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C 5402-1-3 : 2002 (IEC 60512-1-3 : 1997) 

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か

ら,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするため,IEC 60512-1-3 : 1997, Electromechanical 

components for electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 1 : General 

examination−Section 3 : Test 1c−Electrical engagement lengthを基礎として用いた。 

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。 

JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100の試験一覧による。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 5402-1-3 : 2002 

(IEC 60512-1-3 : 1997) 

電子機器用コネクタ− 

試験及び測定− 

第1-3部:一般検査−試験1c:電気的接触長 

Connectors for electronic equipment−Tests and measurements− 

Part 1-3 : General examination−Test 1c : Electrical engagement length 

序文 この規格は,1997年に第1版として発行されたIEC 60512-1-3, Electromechanical components for 

electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 1 : General examination−Section 3 : 

Test 1c−Electrical engagement lengthを翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した

日本工業規格である。 

1. 適用範囲及び目的 この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)を試験するために用

いる。この試験は,個別規格に規定がある場合には,類似の部品にも使用してよい。 

この試験の目的は,IEC 60050の581-03-15のコネクタの電気的接触長を測定するために,標準の試験方

法を規定することである。 

備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。 

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD

(修正している),NEQ(同等でない)とする。 

IEC 60512-1-3 : 1997 Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing 

procedures and measuring methods−Part 1 : General examination−Section 3 : Test 1c−Electrical 

engagement length (IDT)  

2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。この引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追

補には適用しない。 

IEC 60050 (581) : 1978 International Electrotechnical Vocabulary (IEV) −Chapter 581 : Electromechanical 

component for electronic equipment.  

3. 試料の準備 コネクタを個別規格に規定するとおり準備する。個別規格に規定がない場合は,試料の

固定部は,通常の使用方法で取り付け,可動部は,移動距離の測定を可能にする固定具に取り付ける。 

備考 ある種のめすコンタクトの中には,圧力部を保護するためにスリーブをもっているものがある。

このスリーブは,通電部分として機能するように設計されていない。そのため,この試験中電

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C 5402-1-3 : 2002 (IEC 60512-1-3 : 1997) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

気的接触がスリーブではなく,おすコンタクトとめすコンタクトとの圧力部の間で,確実に行

われるような手段を講じなければならない。 

コネクタを個別規格に従って配線する。可動形コネクタ及び固定形コネクタの電線を図1に従って接続

する。 

4. 試験方法 

4.1 

測定 試料を,図1に示すとおり試験回路に接続する。 

スイッチを閉じ,電流を100mAに調整する。 

スイッチを開き,コネクタを通常の状態で結合する。結合の速度は,個別規格による。 

回路が閉じたときをゼロ点とする。 

コネクタが完全に結合するまで結合を続ける。ゼロ点から完全に結合した点までの距離をコンタクトの

電気的接触長と定義する。 

図1 試験回路 

4.2 

要求事項 電気的接触長の測定値は,個別規格の規定値以上でなければならない。 

備考 測定値をコンタクトの電気的接触長の最小長さと比較する。 

5. 個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。 

a) 試料数 

b) 試料の配線 

c) 試料の取付け 

d) 結合速度 

e) 最小電気的接触長 

f) 

この試験方法との相違 

C 5402-1-3 : 2002 (IEC 60512-1-3 : 1997) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

電子部品JIS原案作成委員会 構成表 

氏名 

所属 

(委員長) 

平 山 宏 之 

東京都立科学技術大学 

(委員) 

吉 田 裕 道 

東京都立産業技術研究所 

寺 岡 憲 吾 

防衛庁 

藤 倉 秀 美 

財団法人電気安全環境研究所 

佐々木 喜 七 

財団法人日本電子部品信頼性センター 

村 岡 桂次郎 

曽我部 浩 二 

町 野 俊 明 

橋 本   進 

財団法人日本規格協会 

福 原   隆 

沖電気工業株式会社 

村 上 昭 次 

株式会社ケンウッド 

山 本 克 巳 

ソニー株式会社 

西 林 和 男 

株式会社東芝 

新 井 謙 一 

日本電気株式会社 

小 林   弘 

日本電気ファクトリエンジニアリング株式会社 

中 野   武 

松下通信工業株式会社 

三 宅 敏 明 

松下電器産業株式会社 

伊 高 篤 己 

三菱電機株式会社 

三 宅 邦 彦 

松尾電機株式会社 

高 木 裕 司 

アルプス電気株式会社 

石 井   勝 

第一電子工業株式会社 

山 本 圭 一 

進工業株式会社 

尾 村 博 幸 

日本ケミコン株式会社 

大 島   寛 

ニチコン株式会社 

柴 田 一 寛 

株式会社村田製作所 

大 西 浩 司 

本多通信工業株式会社 

前 田 太 門 

ヒロセ電機株式会社 

八 木   誠 

日本航空電子工業株式会社 

小 島 槇 雄 

窪 田   明 

経済産業省 

八 田   勲 

経済産業省 

(事務局) 

塚 田 潤 二 

社団法人電子情報技術産業協会 

中 山 正 美 

社団法人電子情報技術産業協会 

C 5402-1-3 : 2002 (IEC 60512-1-3 : 1997) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

JIS C 5402-1規格群原案作成分科会 構成表 

氏名 

所属 

(主査) 

石 井   勝 

第一電子工業株式会社 

(副主査) 

山 川 和 夫 

多治見無線電機株式会社 

大 西 浩 司 

本多通信工業株式会社 

(委員) 

大久保   功 

株式会社アイティティキャノン 

武 田 佳 司 

イリソ電子工業株式会社 

木 村   淳 

URO電子工業株式会社 

横井川 淳 史 

オムロン株式会社 

坂 岡 眞 樹 

京セラ株式会社 

東   陽一郎 

ケル株式会社 

金 子 智 行 

株式会社ジャルコ 

福 田 敦 夫 

スタック電子株式会社 

佐 藤 一 巳 

ソニー株式会社 

今 井   彰 

タイコエレクトロニクスアンプ株式会社 

太 田   弦 

日本圧着端子製造株式会社 

八 木   誠 

日本航空電子工業株式会社 

白 岩 寿 久 

日本航空電子工業株式会社 

榎 本 雅 弘 

日本モレックス株式会社 

吉 岡 克 之 

ノーブル無線株式会社 

前 田 太 門 

ヒロセ電機株式会社 

岩 朝 好 博 

ホシデン株式会社 

加 藤 修 治 

松下電工株式会社 

一 木 義 和 

株式会社村田製作所 

金 子 哲 也 

山一電機株式会社 

小 島 槇 雄 

(事務局) 

塚 田 潤 二 

社団法人電子情報技術産業協会 

中 山 正 美 

社団法人電子情報技術産業協会 

日本工業標準調査会 標準部会 電子技術専門委員会 構成表 

氏名 

所属 

(委員会長) 

鳳   紘一郎 

東京大学大学院新領域創成科学研究科 

(委員) 

榎 並 和 雅 

日本放送協会技術局 

川 瀬 正 明 

千歳科学技術大学光科学部 

喜 安   拓 

総務省情報通信政策局 

栗 原 正 英 

社団法人日本プリント回路工業会 

小 岩 忠 夫 

社団法人電子情報技術産業協会 

酒 井 善 則 

東京工業大学大学院理工学研究科 

佐 野 真理子 

主婦連合会 

田 村 政 昭 

株式会社東芝デジタルメディアネットワーク社コアテクノロジーセンター 

平 松 幸 男 

東日本電信電話株式会社第三部門 

本 多 正 己 

財団法人日本規格協会IEC活動推進会議事務局 

増 田 岳 夫 

財団法人光産業技術振興協会 

山 本 克 巳 

ソニー株式会社テクニカルサポートセンター