C 5402-16-8：2015 (IEC 60512-16-8：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 前処理 ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 2
4.1 温度 ···························································································································· 2
4.2 手順 ···························································································································· 2
4.3 測定 ···························································································································· 3
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 5402-16-8：2015 (IEC 60512-16-8：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（第1-100部：一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-16-8：2015
(IEC 60512-16-8：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16-8部：
コンタクト及びターミネーションの機械的試験−
試験16h：インシュレーショングリップの有効性
（圧着接続）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-8: Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16h: Insulating grip effectiveness (crimped connections)
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-8を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，インシュレーショングリップが規定する条件下で，ケーブル又は電線の絶縁体を保持する
能力を評価するための標準の試験方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-16-8:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-8:
Mechanical tests on connections and terminations−Test 16h: Insulating grip effectiveness (crimped
connections)（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
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C 5402-16-8：2015 (IEC 60512-16-8：2008)
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準備
3.1
試料
試料は，インシュレーショングリップに規定する最大被覆外径及び最小被覆外径をもつ同数のケーブル
又は電線とする。
試料は，圧着コンタクト又はターミナルエンド，及び規定するケーブル又は電線からなり，個別規格に
規定する方法で準備（圧着）する。個別規格に規定がない場合は，製造業者の指示によって準備（圧着）
する。圧着コンタクト又はターミナルエンドは上記の方法で圧着する。ただし，ケーブル又は電線はイン
シュレーショングリップだけで保持する。
注記 絶縁被覆をむ（剝）かない状態で電線を圧着するか，又は圧着した後に導体を切ることで，目
的を達成する。
絶縁被覆を，む（剝）かないケーブル又は電線の長さは，100 mm以上とする。個別規格で潤滑剤を要
求する場合，規定する方法で適用する。製造業者による圧着又はその他のアセンブリ装置に潤滑剤の指定
がある場合は，同様に適用する。
3.2
装置
関連するケーブル又は電線の柔軟性試験のために規定するものと等しい直径のマンドレルを，準備する。
3.3
前処理
個別規格に規定する前処理を，実施する。
4
試験方法
4.1
温度
温度が，ケーブル絶縁体の柔軟性に重要な影響を及ぼすことが知られている。これらの試験は，関連す
る個別規格に規定がない場合，JIS C 60068-1に規定する試験のための標準大気条件の下で行う。
4.2
手順
圧着コンタクト又はターミナルは，マンドレルに僅かに接する程度の状態で保持する。電線は，マンド
レルの周りに完全に1回転以上巻き付け，インシュレーショングリップが巻き初めのマンドレルに接触し
ていなければならない。個別規格に規定する十分な張力を，マンドレルとの接触を保つために電線に加え
る。試験は，図0A a)に示すとおり，電線をある方向に最初の巻付けをする。その後，図0A b)に示すとお
り，反対方向で巻き付ける。これを1サイクルとする。このサイクルを，10回以上行う。
図0A−試験手順
b) 反対方向
a) 屈曲方向
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C 5402-16-8：2015 (IEC 60512-16-8：2008)
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曲げ方向に対する試料の回転位置は，力が，インシュレーショングリップに対して，各サイクル中に互
いに直角な4方向に加わるように，変化させなければならない。
注記 インシュレーショングリップの保持には，“最良”及び“最悪”の方向があることが認められて
いる。前述の要求事項は，“最良”及び“最悪”の両方向で試験することを目的とする。
4.3
測定
4.3.1
試験前
試料は，JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。試験の妥当性を損なうような不適合があってはなら
ない。
4.3.2
試験中
試験中の測定は，行わない。
4.3.3
試験後
ケーブル又は電線から導体を引き離し，損傷（インシュレーショングリップの圧着工程又は試験に起因
する）がないか調べる。これは，ケーブル又は電線の遠端から絶縁体を剝離し，裸導体と圧着ターミナル
との間で張力を加えて行ってもよい。
試料は，JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。4.3.1で発見した不適合以外，コネクタの通常機能を
損なう不適合があってはならない。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 使用するケーブル又は電線のサイズ及び絶縁体の被覆外径
c) 各グリップサイズの試料数
d) アセンブリツーリングの詳細
e) 潤滑剤（適用工具を含む）の使用（要求がある場合）
f)
試料の特殊な取付けの要求（要求がある場合）
g) 適用する張力
h) サイクル数（10以外の場合）
i)
この規格に規定する試験方法との相違