C 5402-3-1：2004 (IEC 60512-3-1：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-3-1:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistanceを基礎と
して用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-3-1：2004 (IEC 60512-3-1：2002)
（2）
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目 次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 試料の取付け ·················································································································· 1
3. 試験方法 ························································································································ 1
3.1 方法A ························································································································· 1
3.2 方法B·························································································································· 1
3.3 方法C ························································································································· 2
4. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-3-1：2004
(IEC 60512-3-1：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第3-1部：絶縁試験―
試験3a：絶縁抵抗
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests -
Test 3a: Insulation resistance
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-3-1，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistanceを翻訳し，技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の絶縁抵抗を評価するための
試験方法について規定する。この試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-3-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:
Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance (IDT)
2. 試料の取付け 試料を個別規格に従って取り付ける。
3. 試験方法 絶縁抵抗は，個別規格に方法A，方法B又は方法Cのいずれかを規定し，閉回路直流電圧
10 V±1 V，100 V±15 V又は500 V±50 Vで測定する。
絶縁抵抗は，安定した読みが得られるときだけ測定する。安定状態に達しない場合には，絶縁抵抗の読
みは電圧印加後60 s±5 s以内に記録する。
絶縁抵抗は，個別規格に規定する値以上でなければならない。
3.1
方法A 絶縁抵抗は，試験する一つのターミネーションと一括接続した残りのすべてのターミネー
ション （ハウジング及び／又は取付け板に接続）との間に，規定する試験電圧を印加し，測定する。測
定後，ターミネーションを変えて，順次測定する。
3.2
方法B ターミネーションを互い違いに一括接続し，二つのグループを作る。絶縁抵抗は，試料に
規定の試験電圧を次のとおり印加し，測定する。
a) 第一グループのターミネーションとハウジング（及び／又は取付け板）に接続した第二グループのタ
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C 5402-3-1：2004 (IEC 60512-3-1：2002)
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ーミネーションとの間，並びに
b) 第二グループのターミネーションとハウジング（及び／又は取付け板）に接続した第一グループのタ
ーミネーションとの間。
備考 ターミネーションが2列以上の場合には，隣接するターミネーションの各対の絶縁抵抗を測定
するために他の組合せで二つのグループを作る必要がある。
3.3
方法C 絶縁抵抗は，最小のスペーシングをもつ二つの隣接するターミネーション間に規定の試験
電圧を印加し，測定する。
4. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 使用する測定方法
b) 試験電圧の値
c) 絶縁抵抗の最小値
d) 試験するコンタクト
e) この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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