 

動作ケース温度 

g)  tf 

出力信号下降時間 

h) tr 

出力信号上昇時間 

i) 

Tstg 

保存温度 

j) VCC 

電源電圧 

k) VI 

入力信号電圧 

l) 

VIH − VCC 高レベル入力信号電圧 

m) VIL − VCC 低レベル入力信号電圧 

n) Vnom 

公称動作電圧 

o)  VOH − VCC 高レベル出力信号電圧 

p) VOL − VCC 低レベル出力信号電圧 

q) ∆λ 

スペクトル幅 

r) λc 

中心波長 

s) 

HPCF 

ハードポリマークラッド光ファイバ 

3 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

t) 

ECL 

エミッタ結合形論理回路 

u) PECL 

正基準エミッタ結合形論理回路 

4 

製品仕様 

4.1 

絶対最大定格 

絶対最大定格は，それぞれの項目が独立事象であり，かつ，表1に規定する項目以外の特性パラメータ

がすべて通常の動作条件範囲内である限り，表中に記載した複数の項目がその値になったとしても，それ

が短時間であれば製品に破壊的な損傷を与えることがない限界値であることを意味する。絶対最大定格の

各々の値は，いかなる場合において，どの一つのパラメータでもそれを超えてはならない。 

表1−絶対最大定格 

項目 

記号 

要求事項 

単位 

最小値 

最大値 

動作ケース温度 

Tcase 

a) 

a) 

°C 

保存温度 

Tstg 

− 40 

85 

°C 

電源電圧 

VCC 

−0.5 

7.0 

V 

入力信号電圧 

VI 

−0.5 

VCC＋ 0.5 

V 

注 a) 製造業者で規定する。 

4.2 

動作環境 

表2−動作環境  

項目 

記号 

最小値 

最大値 

単位 

電源電圧 a) 

VCC 

0.95 Vnom 

1.05 Vnom 

V 

動作周囲温度 

Tamb 

0 

70 

°C 

相対湿度 b) 

RH 

5 

95 

% 

注a) 公称動作電圧Vnomは5 V 

b) 結露してはならない。 

4.3 

機能仕様 

表3の仕様は，表2の動作環境条件で満たさなければならない機能要求事項となる。 

4 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表3−機能仕様  

項目 

条件 

特に指定のない限り， 

Tcase＝25 ℃ 

記号 

最小値 

最大値 

単位 

伝送速度 

- 

- 

1 

250 

Mbit/s 

伝送距離 

SI-POF a) 

- 

- 

50 

m 

GI-HPCF b) 

- 

100 

ファイバ端光出力 

SI-POF, 50 cm a), c) 

Po 

−9 

−3 

dBm 

GI-HPCF, 50 cm b), c) 

−21 

−15 

中心波長 

- 

λc 

640 

660 

nm 

スペクトル幅 

- 

∆λ 

- 

40 

nm 

出力信号上昇時間 

10 %−90 % c), d) 

tr 

- 

3.0 

ns 

出力信号下降時間 

90 %−10 % c), d) 

tf 

- 

3.0 

ns 

消光比 

- 

Ex 

10 

- 

dB 

最大受信入力 

SI-POF, BER＝10−12 a), d) 

- 

−2 

- 

dBm 

GI-HPCF, BER＝10−12 b), d) 

−14 

- 

受信感度 

SI-POF, BER＝10−12 a), d) 

S 

- 

−21 

dBm 

GI-HPCF, BER＝10−12 b), d) 

- 

−24 

高レベル入力信号電圧 

- 

VIH − VCC 

−1.070 

−0.840 

V 

低レベル入力信号電圧 

- 

VIL − VCC 

−1.950 

−1.570 

V 

高レベル出力信号電圧 e) 

- 

VOH − VCC 

−1.100 

−0.880 

V 

低レベル出力信号電圧 e) 

- 

VOL − VCC 

−1.840 

−1.620 

V 

注a) IEC 60793-2-40で規定されたカテゴリA4dのPOFを使用。 

b) IEC 60793-2-30で規定されたカテゴリA3cのHPCFを使用。 

c) IEC 61280-1-4，IEC 61280-2-2及びIEC 61280-4-1参照。 

d) NRZ 250 Mbit/s, PRBS 27 − 1, マーク率50 %。 

e) ECL及びPECL入力と互換。 

4.4 

ブロック図 

4.4.1 

受信部 

受信部の代表例を，図1に示す。 

図1−受信部ブロック図 

5 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.4.2 

送信部 

送信部の代表例を，図2に示す。 

図2−送信部ブロック図 

5 

試験 

初期特性評価及び信頼性評価が行われなければならず，試験プログラムを定期的に行うことによって品

質は維持される。全試験の温度条件は，特に指定のない限り25 ℃±2 ℃とする。 

5.1 

特性評価試験 

特性評価試験は，異なる3グループ以上の生産ロットから20個以上の光トランシーバを抽出して行わな

ければならない。 

5.1.1 

送信部 

送信部に適用される特性評価試験条件を，表4に示す。 

表4−送信部の特性評価試験  

項目 

試験条件 

Tcase＝0 ℃±2 ℃，25 ℃±2 ℃，70 ℃±2 ℃の

各条件下で，かつ，VCC＝(0.95Vnom) V，(Vnom) V，
(1.05Vnom) Vの各条件下での試験を，最低20個の
デバイスに対して行うa), b) 。 

下限値 

上限値 

単位 

光ファイバ端光出力 

PRBS 27−1 (250 Mbit/s) 

SI-POF，50 cm 

   −9.0 

  −3.0 

dBm 

GI-HPCF，50 cm 

 −21.0 

−15.0 

中心波長 

PRBS 27−1 (250 Mbit/s) 

640 

660 

nm 

スペクトル幅 

PRBS 27−1 (250 Mbit/s) 

- 

 40 

nm 

消光比 

250 Mbit/s 方形波 

10 

- 

dB 

注a) 製品ロットは，製造業者で規定する。 

b) 公称動作電圧Vnomは5 V 

5.1.2 

受信部 

受信部に適用する特性評価試験条件を，表5に示す。 

6 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表5−受信部の特性評価試験  

項目 

試験条件 

Tcase＝0 ℃±2 ℃，25 ℃±2 ℃，70 ℃±2 ℃の各条件

下で，かつ，VCC＝(0.95Vnom) V，(Vnom) V，(1.05Vnom) V
の各条件下での試験を，最低20個のデバイスに対して
行うa), b) 。 

下限値 

上限値 

単位 

受信感度（BER 10−12） 

PRBS変調NRZ (250 Mbit/s)， 
消光比10 dBの光源 

SI-POF 

- 

−21.0 

dBm 

GI-HPCF 

- 

−24.0 

高レベル信号検知電圧 

VCC基準，(VCC − 2) V へ 50 Ω終端 

−1.10 

−0.88 

V 

低レベル信号検知電圧 

VCC基準，(VCC − 2) V へ 50 Ω終端 

−1.84 

−1.62 

V 

信号検知オンしきい（閾）値 PRBS変調NRZ (250 Mbit/s)，消光比10 dBの光源 

- 

−30.0 

dBm 

信号検知ヒステリシス 

PRBS変調NRZ (250 Mbit/s)，消光比10 dBの光源 

- 

- 

dB 

最大入力エラー 

ゲート時間3秒， 
消光比9 dBの光源 

SI-POF：光入力 −2.4 dBm 

- 

3 

- 

GI-HPCF：光入力 −14.4 dBm 

上昇・下降時間 

10 %〜90 % 

- 

3.5 

ns 

注a) 製品ロットは，製造業者で規定する。 

b) 公称動作電圧Vnomは5 V 

5.2 

性能試験 

性能試験は，特性評価試験をすべて終了した後で行う。試験順序を表6に示す。 

5.2.1 

試料数，試験順序及びグループ化 

各試験の試料数，試験順序及びグループ化は，表A.1の規定による。 

性能試験には，全数で86個（82個＋対照標準4個）の光トランシーバが必要となる。対照標準試料は，

測定の再現性を確認するために使用される。 

7 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

5.2.2 

性能試験 

表6−性能試験一覧表 

番号 

試験項目 

試験条件 

偏差 

単位 

試験条件詳細 

0 

試験項目ごとにすべて
の電気的特性及び光学
的特性の試験を行う。 

仕様に適合しなければな
らない 

- 

- 

Tcase＝0 ℃，25 ℃，70 ℃で試験実施 

1 

はんだ付け性 

Tcase＝25 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-20，スチームエージン
グ不要 

∆PO 

2 

dB 

目視検査 

- 

- 

2 

コネクタ着脱 

Tcase＝25 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 5961の8.3（繰返し動作），繰
返し着脱回数500回。50回ごとに送
信側を清掃，測定。同一コネクタで
行う。 

∆PO 

2 

dB 

3 

静電気放電 

Tcase＝0 ℃，25 ℃，

70 ℃での電気・光
試験にて 

∆S 

1 

dB 

IEC 60749-26，人体帯電モデル，500 
V 

∆PO 

2 

dB 

4 

難燃性 

- 

- 

- 

クラスUL94-V 

5 

機械的衝撃 

Tcase＝25 ℃での電

気･光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-27，1 500 g，1.0 m/s，
各軸5回 

∆PO 

2 

dB 

6 

振動 

Tcase＝0 ℃，25 ℃，

70 ℃での電気・光
試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-6，20 g，20〜2 000 Hz，
各サイクル4分，各軸4サイクル 

∆PO 

2 

dB 

7 

はんだ耐熱性 

Tcase＝25 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-20の5.（試験方法Tb：
はんだ耐熱性），5.4 （方法1A：260 °C
でのはんだ槽法），10秒 

∆PO 

2 

dB 

8 

温度サイクル500回 

Tcase＝0 ℃，25 ℃，

70 ℃での電気・光
試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 0025の2.（試験Na：温度急変），

Tstg＝−40 ℃/＋85 ℃間で500サイ

クル 

∆PO 

2 

dB 

9 

高温動作500時間 

Tcase＝25 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-2，Tamb＝70 ℃， 

VCC＝1.05 Vnom a) 

∆PO 

2 

dB 

10 

高温動作1 000時間 

Tcase＝0 ℃，25 ℃，

70 ℃での電気・光
試験にて 

∆S 

1 

dB 

試験番号9に500時間追加 

∆PO 

2 

dB 

11 

低温保存500時間 

Tcase＝25 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-1，Tstg＝−20 ℃ 

∆PO 

2 

dB 

12 

低温保存1 000時間 

Tcase＝0 ℃，25 ℃，

70 ℃での電気・光
試験にて 

∆S 

1 

dB 

試験番号11に500時間追加 

∆PO 

2 

dB 

13 

高温高湿168時間 

Tcase＝0 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

JIS C 60068-2-78，Tamb＝40 ℃， 

RH＝95 %，VCC＝1.05Vnom a) 

∆PO 

2 

dB 

14 

高温高湿500時間 

Tcase＝25 ℃での電

気・光試験にて 

∆S 

1 

dB 

試験番号13に332時間追加 

∆PO 

2 

dB 

注 a) 公称動作電圧Vnomは5 V 

6 

安全性 

この規格に該当するすべての光トランシーバは，IEC 60950-1に適合しなければならない。 

8 

C 5953-6：2009 (IEC 62149-6：2003) 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書A 

（規定） 

試験要求項目 

序文 

この附属書は，5.2.1に規定する各試験の試料数，試験順序及びグループ化について規定する。 

表 A.1−性能試験一覧表  

試験項目 

試料数 

試料履歴 

0 

初期特性試験 

82 

新品 

1 

はんだ付け性 

11 

試験0 

2 

コネクタ着脱 

5 

試験0 

3 

静電気放電 

6 

試験1 

4 

難燃性 

5 

試験1 

5 

機械的衝撃 

11 

試験0 

6 

振動 

11 

試験5 

7 

はんだ耐熱性 

11 

試験0 

8 

温度サイクル500回 

11 

試験0 

9 

高温動作500時間 

11 

試験0 

10 

高温動作1 000時間 

11 

試験9 

11 

低温保存500時間 

11 

試験0 

12 

低温保存1 000時間 

11 

試験11 

13 

高温高湿168時間 

11 

試験0 

14 

高温高湿500時間 

11 

試験13 

表 A.1に示された各試験は，試料履歴で定義された製品に対してそれぞれ独立して行われるが，前の試

験の試料を用いてもよい。異なるビットレートにて使用しても，構造が同じ部品ならば機械的な試験を一

緒に行ってもよい。 

参考文献 JIS B 0621 幾何偏差の定義及び表示 

注記 対応国際規格：ISO 1101 : 1983，Technical drawings−Geometrical tolerancing−

Tolerancing of form, orientation, location and run-out−Generalities, definitions, symbols, 

indications on drawings 

JIS C 5944 光伝送用半導体レーザモジュール通則 

注記 対応国際規格 IEC 62007-1 : 1997，Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic 

system applications−Part 1 : Essential ratings and characteristics 

JIS C 5945 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法 

注記 対応国際規格 IEC 62007-2 : 1997，Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic 

system applications−Part 2 : Measuring methods 

JIS C 5954-1 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第1部：総則 

IEC 60191 (all parts)，Mechanical standardization of semiconductor devices 

IEC 61280 (all parts)，Fibre optic communication subsystem basic test procedures 

IEC 61281-1 : 1999，Fibre optic communication subsystems−Part 1 : Generic specification