C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

（1） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か

ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 61076-3 : 1999，Connectors for use in 

d.c., low-frequency analogue and digital high-speed data applications−Part 3 : Rectangular connectors with assessed 

quality−Sectional specificationを基礎として用いた。 

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。 

JIS C 5401の規格群には，次に示す部編成がある。 

JIS C 5401-1 第1部：品目別通則−能力認証 

JIS C 5401-2 第2部：品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付 

JIS C 5401-2-001 第2-001部：丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格 

JIS C 5401-3 第3部：品種別通則−角形コネクタ−品質評価付 

JIS C 5401-3-001 第3-001部：角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格 

JIS C 5401-4 第4部：品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付 

JIS C 5401-4-001 第4-001部：プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格 

JIS C 5401-5 第5部：品種別通則−インラインソケット−品質評価付（予定） 

JIS C 5401-5-001 第5-001部：インラインソケット−品質評価付−ブランク個別規格（予定） 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

（2） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1. 一般事項 ························································································································ 1 

1.1 適用範囲 ······················································································································ 1 

1.2 引用規格 ······················································································································ 1 

2. 技術情報 ························································································································ 2 

2.1 定義 ···························································································································· 2 

2.2 耐候性カテゴリによる分類······························································································· 2 

2.3 沿面及び空間距離 ·········································································································· 2 

2.4 電流容量 ······················································································································ 2 

2.5 形名 ···························································································································· 2 

2.6 表示 ···························································································································· 3 

3. 品質評価の手順 ··············································································································· 3 

4. 試験及び試験計画 ············································································································ 3 

4.1 一般事項 ······················································································································ 3 

4.2 試験手順及び測定方法 ···································································································· 3 

4.3 前処理 ························································································································· 3 

4.4 試料の配線及び取付け ···································································································· 3 

4.5 試験計画 ······················································································································ 4 

5. ブランク個別規格，一般事項 ···························································································· 15 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 5401-3：2005 

(IEC 61076-3：1999) 

電子機器用コネクタ− 

第3部：品種別通則−角形コネクタ−品質評価付 

Connectors for electronic equipment-Part 3 : Rectangular connectors with 

assessed quality-Sectional specification 

序文 この規格は，1999年に第1版として発行されたIEC 61076-3，Connectors for use in d.c., low-frequency 

analogue and digital high-speed data applications−Part 3 : Rectangular connectors with assessed quality−Sectional 

specificationを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。 

1. 一般事項  

1.1 

適用範囲 この規格は，電子機器に用いるコネクタのうち，角形コネクタの品種別試験手順及び品

質評価方法について規定する。 

備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。 

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。 

IEC 61076-3 : 1999，Connectors for use in d.c., low-frequency analogue and digital high-speed data 

applications−Part 3 : Rectangular connectors with assessed quality−Sectional specification (IDT) 

1.2 

引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則 

備考 IEC 60068-1 : 1988 Environmental testing. Part 1 : General and guidanceが，この規格と一致し

ている。 

JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 

備考 IEC 61076-1 : 1995 Connectors with assessed quality, for use in d.c. low frequency analogue and in 

digital high-speed data applications−Part 1 : Generic specificationが，この規格と一致している。 

JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜

取検査方式 

備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributes 

IEC 60352-1 : 1997，Solderless connectors−Part 1 : Wrapped connections−General requirements, test 

methods and practical guidance 

IEC 60352-2 : 1990，Solderless connections−Part 2 : Solderless crimped connections−General requirements, 

test methods and practical guidance 

IEC 60352-3 : 1993，Solderless connections−Part 3 : Solderless accessible insulation displacement 

2 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

connections−General requirements, test methods and practical guidance 

IEC 60352-4 : 1994，Solderless connections−Part 4 : Solderless non-accessible insulation displacement 

connections−General requirements, test methods and practical guidance 

IEC 60352-5 : 1995，Solderless connections−Part 5 : Solderless press-in connections−General requirements, 

test methods and practical guidance 

IEC 60512 (all parts)，Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing procedures and 

measuring methods 

2. 技術情報 個別規格には，コネクタの適性な用途を決めるための情報を含め，かつ，コネクタ及び／

又はコネクタファミリがよく理解できる特性をも規定する。 

2.1 

定義 個別規格で用いる用語は，JIS C 5401-1の2.1（定義）に規定の用語であり，また，規定する

コネクタに特有な用語の定義は，個別規格に規定することを推奨する。 

2.2 

耐候性カテゴリによる分類 低温及び高温並びに高温高湿（定常）の試験期間は，他に規定がない

場合には，JIS C 5401-1の2.2（耐候性カテゴリによる分類）に規定する推奨値から選ぶことが望ましい。 

2.3 

沿面及び空間距離 個別規格には，JIS C 5401-1の2.3（沿面及び空間距離）の要求事項に従って沿

面及び空間距離を規定する。 

2.4 

電流容量 個別規格には，JIS C 5401-1の2.4（電流容量）の要求事項に従ってコネクタの電流容量

を規定する。 

2.5 

形名 この規格を適用するコネクタは次の表示及び，その順序で形名をつける。 

a) “JIS” の文字。 

b) 個別規格番号（スペース及びダッシュを除く。例 C54013101）。 

c) コネクタの形状を表す文字（その方式は個別規格に規定する。）。 

d) コネクタのコンタクト数，又はコネクタボディのコンタクトキャビティ数。 

使用するけた数は，可能な最大コンタクト数又はキャビティ数による。 

e) ツーパートコネクタのコンタクトの形式（タイプ）を示す文字，又はエッジソケットコネクタの電気

的に独立したコンタクト列の数を示す文字。 

次の文字を用いる。 

− ツーパート コネクタ    F    めすコンタクト 

                 H    おすめす同形コンタクト 

                 M    おすコンタクト 

− エッジソケットコネクタ  D    2列（分離形） 

                S    1列 

f) 

コンタクトアレンジメントを表す3けたの数字の組合せ番号。 

これには，次の事項を含める。 

− 結合前のコンタクトの高さ 

− 装着されたコンタクトの列 

− 装着されたコンタクトの配列 

g) ターミネーションの基本の形式を示す文字（文字によってその違いを特徴付ける。）。 

次の文字を用いる。 

A 

ねじ 

S 

はんだ 

3 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

C 

圧着 

T 

タブ 

I 

圧接／インシュレーションピアシング 

U 

プラグアップ＋ラッピング 

M 

表面実装 

W 

ラッピング 

P 

プレスイン 

Z 

ターミネーションなし 

R 

プレスイン＋リアプラグアップ 

h) 形名は，個別規格に規定している場合には，耐候性カテゴリによる分類，プリント配線板寸法，コン

タクト仕上げなど，更に多くの情報を含めるために任意に広げてもよい。 

i) 

個別規格に性能水準及び評価水準の違いを規定する場合には，単一の数字及び文字を性能水準 (PL) 

並びに評価水準 (AL) を表すために用いる。数字及び文字は個別規格に規定し，形名の最後の文字と

して含める。 

コンタクト仕上げなど，更に多くの情報を含むために任意に広げてもよい。 

j) 

情報の群分け 

表示a)〜i) は，既存の形式を明確にするために分類する。 

− 基本的な事項           a)，b)，c)，d) 及びe) 

− コンタクト アレンジメント     f) 

− ターミネーション         g) 

− 性能               h) 及びi)  

2.6 

表示 個々のコネクタ及びそれらの包装には，JIS C 5401-1の2.6（表示）に規定する要求事項に従

って表示する。 

3. 品質評価の手順 JIS C 5401-1の3.（品質評価の手順）による。 

4. 試験及び試験計画  

4.1 

一般事項 JIS C 5401-1の4.（試験及び試験計画）による。 

個別規格は，試験順序（この規格に基づく。）及び各試験順序に対応する試料数（4個以上の結合したコ

ネクタ）について規定する。 

個々の類似品 (Variant) は，それらの中で明確に相違する部分の認証のために認証試験に提出する。 

認証が必要なすべての範囲（個別規格に規定する範囲より狭くてもよい。）を代表して選択した試料に対

し，試験する類似品の数は制限してもよいが，各々の機能及び特性を立証しなければならない。 

コネクタは，現在実施している正しい工程に従って，細心かつ，優れた作業方法によって製造されてい

なければならない。 

4.2 

試験手順及び測定方法 関連規格に規定する試験方法は推奨方法であるが，必ずしもこれだけを用

いるということではない。ただし，疑義を生じた場合には，関連規格に規定する試験方法をその基準方法

として用いる。 

他に規定がない場合には，すべての試験は，JIS C 60068-1に規定する標準大気条件の下で実施する。 

また，認証手順が必要であるにもかかわらず代替の方法を採用する場合には，製造業者は，その方法が

規定する方法と同等の結果をもたらすことを，認定機関に納得させる責任を負う。 

4.3 

前処理 コネクタは，個別規格に規定がない場合には，試験する前にJIS C 60068-1に規定する標準

大気条件の下で24時間放置する。 

4.4 

試料の配線及び取付け  

4 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.4.1 

配線 試料の配線が必要な場合，個別規格には，選択した試験方法と合致させるために必要な事項

を規定する。 

4.4.2 

取付け 試験において取付けが必要で，他に規定がない場合には，次のように注意する。コネクタ

は金属板，プリント配線板，又は規定するアクセサリのいずれか適用するものを用いて，個別規格に規定

する通常の取付方法で，固定ジグ及びパネルカットアウトをしっかりと取り付ける。 

4.5 

試験計画 個別規格は，実施すべき試験及び満足すべき要求事項を規定するが，コネクタの種々の

用途に対応するため，試験計画の範囲は，各々の個別規格において異なってもよい。 

基本（最少）試験計画を4.5.1に，全項目試験計画を4.5.2に規定する。 

したがって，この規格の要求事項は，“個別規格に規定する試験が4.5.1に記載した試験を下回ってはな

らない。”ということである。 

大多数のコネクタ形式に対しては，中間試験計画が適切である。これは，全項目試験計画から不必要な

群全部，試験及び／又は供試条件を削除して作成する。 

試験段階番号は，4.5.2のとおり用い，修正してはならない。 

ある試験群において，試験段階の順序が特定の形式又は形状に対して一部適していない場合も同様であ

る。その場合，試験順序（試験後に行う測定ではない。）は，それらの個別規格に対応して変更してもよい。

ただし，試験段階番号は，各試験に対して不変とする。それにより，試験順序の変更が行われても，明ら

かとなる。 

個別規格に，試験及び／又は特定の試験順序を必要とする特性が含まれている場合には，規定の試験又

は追加試験（個別規格の附属書による。）が，試験計画表の適切な場所に設定しなければならない。 

これらの特性は，追加試験群に規定してもよい（試験群HP参照）。 

備考1. コネクタのターミネーションが，無はんだ接続方法を取らなければならない場合は，適切な

試験を試験群GPに規定する。 

2. 個別規格は，適切な基本，中間，又は全項目試験計画を選択しなければならない。 

4.5.1 

基本（最小）試験計画 基本（最小）試験計画が適切な場合には，個別規格は，表1に示す次の試

験を設定し，試験すべき特性及び満足すべき要求事項を明記する。 

表 1 基本試験 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100の

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100の

試験番号 

個別規格の 

要求事項 

1 

一般試験 

外観 
 
寸法及び質量 

1a 

1b 

× 

× 

2.1 

 
 
 

2.2 

結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 

13a 

又は 

13b 

× 

 
 

× 

3 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

4 

絶縁抵抗 

3a 

× 

5 

耐電圧 

3b 

× 

5 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 1 基本試験（続き） 

6.1 

 
 
 

6.2 

はんだ付け 
 
又は 
 
他の適切な 
接続方法 

12 

 
 
 

* 

× 

 
 
 

× 

ターミネーションを
含む 
接触抵抗 

2a又は2b 

× 

注* 

適用する場合，他の適切な接続試験は，全項目試験計画の副群GPのように，例えばJIS C 5402-1-100の試験
及びIEC 60352で該当する規格群の適用可能な部分の試験を追加するか，又は規定する試験と置き換える。 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

4.5.2 

全項目試験計画 全項目試験計画が適切な場合，個別規格は次の試験（表2）を設定し，試験すべ

き特性及び満足すべき要求事項を明記する。 

無はんだターミネーションに対して，IEC 60352の適用可能な部分の試験順序は，全項目試験計画の一

部となる（試験群GP参照）。  

4.5.2.1 

試験群 P−予備試験 すべての試料は，次の試験を行う。 

表 2 試験群 P 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100の

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の

要求事項 

P1 

一般試験 

1 

外観 
 
寸法及び質量検査** 

1a 

1b 

× 

× 

P2* 

極性試験 

13e 

× 

P3 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

P4 

絶縁抵抗 

3a 

× 

P5 

耐電圧 

4a 

× 

注* 

適用する場合 

** IECの部品認証制度 (IECQ) の場合には，部品生産時の検査記録は，IECに規定の国内監督検査機関 [National 

Supervising Inspectorate (NSI)] が認める場合，この要求事項のすべて又は一部と置き換えてもよい。 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

6 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.2 

試験群 AP−動的・耐候性  

表 3 試験群 AP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100の

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

AP1.1 
AP1.2 

結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 

13a 

又は 

13b 

× 

 
 

× 

AP2* 

プローブ 
ダメージ 

16a 

× 

ゲージ保持力 
（弾性コンタクト） 

16e 

× 

AP3.1 

AP3.2 

AP3.3*** 

はんだ付け性 
又は 
はんだ耐熱性 
又は 
別途定義 

12a又は12b 

12d又は12e 

× 

× 

× 

外観 
 
 
 
 

1a 

 
 
 

× 

AP4****  

耐電圧 

4a 

× 

AP5 

インサート内の 
コンタクト保持 

15a 

× 

外観 

1a 

× 

AP6 

バンプ 

6b 

× 

コンタクト 
ディスターバンス 

2e 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP7 

正弦波振動 

6d 

× 

コンタクト 
ディスターバンス 

2e 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP8 

衝撃 

6c 

× 

コンタクト 
ディスターバンス 

2e 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP9** 

加速度（定常） 

6a 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP10 

温度急変 

11d 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

外観 

1a 

× 

注* 

 適用するしないにかかわらず測定を実施する。 

**  適用する場合。 
***  他の適用可能なターミネーション試験は，他の試験順序で実施してもよい。 
**** はんだ試験はコンタクトを装着した状態でだけ実施する。 

備考1. ×印は，規格に規定することを示す。 

2. JIS C 5402-1-100の第14部に規定する試験段階AP6，AP7及びAP8を実施した後，封止（気密性）試験を実

施する。 

7 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 3 試験群 AP（続き） 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100の

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

AP11 

一連耐候性 

11a 

× 

AP11.1 

高温 

11i 

 
 

× 

高温時の 
絶縁抵抗 

3a 

× 

AP11.2 

温湿度サイクル 
最初の1サイクル 
 

11m 

× 

外観 

1a 

× 

AP11.3 

低温 

11j 

× 

外観 

1a 

× 

AP11.4 

減圧 

11k 

× 

耐電圧 

4a 

× 

AP11.5 

温湿度サイクル 
残りのサイクル 

11m 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP12.1 

AP12.2 

結合力及び 
 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 

13a 

又は 

13b 

× 

 
 

× 

AP13 

外観 

1a 

× 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

8 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性  

表 4 試験群 BP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

BP1 

ゲージ保持力 

16e 

× 

BP2 

機械的動作 
（規定の半分の回
数） 

9a 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

極性試験* 

13e 

× 

BP3 

BP3.1 

BP3.2 

BP3.3 

BP3.4 

BP3.5 

BP3.6 

耐候性 
腐食，塩水噴霧 
又は 
混合ガス流腐食 
又は 
一連耐候性 
又は 
高温高湿（定常） 
又は 
温湿度サイクル 
又は 
高温 

11f 

11g 

11a 

11c 

11m 

11i 

× 

× 

× 

× 

× 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

BP4 

機械的動作 
（規定の残りの半分
の回数） 

9a 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

極性試験* 

13e 

× 

BP5** プローブダメージ 

16a 

× 

ゲージ保持力 

16e 

× 

BP6 

静的な力，軸方向 

8b 

× 

外観 

1a 

× 

注* 

適用する場合は，BP2の試験の終りに実施する。 

** 適用するしないにかかわらず測定を実施する。 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

9 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.4 

試験群 CP−耐湿性  

表 5 試験群 CP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

CP1 

高温高湿（定常） 

11c 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

耐電圧 

4a 

× 

結合力及び離脱力 
又は 
挿入力及び引抜力 
外観 

13a 

又は 

13b 

1a 

× 

× 
× 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

4.5.2.5 

試験群 DP−電気的負荷  

表 6 試験群 DP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

DP1 

機械的動作 
（BP2に規定の動
作回数） 

9a 

× 

DP2 

電気的負荷及び温
度 

9b 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

外観 

1a 

× 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

10 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.6 

試験群 EP−機械的特性  

表 7 試験群 EP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

EP1.1 

EP1.2* 

ターミネーション
強度 
又は 
無はんだ接続の 
機械的試験 

16f 

 
 

審議中 

× 

外観 

1a 

× 

 
 
 

× 

EP2 

インサート内のコ
ンタクト保持力 

15a 

× 

外観 

1a 

× 

EP3** 

EP4 

プローブダメージ 

16a 

× 

ゲージ保持力 
絶縁抵抗 

16e 

3a 

× 
× 

EP5*** 

かびの成長 

11e 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

外観 

1a 

× 

EP6 

ニードルフレーム
（注射針バーナ） 

20a 

× 

EP7 

外観 

1a 

× 

注* 

機械的試験は，例えば，JIS C 5402-16-20 試験16t：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション）を適用。 

** 適用する場合，この試験は，この試験群シーケンスの終わりに実施する。 
*** コネクタの製造に使用する材料が，規定の試験をあらかじめ実施し，合格証明を国内監督検査機関に提示可能

な場合は，試験段階 EP5，EP6及びEP7を省略してもよい。 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

4.5.2.7 

試験群 FP−耐薬品性   

表 8 試験群 FP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

FP1 

耐薬品性 

審議中 

× 

FP2.1 
FP2.2 

結合力及び離脱力 
又は 
挿入力及び引抜力 

13a 

又は 

13b 

× 

× 

FP3 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

FP4 

絶縁抵抗 

3a 

× 

FP5 

一般試験 

外観 

1a 

× 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

11 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.8 

試験群 GP−ターミネーション   

表 9 試験群 GP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

GP1 

GP “X” 

IEC 60352及び IEC 60512による接続方式の適切な試験 

無はんだによる接続・接続方式の形態によって，適用する場合，IEC 60352の関係部分からテストシーケ
ンスを選択する。 

備考 コネクタに使用する接続方式が，IEC 60352に規定の試験を既に実施し，合格証明をIECに規定の国内監督検

査機関に提示可能な場合は，試験段階GP1及びGP “X” を省略してもよい。 

4.5.2.9 

試験群 HP−追加   

表 10 試験群 HP 

試験 
段階 

試   験 

測   定 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名 称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

HP1 

提示された試験群及び試験段階がそのコネクタ特有の試験を満足しない場合には，追加の試験を行わなけ
ばならない。新しい試験項目については付記Bに記載する。 

4.5.3 

品質認証試験計画 表11は4.5.1及び4.5.2に規定の試験計画を示す。 

試験する最少試料数，また各副群における最大許容不良品数及び合計の最大許容不良品数は，要求する

評価水準が得られるように選択する［JIS C 5401-1の3.3（品質認証）参照］。 

個別規格には，コネクタの意図した用途にふさわしい最低基準を規定する。 

いかなる場合も，個別規格には表11に示す，より低い水準の合格判定基準を規定しない［JIS C5401-1

の3.4.1（能力の文書化）参照］。 

表 11 品質認証試験 

試験群 

試験 
段階 

基本試験計画 

試験 
段階 

中間試験計画 

試験 
段階 

全項目試験計画 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少試料数 

最大許容 
不良品数 

最少試料数 

最大許容 
不良品数 

P 

P1 
P2* 
P3 
P4 
P5 

20 

0 

P1 
P2* 
P3 
P4 
P5 

20 

× 

P1 
P2* 
P3 
P4 
P5 

20 

× 

試料は，適切な数の群にそれぞれ4個づつ配分する。それに加え試験群FP及びGPに要求する追加試料を配分する。 
各群のすべての試料は，個別規格に従って一つの試験群の試験用として提出する。 

注* 

適用する場合 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

12 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表11 品質認証試験（続き） 

試験群 

試験 
段階 

基本試験計画 

試験 
段階 

中間試験計画 

試験 
段階 

全項目試験計画 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少試料数 

最大許容 
不良品数 

最少試料数 

最大許容 
不良品数 

AP 

AP1.1 

又は 

AP1.2 

4 

0 

AP1.1 

又は 

AP1.2 

4.5によって 
形成する中間 
試験計画 

AP1.1 

又は 

AP1.2 

4 

× 

AP2 
AP3 

NA 

NA 

AP2 
AP3 

AP2 
AP3 

AP4 
AP5* 

4 

0 

AP4 

AP5* 

AP4 
AP5* 

AP6 
AP7 
AP8 
AP9 

AP10 
AP11 

AP12.1 

又は 

AP12.2 

NA 

NA 

AP6 
AP7 
AP8 
AP9 

AP10 
AP11 

AP12.1 

又は 

AP12.2 

AP6 
AP7 
AP8 
AP9 

AP10 
AP11 

AP12.1 

又は 

AP12.2 

BP 

BP1 
BP2 
BP3 
BP4 
BP5* 
BP6 

BP1 
BP2 
BP3 
BP4 
BP5* 
BP6 

BP1 
BP2 
BP3 
BP4 
BP5* 
BP6 

CP 

CP1 

CP1 

CP1 

4 

× 

DP 

DP1 
DP2 

 
 
 
 
 
 
 

NA 

 
 
 
 
 
 

 
 
 
 
 
 
 

NA 

 
 
 
 
 
 

DP1 
DP2 

4.5によって 
形成する中間 
試験計画 
 

DP1 
DP2 

EP 

EP1.1 

又は 

EP1.2 

EP2 

EP3* 

EP4 
EP5 
EP6 
EP7 

EP1.1 

又は 

EP1.2 

EP2 
EP3* 
EP4 
EP5 
EP6 
EP7 

EP1.1 

又は 

EP1.2 

EP2 

EP3* 

EP4 
EP5 
EP6 
EP7 

FP 

FP1 

FP2.1 

又は 

FP2.2 

FP3 
FP4 
FP5 

FP1 

FP2.1 

又は 

FP2.2 

FP3 
FP4 
FP5 

FP1 

FP2.1 

又は 

FP2.2 

FP3 
FP4 
FP5 

** 

× 

注* 

 適用する場合 

**  各液体ごとに一つの試料を使用する。 
NA  適用しない。 

備考 ×印は，個別規格に規定することを示す。 

13 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 11 品質認証試験（続き） 

試験群 

試験 
段階 

基本試験計画 

試験 
段階 

中間試験計画 

試験 
段階 

全項目試験計画 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少 

試料数 

最大許容 
不良品数 

最少 

試料数 

最大許容 
不良品数 

GP 

無はんだ接続は，IEC 60352の関連する規格群の要求事項を満足しなければならない。 

HP 

試験群APからGP以外の追加試験 

許容不良品数の合計 

基本試験計画 

最大  0 

中間試験計画 

最大  × 

全項目試験計画 

最大  × 

4.5.4 

品質確認試験，ロットごと試験 表12は，各検査ロットで実施するロットごと試験を示す。 

記載した評価水準は，最低水準であり，より厳しい水準を個別規格に規定してもよい。 

表 12 ロットごと試験 

検査群 

特 性 

C 5402-1-100

の試験番号 

試験 
段階 

評価水準 

(A) 

評価水準 

(B..G) 

評価水準 

(H) 

IL 

AQL 

IL 

AQL 

IL 

AQL 

A1 

外観 

1a 

P1 

S-3 

1.0 

個別規格の 
規定による 

Ⅱ 

0.1 

 A2* 

寸法 

1b 

P1 

A3 

追加A試験 
（個別規格に規
定する場合） 

B1 

電気的試験 
 
絶縁抵抗 
 
耐電圧 

 
 

3a 

4a 

 
 

P4 

P5 

B2 

機械的試験 
ゲージ保持力 
結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 

16e 
13a 

 
 

又は 

13b 

AP2** 

AP1.1 

 
 

AP1.2 

S-3 

1.0 

S-3 

0.1 

B3 

追加B試験 
（個別規格に規
定する場合） 

記録 

B1，B2からの結果及び適用可能な場合B3からの結果 

注* 

個別規格に規定する結合及び取付けの重要寸法は，IECに規定の国内監督検査機関が認める場合，生産時の検
査記録をこの要求事項の全部又は一部と置き換えてもよい。 

** 適用する場合。 

IL  検査水準（JIS Z 9015-1参照） 
AQL合格品質水準（JIS Z 9015-1参照） 

14 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.5 

品質確認試験，定期試験 表13は，ロットごとに実施した試験の合格品から抜き取ったサンプル

に対して実施する定期試験を含む。選択された試験順序及び期間は，指針として示したものであり，それ

らは個別規格に要求する評価水準によって変更してもよい（JIS C 5401-1の3.1.3.2参照）。 

表 13 定期試験 

検査群 

特 性 

C 5402-1-100

の試験番号 

試験 
段階 

評価水準 

(A) 

評価水準 

(B..G) 

評価水準 

(H) 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

C1 

はんだ付け性，ぬれ 
（ウェッティング）， 
又は 
はんだ付け性，はんだ
はじき（ディウェッテ
ィング） 

12a 

 
 

12c 

1 

* 

× 

個別規格の 
規定による 

1 

* 

× 

C2 

接触抵抗 

2a 

又は 

2b 

P3 

3 

4 

× 

3 

4 

× 

C3 

C3試験 
（個別規格で規定する
場合） 

C4 

はんだ耐熱性 
はんだ槽法 
BP1 ..BP6 
CP1 

12d 

12 

NA 
NA 

4 

NA 
NA 

× 

NA 
NA 

12 

4 

× 

記録 

C1，C2，C3及びC4の結果 

D1 

品質認証維持 
 
結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 
 
耐電圧 
 
AP1 
AP11...AP13 
CP1 

 
 

13a 

 
 

13b 

 
 

4a 

 
 

AP1.1 

 
 

AP1.2 

 
 

AP5 

** 

 
 

4 

 
 

4 

 
 

4 

× 

** 

 
 

4 

 
 

4 

 
 

4 

× 

記録 

全群の結果 

15 

C 5401-3：2005 (IEC 61076-3：1999) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 13 定期試験（続き） 

検査群 

特 性 

C 5402-1-100

の試験番号 

試験 
段階 

評価水準 

(A) 

評価水準 

(B..G) 

評価水準 

(H) 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

D2 

JIS C 5401-1  3.6.2 
（設計検証又は形式
試験）を適用する場合
の 
初期品質試験 
AP1 .. AP13**** 
DP1 .. DP2 
EP1 .. EP7 
FP1 .. FP5 
GP1 .. 
HP1 .. 

** 

 
 
 
 
 
 
 
 

*** 

個別規格の 
規定による 

** 

 
 
 
 
 
 
 
 
 

*** 

記録 

品質認証記録 

注* 

20ターミナル又は，20ターミナルの試験が可能な最少コネクタ数。 

** 

JIS C 5401-1 3.1.3.2参照。 

*** 

各液体ごとに一つの試料を使用する。 

**** 評価水準Aは，AP1及びAP4だけを実施する。試験群APの他の試験には適用しない。 

備考1. 

×印は，個別規格に規定することを示す。 

2. 

p ：周期（月） 

3. 

n ：最少試料数 

4. 

c ：許容不良品数 

5. 

NA ：適用しない 

4.5.6 

長期在庫品の出荷，再検査 入庫されたロットで “b” か月以上の期間在庫のコネクタは出荷前に

次の表14に従って試験を行う。 

再検査の結果で合格となったロットは，その品質は更に “c” か月間有効とみなされる。 

月数b，cは個別規格で規定する。 

表 14 再検査 

試験群 

4.5.2項の 

試験段階 

4.5.2項の要求事項と厳しさによる試験 

又は測定 

C 5402-1-100の試験

番号 

A1 

P1 

外観試験 

1a 

IL： * 

AQL： 

C1 

AP4.1 

はんだ付け性 

12a 

ターミナル数：“d” 
不良品数：“e” ターミナル 

注* 

JIS Z 9015-1に準拠する。 

5. ブランク個別規格，一般事項 ブランク個別規格は，品種別通則の補足をなすものであり，個別規格

の書式，レイアウト及び最少限の内容に関する要求事項を含めることによって，統一した表現とする。 

その内容は，品目別通則又は品種別通則に基づくものであり，かつ，当該コネクタ品種の品質を評価す

るために必要な技術基準の選択肢を示す。 

これらの要求事項を満足しない個別規格は，JISに従ったものと見なされず，またJISに従っていると

規定してはならない。