JISC5402-11-7:2006 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－７部：耐候性試験

C 5402-11-7：2006 (IEC 60512-11-2：2003)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，

工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経

済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって，JIS C 5402-11-7:2002は改正され，この規格に置き換えられる。

改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-7:2003，Connectors for

electronic equipment−Tests and measurements−Part 11-7: Climatic tests−Test 11g: Flowing mixed gas corrosion

testを基礎として用いた。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100 第1-100部：一般―試験一覧による。

C 5402-11-7：2006 (IEC 60512-11-2：2003)

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲及び目的 ············································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 準備 ······························································································································ 2

3.1 供試品の準備 ················································································································ 2

3.2 前処理 ························································································································· 2

4. 試験方法 ························································································································ 2

4.1 初期測定 ······················································································································ 2

4.2 手順 ···························································································································· 2

4.3 最終測定 ······················································································································ 3

5. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 3

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 5402-11-7：2006

(IEC 60512-11-2：2003)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―

第11-7部：耐候性試験―試験11g：混合ガス流腐食

Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 11-7: Climatic tests−

Test 11g: Flowing mixed gas corrosion test

序文この規格は，2003年に第2版として発行されたIEC 60512-11-7，Connectors for electronic equipment

−Tests and measurements−Part 11-7: Climatic tests−Test 11g: Flowing mixed gas corrosion testを翻訳し，技術

的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 適用範囲及び目的この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の電気的な接触又

は接続で，非常に低濃度のガスに汚染された一定の雰囲気での影響を評価するための，標準の試験方法に

ついて規定する。

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 60512-11-7:2003，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 11-7:

Climatic tests−Test 11g: Flowing mixed gas corrosion test (IDT)

2. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その

最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観

備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-1:

General examination−Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。

JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−試験2a：接

触抵抗−ミリボルトレベル法

備考 IEC 60512-2-1:2002，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2a: Contact resistance−Millivolt level

methodが，この規格と一致している。

JIS C 5402-2-2 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-2部：導通及び接触抵抗試験−試験2b：接

C 5402-11-7：2006 (IEC 60512-11-2：2003)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

触抵抗−規定電流法

備考 IEC60512-2-2:2003，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-2:

Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2b:Contact resistance−Specified test

current methodが，この規格と一致している。

JIS C 5402-13-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13-1部：機械的動作試験−試験13a: 結合

力及び離脱力

備考 IEC 60512-13-1:1996，Electromechanical components for electronic equipment; basic testing

procedures and measuring methods ‒ Part 13: Mechanical operating tests ‒ Section 1: Test 13a:

Engaging and separating forcesが，この規格と一致している。

JIS C 60068-2-60 環境試験方法−電気・電子−混合ガス流腐食試験

備考 IEC 60068-2-60:1995，Basic environmental testing procedures ‒ Part 2:Tests ‒ Test Ke: Flowing

mixed gas corrosion testが，この規格と一致している。

3. 準備

3.1

供試品の準備標準のアクセサリを備えた供試品を個別規格に従って取り付け，配線する。個別規

格で要求する場合には，供試品を試験前に規定回数，挿入及び引抜きを行う。各試験を行うために，個別

規格には，コネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。

3.2

前処理前処理は，個別規格の要求事項に従って行う。

4. 試験方法

4.1

初期測定個別規格で要求する場合には，規定する初期測定は，前処理後直ちに標準大気条件下で

行う。

4.2

手順試験方法及び試験期間は，個別規格に規定する。

試験の厳しさは，次の項目によって定義する。

−表1から選択する試験方法：この表は，JIS C 60068-2-60の試験Keによる。

−試験期間；推奨期間は，4日間，7日間，10日間，14日間及び21日間とする。

試験方法及び試験期間を選択するためのガイド並びに試験装置に関する事項は，JIS C 60068-2-60によ

る。

試験期間中，試料には電気的負荷を加えない。

C 5402-11-7：2006 (IEC 60512-11-2：2003)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表1 試験の厳しさ

パラメータ

試験方法1

試験方法2

試験方法3

試験方法4

H2S(10-9vol/vol)

100±20

10±5

100±20

10±5

NO2(10-9vol/vol)

200±50

Cl2(10-9vol/vol)

10±5

20±5

10±5

SO2(10-9vol/vol)

500±100

200±20

温度 ℃

25±1

30±1

25±1

相対湿度％RH

75±3

70±3

75±3

換気回数 / h

3〜10

銅試験片の質量増加
[mg/(dm2×日)]

1.0〜2.0

0.3〜1.0

1.2〜2.2

1.2〜2.4

使用ガスによって起こり得る毒性の影響に注意する。

4.3

最終測定供試品は，次の試験を行い，個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

a) 接触抵抗は，JIS C 5402-2-1又はJIS C 5402-2-2による（適用する場合）

b) 結合力及び離脱力は，JIS C 5402-13-1による（適用する場合）

c) 外観は，JIS C 5402-1-1による

5. 個別規格に規定する事項個別規格には，次の事項を規定する。

a) 供試品の取付方法及び配線方法

b) 結合又は非結合の条件

c) 試験を開始する前に行う前処理の時間，挿入及び引抜き回数

d) 適用する試験方法

e) 試験期間

初期測定

g) 適用する接触抵抗の試験方法

h) 適用する機械的動作試験

最終測定に対する要求事項

この試験方法との相違