C 5402-14-5：2016 (IEC 60512-14-5：2006)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 潤滑剤又は封止材 ·········································································································· 2
3.4 取付け ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
4.1 手順 ···························································································································· 2
4.2 測定 ···························································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 5402-14-5：2016 (IEC 60512-14-5：2006)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-14-5：2016
(IEC 60512-14-5：2006)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第14-5部：封止（気密性）試験−
試験14e：浸せき（減圧）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 14-5: Sealing tests-Test 14e: Immersion at low air pressure
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 60512-14-5を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，塩水に浸せきする間，低い気圧にさらされることによる水の浸入に対するコネクタの防水
性能の有効性を評価するための標準の試験方法について規定する。この規格は，特に結合したコネクタア
センブリに適している。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-14-5:2006，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 14-5:
Sealing tests−Test 14e: Immersion at low air pressure（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
JIS C 5402-3-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3-1部：絶縁試験−試験3a：絶縁抵抗
注記 対応国際規格：IEC 60512-3-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 3-1: Insulation tests−Test 3a: Insulation resistance（IDT）
JIS C 5402-4-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4-1部：電圧ストレス試験−試験4a：耐電圧
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C 5402-14-5：2016 (IEC 60512-14-5：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格：IEC 60512-4-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 4-1: Voltage stress tests−Test 4a: Voltage proof（IDT）
3
準備
3.1
試料の準備
試料は，ターミネーションをもつ結合した一対のコネクタとし，個別規格に規定するとおり結線する。
全ての電線及びケーブルは，封止するか，又は試験槽の外へ延ばす。
3.2
装置
蒸留水又は脱イオン水によう素無添加塩（市販）質量分率（5±1）%を加えた溶液が入った容器を準備
する。溶液のぬれ特性に影響を与える可能性のある，又はその傾向がある汚染物質があってはならない。
この容器は，2 kPaの圧力まで減圧することが可能な試験槽の中に置く。
3.3
潤滑剤又は封止材
個別規格で要求する場合は，規定する潤滑剤又は封止材を，個別規格に規定する方法で適用する。
3.4
取付け
試料の取付けは，適用する場合，個別規格による。
4
試験方法
4.1
手順
試験は室温で行う。試料と溶液との温度差は5 ℃を超えてはならない。試料は，その最上部が溶液の液
面から25 mm以上深くなるように沈める。
試験漕の圧力は，5分〜15分の間に大気圧から2 kPa±0.1 kPaまで減圧し，30分以上その圧力を保持す
る。その後，試験漕の圧力を1分以内に大気圧に戻し，30分以上その圧力を保持する。
これを1サイクルとし，3サイクル行う。試料は，3サイクルの試験からその後に続く試験終了までの間，
溶液に沈めたままとする。
4.2
測定
4.2.1
初期測定
試料は，JIS C 5402-1-1の規定によって外観検査を行う。試料は，試験の妥当性を損なうような不適合
があってはならない。
4.2.2
試験測定及び要求事項
試料を溶液から取り出す前に，次の測定及び試験を行う。
試料は，4.1の試験後，JIS C 5402-3-1に従って絶縁抵抗を測定する。個別規格で規定する値を下回って
はならない。
絶縁抵抗測定後，JIS C 5402-4-1に従って耐電圧試験を行う。個別規格で規定する電圧を印加したとき
に，絶縁破壊又はフラッシュオーバがあってはならない。また，個別規格に規定がない場合，漏えい電流
は2 mAを超えてはならない。
4.2.3
最終測定
試料は，JIS C 5402-1-1の規定によって，10倍の拡大鏡を用いて外観検査を行う。コネクタの正常な機
能を損なうような不適合は，全て試験報告書に記録する。
特に，次の事項について注意して検査する。
a) 溶液の浸入の形跡
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C 5402-14-5：2016 (IEC 60512-14-5：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 絶縁破壊の形跡
注記 拡大鏡の倍率は，コネクタの大きさを考慮して個別規格に記載することが望ましい。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 電線又はケーブルのサイズ及びタイプを含む試料の結線
c) 適用する封止材及び／又は潤滑剤並びにその手段及び量，又は“封止材及び／又は潤滑剤は適用しな
い。”旨の記載
d) 試験後の絶縁抵抗の最小値及び方法（A，B又はC）
e) 耐電圧及び最大許容漏えい電流
注記 d) 及びe) の値は，この試験後の要求事項としている場合があるが，試験前の試料に要求する
値と同一でない場合がある。測定点は，個別規格で示すことが望ましい。
f)
この規格に規定する試験方法との相違