C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 2
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 5
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 5
2.1 推奨特性 ······················································································································ 5
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 5
3 品質評価手順 ··················································································································· 6
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 6
3.2 構造的に類似なコンデンサ······························································································· 6
3.3 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 7
3.4 品質認証 ······················································································································ 7
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 15
4 試験及び測定方法 ············································································································ 17
4.1 外観及び寸法 ··············································································································· 17
4.2 電気的試験 ·················································································································· 17
4.3 端子強度 ····················································································································· 20
4.4 はんだ耐熱性 ··············································································································· 20
4.5 はんだ付け性 ··············································································································· 20
4.6 温度急変 ····················································································································· 20
4.7 振動 ··························································································································· 21
4.8 バンプ ························································································································ 21
4.9 衝撃 ··························································································································· 21
4.10 一連耐候性 ················································································································· 22
4.11 高温高湿（定常） ········································································································ 23
4.12 耐久性 ······················································································································· 23
4.13 充放電 ······················································································································· 24
4.14 部品の耐溶剤性 ··········································································································· 25
4.15 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 25
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
（2）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報
技術産業協会 (JEITA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 5101-17 : 2000は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4-2 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
（3）
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JIS C 5101-15
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及び EZ
JIS C 5101-18
第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデ
ンサ
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ
評価水準E
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-20
第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ（予定）
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ 評価水準EZ（予定）
JIS-C-5101-25
第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ（予定）
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS-C-5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ 評価水準EZ（予定）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-17：2009
(IEC 60384-17：2005)
電子機器用固定コンデンサ−
第17部：品種別通則：
固定メタライズドポリプロピレンフィルム
交流及びパルスコンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 17 : Sectional
specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse
capacitors
序文
この規格は，2005年に第2版として発行されたIEC 60384-17を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電子機器用固定メタライズドポリプロピ
レンフィルム交流及びパルスコンデンサ（以下，コンデンサという。）について規定する。この規格の対象
は，誘電体がポリプロピレンでその上にメタライズドした電極をもつ固定コンデンサである。
注記1 はく電極及びメタライズド電極の両方をもつコンデンサにも，この規格を適用する。
このコンデンサは，使用条件によっては，“自己回復作用”を生じる場合がある。
この規格は主に交流電圧及び／又はパルスで使用し，最大無効電力10 000 varで，最大ピーク電圧3 000
Vのコンデンサに適用する。また，50 Hzの場合は，最大ピーク電圧2 500 Vとして無効電力500 varを超
えるコンデンサには適用しない。ただし，最大値が500 varを超えても無効電力の大部分が500 var以下の
場合には適用する。
この規格は，静電容量が20 μFを超えるコンデンサには適用しない。
このコンデンサは二つの性能等級があり，等級1は長寿命用，等級2は一般用である。
電磁障害防止用コンデンサは，この規格の適用範囲外であり，JIS C 5101-14を適用する。
感電防止用コンデンサ（IEC 60065に規定）並びに電動機用及び蛍光灯用コンデンサも，この規格の適
用範囲外である。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-17 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 17 : Sectional
specification: Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors (IDT)
2
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを
示す。
1.2
目的
この規格の目的は，この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1
から適切な品質評価手順と試験方法及び測定方法とを選定し，一般的要求性能を規定することである。
この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格と同等か又は高
い水準とする。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5063 : 1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063 : 1963，Preferred number series for resistors and capacitors 並びに
Amendment 1 : 1967 及び Amendment 2 : 1977 (IDT)
JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1 : 1982，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :
Generic specification 並びにAmendment 2 : 1987，Amendment 3 : 1989 及びAmendment 4 : 1992
(MOD)
なお，JIS C 5101-1 : 1998は，対応国際規格：IEC 60384-1 : 1999 Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1 : Generic specification の最新版として制定されておらず，該当す
る事項の項番は，JIS C 5101-1の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する
項番に相違がある場合は，IEC 60384-1 : 1999の項番を注記に示す。
JIS C 5101-17-1 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズ
ドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
注記 対応国際規格：IEC 60384-17-1 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part
17-1 : Blank detail specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse
capacitors−Assessment levels E and EZ (IDT)
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法―電気・電子―通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1 : 1988，Environmental testing. Part 1 : General and guidance及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS Z 8601 : 1954 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3 : 1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410 : 1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は，JIS C 5101-1（品目別通則），この
規格及びブランク個別規格（JIS C 5101-17-1）の要求性能よりも低い水準の内容を規定してはならない。
より厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，試験計画の中に，例
3
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
えば，アステリスク (＊) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
各個別規格には次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，すべての寸法値は，
ミリメートル (mm) で規定する。
寸法は，本体の長さ，幅及び高さ並びに端子間隔とする。円筒形の場合は，本体の直径及び長さ，並び
に端子の長さ及び直径を規定する。“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”のように幾つか
の組合せを個別規格に規定する場合は，必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合には，個別規格の中にその旨を明記する。
1.4.2
取付け
個別規格に，通常使用する場合の取付方法並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方
法を規定する。コンデンサは，その規定した方法で取り付ける。コンデンサの設計上特別な取付具を必要
とする場合には，個別規格にその取付具を規定し，振動及びバンプ又は衝撃の各試験には，この取付具を
使用する。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.3.1
定格静電容量範囲
定格静電容量の範囲は，2.2.1による。
注記 IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるとき，次の文章を追加する。
“各定格電圧での定格静電容量の範囲は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2
正弦波電流（適用する場合）
個別規格には，70 ℃を基準温度とした温度に対する正弦波電流の軽減曲線並びに周波数に対する正弦
波電流の軽減曲線及び静電容量に対する正弦波電流の軽減曲線を規定する。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
1.4.3.3
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合には，追加の規定をしてもよい。
1.4.3.4
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法，厳しさ及び要求性能は，個別規格の規定による。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合に
は，その事項を個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義はJIS C 5101-1によるほか，次による。
1.5.1
性能等級 (performance grades)
コンデンサの特性に関する安定性を表す区分。
4
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 性能等級1と性能等級2とによって区分する。
1.5.1.1
性能等級1のコンデンサ（長寿命用）[performance grade 1 capacitors (long life)]
長期間にわたって特性が安定であることが必要なコンデンサ。
1.5.1.2
性能等級2のコンデンサ（一般用）[performance grade 2 capacitors (general purpose)]
一般に広く使用されているコンデンサで，性能等級1のコンデンサのような高い性能水準を必要としな
いコンデンサ。
1.5.2
安定性等級 (stability grade)
耐候性試験，機械的試験及び耐久性試験の後の静電容量の安定度を規定する等級。
注記 性能等級及び安定性等級は，個別規格に規定する。
1.5.3
性能等級及び安定性等級の組合せ (performance grade and stability grade combinations)
（安定性等級を交流用及びパルスコンデンサに適用する場合）
表1に性能等級と安定性等級との組合せ（推奨記号）を示す。
表1−推奨記号
性能等級
安定性等級
組合せ記号（等級）
1
1
1.1
2
1.2
2
−
2
性能等級と安定性等級との三つの組合せには，静電容量の安定性と誘電正接 (tanδ) の値とに相違がある。
三つの組合せの等級の相違点を，表4に示す。
1.5.4
定格電圧 (rated voltages) (UR)
定格温度でコンデンサに連続的に印加できる最大電圧。直流，交流又はパルスのいずれかで規定する。
注記 コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧とのピーク値又はパルス電圧のピーク値との和は，
定格電圧以下を超えてはならない。種々の周波数に対する許容ピーク交流電圧値は，検討中で
ある。
1.5.4.1
定格直流電圧 (rated d.c. voltage)
定格温度でコンデンサに連続的に印加できる直流電圧の最大値。
1.5.4.2
定格交流電圧 (rated a.c. voltage)
定格温度及び規定の周波数でコンデンサに連続的に印加できる最大交流電圧の実効値。
1.5.4.3
定格パルス電圧 (rated pulse voltage)
定格温度及び規定の周波数でコンデンサに連続的に印加できるパルス電圧のピーク値。
5
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.5.5
定格電圧パルスこう（勾）配 (dU)/(dt)R [rated voltage pulse slope (dU)/(dt)R]（適用する場合）
定格温度で著しい温度の増加を生じないような反復周波数でのパルス電圧こう配dU/dtの最大許容値。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
1.6
表示
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
1.6.1
表示事項は，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順とする。
a) 定格静電容量
b) 定格交流電圧及び／又はパルス電圧（交流電圧記号a.c.は，記号 〜で表してもよい。），周波数50 Hz
と異なる場合の周波数。
c) 定格静電容量の許容差
d) 定格電圧パルスこう配（適用する場合）
e) 定格電流及び周波数（適用する場合）
f)
製造年月（又は年週）
g) 製造業者名又はその商標
h) 耐候性カテゴリ
i)
製造業者の形名
j)
引用個別規格
1.6.2
コンデンサの本体には，1.6.1のa)，b) 及びc) 並びに必要とする項目をできるだけ多く明りょうに
表示する。また，コンデンサの表示内容の重複は，避けることが望ましい。
1.6.3
コンデンサの包装には，1.6.1のすべての事項を明りょうに表示する。
1.6.4
表示を追加する場合には，混乱しないように行う。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する値は，次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは，JIS C 60068-1 の8.（部品耐候性カテゴリ）によっ
て分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃
カテゴリ上限温度：＋70 ℃，＋85 ℃，＋100 ℃及び＋105 ℃
高温高湿（定常）の試験期間：4日，10日，21日及び56日
低温及び高温の試験温度は，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
注記 高温高湿（定常状態）の試験条件は，温度40 ℃，相対湿度90 %〜95 %である。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格静電容量 (CR)
定格静電容量の推奨値は，JIS C 5063に規定するE6，E12，E24，E48及びE96の標準数列並びにそれら
の10n倍（×10n，nは整数）から選定する。
6
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.2
定格静電容量の許容差
定格静電容量の許容差の推奨値は，次による。
±20 %，±10 %，±5 %，±2 %及び±1 %
2.2.3
定格静電容量及びその許容差
定格静電容量で適用した標準数列と定格静電容量の許容差との相関は，表2による。
表2−標準数列と定格静電容量の許容差との相関
標準数列
許容差
許容差の記号
E6
±20 %
M
E12
±10 %
K
E24
± 5 %
J
E48
± 2 %
G
E96
± 1 %
F
2.2.4
定格交流電圧（URa.c.又はUR〜）
個別規格で高い周波数の規定がない場合には，定格交流電圧で用いる周波数は，50 Hz又は60 Hzとす
る。
定格交流電圧（実効値）の推奨値は，JIS Z 8601のR10又はR20の標準数列及びそれらの10n倍（×10n，
nは整数）から選定する。
個別規格には，定格温度を超える温度に対する許容実効電圧の軽減曲線を規定する。
適用する場合は，周波数に対する許容実効電圧の軽減曲線も規定する。
2.2.5
カテゴリ交流電圧（UC a.c.又はUC〜）
カテゴリ交流電圧は，カテゴリ上限温度が85 ℃以下の場合には，定格交流電圧 (URa.c.) と同一である。
カテゴリ上限温度が 85 ℃を超える場合には，定格交流電圧 (UR〜) の0.7 倍とする。
2.2.6
定格温度
定格温度は，カテゴリ上限温度が85 ℃以上の場合には，70 ℃とし，カテゴリ上限温度が70 ℃未満の
場合には，カテゴリ上限温度と同じとする。
注記 交流定格温度は，直流定格温度より15 ℃低い。
2.2.7
定格交流電流（個別規格に規定がある場合）
個別規格には，次の事項を規定する。
− 周波数
− 規定周波数で適用する定格交流電流の実効値（R10又はR20の標準数列から選定した値）
− 周囲温度に対する許容交流電流の軽減曲線
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ生産工程及び材
料で製造されたコンデンサとする。
7
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合には，JIS C 5101-1の3.5.1（出荷対象
ロットの成績証明書）によって，出荷対象ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求性能は，
静電容量の変化，誘電正接 (tanδ) 及び絶縁抵抗とする。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.5.1は，IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4
品質認証
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1の3.4（品質認証手順）による。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.4は，IEC 60384-1 : 1999の3.5と同等である。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証の試験計画は，この規格の3.5の規定による。定
数抜取手順は，次の3.4.1，3.4.1.1及び3.4.1.2の規定による。
3.4.1
定数抜取手順に基づく品質認証
3.4.1.1
抜取方法
定数抜取手順は，JIS C 5101-1の3.4.2 b) の規定による。試料は，認証を得ようとするコンデンサのす
べての範囲を代表するものとし，個別規格に規定するすべての範囲，又はその一部でもよい。
注記1 JIS C 5101-1 : 1998の3.4.2 b) は，IEC 60384-1 : 1999の3.5.3 b) と同等である。
抜き取る試料は，最低及び最高の定格電圧のものと，それぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静
電容量のものとする。定格電圧が4種類を超える場合は，中間の定格電圧のものも追加して試験する。こ
のように一つの認証範囲の試験には，4組合せ（定格静電容量と定格電圧との組合せ）又は6組合せのも
のを試料とする。認証範囲からの試料が，4組合せ未満の場合には，試料数は4組合せの場合と同数とす
る。
予備試料は，次による。
a) 群“0”での許容不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
群“0”に規定する試料数は，すべての群の試験を適用する場合の試料数であり，すべての試験を適用し
ない場合には，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群“0”の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数並びに合格判定数を，表3及び表3Aに示す。
注記2 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
3.4.1.2
試験（評価水準Eの場合）
表3及び表4に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群“0”の試験を行った後に，その他の群に配分する。
群“0”の試験中に発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても“不適合品数は1個”と数える。
品質認証は，各群又は各副群での不適合数が合格判定数以下で，かつ，不適合数の合計が総合格判定数
を超えない場合に，合格とする。
注記 表3及び表4は，定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表3は，各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表4は，箇条4の試験の詳細
と併せ，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試験方法，
試験条件などを規定している。
8
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する
品質確認検査と同じとする。
表3−品質認証試験の抜取試験計画及び合格判定数−評価水準E
群 番号
試験項目
この規格
試料数 (n) 及び合格判定数 (c)
の細分
1組合せc)
4組合せc)以下に対する試験
6組合せc)に対する試験
箇条番号
につき
n
4n
c
c合計
6n
c
c合計
0
外観
4.1
表示
1.6
寸法
4.1
静電容量
4.2.2
誘電正接 (tan δ)
4.2.3
29
116
2 b)
174
3 b)
耐電圧
4.2.1
(＋5) e)
(＋20 )e)
(＋30 )e)
絶縁抵抗
4.2.4
(＋5) e)
(＋20 )e)
(＋30 )e)
インダクタンスe)
4.2.5
封止e)
予備試料
2
8
12
1A 端子強度
4.3
はんだ耐熱性
4.4
3
12
1
18
1
部品の耐溶剤性
4.14
1B
はんだ付け性
4.5
表示の耐溶剤性
4.15
温度急変
4.6
6
24
1
36
2b)
振動
4.7
バンプ又は衝撃a) 4.8又は4.9
1
一連耐候性
4.10
9
3 6
2
4
54
3
6
2
高温高湿（定常）
4.11
5
2 0
1
3 0
2 b)
3
50 Hz又は60 Hz
の交流電圧によ
る耐久性
4.12.1
1 0
4 0
3 b)
6 0
4 b)
正弦波電流又は
正弦波電圧によ
る耐久性e)
4.12.2
(＋ 5)
(＋2 0)
1 b)
(＋3 0)
2 b)
パルスによる耐
久性e)
4.12.3
(＋ 5)
(＋2 0)
1 b)
(＋3 0)
2 b)
4
温度特性e)
4.2.6
5
2 0
1
3 0
2
充放電d)
4.13
注a) 個別規格の規定による。
b) 1組合せで1個を超える不適合があってはならない。
c) 定格電圧と定格静電容量との組合せは，3.4.1による。
d) パルスによる耐久性を適用する場合は，この試験を適用しない。
e) 個別規格に規定がある場合に適用する。
9
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.4.1.2A 試験（評価水準EZの場合）
表3A及び表4に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であ
り，各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群“0”の試験を行った後に，その他の群に配分する。
群“0”の試験中に発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても“不適合品数は1個”と数える。
品質認証は，各群又は各副群での不適合数が合格判定数以下で，かつ，不適合数の合計が総合格判定数
を超えない場合に，合格とする。
表3A−品質認証試験の抜取試験計画及び合格判定数−評価水準EZ
群番号
試験項目
この規格の細分箇条
番号
試料数
nb)
合格判定数
c
0
外観
表示
寸法
静電容量
誘電正接 (tanδ)
耐電圧
絶縁抵抗
インダクタンスa)
封止a)
4.1
1.6
4.1
4.2.2
4.2.3
4.2.1
4.2.4
4.2.5
120
(＋12)d)
(＋12)d)
0
予備試料
12
1 1A
端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性a)
4.3
4.4
4.14
12
0
1B
はんだ付け性
表示の耐溶剤性a)
温度急変
振動
バンプ又は衝撃a)
4.5
4.15
4.6
4.7
4.8又は4.9
24
0
一連耐候性
4.10
36
0
2
高温高湿（定常）
4.11
24
0
3
50 Hz又は60 Hzの交流電圧による耐久性d)
正弦波電流又は正弦波電圧による耐久性d)
パルスによる耐久性d)
4.12.1
4.12.2
4.12.3
36
(＋12)d)
(＋12)d)
0
0
0
4
温度特性 a)
充放電 c)
4.2.6
4.13
24
0
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格電圧と定格静電容量との組合せは，3.4.1による。
c) パルスによる耐久性を適用する場合は，この試験を適用しない。
d) 個別規格に規定がある場合に適用する。
10
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n) 及び
合格判定数 (c)
要求性能a)
群0
4.1 外観
4.1 寸法（詳細）
4.2.2 静電容量
4.2.3 誘電正接 (tan δ)
4.2.1 耐電圧
4.2.4 絶縁抵抗
4.2.5 インダクタンス
（適用する場合）d)
封止（適用する場合）d)
ND
周波数：1 kHz
方法は，個別規格の規定によ
る。
方法は，個別規格の規定によ
る。
方法は，個別規格の規定によ
る。
表3又は
表3Aによる。
4.1による。
表示は明りょうとする。その他は
個別規格の規定による。
個別規格の規定による。
規定の許容差による。
4.2.3.2による。
絶縁破壊又はフラッシオーバが
ない。
4.2.4.2による。
インダクタンス：≦…mH
（個別規格の規定による。）
含浸剤の漏れ又は有害なケース
の変形がない。
群1A
4.3.1 初期測定
4.3 端子強度
4.4 はんだ耐熱性
4.14 部品の耐溶剤性
（適用する場合）d)
4.4.2 最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)：
CR＞1 µF：1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
外観
初期乾燥なし
方法は，個別規格の規定によ
る。（1A又は1B）
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法2
後処理時間：…
外観
静電容量
誘電正接（tan δ）
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がない。
個別規格の規定による。
外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
4.3.1 の測定値に対する|ΔC/C|は，
等級1.1：≦1 %
等級1.2：≦2 %
等級2 ：≦3 %
tan δの増加は4.3.1の測定値に対
して
CR≦1 µF
等級1.1：≦0.001
等級1.2：≦0.002
等級2 ：≦0.004
CR＞1 µF：個別規格の規定によ
る。
11
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n) 及び
合格判定数 (c)
要求性能a)
群1B
4.5 はんだ付け性
4.15 表示の耐溶剤性
（適用する場合）d)
4.6.1 初期測定
4.6 温度急変
4.7 振動
4.7.2 最終測定
4.8 バンプ（又は4.9
衝撃）
4.9 衝撃（又は4.8バ
ンプ）
4.8.3又は4.9.3 最終測
定
D
エージングは行わない。
方法は個別規格の規定によ
る。
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理時間：…
静電容量
誘電正接（tan δ）
CR＞1 µF：1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5 サイクル
時間t1＝30 min
外観
取付方法は，個別規格の規定
による。
手順B4
周波数範囲：…Hz〜…Hz
振幅0.75 mm又は，加速度
100 m/s2
（いずれか緩い方）
合計時間：6 h
外観
取付方法は，個別規格の規定
による。
バンプ回数：…回
ピーク加速度：…m/s2
作用時間：…ms
取付方法は，個別規格の規定
による。
バンプ回数：…回
ピーク加速度：…m/s2
作用時間：…ms
外観
静電容量
表3又は
表3Aによる。
端子にはんだが良好に付着して
いるか又ははんだ小球法の場
合…s以内にはんだが流れる。
表示は明りょうとする。
外観に損傷がない。
外観に損傷がない。
外観に損傷がない。
4.6.1 の測定値に対する
|ΔC/C| は，
等級1.1：≦1 %
等級1.2：≦2 %
等級2 ：≦3 %
12
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n) 及び
合格判定数 (c)
要求性能a)
4.8.3又は4.9.3 最終測
定
D
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
tan δの増加は4.6.1の測定値に対
して
CR≦1µF
等級1.1：≦0.001
等級1.2：≦0.002
等級2 ：≦0.004
CR＞1µF：個別規格の規定によ
る。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群1
4.10 一連耐候性
4.10.2 高温
4.10.3 温湿度サイク
ル（12＋12時間サイ
クル），最初のサイク
ル
4.10.4 低温
4.10.5 減圧（個別規格
に規定がある場合）
4.10.5.3 中間測定
4.10.6 温湿度サイク
ル（12＋12時間サイ
クル），残りのサイク
ル
4.10.6.2 最終測定
D
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
圧力：8 kPa
外観
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
永久破壊，フラッシオーバ又はケ
ースの有害な変形がない。
外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測定値に
対する|ΔC/C|は，
等級1.1：≦1 %
等級1.2：≦3 %
等級2 ：≦5 %
tan δの増加は4.3.1又は4.6.1の測
定値に対して
CR≦1 µF
等級1.1：≦0.001 5
等級1.2：≦0.003
等級2 ：≦0.005
CR＞1 µF：個別規格の規定によ
る。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
13
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n) 及び
合格判定数 (c)
要求性能a)
群2
4.11 高温高湿（定常）
4.11.1 初期測定
4.11.3 最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)：1 kHz
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
4.11.1 の測定値に対する
|ΔC/C|は，
等級1.1：≦1 %
等級1.2：≦3 %
等級2 ：≦5 %
tan δの増加は4.11.1の測定値に
対して
CR≦1µF
等級1：≦0.001
等級2：≦0.002
CR＞1 µF：個別規格の規定によ
る。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群3A
4.12.1 50 Hz又は60
Hzの交流電圧による
耐久性（適用する場
合）d)
4.12.1.1 初期測定
4.12.1.3 最終測定
D
時間
等級1：2 000 h
等級2：1 000 h
静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR＞1 µF：1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
4.12.1.1 の測定値に対する
|ΔC/C|は，
等級1：≦5 %
等級2：≦10 %
tan δの増加は4.12.1.1の測定値に
対して
CR≦1 µF
等級1：≦0.001 5
等級2：≦0.003
CR＞1 µF：個別規格の規定によ
る。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
14
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n) 及び
合格判定 (c)
要求性能a)
群3B c)
4.12.2 正弦波電流
又は正弦波電圧に
よる耐久性（適用
する場合）d)
4.12.2.1 初期測定
4.12.2.3 最終測定
D
時間
等級1：2 000 h
等級2：1 000 h
周波数：…Hz
静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR＞1 µF：1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
4.12.2.1 の測定値に対する
|ΔC/C|は，
等級1：≦5 %
等級2：≦10 %
tan δの増加は4.12.2.1の測定値に
対して
CR≦1 µF
等級1：≦0.001 5
等級2：≦0.003
CR＞1 µF：個別規格の規定による。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群3C c)
4.12.3 パルスによ
る耐久性（適用す
る場合）d)
4.12.3.1 初期測定
D
時間
等級1：2 000 h
等級2：1 000 h
パルス周期：…Hz
放電時定数：4.12.3.2による
ピーク電圧：定格ピーク電圧
と同じ（個別規格の規定に
よる。）
静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR＞1 µF：1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
表3又は
表3Aによる。
4.12.3.3 最終測定
D
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
4.12.3.1 の測定値に対する
|ΔC/C|は，
等級1：≦5 %
等級2：≦10 %
tan δの増加は4.12.3.1の測定値に
対して
CR≦1 µF
等級1：≦0.001 5
等級2：≦0.003
CR＞1 µF：個別規格の規定による。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
15
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証の試験計画−評価水準E及びEZ（続き）
細分箇条番号及び
試験項目 a)
D又は
NDb)
試験条件 a)
試料数 (n) 及び
合格判定数 (c)
要求性能 a)
群4
4.2.6 温度特性（適
用する場合）d)
4.13 充放電（パル
スによる耐久性
を適用する場合
は適用しない）
4.13.1 初期測定
4.13.3 最終測定
D
静電容量
絶縁抵抗
静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR＞1 µF：1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
充電時間：…s
放電時間：…s
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表3又は
表3Aによる。
4.2.6による。
4.2.6による。
4.13.1 の測定値に対する
|ΔC/C|は，
等級1.1：≦1 %
等級1.2：≦3 %
等級2 ：≦5 %
tan δの増加は4.13.1の測定値に対
して
CR≦1 µF
等級1：≦0.003
等級2：≦0.005
CR＞1 µF：個別規格の規定による。
4.2.4.2の規定値の50 %以上
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は，この規格の箇条4による。
b) この表でDは破壊試験，NDは非破壊試験を示す。
c) 個別規格には，群3B若しくは群3Cのいずれか，又は両方の耐久性試験を規定してもよい。
d) 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
a) 群A及び群B検査 これらの検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件で製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
2a) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び定格静電容量）及び外形寸法との組合せ
を代表し，次の事項を考慮する。
− 組合せ数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は，1組合せ当たりの抜取数が4個以下の場合には，製造
業者は，国内監督検査機関の承認が必要になる。
b) 群C検査 これらの検査は，定期的に行う。
試料は，ある一定の期間に工程に流れている製品を代表するもので，定格電圧の高，中及び低電圧
16
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
群に分類する。いかなる期間でも，認証範囲を対象とするために，定格電圧の高，中及び低電圧群ご
とに一つの外形寸法のものを試験する。
その後の期間では，製品のすべての範囲を対象とするために，製造中のその他の定格電圧及び／又
は外形寸法のものを試験する。
3.5.2
試験計画
ロットごと及び定期的な品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格JIS C 5101-17-1の箇条2（検査
要求事項）の表4による。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1の3.5.2（長期保管後の出荷）の規定に従い，はんだ付け性及び静電容量について群A及び
群Bの再検査を行う。
注記 JIS C 5101-1の3.5.2は，IEC 60384-1 : 1998の3.10と同等である。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，次の表5及び表6から選定することが望ましい。
表5−ロットごとの品質確認検査
評価水準
検査副群 b)
D a)
E
F a)
G a)
EZ
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
n
c
A0
A1
A2
B1
S-3
S-3
S-3
2.5
1.0
2.5
100 % c)
S-3
S-3
S-3
d)
d)
d)
0
0
0
注記 IL
：検査水準
AQL ：合格品質限界
n
：試料数
c
：合格判定数
注a) 表6参照。
b) 表6参照。
c) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために
抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査データによって算出する。
d) 試料数 (n) は，JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL)／ロットサイズで割り当てるサンプル文字に
従い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−定期的品質確認検査
評価水準
検査副群 b)
D a)
E
F a)
G a)
EZ
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
C1A
C1B
C1
C2
C3A
C3B
C3C
C4
C5
6
6
6
6
3
3
3
3
12
9
18
27
15
20
5
5
9
6
1
1
2
1
1
1
1
1
1
6
6
6
6
6
6
6
6
6
5
5
10
10
5
5
5
10
10
0
0
0
0
0
0
0
0
0
注記 p
：検査周期（月）
n
：試料数
c
：合格判定数
注a) 評価水準D，F 及びG は，検討中。
b) 検査副群の内容は，ブランク個別規格JIS C 5101-17-1の箇条2（検査要求事項）による。
4
試験及び測定方法
この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定方法）に規定する事項を補足するものである。
4.1
外観及び寸法
JIS C 5101-1の4.4（外観及び寸法）による。
4.2
電気的試験
4.2.1
交流コンデンサの耐電圧
JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，次による（直流又は交流耐電圧試験のいずれを適用するか個
別規格に規定する。）。
a) 直流耐電圧試験
− 試験箇所1a)：2.5 UR〜
− 試験箇所1b)，1c)（絶縁形だけに適用）：1.4 UR〜＋2 000 V（直流）
注記1 直流定格電圧も合わせて規定しているコンデンサの場合の試験は，直流コンデンサの規格(JIS
C 5101-16)に規定する直流耐電圧試験を適用する。ただし，a) による電圧がより高い場合には，
その値を用いる。
b) 交流耐電圧試験（50 Hz又は60 Hz）
1) 試験電圧の実効値は，次による。
− 試験箇所1a)： 1.5 UR〜（UR〜≦250 Vの場合）
1.4 UR〜（UR〜＞250 Vの場合）
− 試験箇所1b)，1c)（絶縁形だけに適用）：2 UR〜ただし，200 V（実効値）
注記2 UR〜及びその他の交流値は，実効値である。
2) 試験電圧の印加時間：
− 品質認証試験及び定期的品質確認検査の場合は，1分間
− ロットごとの品質確認検査の場合は，1秒間以上
4.2.2
静電容量
JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.2.1
静電容量は，1 kHz で測定する。ただし，10 µFを超える定格静電容量のものは，50 Hz〜120 Hz で
測定してもよい。
1 kHzでの測定電圧のピーク電圧値は，定格電圧の3 %以下とし，50 Hz〜120 Hzでのピーク電圧値は，
定格電圧の20 %又は100 V［70 V（実効値）］のいずれか小さい値以下とする。
4.2.2.2
静電容量は，規定の許容差による。
4.2.3
誘電正接 (tan δ)
JIS C 5101-1の4.8（誘電正接）によるほか，次による。
4.2.3.1
1 kHzでの測定条件
誘電正接 (tan δ) の測定は，次による。
− 周波数： 1 kHz
− ピーク電圧： ≦定格電圧の3 %
− 確度： ≦5×10−4（絶対値）
4.2.3.2
要求性能
誘電正接 (tan δ) は，表7に示す値以下とする。
表7−誘電正接 (tan δ) 規定値
測定周波数
定格静電容量
誘電正接 (tan δ)
性能等級1
性能等級2
1 000 Hz
CR≦1 µF
≦10×10−4
≦20×10−4
注記 1 µFを超えるコンデンサのtan δは，個別規格の規定による。
4.2.3.3
10 kHzでの測定条件
CR≦1 µFのコンデンサの誘電正接 (tan δ) の測定は，次による。
− 周波数： 10 kHz
− ピーク電圧： ≦1 V（実効値）
− 確度： ≦5×10−4（絶対値）
4.2.4
絶縁抵抗
JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，次による。
4.2.4.1
測定の前にコンデンサを十分に放電する。
放電回路の抵抗値とコンデンサの定格静電容量との積は，0.01秒以上又は個別規格の規定による。
4.2.4.2
測定電圧は，JIS C 5101-1の4.5.2（絶縁抵抗の測定電圧）による。
測定電圧は，電源の内部抵抗を通して規定値を直接印加する。
電源の内部抵抗とコンデンサの定格静電容量との積は，1秒未満又は個別規格の規定による。
絶縁抵抗は，表8に示す要求性能を満足する。
19
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表8−絶縁抵抗の要求性能
RC 積の最小値
（R＝端子間絶縁抵抗）
［C ＝定格静電容量 (CR)］
s
端子間絶縁抵抗の最小値
GΩ
端子外装間
絶縁抵抗最小値
GΩ
測定箇所は，JIS C 5101-1の4.5.3表1による。
1 a)
1 a)
1 b)，1 c)
定格静電容量：
＞0.33 µF
≦0.33 µF
定格電圧：
＞100 V
≦100 V
全定格電圧
性能等級
1
2
1
2
1
2
30 000
7 500
15 000
3 750
100
25
100
4.2.4.3
温度補正
20 ℃以外の温度で測定した場合は，必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑義が生じた場合は，20 ℃で測定する。表9に示す補正係数は，メタライズドポリプロピレンフィル
ムコンデンサの平均値を示す。
表9−試験温度に対応する補正係数
温度
℃
補正係数
15
0.75
20
1
23
1.25
27
1.50
30
1.75
35
2
4.2.5
インダクタンス（適用する場合）
JIS C 5101-1の4.11（インダクタンス又は自己共振周波数）によるほか，次による。
インダクタンスの最大値は，個別規格の規定による。
コンデンサのインダクタンスの値は，共振周波数及び4.2.2の静電容量測定値から算出する。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
4.2.6
温度特性（個別規格に規定がある場合）
JIS C 5101-1の4.24.1（静的方法）によるほか，次による（表10及び表11参照）。
静電容量の測定は，b)，d) 及びf) 点で行う。また，絶縁抵抗の測定は，f) 点で測定する。
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表10−カテゴリ下限温度の特性
b) 点の試験温度
静電容量の温度特性
−10 ℃及び−25 ℃
0≦ΔC
C ≦＋2.25 %
−40 ℃
0≦ΔC
C ≦＋3 %
−55 ℃
0≦ΔC
C ≦＋3.75 %
表11−カテゴリ上限温度の特性
f)点の試験温度
静電容量の温度特性
絶縁抵抗［測定箇所1a)］
絶縁抵抗
［測定箇所1b)及び1c)］
GΩ
CR＞0.33 µF
R1×CR
s
CR≦0.33 µF
R1
GΩ
70 ℃
−2.5 %≦ΔC
C ≦0
1 500
5
5
85 ℃
−3.25 %≦ΔC
C ≦0
1 200
4
4
100 ℃
−4 %≦ΔC
C ≦0
750
2.5
2.5
4.3
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
4.3.1
初期測定
静電容量は，4.2.2 によって測定する。また，誘電正接 (tan δ) は，4.2.3.1又は4.2.3.3によって測定する。
4.4
はんだ耐熱性
JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。
4.4.1
試験条件
初期乾燥は，行わない。
4.4.2
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.5
はんだ付け性
JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。
4.5.1
試験条件
加速蒸気エージングなどの前処理は行わない。
はんだ小球法を適用する場合は，個別規格の規定による。はんだ槽法又ははんだ小球法のいずれも適用
できない場合は，はんだこて法のこて先寸法Aによって試験を行う。
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
4.5.2
要求性能
表4に規定する要求性能を満足する。
4.6
温度急変
JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
4.6.1
初期測定
初期測定は，4.3.1による。
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
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4.6.2
試験サイクル数
5 サイクルとする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度での放置時間は，30分間とする。ただし，大形のコンデンサの
場合は，個別規格の規定による。
個別規格に規定がある場合には，後処理後コンデンサの電気的性能を測定し，個別規格の要求性能を満
足する。
4.7
振動
JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，次による。
4.7.1
試験条件
振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方で，次の周波数範囲の一つを用いて，総試験時間は，
6時間とする。
周波数範囲は，10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz又は10 Hz〜2 000 Hzとする。
個別規格には，周波数範囲及び取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端
子）のコンデンサをリード線だけで固定する場合には，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2
最終測定及び要求性能
表4に規定する要求性能を満足する。
4.8
バンプ
JIS C 5101-1の4.18（バンプ）によるほか，次による。
個別規格には，バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するか規定する。
4.8.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.8.2
個別規格に，次に推奨する厳しさのいずれの条件を適用するか規定する。
バンプの総回数：1 000回又は4 000回
ピーク加速度： 400 m/s2 100 m/s2
又は
作用時間： 6 ms 16 ms
個別規格には，取付方法を規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サをリード線だけで固定する場合には，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.9
衝撃
JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，次による。
個別規格には，バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するか規定する。
4.9.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.9.2
個別規格には，表12に示す試験条件のいずれを適用するか規定する。
パルス波形：正弦半波
表12−ピーク加速度及び作用時間
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
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ピーク加速度
m/s2
作用時間
ms
300
18
500
11
1 000
6
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サをリード線だけで固定する場合には，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.10 一連耐候性
JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.10.1 初期測定
初期測定は行わない。4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測定値を適用する。
4.10.2 高温
JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
4.10.3 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），最初のサイクル
JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），最初のサイクル］による。
4.10.4 低温
JIS C 5101-1の4.21.4（低温）による。
4.10.5 減圧
JIS C 5101-1の4.21.5（減圧）によるほか，次による。
4.10.5.1 この試験は，個別規格に規定がある場合に適用し，温度15 ℃〜35 ℃で気圧8 kPaの条件下で試
験を行う。試験時間は，1時間とする。
4.10.5.2 規定する圧力に達した後，1時間の試験時間の最後の5分間，定格電圧を印加する。
この試験を適用する必要がある場合，試料は，2分割又は3分割し，JIS C 5101-1の表1に規定する測定
箇所に定格電圧を印加する。
試験電圧は，4.2.1によって端子間，端子外装間などに印加する。
4.10.5.3 中間測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.10.6 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），残りのサイクル
JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（12＋12時間サイクル），残りのサイクル］によるほか，次によ
る。
4.10.6.1 試験槽からコンデンサを取り出して15分間以内に，4.2.1に規定する試験回路及び条件によって
測定箇所Aに定格電圧を1分間印加する。
注記 測定箇所A：端子間（JIS C 5101-1の表1による。）
4.10.6.2 最終測定及び要求性能
後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.11 高温高湿（定常）
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
4.11.1 初期測定
静電容量を4.2.2によって測定し，誘電正接 (tan δ) を4.2.3.1によって測定する。
4.11.2 試験後，試験槽からコンデンサを取り出して15分間以内に，4.2.1の規定によって耐電圧試験を行
う。ただし，印加電圧は，定格電圧とする。
4.11.3 最終測定及び要求性能
後処理後，コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.12 耐久性
JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
4.12.1 50 Hz又は60 Hzの交流電圧による耐久性（適用する場合）
注記 適用する場合とは，適用可能な場合に試験を適用することを示す。
4.12.1.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.12.1.2 試験条件
個別規格に規定がない場合には，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
− 試験時間： 1 000 h±24 h
− 印加電圧： 定格交流電圧の1.25倍（周波数：50 Hz又は60 Hzの正弦波）
− 試験槽の温度： 交流定格温度
− 電源インピーダンス：供試コンデンサ群のインピーダンスの0.1倍未満
注記 この試験は，200 V（実効値）以上の定格交流電圧のものに適用する。
4.12.1.3 最終測定及び要求性能
コンデンサは外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.12.2 正弦波電流又は正弦波電圧による耐久性（適用する場合）
注記 正弦波による耐久性試験を実施することによって，コンデンサの熱安定状態を確認することが
目的である。
4.12.2.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.12.2.2 試験条件
− 試験時間： 1 000 h±24 h
− 実効電流又は実効電圧： 定格静電容量に対する定格交流電流又は定格交流電圧（実効値）の1.1倍〜
1.21倍
− 周波数： 個別規格の規定による。
− 試験温度：標準試験状態
注記1 用語の定義及び試験方法の詳細は，JIS C 5101-1の2.2.32（定格交流負荷）から2.2.36（温度
上昇）まで及び4.23（耐久性）による。
注記2 実効電流値は，定格静電容量の許容差の下限値のものに適用する。
注記3 コンデンサの電流を保証する場合は，その試験は，印加電流の補正を行わない。コンデンサ
の電圧を保証する場合は，その試験は，印加電圧の補正を行わない。
注記4 品質認証試験の場合には，電流試験に用いるコンデンサは，定格静電容量の許容差の下限値
から下限値＋2 %までのものを選定する。電圧試験に用いるコンデンサは，定格静電容量の
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C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
許容差の上限値から上限値−2 %までのものを選定する。定期的品質確認検査の場合には，
特別な選定は行わない。
4.12.2.3 最終測定及び要求性能
コンデンサは外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.12.3 パルスによる耐久性（適用する場合）
注記 この試験は，コンデンサが周期的パルス試験によって著しい温度上昇を生じることがなく耐え
ることを実証することを目的とする。
4.12.3.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.12.3.2 試験条件
− 試験時間： 1 000 h±24 h
− 温度：標準状態
− パルス周期： 個別規格の規定による。
注記 パルスの周期が50 Hz又は60 Hzで，10 ℃を超える温度上昇がある場合，dU/dt定格が500 V/µs
を超えるものについては，1 Hzの周期を用いてもよい。
− 印加ピーク電圧：定格ピーク電圧（個別規格の規定による。）と同じ。
− 放電時定数：a) 静電容量当たりのピーク電流 (A/µF) 又はdU/dt (V/µs) の最大値で表す場合は，定格
値の1.5倍。
b) 放電時定数 (s) で表す場合は，定格値の0.67倍。
注記
R
d
p
d
d
C
R
U
t
U
C
I
×
=
=
：Rd×CR＝放電時定数
− 充電時定数：放電時定数の10 倍の値。
− 充電周期の時間：充電時定数の5倍を超える時間。
− 放電周期の時間：放電時定数の5倍を超える時間。
− 最大ピーク逆電圧：印加ピーク電圧の10 %
4.12.3.3 最終測定及び要求性能
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.13 充放電
注記 充放電試験はパルスによる耐久性を適用する場合は，行わない。
JIS C 5101-1の4.27（充放電）によるほか，次による。
4.13.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.13.2 試験条件
コンデンサは，1秒間に約1サイクルの割合で充放電を10 000回行う。各サイクルは，コンデンサの充
電と放電とからなる。
各コンデンサは個別に，
R
6
10
220
C
−
×
(Ω)［CR：定格静電容量 (F)］の抵抗値又は充電電流を1 A（個別規
格に規定するより高い電流値）以下とする抵抗値のいずれか大きい方の抵抗器を通じ定格電圧で充電を行
う。
25
C 5101-17：2009 (IEC 60384-17：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
各コンデンサは個別に， 20 Ω以上で
R
6
10
10
C
−
×
(Ω) となる値の抵抗器，又は個別規格に規定がある場合は，
t
U
d
d
から次の式によって算出した値よりも小さい値の抵抗器を通じて放電を行う。
t
U
C
U
R
d
d
×
=
4.13.3 最終測定及び要求性能
後処理後，電気的性能の測定を行い，表4に規定する要求性能を満足する。
4.14 部品の耐溶剤性
JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。
4.15 表示の耐溶剤性
JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。
参考文献 JIS C 5101-16 電子機器用固定コンデンサ−第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロ
ピレンフィルム直流コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-16，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 16 :
Sectional specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors (IDT)