C 5402-16-1：2014 (IEC 60512-16-1：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法························································································································· 3
4.1 手順 ···························································································································· 3
4.2 測定 ···························································································································· 3
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 5402-16-1：2014 (IEC 60512-16-1：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100（一般−試験方法規格一覧）による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-16-1：2014
(IEC 60512-16-1：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16-1部：
コンタクト及びターミネーションの機械的試験−
試験16a：プローブダメージ
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16a: Probe damage
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-1を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，規定するテストプローブの挿入による損傷に耐えるコンタクトの弾性機構の有効性を評価
するための試験方法について規定する。
この試験は，円筒状のコンタクトに適用することを意図しているが，他の形状のコンタクトに適用して
もよい。 その場合，試験を実行可能にするため，個別規格は箇条5 f)の項目について，詳細に規定するこ
とが望ましい。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-16-1:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-1:
Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16a: Probe damage（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
JIS C 5402-16-5 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16-5部：コンタクト及びターミネーション
の機械的試験−試験16e：ゲージ保持力（弾性コンタクト）
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C 5402-16-1：2014 (IEC 60512-16-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格：IEC 60512-16-5，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 16-5: Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16e: Gauge retention force (resilient
contacts)（IDT）
3
準備
3.1
試料
試料は，ターミネーション付きめすコンタクトをもつコネクタとし，個別規格に規定がある場合は結線
してもよい。コネクタの構造がキャビティ内でのコンタクトの回転を防止しない場合，回転防止を確実に
するための手段を用いる。いかなる手段も試験の妥当性に影響を与えてはならない。
回転を防止できない場合，コンタクトは，個別規格に規定している方法で，インサート及び／又はハウ
ジングに取り付けなければならない。
個別規格に規定する前処理を適用する。
3.2
装置
図1に示すテストプローブを準備する。それらは，次の要求事項に適合しなければならない。
a) 寸法Aは，供試めすコンタクトの規定する挿入最小深さの0.75倍とする。
b) 寸法Bは，結合するおすコンタクトの公称直径と同じとする。
c) 寸法Lは，寸法Aの10倍以上とする。
d) 質量Mは，規定トルク（M×L）から算出する。この算出には，ハンドルの質量を考慮する。
e) テストピンの先端は，半球形とする。
f)
テストピンは，表面を研磨した硬化鋼とする。
g) ハンドルの支点部は，丸みのある形状とする。
h) 寸法Aを供試めすコンタクトの規定する挿入最小深さを0.5倍に短くした代替テストピン，又は代替
テストピンと同じ効果が得られるハンドルの支点部と同形状のスペーサのいずれかを準備する。
1 テストピン
M テストプローブの質量
2 ハンドル
A テストピンの寸法
3 おもり
L 支点から質量の中心までの寸法
4 支点
B テストピンの直径
5 質量の中心
図1−テストプローブ
3.3
取付け
試料の取付けは，適用する場合，個別規格による。
3
C 5402-16-1：2014 (IEC 60512-16-1：2008)
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試験方法
4.1
手順
コンタクトの軸は，全試験時間中水平にする。
規定するテストピンは，供試コネクタに完全に挿入する。供試コネクタは，力が供試コンタクトの全て
の位置に加わるよう360°緩やかに回転する。
この手順は，3.2 h)に規定する寸法Aを短くした代替テストピン又はスペーサを用いて繰り返す。
その後，JIS C 5402-16-5（ゲージ保持力）の試験を行う。
4.2
測定
4.2.1
初期測定
JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。個別規格に規定するゲージ保持力の要求事項に適合しなけれ
ばならない。
4.2.2
最終測定
個別規格に規定するゲージ保持力の要求事項に適合しなければならない。
JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。特に，供試コンタクト内の弾性部分に注意して検査をする。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 試料の結線
c) 試料の取付け（要求がある場合）
d) 加えるトルク
e) ゲージ保持力の要求事項
f)
装置，手順及び測定の詳細（円筒状のコンタクトでない場合）
g) この規格に規定する試験方法との相違