C 5402-15-2：2014
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
4.1 手順 ···························································································································· 2
4.2 測定 ···························································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································· 4
C 5402-15-2：2014
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-15-2：2014
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第15-2部：コネクタ試験（機械的試験）−
試験15b：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 15-2: Connector tests (mechanical)-
Test 15b: Insert retention in housing (axial)
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-15-2を基とし，対応国際規格の試験方法，測
定方法の不明箇所補足のため，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，通常使用するときに加わる軸方向の力に対して，インサート保持機構が耐える能力を評価
するための試験方法について規定する。
注記1 この規格に規定する試験方法は，JIS C 5402-15-3（参考文献参照）で規定する試験方法と対
になる。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-15-2:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-2:
Connector tests (mechanical)−Test 15b: Insert retention in housing (axial)（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
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C 5402-15-2：2014
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準備
3.1
試料の準備
試料は，ターミネーションをもつコネクタとする。個別規格に規定がある場合は，試料を結線してもよ
い。ケーブル固定具及びアクセサリは，取り付けてはならない。
個別規格に規定する前処理を適用する。
3.2
装置
軸方向の力を加えるため，力（強度，速度，時間）を制御できる適切な装置（例えば，汎用材料試験機）
を用いる。
空気又はガスの圧力によって軸方向の力を加える場合，保持機構の不備からハウジング内のインサート
が勢いよく飛び出す可能性があるため，試料を収容する槽を備えていなければならない。液圧を用いる場
合，槽を備えていなくともよい。また，加圧に用いる液体は，試料の材質に影響があってはならない。
注記1 空気圧を用いる場合は，コンタクト，インサート又はその他のものが高速で飛び出す可能性
がある。
注記2 個別規格に試料の特別な前処理の要求がある場合には，供試条件を記述している関連文書に
記載する装置もまた必要とすることがある。
3.3
取付け
試料の取付けは，個別規格による。
4
試験方法
4.1
手順
個別規格に規定がない場合には，3個のコネクタを試験する。
4.1.1
力による方法
コネクタのハウジングは，インサート保持機構に影響しない方法で固定する。
試料に加える力は，25 mm/minの速度でコネクタの挿入方向及び引抜き方向に個別規格に規定する値ま
で連続的に加え，その後1分間保持する。
4.1.2
圧力による方法
試料に加える圧力は，5 kPa/sの速度でコネクタの挿入方向及び引抜き方向に個別規格に規定する値まで
連続的に加え，その後1分間保持する。
4.2
測定
4.2.1
試験前
JIS C 5402-1-1によって，外観検査を行う。
4.2.2
試験中
規定する力又は圧力に起因する変位がある場合は，その変位量を測定し，記録する。規定する力又は圧
力を取り除いた後，残留変位がある場合は，その変位量を測定し，記録する。
インサートの軸方向の変位量は，個別規格に規定する値を超えてはならない。
4.2.3
試験後
JIS C 5402-1-1によって，外観検査を行う。
試験後に，コネクタの通常動作を損なうインサートの変位があってはならない。
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個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料数（3個以外の場合）
b) 前処理（要求がある場合）
c) 試料の結線（要求がある場合）
d) 試料の取付け
e) 試料の軸方向に加える力又は圧力
f)
許容する変位量（試験中及び試験後）
g) この規格で規定する試験方法との相違
参考文献 JIS C 5402-15-3 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-3部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験15c：ハウジング内のインサート保持（ねじれ方向）
注記 対応国際規格：IEC 60512-15-3，Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 15-3: Connector tests (mechanical)−Test 15c: Insert retention in housing
(torsional)（IDT）
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C 5402-15-2：2014
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 5402-15-2:2014 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-2部：コネクタ試
験（機械的試験）−試験15b：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
IEC 60512-15-2:2008 Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 15-2: Connector tests (mechanical)−Test 15b: Insert retention in housing (axial)
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4 試験方
法
4.1.2 圧力による方
法
4.1.2
項目だけ同じ
追加
対応国際規格の作成過程にお
いて，従来記載されるべき箇条
から他の箇条に誤って移動又
は欠落した事項を正しい位置
に追加した。
編集上の問題につき，技術的差異は
ない。対応国際規格の訂正を提案す
る。
4.2.2 試験中の測定
4.2.2
項目だけ同じ
追加
4.2.3 試験後の測定
4.2.3
項目だけ同じ
追加
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 60512-15-2:2008，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD…………… 国際規格を修正している。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。