C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 3
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 5
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5
3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 5
3.3 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 5
3.4 品質認証試験 ················································································································ 5
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 11
4 試験及び測定手順 ············································································································ 13
4.1 電圧処理（要求がある場合） ·························································································· 13
4.2 測定条件 ····················································································································· 13
4.3 外観及び寸法 ··············································································································· 13
4.4 電気的性能 ·················································································································· 14
4.5 端子強度 ····················································································································· 14
4.6 はんだ耐熱性 ··············································································································· 15
4.7 はんだ付け性 ··············································································································· 15
4.8 温度急変 ····················································································································· 15
4.9 振動 ··························································································································· 15
4.10 衝撃 ·························································································································· 16
4.11 バンプ ······················································································································· 16
4.12 一連耐候性 ················································································································· 16
4.13 高温高湿（定常） ········································································································ 17
4.14 耐久性 ······················································································································· 17
4.15 サージ ······················································································································· 17
4.16 逆電圧（個別規格に規定がある場合） ············································································· 18
4.17 部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合） ································································· 18
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010) 目次
（2）
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4.18 表示の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合） ································································· 18
4.19 高温保存 ···················································································································· 18
4.20 高温及び低温特性 ········································································································ 19
4.21 充放電（個別規格に規定がある場合） ············································································· 19
4.22 大電流サージ（個別規格に規定がある場合） ···································································· 19
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
（3）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流
コンデンサ
JIS C 5101-2-1
第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィ
ルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1
第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1
第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2
第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水
準EZ
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1
第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1
第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010) 目次
（4）
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JIS C 5101-15
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18
第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解
コンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ
ンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20
第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-25
第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
（5）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26
第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-26：2012
(IEC 60384-26：2010)
電子機器用固定コンデンサ−
第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体
（導電性高分子）電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 26:
Sectional specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with
conductive polymer solid electrolyte
序文
この規格は，2010年に第1版として発行されたIEC 60384-26を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない参考事項又は補足説明した事
項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電子回路基板に取り付けるラジアルリー
ド線端子形の主に電子機器用の直流回路に用いる固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
（以下，コンデンサという。）について規定する。
注記1 この規格のほかに，ラジアルリード線端子形アルミニウム固体電解コンデンサの規格として，
固体電解質のMnO2を用いたアルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサの規格である，JIS C
5101-4及びJIS C 5101-4-2がある。また，同じ固体電解質の導電性高分子を用いた規格とし
て，表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサの規格である，JIS C
5101-25及びJIS C 5101-25-1がある。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-26:2010，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 26: Sectional
specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号（IDT）は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
1.2
目的
この規格は，推奨する定格及び特性の規定，JIS C 5101-1から適切な品質評価手順，試験方法及び測定
方法の選定，並びに一般的要求事項を規定することを目的とする。この品種別通則に基づいた個別規格に
規定する個々の試験の厳しさ及び要求事項は，この規格と同等又は高い水準とする。
2
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors，Amendment
1:1967及びAmendment 2:1977（IDT）
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1，Environmental testing−Part 1:General and guidance（IDT）
JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14:2009，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
temperature（IDT）
JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ付け
性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-20:2008，Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads（IDT）
JIS Z 8601 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3:1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers（MOD）
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes（MOD）
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は，品目別通則，品種別通則又はブラ
ンク個別規格の要求事項と同等又は高い水準とする。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を
個別規格の1.9に記載し，さらに，試験計画の中に，アステリスク（*）などを付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表に示してもよい。
各個別規格に次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，全ての寸法値は，ミ
リメートル（mm）で規定する。
寸法は，円筒形の場合には，本体の直径及び長さ並びに端子の直径，長さ及び端子間隔を規定する。個
別規格に多くの項目（容量値，電圧範囲など）を規定する必要がある場合には，寸法及び寸法許容差を図
の下に表で示す。
形状が上記と異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。コンデンサ
を電子回路板用に設計していない場合は，このことを個別規格に明確に規定する。
3
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.4.2
取付け
個別規格に，通常使用する場合の取付方法並びに振動，及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付
方法を規定する。コンデンサは，その規定する方法で取り付ける。コンデンサの設計上，特別な取付具を
必要とする場合は，個別規格にその取付具を規定し，振動及びバンプ又は衝撃の各試験は，この取付具を
用いる。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.3.1
公称静電容量範囲
公称静電容量の範囲は，2.2.1による。
注記 IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の静電容量範囲と認証を受けた範囲
とが異なるとき，次の文章を追加する。
“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認定書（Qualification approval certificate）によ
る。”
1.4.3.2
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，その規定項目を追加してもよい。
1.4.3.3
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験に適用する試験方法，厳しさ及び要求事項は，個別規格に規定する。
1.4.4
表示
コンデンサ本体及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。表示項目が1.6と異なる場合は，
その項目を個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1の2.2（用語及び定義）によるほか，次による。
1.5.1
電解コンデンサの静電容量（capacitance of an electrolytic capacitor）
規定する測定周波数の近似的な正弦波交流を用いて測定した静電容量値及び抵抗値によって，等価直列
回路を構成した場合の静電容量。
1.6
表示
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
1.6.1
コンデンサ本体及び包装への表示
コンデンサ本体及び包装への表示は，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順による。
a) 公称静電容量
b) 定格電圧（直流電圧を表す記号は，記号 又は で表してもよい。）
c) 端子の極性
d) 公称静電容量許容差
e) 製造年月（又は年週）又はシリアル番号
f)
製造業者名又はその商標
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i)
引用個別規格
どの表示も，明瞭であり，指でこすっても，汚れたり又は消えたりしてはならない。
4
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.6.2
コンデンサ本体への表示
コンデンサ本体への表示は，1.6.1のa)，b)，c)，d)，e)及びf)並びに必要と思われる残りの事項をでき
る限り多く明瞭に表示する。また，コンデンサ本体への表示項目は，重複を避けることが望ましい。
1.6.3
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装への表示は，1.6.1の全ての項目を明瞭に表示する。
1.6.4
表示の追加
1.6.1に規定する以外の表示項目を追加する場合には，混乱しないようにする。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する特性は，次の中から選定することが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは，JIS C 60068-1の8.（部品耐候性カテゴリー）によ
って分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度：−55 ℃
− カテゴリ上限温度：＋105 ℃及び＋125 ℃
− 高温高湿（定常）の試験期間：21日
低温及び高温の試験温度は，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2
推奨定格値
2.2.1
公称静電容量（CN）
公称静電容量は，マイクロファラド（µF）を用いて表す。
公称静電容量は，JIS C 5063に規定するE6及びE12の標準数並びにそれらの10n倍（×10n，nは整数）
から選定することが望ましい。
2.2.2
公称静電容量許容差
公称静電容量許容差の推奨値は，±10 %又は±20 %とする。
2.2.3
定格電圧（UR）
定格電圧は，JIS Z 8601に規定するR10の標準数列を用いることが望ましい。一部の定格電圧にR20の
標準数列を用いてもよい。R10及びR20の標準数列は，次による。
− R10標準数列のもの：1.0，1.25，1.6，2.0，2.5，4.0，5.0，6.3，8.0及びそれらの10倍
− R20標準数列のもの：3.5及び35
2.2.4
サージ電圧
サージ電圧は，定格電圧の1.15倍に最も近い有効数字2桁の値に丸めた電圧（表1参照）とする。
表1−サージ電圧
単位 V
定格電圧
2.0
2.5
4.0
5.0
6.3
8.0
10
12.5
16
20
25
35
サージ電圧
2.3
2.9
4.6
5.8
7.2
9.2
12
14
18
23
29
40
2.2.5
定格温度
定格温度は，カテゴリ上限温度とする。
5
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，酸化皮膜の化成済はくの検査工程である。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ生産工程及び材
料で製造した範囲のコンデンサとする。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合には，JIS C 5101-1のQ.9（出荷ロッ
ト成績証明書）によって，出荷者が，出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。
耐久性試験後の要求する性能値は，静電容量値の変化，損失角の正接（tanδ）又は等価直列抵抗（ESR），
及び漏れ電流とする。
3.4
品質認証試験
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。ロットごと及び定期的品質検査
に基づく品質認証試験の試験計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.1及び3.4.2による。
3.4.1
定数抜取に基づく品質認証
定数抜取試験計画は，JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証用試験手順）のb)の規定によるほか，次による。
抜き取る試料は，認証を得ようとするコンデンサの全ての範囲を代表するものとし，個別規格に規定す
る全ての範囲であっても，又はその一部でもよい。
抜取試料は，定格電圧の最高及び最低と外形寸法の最大及び最小とによる4組合せを選定する。
なお，定格電圧が4種類を超える場合は，中間の定格電圧のものも試験する。これらの定格電圧と外形
寸法とのそれぞれの組合せにおいて，最大の公称静電容量を選定する。したがって，認証の場合，4組合
せ又は6組合せについて試験する。認証の試料を4組合せ未満で構成する場合には，試料数は4組合せの
場合と同数とする。
予備試料は，製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個（6組合
せの場合）又は3個（4組合せの場合）としてもよい。
表2の群0に規定する試料数は，群0の後に実施する群1〜群5の全ての群の試験を適用する場合に必
要な試料数であり，全ての群の試験を適用しない場合には，適用しない群の試験に応じてその試料数を減
らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を新たに追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加
した試料数とする。
品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数，並びに合格判定数を，表2に示す。
3.4.2
試験
表2及び表3に規定する一連の試験計画は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要な
試験であり，各群の試験は，記載の順序に従う。
全ての試料は，群0の試験を行い，その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は，その他の群に用いない。
不適合数1は，ある1個のコンデンサが，ある試験群の全て又は一部を満足しない場合をいう。
不適合数がゼロの場合に，品質認証は合格とする。
注記 表2及び表3は，定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表2は，各試験又は
試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方，表3は，箇条4に規定す
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る試験の詳細を規定しており，また，試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに個別
規格に選定する試験方法，試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は，個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表2−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数（許容不適合数）−評価水準EZ
群
試験項目
この規格の細分箇条番号
試料数b)
n
合格判定数c)
c
0
大電流サージa)
外観
寸法
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tanδ）
等価直列抵抗（ESR）
4.22
4.3
4.3
4.4.1
4.4.2
4.4.3
4.4.4
120
0
予備試料
12
1
A
端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性a)
4.5
4.6
4.17
12
0
1
B
はんだ付け性
表示の耐溶剤性a)
温度急変
振動
衝撃又はバンプ（個別規格で規定）
4.7
4.18
4.8
4.9
4.10又は4.11
24
0
1
一連耐候性
4.12
36
0
2
高温高湿（定常）
4.13
24
0
3
耐久性
4.14
36
0
4
高温保存
サージ
逆電圧a)
4.19
4.15
4.16
12
0
5
高温及び低温特性
充放電a)
4.20
4.21
12
0
注a) 個別規格に規定がある場合に適用する。
b) 定格電圧と外形寸法との組合せは，3.4.1を参照する。
c) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
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表3−品質認証試験計画
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び
合格判定数（c）c)
要求事項a)
群0
4.22 大電流サージ（個別
規格に規定がある場合）
ND
表2による。
4.3 外観
外観に損傷がなく，表
示は明瞭とする。
4.3 寸法（詳細）
個別規格の規定によ
る。
4.4.1 漏れ電流
保護抵抗：1 000 Ω
4.4.1.2による。
4.4.2 静電容量
周波数：... Hz
4.4.2による。
4.4.3 損失角の正接（tanδ）
周波数：... Hz
4.4.3.2による。
4.4.4 等価直列抵抗（ESR）
周波数：100 kHz
4.4.4による。
群1A
4.5 初期測定
D
静電容量
表2による。
4.5 端子強度
方法及び厳しさ：
JIS C 5101-1の4.13（端子強度）
による。
試験Ua1（引張強さ）
試験Ub（曲げ強さ）
外観
外観に損傷がない。
4.6 はんだ耐熱性
4.6.1 初期測定
予備乾燥なし。
静電容量
4.6.2 試験条件
試験方法及び厳しさ：はんだ槽法
（JIS C 60068-2-20 試験Tb，
方法1）
4.6.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表
示は明瞭とする。
漏れ電流d)
4.4.1.2による。
静電容量
個別規格の規定によ
る。
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2による。
等価直列抵抗（ESR）
個別規格の規定によ
る。
4.17 部品の耐溶剤性（個
別規格に規定がある場
合）
溶剤：イソプロパノール
溶剤の温度：23 ℃±5 ℃
方法2
後処理時間：1 h〜2 h
個別規格の規定によ
る。
群1B
4.7 はんだ付け性
D
端子の加速エージング処理：行わ
ない。
試験方法：はんだ槽法
（JIS C 60068-2-20 試験Ta，方
法1）
表2による。
4.7.2 最終測定
外観
4.7.2による。
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び
合格判定数（c）c)
要求事項a)
群1B（続き）
D
表2による。
4.18 表示の耐溶剤性（個
別規格に規定がある場
合）
溶剤：イソプロパノール
溶剤の温度：23 ℃±5 ℃
方法1
ラビング材料：綿毛
後処理時間：...
表示は明瞭とする。
4.8 温度急変
4.8.1 初期測定
静電容量
4.8.2 試験条件
TA：カテゴリ下限温度
TB：カテゴリ上限温度
回数：5回
試験期間t1：30 min
後処理時間：1 h〜2 h
4.8.3 最終測定
漏れ電流d)
4.4.1.2による。
静電容量
4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2による。
4.9 振動
取付方法：個別規格の規定による。
周波数範囲：10 Hz〜55 Hz
振幅：0.75 mm又は加速度:100 m/s2
総試験時間：6 h［3方向（XYZ座
標軸）で各2 h］
4.9.2 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表
示は明瞭とする。
静電容量
4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.10 衝撃
（又は4.11 バンプ）e)
取付方法：個別規格の規定による。
方向：X，Y及びZの3軸の両方
向
回数：各3回
ピーク加速度：500 m/s2
作用時間：11 ms
4.10.2 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表
示は明瞭とする。
静電容量
4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.11 バンプ
（又は4.10 衝撃）e)
取付方法：個別規格の規定による。
回数：1 000回
ピーク加速度：400 m/s2
作用時間：6 ms
4.11.2 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表
示は明瞭とする。
静電容量
4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び
合格判定数（c）c)
要求事項a)
群1
4.12 一連耐候性
D
表2による。
4.12.1 初期測定
静電容量
4.12.2 高温
温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16 h
4.12.3 温湿度サイクル
（試験Db），最初のサ
イクル
4.12.4 低温
温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2 h
4.12.5 温湿度サイクル
（試験Db），残りのサ
イクル
4.12.7 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は
明瞭とする。
漏れ電流 d)
4.4.1.2による。
静電容量
4.12.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2の規定値の1.5倍以
下
群2
4.13 高温高湿（定常）
D
後処理時間：1 h〜2 h
表2による。
4.13.1 初期測定
静電容量
4.13.2 試験条件
試験温度：40 ℃±2 ℃
相対湿度：（93±3）%
試験期間：21日間
4.13.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は
明瞭とする。
漏れ電流
4.4.1.2の規定値の5倍以下
静電容量
個別規格の規定による。
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2の規定値の1.5倍以
下
群3
4.14 耐久性
D
表2による。
4.14.1 初期測定
静電容量
4.14.2 試験条件
試験時間：1 000 h
試験温度：カテゴリ上限温度
印加電圧：定格電圧
後処理時間：1 h〜2 h
4.14.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は
明瞭とする。
漏れ電流
4.4.1.2による。
静電容量
4.14.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2の規定値の1.5倍以
下
等価直列抵抗（ESR）
4.4.4.2の規定値の2倍以下
10
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び
合格判定数（c）c)
要求事項a)
群4
D
表2による。
4.19 高温保存
4.19.1 初期測定
静電容量
4.19.2 試験条件
試験温度：カテゴリ上限温度
試験時間：96 h±4 h
後処理時間：16 h以上
4.19.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は
明瞭とする。
漏れ電流d)
4.4.1.2による。
静電容量
4.19.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2による。
4.15 サージ
4.15.1 初期測定
静電容量
4.15.2 試験
サイクル数：1 000回
温度：... ℃
印加電圧：1.15UR
保護抵抗：1 000 Ω
充電時間：30 s
無負荷時間：5 min 30 s
4.15.3 最終測定
外観
外観に損傷がない。
漏れ電流d)
4.4.1.2による。
静電容量
4.15.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦15 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2による。
4.16 逆電圧（個別規格に
規定がある場合）
4.16.1 初期測定
静電容量
4.16.2 試験
コンデンサに次の条件a)を行
い，続いて条件b)を行う。
条件a)
温度：カテゴリ上限温度
印加電圧：極性逆方向に1 V
時間：125 h
条件b)
温度：カテゴリ上限温度
印加電圧：極性方向にUC
時間：125 h
4.16.3 最終測定
漏れ電流
4.4.1.2による。
静電容量
4.16.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2による。
11
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−品質認証試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び
合格判定数（c）c)
要求事項a)
群5
4.20 高温及び低温特性
D
コンデンサは，各段階で測定する。
表2による。
段階1：20 ℃
静電容量（個別規格に規定があ
る場合）
比較用に使用する。
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量（個別規格に規定があ
る場合）
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦20 %
等価直列抵抗（ESR）
4.4.4.2の規定値の2倍以下
段階3：カテゴリ上限温度
漏れ電流
4.4.1.2 規定値の12.5倍以
下
静電容量（個別規格に規定があ
る場合）
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦20 %
等価直列抵抗（ESR）（個別規
格に規定がある場合）
4.4.4.2の規定値の2倍以下
4.21 充放電
（個別規格に規定があ
る場合）
4.21.1 初期測定
静電容量
4.21.2 試験
温度：... ℃
充放電サイクル数：106
充電時間：0.5 s
放電時間：0.5 s
4.21.3 最終測定
外観
外観に損傷がなく，表示は
明瞭とする。
漏れ電流d)
4.4.1.2による。
静電容量
4.21.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接（tanδ）
4.4.3.2の規定値の1.5倍以
下
等価直列抵抗（ESR）
4.4.4.2の規定値の2倍以下
注a) 細分箇条番号，試験項目，試験条件及び要求事項は，この規格の箇条4による。
b) この表の中で D：破壊，ND：非破壊
c) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
d) 4.1の電圧処理を適用する。
e) 個別規格に，バンプ又は衝撃試験のうち，いずれの試験を適用するか規定する。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1
群A及び群B検査
この検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
2a) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び公称静電容量）と外形寸法とによる組合
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
せを代表とし，次の事項を考慮する。
− 試料数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，1組合せ当たりの試料数が4個以下のとき，製造業
者は，国内監督検査機関の承認を必要とする。
3.5.1.2
群C検査
この検査は，定期的に実施する。
試料は，規定する期間に製造中のコンデンサを代表とし，かつ，外形寸法の大，中及び小に分類したコ
ンデンサを選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために，各寸法から一つの電圧を試験する。
その後の期間では，認証の全ての範囲を対象とするために，その他の寸法及び／又は定格電圧の試料を
試験する。
3.5.2
品質確認検査の試験計画
ロットごと及び定期的品質確認検査の抜取計画は，表4及び表5による。
ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格による。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後の出荷）の規定によって，群A及び群Bに規定する静電容量，漏れ電
流及びはんだ付け性について再検査を行う。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，EZとすることが望ましい（表4及び表5参照）。
表4−ロットごとの品質確認検査の抜取計画（評価水準EZ）
検査副群a)
細分箇条番号及び試験
検査水準
IL
試料数
n
合格判定数b)
c
A0
4.22
4.4.1
4.4.2
4.4.3
4.4.4
大電流サージ（個別規格に規定がある場合）
漏れ電流
静電容量
損失角の正接（tanδ）
等価直列抵抗（ESR）
100 % c)
A1
4.3.1
外観
S-3
d)
0
A2
4.3 e)
寸法（ゲージ法）
S-3
d)
0
B
4.7
4.17
はんだ付け性
部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）
S-3
d)
0
注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) 不適合品数は，許容できる基準を示している。不適合品数が表の数以下の場合には，このロットは合格とする。
c) この検査は，工程でロット（内の全数）から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取
水準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に，抜取試料を全て検査する。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には，このロットは不合格とす
るが，品質水準を算出するために，不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査デ
ータによって算出する。
d) 試料数（n）：JIS Z 9015-1に規定する付表1［サンプル（サイズ）文字］の検査水準（IL）／ロットサイズで割
り当てるサンプル文字に従い，付表2-A［なみ検査の1回抜取方式（主抜取表）］のサンプル文字に対応する試
料数とする。
e) JIS C 5101-1の4.4.2［寸法（ゲージ法）］
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−定期的品質確認検査の抜取計画（評価水準EZ）
検査副群a)
細分箇条番号及び試験
検査周期（月）
p
試料数
n
合格判定数b)
ｃ
C1A
4.3
4.5
4.6
4.17
外観及び寸法（詳細）
端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある
場合）
6
12
0
C1B
4.7
4.18
4.8
4.9
4.10
又は4.11
はんだ付け性
表示の耐溶剤性（個別規格に規定がある
場合）
温度急変
振動
衝撃
又はバンプ（個別規格に規定）
6
12
0
C1
4.12
一連耐候性
6
24
0
C2
4.13
高温高湿（定常）
6
24
0
C3
4.14
耐久性
3
36
0
C4
4.19
4.15
4.16
高温保存
サージ
逆電圧（個別規格に規定がある場合）
6
12
0
C5
4.20
4.21
高温及び低温特性
充放電（個別規格に規定がある場合）
6
12
0
注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) 不適合品数は，許容できる基準を示している。不適合品数が表の数以下の場合には，このロットは合格とする。
4
試験及び測定手順
注記 この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。
4.1
電圧処理（要求がある場合）
コンデンサに，約10 Ω〜約1 000 Ωの保護抵抗を直列に接続し，定格電圧に等しい直流電圧を105 ℃±
2 ℃中で2時間印加する。コンデンサへの印加電圧は，定格電圧の±3 %を維持する。
次に，コンデンサを常温まで冷却した後に，約1 Ω/Vの抵抗器を通じて放電し，標準状態に1時間以上
放置する。
4.2
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.2.1［測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）］による。
4.3
外観及び寸法
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）によるほか，次による。
4.3.1
外観
外観は，供試品及び要求する品質水準に適切な，約10倍の倍率で，かつ，適切な照度をもった装置で検
査する。
注記 検査員には，適切な測定装置に加えて，直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
4.3.2
要求事項
コンデンサは，材料，設計，構造，物理的な寸法及び仕上がりが個別規格に規定する要求事項を満足す
ることを証明するために検査する。
14
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.4
電気的性能
4.4.1
漏れ電流
漏れ電流は，JIS C 5101-1の4.9（漏れ電流）によるほか，次による。
4.4.1.1
測定条件
コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し，その両端に定格電圧を印加する。個別規格に規定がない場合
には，保護抵抗の値は，約1 000 Ωとする。
電圧処理の規定がある場合は，4.1の電圧処理を行ってから測定する。
4.4.1.2
要求事項
漏れ電流は，20 ℃±2 ℃で0.2 CNUR（μA）又は500 μAのいずれか大きい値以下とする。
4.4.2
静電容量
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
4.4.2.1
測定条件
静電容量の測定周波数は，個別規格の規定によって100 Hz又は120 Hzとする。コンデンサの端子に印
加する測定電圧（交流電圧の実効値）は，0.5 V以下とする。
測定の間，直流バイアス電圧は印加しないほうがよい。
注記 測定交流電圧によるコンデンサへの逆電圧印加を避けるために，0.5 V〜1.0 Vの直流バイアス
電圧を印加してもよい。
測定器の確度は，絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2 %以下とする。
4.4.2.2
要求事項
静電容量は，規定の許容差の範囲内とする。
4.4.3
損失角の正接（tanδ）
損失角の正接は，JIS C 5101-1の4.8.1［誘電正接（損失角の正接）］によるほか，次による。
4.4.3.1
測定条件
損失角の正接は，4.4.2.1に規定する条件で測定する。
測定器の確度は，絶対値で0.01以下とする。
4.4.3.2
要求事項
損失角の正接（20 ℃）は，個別規格の要求事項を満足する。
4.4.4
等価直列抵抗（ESR）
等価直列抵抗は，JIS C 5101-1の4.8.2［等価直列抵抗（ESR）］によるほか，次による。
4.4.4.1
測定条件
周囲温度は，20 ℃±2 ℃とする。
測定電圧（交流電圧の実効値）は，0.5 V以下とする。
測定周波数は，100 kHz±10 kHzとする。
測定器の確度は，規定値の5 %又は0.02 Ωのいずれか大きい値以下とする。
4.4.4.2
要求事項
等価直列抵抗は，個別規格の要求事項を満足する。
4.5
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
試験方法及び適用する厳しさは，個別規格による。
静電容量は，4.4.2によって測定する。
15
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.6
はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。
4.6.1
初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.6.2
試験条件
個別規格に規定がない場合は，JIS C 60068-2-20による。
4.6.3
最終測定及び要求事項
外観検査は，個別規格の規定によるほか，次による。
適切な照明で，約10倍の倍率で観察したとき，クラックなどの損傷がない。
コンデンサは，規定の測定を行い，表3に規定する要求事項を満足する。
4.7
はんだ付け性
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。
4.7.1
試験条件
個別規格に規定がない場合は，次による。
はんだ槽法〔JIS C 60068-2-20の表1［はんだ槽法によるはんだ付け性試験の厳しさ（温度及び時間）］
参照〕
Sn-Pb系共晶はんだ合金：235 ℃±3 ℃，5 s±0.5 s
Sn-Ag-Cu系はんだ合金：245 ℃±3 ℃，3 s±0.3 s
Sn-Cu系はんだ合金：250 ℃±3 ℃，3 s±0.3 s
4.7.2
最終測定及び要求事項
コンデンサは，適切な照明で，倍率約10倍の拡大鏡を用いて観察したとき，破損の痕跡がない。
端子のはんだ付けする部分の表面は，ピンホール，不ぬれ，はんだはじきなどの欠点が僅かに点在する
以外は，新しいはんだで覆う。また，これらの欠点は，1か所に集中しない。
端子の先端部分などでめっきのない部分は，評価の対象としない。
注記 JIS C 60068-2-20では，“端子部それぞれのはんだ付けに重要な部位の95 %は，欠点のない連続
したはんだで覆われている。”を要求事項としている。このほか，欠点箇所が集中していないこ
とも必要である。
4.8
温度急変
温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
4.8.1
初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.8.2
試験条件
コンデンサは，JIS C 60068-2-14の試験Na（温度急変）を5回行う。各温度にさらす時間は，30分間と
する。
後処理時間は，1時間〜2時間とする。
4.8.3
最終測定及び要求事項
後処理後，コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する
要求事項を満足する。
4.9
振動
振動は，JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，次による。
16
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.9.1
試験条件
試験の厳しさは，次による。
− 波形：正弦波
− 周波数：10 Hz〜55 Hz
− 振幅又は加速度：0.75 mm又は100 m/s2
− 方向及び時間：3方向，各2 h
個別規格には，取付方法を規定する。
4.9.2
最終測定及び要求事項
コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する要求事項を
満足する。
4.10 衝撃
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，次による。
なお，衝撃又はバンプのいずれの試験を適用するかは，個別規格の規定による。
4.10.1 試験条件
試験の厳しさは，次による。
− 波形：正弦半波
− ピーク加速度：500 m/s2
− 作用時間：11 ms
個別規格には，取付方法を規定する。
4.10.2 最終測定及び要求事項
コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する要求事項を
満足する。
4.11 バンプ
バンプは，JIS C 5101-1の4.18（バンプ）によるほか，次による。
なお，バンプ又は衝撃のいずれの試験を適用するかは，個別規格に規定する。
4.11.1 試験条件
試験の厳しさは，次による。
− バンプの総回数：1 000回
− ピーク加速度：400 m/s2
− 作用時間：6 ms
個別規格には，取付方法を規定する。
4.11.2 最終測定及び要求事項
コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する要求事項を
満足する。
4.12 一連耐候性
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.12.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.12.2 高温
高温は，JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.12.3 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル
温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最
初のサイクル］による。
4.12.4 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.4（低温）による。
4.12.5 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル
温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残
りのサイクル］による。
4.12.6 後処理
コンデンサを液体中に浸せき（漬）した場合には，過剰な液体を取り除き，後処理時間は，1時間〜2
時間とする。
4.12.7 最終測定及び要求事項
コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する要求事項を
満足する。
4.13 高温高湿（定常）
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
4.13.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.13.2 試験条件
試験の厳しさは，次による。
− 試験温度：40 ℃±2 ℃
− 相対湿度：（93±3）%
− 試験期間：21日間
4.13.3 最終測定及び要求事項
後処理後，コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する
要求事項を満足する。
4.14 耐久性
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
4.14.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.14.2 試験条件
試験の厳しさは，次による。
− 試験期間：1 000 h
− 試験温度：カテゴリ上限温度
− 印加電圧：定格電圧（個別規格に規定がない場合）
4.14.3 最終測定及び要求事項
1時間〜2時間の後処理後，コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，
表3に規定する要求事項を満足する。
4.15 サージ
サージは，J1S C 5101-1の4.26（サージ）によるほか，次による。
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C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.15.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.15.2 試験条件
コンデンサには，表1に規定するサージ電圧を，1 000 Ωの保護抵抗器を通して30秒間印加して充電す
る。その後，5分30秒間の無負荷（強制放電を行わないで内部放電だけに依存する。）状態にする。これ
を1サイクルとする。
試験は，15 ℃からカテゴリ上限温度までの間の個別規格に規定する温度で，1 000サイクルとする。
4.15.3 最終測定及び要求事項
1時間〜2時間の後処理後に，コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，
表3に規定する要求事項を満足する。
4.16 逆電圧（個別規格に規定がある場合）
4.16.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.16.2 試験条件
試験条件は，次による。
コンデンサは，a)に続けてb)を試験する。
a) 試験温度：カテゴリ上限温度
− 印加電圧：1 Vの直流電圧を極性と逆方向に印加
− 試験時間：125 h
b) 試験温度：カテゴリ上限温度
− 印加電圧：カテゴリ電圧と等しい直流電圧を極性方向に印加
− 試験時間：125 h
4.16.3 最終測定及び要求事項
後処理後，コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する
要求事項を満足する。
4.17 部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）
部品の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）によるほか，次による。
コンデンサは，次の厳しさで試験する。
− 溶剤：2-プロパノール（イソプロパノール）
− 溶剤の温度：23 ℃±5 ℃
4.18 表示の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）
表示の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）によるほか，次による。
コンデンサは，次の厳しさで試験する。
− 溶剤：2-プロパノール（イソプロパノール）
− 溶剤の温度：23 ℃±5 ℃
4.19 高温保存
高温保存は，JIS C 5101-1の4.25.1（高温保存）によるほか，次による。
4.19.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
19
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.19.2 試験条件
試験の厳しさは，次による。
− 試験温度：カテゴリ上限温度
− 試験時間：96 h±4 h
4.19.3 最終測定及び要求事項
16時間以上の後処理後，コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表
3に規定する要求事項を満足する。
4.20 高温及び低温特性
高温及び低温特性は，JIS C 5101-1の4.29（高温及び低温特性）によるほか，次による。
4.20.1 測定及び要求事項
コンデンサは，電気的性能を測定し，表3に規定する要求事項を満足する。
4.21 充放電（個別規格に規定がある場合）
充放電は，JIS C 5101-1の4.27（充放電試験及び突入電流試験）によるほか，次による。
4.21.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.21.2 試験条件
試験条件は，次による。
充放電は，コンデンサを個別規格に規定する温度（15 ℃からカテゴリ上限温度までの範囲内）で，次の
a)の充電に引き続き，b)の放電を1サイクルとして繰り返し，規定の回数まで行う。
a) 充電
− 印加電圧：定格電圧に等しい直流電圧
− 電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和：RC値が0.1 sとなる抵抗値
− 充電時間：0.5 s
b) 放電
− 電圧の印加：行わない
− 放電抵抗値：RC値が0.1 sとなる抵抗値
− 放電時間：0.5 s
充放電サイクル数は，106回とする。
4.21.3 最終測定及び要求事項
コンデンサを目視で外観を検査し，電気的性能を測定する。コンデンサは，表3に規定する要求事項を
満足する。
4.22 大電流サージ（個別規格に規定がある場合）
大電流サージは，JIS C 5101-1の4.39（大電流サージ）によるほか，次による。
4.22.1 初期測定
初期測定は，適用しない。
4.22.2 最終測定及び要求事項
最終測定及び要求事項は，群0又はブランク個別規格の群Aによる。
20
C 5101-26：2012 (IEC 60384-26：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献 JIS C 5101-4 電子機器用固定コンデンサ−第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）
及び非固体電解コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-4:2007，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4:
Sectional specification−Aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) and non-solid
electrolyte（IDT）
JIS C 5101-4-2 電子機器用固定コンデンサ−第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体
（MnO2）電解コンデンサ−評価水準EZ
注記 対応国際規格：IEC 60384-4-2:2007，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part
4-2: Blank detail specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2)
electrolyte−Assessment level EZ（IDT）
JIS C 5101-25 電子機器用固定コンデンサ−第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウ
ム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-25:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part
25: Sectional specification−Surface mount fixed aluminium electrolytic capacitors with
conductive polymer solid electrolyte（IDT）
JIS C 5101-25-1 電子機器用固定コンデンサ−第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定
アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ−評価水準EZ
注記 対応国際規格：IEC 60384-25-1，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 25-1:
Blank detail specification−Surface mount fixed aluminum electrolytic capacitors with
conductive polymer solid electrolyte−Assessment level EZ（IDT）