C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
コンデンサの識別 ················································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 2
1.0 適用範囲 ······················································································································ 2
1.1 推奨する取付方法 ·········································································································· 2
1.2 寸法 ···························································································································· 2
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 3
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 4
1.8 追加情報（非検査目的） ································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 4
2 検査要求事項 ··················································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)か
ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1
第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS C 5101-3-1
第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1
第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4-2
第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1
第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1
第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18
第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解チップコンデ
ンサ
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（MnO2）電解チップコンデンサ
評価水準E
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-20
第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-25
第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
白 紙
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-24-1：2009
(IEC 60384-24-1：2006)
電子機器用固定コンデンサ−
第24-1部：ブランク個別規格：
表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment−
Part 24-1: Blank detail specification−
Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors
with conductive polymer solid electrolyte−Assessment level EZ
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 60384-24-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。
ブランク個別規格
この規格は，品種別通則JIS C 5101-24の補足規格で，個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規
定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみ
なし，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5101-24の1.4に基づいて作成する。個別規格の最初のページとなるこの規格の2ペ
ージの表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の事項と対応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議（IEC）の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び西暦
年
(3) 品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又はIEC規格番号，版及び西暦年
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
(7) 互換性の上で，重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
図は，個別規格の附属書としてもよい。
2
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会
(1)
個別規格番号
(2)
例 電子機器用固定コンデンサ
(3)
第1部：品目別通則
JIS C 5101-1:1998
JIS C 5101-24-1（ブランク個別規格）
(4)
個別規格の名称
(5)
例 表面実装用固定タンタル
固体（導電性高分子）電解コンデンサ
構造の説明
(6)
外形図（表1参照）
(7)
（第三角法）
評価水準EZ
(8)
注記 (1)〜(8)：個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は，品質認証書（Qualification
approval certificate）に示されている。*
(9)
注記 コンデンサの識別を参照
注*
この記載は，IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合に適用する。
1
一般事項
1.0
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-24を品種別通則とするブランク個別規格で，表面実装用固定タンタル固体（導
電性高分子）電解コンデンサの評価水準EZについて規定する。
注記1 この規格は，コンデンサの特性について規定するものであるが，その特性にかかわる規定は，
設計の目標値を示すものであり，この規格によって適合性評価を行うことは，意図していない。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-24-1:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 24-1: Blank detail
specification−Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive polymer
solid electrolyte−Assessment level EZ (IDT)
なお，対応の程度を表す記号（IDT）は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，一致しているこ
とを示す。
1.1
推奨する取付方法
推奨する取付方法は，JIS C 5101-24の1.4.2による。
1.2
寸法
外形寸法記号及び寸法を，表1に示す。
表1−外形寸法記号及び寸法
外形寸法記号
寸法 mm
L
W
H
注記1 外形寸法記号がない場合は，この表1を削除し，寸法を表2に記載して，それを表1とする。
注記2 寸法は，最大寸法又は公称寸法，及びその許容差で表す。
3
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
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1.3
定格及び特性
定格静電容量範囲（表2による。）
定格静電容量許容差
定格電圧（表2による。）
カテゴリ電圧（表2による。）
耐候性カテゴリ
定格温度
静電容量の温度変動（表3による。）
損失角の正接（表3による。）
漏れ電流（表3による。）
等価直列抵抗（表3による。）
サージ電圧（表2による。）
表2−外形寸法に関連する静電容量及び電圧値
定格電圧
V
カテゴリ電圧
V
サージ電圧
V
定格温度
カテゴリ
上限温度
定格静電容量
μF
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
外形寸法記号
表3−特性
外
形
寸
法
UR
V
CR
μF
容量変化率
％
最大値
損失角の正接
tan δ
120 Hz
漏れ電流
μA
等価直列抵抗
mΩ
100 kHz
−55
℃
定格
温度
カテゴ
リ上限
温度
−55
℃
20
℃
定格
温度
カテゴ
リ上限
温度
20
℃
定格
温度
カテゴ
リ上限
温度
20 ℃
1.4
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）には適用しない。
JIS C 5101-24:2009 電子機器用固定コンデンサ−第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固
体（導電性高分子）電解コンデンサ
4
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
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注記 対応国際規格：IEC 60384-24:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 24:
Sectional specification−Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive
polymer solid electrolyte及びCorrigendum 1:2006 (IDT)
1.5
表示
コンデンサの本体及び包装の表示は，品種別通則JIS C 5101-24の1.6による。
注記 コンデンサ本体及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定することが望ましい。
1.6
発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって少なくとも，次の項目を
含む。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格に記載の番号及び版並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書の要求の有無を，記載する。
1.8
追加情報（非検査目的）
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に，記載する。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は，表4による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表4−その他の特性
この表は，品種別通則JIS C 5101-24の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用する。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順は，JIS C 5101-24の3.4による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画（表5）は，抜取方法，周期，厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの
構成は，品種別通則JIS C 5101-24の3.5.1による。
5
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)又
はND
b)
試験条件a)
試料数及び
合格判定数b)
要求性能a)
IL
n
c
群A検査（ロットごと）
副群A0
4.18 大電流サージ
（個別規格に規定が
ある場合）
4.5.1 漏れ電流
4.5.2 静電容量
4.5.3 損失角の正接
（tan δ）
4.5.4 等価直列抵抗
（ESR）
（個別規格に規定が
ある場合）
ND
保護抵抗：1 000 Ω
周波数：120 Hz
周波数：120 Hz
周波数：100 kHz
100 ％ c)
表3による。
規定する許容差以内
表3による。
表3による。
副群A1
4.4 外観検査
ND
S-3
d)
0
4.4.2による。
明りょうな表示及び個別規格
の規定による。
副群A2
4.4 寸法（詳細）e)
ND
S-3
d)
0
この規格の表1の規定による。
群B検査（ロットごと）
4.7 はんだ付け性
4.7.1 試験
4.7.2 最終測定
D
個別規格の試験方法による。
外観検査
S-3
d)
0
4.7.2による。
群C検査（定期的）
副群：C1
4.6 はんだ耐熱性
4.6.1 初期測定
4.6.2 試験
4.6.3 最終測定
D
静電容量
試験方法：．．．
時間：．．．s
リフロープロファイル：．．．
後処理時間：24 h±2 h
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
等価直列抵抗（ESR）
（個別規格に規定がある場合）
p
n
c
3
12
0
f)
比較用に使用する。
4.6.3による。
表3による。
個別規格の規定による。
表3による。
個別規格の規定による。
副群：C2
4.9 耐プリント板
曲げ性
4.9.1 初期測定
4.9.3 最終測定
D
静電容量
静電容量（プリント配線板を曲
げた状態）
3
12
0
f)
比較用に使用する。
個別規格の規定による。
6
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)又
はND
b)
試験条件a)
試料数及び
合格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
副群：C3
4.3 取付け
4.3.1 初期測定
4.3.3 最終測定
D
プリント配線板の材質：．．．
静電容量（4.5.2での測定値を用
いてもよい）
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
等価直列抵抗（ESR）
（個別規格に規定がある場合）
g)
外観に損傷がない。
表3による。
|∆C/C| ≦8 ％
表3による。
個別規格の規定による。
副群：C3.1
4.8 固着性
4.10 温度急変
4.10.1 初期測定
4.10.2 試験
4.10.3 最終測定
4.11 一連耐候性
4.11.1 初期測定
4.11.2 高温
4.11.3 温湿度サイク
ル（試験Db），最初の
サイクル
4.11.4 低温
4.11.5 温湿度サイク
ル（試験Db），残りの
サイクル
4.11.6 最終測定
外観検査
静電容量（群3での測定値を用
いてもよい）
TA：カテゴリ下限温度
TB：カテゴリ上限温度
回数：5回
試験期間t1＝30分
後処理時間：1 h〜2 h
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
静電容量（4.10.3での測定値を
用いてもよい）
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16 h
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2 h
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
6
18
0
f)
外観に損傷がない。
表3による。
4.10.1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦10 ％
表3による。
外観に損傷がなく，表示は明
りょうとする。
表3による。
4.11.1の測定値に対して
|ΔC/C| ＜20 ％
表3の規定値の1.2倍以下
7
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)又
はND
b)
試験条件a)
試料数及び
合格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
副群：C3.2
4.12 高温高湿（定常）
4.12.1 初期測定
4.12.3 最終測定
D
後処理時間：1 h〜2 h
静電容量（群3での測定値を用
いてもよい）
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
6
12
0
f)
外観に損傷がなく，表示は明
りょうとする。
初期規定値の5倍以下
4.12.1の測定値に対して
−20 ％≦ΔC/C≦40 ％
表3の規定値の1.2倍以下
副群：C3.3
4.13 高温及び低温特
性
D
コンデンサは，各段階温度で測
定する。
段階1：20 ℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量
（適用する場合）
損失角の正接（tan δ）
（適用する場合）
段階3：20 ℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
段階4：定格温度
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
段階5：カテゴリ上限温度
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
段階6：20 ℃
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
6
15
0
f)
表3による。
比較用に使用する。
表3による。
表3による。
表3による。
表3による。
段階1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦5 ％
表3による。
表3による。
表3による。
表3による。
表3による。
表3による。
表3による。
段階3による。
段階3による。
段階3による。
8
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D b)又
はND
b)
試験条件a)
試料数及び
合格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
副群：C3.3（続き）
4.14 サージ
4.14.3 最終測定
D
サイクル数：1 000回
温度：．．．℃
印加電圧：1.15 UR
保護抵抗：1 000 Ω
充電時間：30 s
無負荷時間：5 min 30 s
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
6
15
0
f)
外観に損傷がない。
表3による。
4.13の段階6の測定値に対し
て
|ΔC/C| ＜20 ％
表3の規定値の1.5倍以下
副群：C3.4
4.15 耐久性
4.15.1 初期測定
4.15.3 最終測定
D
試験時間：1 000 h
試験温度：．．．℃
印加電圧：．．．V
後処理時間：1 h〜2 h
静電容量
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
等価直列抵抗（ESR）
（個別規格に規定がある場合）
3
24
0
f)
外観に損傷がなく，表示は明
りょうとする。
表3の規定値の2倍以下
4.15.1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦20 ％
表3の規定値の1.5倍以下
表3の規定値の2倍以下
副群：C3.5
4.19 高温貯蔵
4.19.1 初期測定
4.19.3 最終測定
D
温度：カテゴリ上限温度
時間：96 h±4 h
後処理時間：16 h以上
静電容量（群3での測定値を用
いてもよい）
外観検査
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tan δ）
6
12
0
f)
外観に損傷がない。
表3の規定値の5倍以下
4.19.1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦10 ％
表3による。
9
C 5101-24-1：2009 (IEC 60384-24-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質確認検査の試験計画（続き）
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は，品種別通則JIS C 5101-24及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は，次による。
p：周期（月単位），n：試料数，c：合格判定数（許容不適合数），
D：破壊試験，ND：非破壊試験，IL：検査水準
c) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に，抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する。
d) 検査水準及び合格品質水準は，JIS C 5101-24の3.5.4による。
e) 製造業者が，管理限界を超えるコンデンサを取り除くため，寸法測定に統計的工程管理（SPC）又はその他
の仕組みを取り入れている場合は，この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
f) 不適合品が1個発生した場合，新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い，新たな不適合品が発生
しないとき合格とする。再試験の間，製品の出荷は継続してもよい。
g) 取付けで不適合となったコンデンサは，不適合数の計算には入れない。不適合のコンデンサは，予備のコン
デンサと交換する。