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C 5402-1-1:2004 (IEC 60512-1-1:2002) 

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-1-1:2002,Connectors for 

electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examinationを基礎

として用いた。 

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。 

JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。 

C 5402-1-1:2004 (IEC 60512-1-1:2002) 

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1. 適用範囲 ························································································································ 1 

2. 一般 ······························································································································ 1 

3. 試験する項目 ·················································································································· 1 

4. 外観試験の方法 ··············································································································· 2 

5. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2 

  

   

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 5402-1-1:2004 

(IEC 60512-1-1:2002) 

電子機器用コネクタ― 

試験及び測定― 

第1-1部:一般試験―試験1a:外観 

Connectors for electronic equipment -  

Tests and measurements - Part 1-1: General examination -  

Test 1a: Visual examination 

序文 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment - 

Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examinationを翻訳し,技術的内容及び

規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 

1. 適用範囲 この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の外観試験のための試験方法

について規定する。この試験方法は,類似の部品に用いてもよい。 

備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。 

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD

(修正している),NEQ(同等でない)とする。 

IEC 60512-1-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General 

examination - Test 1a: Visual examination (IDT) 

2. 一般 外観試験は,関連規格におけるコネクタの識別表示,外観,出来栄え及び仕上がりを確認する。

外観試験は,ある範囲に対しては主観的な方法である。公正な判定が行われるように注意しなければなら

ない。欠陥,該当する標準との相違又はストレスによる変化は,それらの重要性によって注意深く区別し

なければならない。 

3. 試験する項目 次の項目を試験する。 

a) 出来栄え及び仕上がり 

b) 表示 

c) 材料 

d) 表面仕上げ 

例 −腐食のこん跡 

−色(適用する色標準又は色見本との比較) 

−光沢の度合[適用する光沢標準,例:ボールズスケール(Boll's scale)又は見本との比較] 

−粗さ,溝,起伏,かききず,しわ,孔,細孔,くぼみ,隆起,うろこ,ひび割れ,ばりなど 

C 5402-1-1:2004 (IEC 60512-1-1:2002) 

   

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

−表面上及びその内部の異物 

e) 半透明材料の内部状態,例えば,空洞,ガス状の含有物,及びフローライン(異物の含有を含む。) 

f) 

潤滑油の状態及び場所(目視で確認できる範囲内で) 

g) 緩んだ部品及び離脱した部品(特にストレス後) 

4. 外観試験の方法 外観試験は,次のいずれかの方法による。 

a) 裸眼(最適な観察距離及び照明の下で正常な視力,正常な色の識別能力をもつ裸眼) 

b) 拡大鏡(規定する場合) 

この規格の目的上,特別な方法,例えば,偏光(材料内の内部応力観察用)又は他の計器(内部の材料

割れ又は細孔観察用)の使用は,個別規格で明確に要求しない限り,認めない。 

5. 個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。 

a) 試験する事項 

b) 確認する特徴 

c) 欠陥の基準 

d) 拡大鏡の倍率(規定する場合) 

e) この試験方法との相違

  

   

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。