C 5402-11-6：2004 (IEC 60512-11-6：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-6:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-6: Climatic tests - Test 11f: Corrosion, salt mistを基礎とし
て用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-11-6：2004 (IEC 60512-11-6：2002)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 準備 ······························································································································ 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 試料の配線 ··················································································································· 2
3.3 前処理 ························································································································· 2
4. 試験方法 ························································································································ 2
4.1 供試条件 ······················································································································ 2
5. 測定 ······························································································································ 2
5.1 最終測定 ······················································································································ 2
6. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-11-6：2004
(IEC 60512-11-6：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第11-6部：耐候性試験―
試験11f：腐食，塩水噴霧
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-6: Climatic tests -
Test 11f: Corrosion, salt mist
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-6，Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-6: Climatic tests - Test 11f: Corrosion, salt mistを翻訳し，技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の表面仕上げについて，調整
された塩分を含む雰囲気の影響及びその範囲について評価するための試験方法について規定する。この試
験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-11-6:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-6:
Climatic tests - Test 11f: Corrosion, salt mist (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0023 環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧試験方法
備考 IEC 60068-2-11:1981，Environmental testing - Part 2: Tests - Test Ka: Salt mist が，この規格と
一致している。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。
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C 5402-11-6：2004 (IEC 60512-11-6：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3. 準備
3.1
試料の準備 標準のアクセサリを備えた試料を，個別規格の規定によって取り付ける。
個別規格で要求する場合には，試料を試験前に規定回数，挿入及び引抜きをする。
各試験を行うに当たって，個別規格にはコネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。
3.2
試料の配線 試料は，個別規格の規定によって配線する。
3.3
前処理 前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間は行う。
参考 前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前
処理の規定による。
4. 試験方法
4.1
供試条件 この試験は，JIS C 0023に従って行う。
暴露時間は，個別規格に規定する。
5. 測定
5.1
最終測定 上記試験の完了後，試料を規定による蒸留水を使い洗浄及び乾燥した後，JIS C 5402-1-1
試験1aに従い，特に次の事項に注意して外観検査を行う。
−割れ
−はく離
−露出した金属表面の孔食（pitting）
6. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法
b) 暴露時間
c) 要求事項
d) この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。