C 5402-1-1：2004 (IEC 60512-1-1：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-1-1:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examinationを基礎
として用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-1-1：2004 (IEC 60512-1-1：2002)
（2）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 一般 ······························································································································ 1
3. 試験する項目 ·················································································································· 1
4. 外観試験の方法 ··············································································································· 2
5. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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日本工業規格 JIS
C 5402-1-1：2004
(IEC 60512-1-1：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―
第1-1部：一般試験―試験1a：外観
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 1-1: General examination -
Test 1a: Visual examination
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examinationを翻訳し，技術的内容及び
規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
1. 適用範囲 この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の外観試験のための試験方法
について規定する。この試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General
examination - Test 1a: Visual examination (IDT)
2. 一般 外観試験は，関連規格におけるコネクタの識別表示，外観，出来栄え及び仕上がりを確認する。
外観試験は，ある範囲に対しては主観的な方法である。公正な判定が行われるように注意しなければなら
ない。欠陥，該当する標準との相違又はストレスによる変化は，それらの重要性によって注意深く区別し
なければならない。
3. 試験する項目 次の項目を試験する。
a) 出来栄え及び仕上がり
b) 表示
c) 材料
d) 表面仕上げ
例 −腐食のこん跡
−色（適用する色標準又は色見本との比較）
−光沢の度合［適用する光沢標準，例：ボールズスケール（Boll's scale）又は見本との比較］
−粗さ，溝，起伏，かききず，しわ，孔，細孔，くぼみ，隆起，うろこ，ひび割れ，ばりなど
2
C 5402-1-1：2004 (IEC 60512-1-1：2002)
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−表面上及びその内部の異物
e) 半透明材料の内部状態，例えば，空洞，ガス状の含有物，及びフローライン（異物の含有を含む。）
f)
潤滑油の状態及び場所（目視で確認できる範囲内で）
g) 緩んだ部品及び離脱した部品（特にストレス後）
4. 外観試験の方法 外観試験は，次のいずれかの方法による。
a) 裸眼（最適な観察距離及び照明の下で正常な視力，正常な色の識別能力をもつ裸眼）
b) 拡大鏡（規定する場合）
この規格の目的上，特別な方法，例えば，偏光（材料内の内部応力観察用）又は他の計器（内部の材料
割れ又は細孔観察用）の使用は，個別規格で明確に要求しない限り，認めない。
5. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試験する事項
b) 確認する特徴
c) 欠陥の基準
d) 拡大鏡の倍率（規定する場合）
e) この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。