C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 3
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 5
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5
3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 5
3.3 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 5
3.4 品質認証試験 ················································································································ 5
3.5 品質確認検査 ················································································································ 9
4 試験及び測定手順 ············································································································ 11
4.1 外観及び寸法 ··············································································································· 11
4.2 電気的試験 ·················································································································· 11
4.3 端子強度 ····················································································································· 14
4.4 はんだ耐熱性 ··············································································································· 14
4.5 はんだ付け性 ··············································································································· 14
4.6 温度急変 ····················································································································· 14
4.7 振動 ··························································································································· 14
4.8 バンプ ························································································································ 15
4.9 衝撃 ··························································································································· 15
4.10 一連耐候性 ················································································································· 15
4.11 高温高湿（定常） ········································································································ 16
4.12 耐久性 ······················································································································· 16
4.13 部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合） ································································· 17
4.14 表示の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合） ································································· 17
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって，JIS C 5101-11:1998は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水準
EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
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JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コン
デンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-11：2014
(IEC 60384-11：2008)
電子機器用固定コンデンサ−
第11部：品種別通則：
固定ポリエチレンテレフタレートフィルム
金属はく直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 11: Sectional specification-Fixed polyethylene-terephthalate film
dielectric metal foil d.c. capacitors
序文
この規格は，2008年に第3版として発行されたIEC 60384-11を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，定格電圧が6 300 V以下で誘電体にポリエ
チレンテレフタレートフィルムを，及び電極に薄い金属はくを用いる固定直流コンデンサ（以下，コンデ
ンサという。）について規定する。定格電圧が1 000 Vを超えるコンデンサの場合は，個別規格に試験方法
及び要求事項を追加して規定してもよい。
この規格に規定するコンデンサは，電子機器用である。
電磁障害防止用コンデンサは，JIS C 5101-14を適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-11:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 11: Sectional specification
−Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.2
目的
この規格の目的は，この品種のコンデンサに推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1
から適切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般的要求性能を規定することである。この
品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格と同等又はより高い水
準とする。
2
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
注記 対応国際規格：IEC 60062:2004，Marking codes for resistors and capacitors（MOD）
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1:1967及びAmendment 2:1977（IDT）
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1，Environmental testing−Part 1: General and guidance（IDT）
JIS Z 8601 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3:1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers（MOD）
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記1 対応国際規格：IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
（MOD）
注記2 JIS Z 9015-1の本来の対応国際規格は，ISO 2859-1であるが，IEC 60384-11は，IEC
60410:1973を引用している。このIEC 60410:1973の1回での抜取検査方式は，ISO 2859-1
と同じであるため，IEC 60410:1973をこの規格ではJIS Z 9015-1の対応国際規格の位置づ
けとした。
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格は，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求性能と同等又は高い水準とする。よ
り厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，試験計画の中に，例え
ば，アステリスク（＊）を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
個別規格には次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する細分箇条の中から選定する。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，全ての寸法値は，ミ
リメートル（mm）で規定する。
寸法は，本体の長さ，幅及び高さ並びに端子の幅，長さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は，本体の
直径及び長さ，並びに端子の直径及び長さを規定する。公称静電容量値と定格電圧とによる幾つかの組合
せを個別規格に規定する場合は，必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が上記のコンデンサと異なる場合は，個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。コ
ンデンサをプリント配線板用に設計していない場合は，個別規格の中にそのことを明記する。
3
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.4.2
取付け
個別規格には，通常使用する場合並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方法を規定
する。コンデンサは，その規定した方法で取り付ける。コンデンサの設計上特別な取付具を必要とする場
合は，個別規格にその取付具を規定し，振動及びバンプ又は衝撃の各試験には，この取付具を使用する。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.3.1
公称静電容量範囲
公称静電容量の範囲は，2.2.1による。
注記 IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた
範囲とが異なるとき，次の文章を追加する。
“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認証書（Qualification approval certificate）によ
る。”
1.4.3.2
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，その規定を追加してもよい。
1.4.3.3
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性に適用する試験方法，厳しさ及び要求性能は，個別規格の規定による。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。1.6と異なる場合は，その項目を個
別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1の2.2（用語及び定義）によるほか，次による。
1.5.1
定格電圧，UR（rated voltage）
定格温度でコンデンサに連続的に印加できる直流電圧の最大値。
注記 コンデンサに印加できる直流電圧とは，直流電圧と交流電圧のピーク値との和が，定格電圧を
超えないものである。また，交流電圧の最大値は，個別規格に規定がない場合には，次に示す
それぞれの周波数での定格電圧に対する割合を超えないで，かつ，280 Vを超えない値とする。
50 Hz： 20 %
100 Hz： 15 %
1 kHz： 3 %
10 kHz： 1 %
1.6
表示
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
1.6.1
コンデンサ本体及び包装への表示
コンデンサ本体及び包装への表示は，次の項目から選定する。その表示の優先順位は，記載の順とする。
a) 公称静電容量（明瞭な文字又はJIS C 5062に基づく記号）
b) 定格電圧（直流電圧を表す記号d.c.は，記号 ̲ ̲ ̲ 又は で表してもよい。）
c) 公称静電容量許容差
d) カテゴリ電圧
e) 製造年月（又は年週）
4
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
f)
製造業者名又はその商標（略号を含む。）
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i)
引用個別規格
1.6.2
コンデンサ本体への表示
コンデンサ本体には，1.6.1のa)，b) 及びc) 並びに必要な項目をできるだけ多く明瞭に表示する。コン
デンサの表示内容の重複は，避けることが望ましい。
1.6.3
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.1の全ての項目を明瞭に表示する。
1.6.4
表示の追加
1.6.1に規定する以外の表示項目を追加する場合は，混乱しないように行う。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する特性値は，次の中から選定することが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは，JIS C 60068-1の8.（部品耐候性カテゴリー）によ
って分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃及び−25 ℃，
カテゴリ上限温度：＋85 ℃，＋100 ℃，＋105 ℃及び＋125 ℃
高温高湿（定常）の試験期間：4日，10日，21日及び56日
低温及び高温の試験温度は，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
注記 高温高湿（定常）の試験条件は，温度40 ℃，相対湿度90 %〜95 %である。
2.2
推奨定格値
2.2.1
公称静電容量（CN）
公称静電容量は，JIS C 5063に規定するE6の標準数列1，1.5，2.2，3.3，4.7及び6.8並びにそれらの
10n倍（×10n，nは整数）とする。
その他の値が要求される場合は，E12の標準数列から選定することが望ましい。
2.2.2
公称静電容量許容差
公称静電容量許容差は，±5 %，±10 %及び±20 %とすることが望ましい。
2.2.3
定格電圧（UR）
定格電圧は，JIS Z 8601に規定するR5及びR10標準数列の数値を用いた40 V，50 V，63 V，100 V，160
V，200 V及び250 V並びにこれらの数値の10n倍（×10n，nは整数）とする。
注記 R10標準数列の値である定格電圧50 V及び200 Vは，我が国で広く用いているため追加した。
2.2.4
カテゴリ電圧（UC）
85 ℃のカテゴリ電圧は，定格電圧（UR）とする。
カテゴリ上限温度が100 ℃の場合のカテゴリ電圧は，0.8 URとする。
カテゴリ上限温度が105 ℃の場合のカテゴリ電圧は，0.75 URとする。
カテゴリ上限温度が125 ℃の場合のカテゴリ電圧は，0.5 URとする。
5
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2.2.5
定格温度
定格温度は，85 ℃とする。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ製造工程及び材
料で製造した範囲のコンデンサとする。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合は，JIS C 5101-1のQ.9（出荷ロット
成績証明書）によって，出荷者が出荷ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求する
性能値は，静電容量値の変化，誘電正接（tan δ）及び絶縁抵抗とする。
3.4
品質認証試験
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.1
及び3.4.2による。
3.4.1
定数抜取手順に基づく品質認証
3.4.1.1
抜取方法
定数抜取手順は，JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証用試験手順）のb) による。試料は，認証を得ようと
するコンデンサの全ての範囲を代表するものとし，個別規格に規定する全ての範囲であっても，又はその
一部でもよい。
抜き取る試料は，定格電圧の最低及び最高と，それぞれの電圧に対応する公称静電容量の最小及び最大
による組合せとする。定格電圧が4種類を超える場合は，中間の定格電圧のものも追加して試験する。こ
のように一つの認証範囲の試験には，4組合せ（公称静電容量と定格電圧との組合せ）又は6組合せの試
料を必要とする。認証範囲からの試料が4組合せ未満で構成される場合には，試料数は4組合せの場合と
同数とする。
予備の試料は，次による。
a) 群0での許容不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
群0に規定する試料は，全ての群の試験を適用する場合の試料数であり，全ての試験を適用しない場合
には，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
表1に品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数並びに合格判定数を示す。
3.4.2
試験
表1及び表2に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
全ての試料は，群0の試験を行った後に，その他の群に配分する。群0の試験中に発生した不適合品は，
その他の群に用いない。
不適合数が各群又は各副群ごとに規定する合格判定数を超えないで，かつ，不適合数の合計が総合格判
6
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定数を超えない場合の品質認証は，合格とする。
注記 表1及び表2は，定数抜取手順に基づく品質認証試験の計画を構成する。表1は，各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。一方，表2は，箇条4の試験
の詳細を規定しており，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定
する試験方法，試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する
品質確認検査と同じである。
表1−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準EZ
群
試験項目
この規格の細分箇条番号
試料数
n a)
合格判定数
c
0
外観
寸法
静電容量
誘電正接（tan δ）
耐電圧
絶縁抵抗
4.1
4.1
4.2.2
4.2.3
4.2.1
4.2.4
108
0
予備試料
12
1A 端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性b)
4.3
4.4
4.13
12
0
1B はんだ付け性
表示の耐溶剤性b)
温度急変
振動
バンプ又は衝撃b)
4.5
4.14
4.6
4.7
4.8又は4.9
12
0
1
一連耐候性
4.10
24
0
2
高温高湿（定常）
4.11
24
0
3
耐久性
4.12
36
0
4
温度による静電容量変化b)
4.2.5
24
0
注a) 公称静電容量と定格電圧との組合せは，この規格の3.4.1による。
b) 個別規格に規定がある場合に適用する。
7
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び
試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）
要求性能a)
群0
4.1 外観
ND
表1による。
4.1による。
表示は，明瞭とする。
その他は，個別規格の規定
による。
4.1 寸法（詳細）
4.2.1 耐電圧
4.2.2 静電容量
方法は，個別規格の規定による。
個別規格の規定による。
絶縁破壊又はフラッシオー
バがない。
個別規格に規定の許容差に
よる。
4.2.3 誘電正接（tan δ）
4.2.4 絶縁抵抗
周波数：1 kHz
方法は，個別規格の規定による。
4.2.3.2による。
4.2.4.2による。
群1A
4.3.1 初期測定
D
静電容量
誘電正接（tan δ）
CN≦10 μF：1 kHz
CN＞10 μF：50 Hz〜120 Hz
表1による。
4.3 端子強度
4.4 はんだ耐熱性
外観
初期乾燥なし
方法は，個別規格の規定による。
（方法1又は方法2）
外観に損傷がない。
4.4.2 最終測定
外観
外観に損傷がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
4.3.1の測定値に対する
|∆C/C|は，2 %以下とす
る。
4.13 部品の耐溶剤性
（個別規格に規定が
ある場合）
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法2
後処理時間：…
個別規格の規定による。
群1B
4.5 はんだ付け性
D
エージングは，行わない。
方法は，個別規格の規定による。
表1による。
端子に，はんだが良好に付
着しているか又ははんだ
小球法の場合は，… s以
内にはんだが流れる。
4.14 表示の耐溶剤性
（個別規格に規定が
ある場合）
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理時間：…
個別規格の規定による。
4.6.1 初期測定
静電容量
誘電正接（tan δ）
CN≦10 μF：1 kHz
CN＞10 μF：50 Hz〜120 Hz
4.6 温度急変
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t1＝30分間
外観
外観に損傷がない。
8
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）
要求性能a)
群1B（続き）
4.7 振動
D
取付方法は，個別規格の規定によ
る。
周波数範囲：… Hz〜… Hz
振幅：0.75 mm又は加速度：100
m/s2（いずれか緩い方）
総試験時間：6 h
表1による。
4.7.2 最終測定
外観
外観に損傷がない。
4.8 バンプ
（又は4.9 衝撃）c)
取付方法は，個別規格の規定によ
る。
バンプ回数：…
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
4.9 衝撃
（又は4.8 バンプ）c)
取付方法は，個別規格の規定によ
る。
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
4.8.3又は4.9.3 最終測
定
外観
静電容量
外観に損傷がない。
4.6.1の測定値に対する
|∆C/C|は，5 %以下とする。
誘電正接（tan δ）
個別規格の規定による。
群1
4.10 一連耐候性
4.10.2 高温
D
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
表1による。
4.10.3 温湿度サイクル
（試験Db），最初のサ
イクル
4.10.4 低温
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
4.10.5 減圧（個別規格に
規定がある場合）
気圧：8 kPa
4.10.5.3 中間測定
外観
永久破壊，フラッシオーバ
又はケースに異常な変形
がない。
4.10.6 温湿度サイクル
（試験Db），残りのサ
イクル
後処理時間：1 h〜2 h
4.10.6.2 最終測定
外観
外観に損傷がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測
定値に対する|∆C/C|は，
5 %以下とする。
誘電正接（tan δ）
tan δ：0.01又は4.3.1若しく
は4.6.1の測定値の1.2倍
のいずれか大きい方の値
以下
絶縁抵抗
4.2.4.2の規定値の50 %以上
9
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）
要求性能a)
群2
4.11 高温高湿（定常）
4.11.1 初期測定
D
静電容量
誘電正接（tan δ）
CN≦10 μF：1 kHz
CN＞10 μF：50 Hz〜120 Hz
表1による。
4.11.3 最終測定
外観
外観に損傷がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
4.11.1の測定値に対する
|∆C/C|は，5 %以下とする。
誘電正接（tan δ）
tan δ：0.01又は4.11.1の測
定値の1.2倍のいずれか
大きい方の値以下
絶縁抵抗
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群3
4.12 耐久性
D
時間：1 000 h
表1による。
4.12.1 初期測定
静電容量
誘電正接（tan δ）
CN≦10 μF：1 kHz
CN＞10 μF：50 Hz〜120 Hz
後処理時間：1 h〜2 h
4.12.5 最終測定
外観
外観に損傷がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
4.12.1の測定値に対する
|∆C/C|は，5 %以下とする。
誘電正接（tan δ）
tan δ：0.01又は4.12.1の測
定値の1.2倍のいずれか
大きい方の値以下
絶縁抵抗
4.2.4.2の規定値の50 %以上
群4
4.2.5 温度による静電容
量変化（個別規格に規定
がある場合）
D
静電容量
表1による。
4.2.5による。
注a) 細分箇条番号，試験項目及び試験条件並びに要求性能は，箇条4による。
b) この表で，Dは破壊試験，NDは非破壊試験を示す。
c) 個別規格にバンプ又は衝撃試験のうち，いずれの試験を適用するか規定する。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
検査ロットの構成は，次による。
a) 群A及び群B検査 これらの検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件で，製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
2a) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び公称静電容量）と外形寸法とによる組合
せを代表とし，次の事項を考慮する。
− 試料数
10
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 1組合せ当たり5個以上
2b) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，1組合せ当たりの試料数が4個以下の場合には，製
造業者は，国内監督検査機関の承認を必要とする。
b) 群C検査 この検査は，定期的に行う。
試料は，規定する期間に製造工程に流れているコンデンサを代表とし，かつ，定格電圧の高，中及
び低電圧群に分類したコンデンサを選定する。いずれの期間でも，認証の範囲を対象とするために，
定格電圧の高，中及び低電圧群ごとに一つの外形寸法のものを試験する。その後の期間では，全ての
範囲を対象とするために，製造中のその他の外形寸法及び／又は定格電圧の試料を試験する。
3.5.2
試験計画
ロットごと及び定期的な品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格に規定する。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後の出荷）の規定に従い，はんだ付け性及び電気的特性について群A及
び群Bの再検査を行う。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表3及び表4によることが望ましい。
11
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−ロットごとの品質確認検査
検査副群b)
D c)
EZ
F c)
G c)
IL a)
AQL a)
IL a)
n a)
c a)
IL a)
AQL a)
IL a)
AQL a)
A0
100 % d)
A1
S-3
e)
0
A2
−
−
S-3
e)
0
−
−
−
−
B1
S-3
e)
0
注a) この表の記号は，次による。
IL＝検査水準，AQL＝合格品質限界，n＝試料数，c＝合格判定数
b) 検査副群の内容は，ブランク個別規格の箇条2による。
c) 評価水準は，不適合ゼロの方向にあるため，評価水準D，F及びGは，不採用とする。
d) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。
抜取水準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を
監視するために，抜取試料を全て検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，
品質水準を算出するために全て数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査データによって算
出する。
e) 試料数（n）は，JIS Z 9015-1に規定する付表1［サンプル（サイズ）文字］の検査水準（IL）とロッ
トサイズとで割り当てるサンプル文字に従い，付表2-A［なみ検査の1回抜取方式（主抜取表）］のサ
ンプル文字に対応する試料数とする。
表4−定期的品質確認検査
検査副群b)
D c)
EZ
F c)
G c)
p a)
n a)
c a)
p a)
n a)
c a)
p a)
n a)
c a)
p a)
n a)
c a)
C1A
6
5
0
C1B
6
5
0
C1
−
−
−
6
10
0
−
−
−
−
−
−
C2
6
10
0
C3
6
10
0
C4
6
10
0
注a) この表の記号は，次による。
p＝検査周期（月），n＝試料数，c＝合格判定数
b) 検査副群の内容は，ブランク個別規格の箇条2による。
c) 評価水準は，不適合ゼロの方向にあるため，評価水準D，F及びGは，不採用とする。
4
試験及び測定手順
注記 この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。
4.1
外観及び寸法
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）による。
4.2
電気的試験
4.2.1
耐電圧
耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，次による。
4.2.1.1
試験回路
充電抵抗R1と公称静電容量CNとの積は，0.01秒を超え1秒以下とする。
充電抵抗R1は，電源の内部抵抗を含む。
放電抵抗R2は，放電電流を1 A以下に制限する値とする。
12
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.1.2
試験電圧
JIS C 5101-1の表3（測定箇所）に規定する測定箇所に，表5の試験電圧を，品質認証試験の場合は1
分間印加し，ロットごとの品質確認検査の場合は1秒間印加する。
表5−試験電圧
測定箇所
試験電圧
1a
2UR
1b及び1c
2UR又は200 Vのいずれか高い値
4.2.2
静電容量
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
4.2.2.1
測定条件
静電容量は，測定周波数1 kHzで測定するか，又は1 kHzの値に補正する。
公称静電容量が10 μFを超える場合は，測定周波数50 Hz〜120 Hzで測定してもよい。
測定時の印加電圧の測定周波数1 kHzにおけるピーク値は，定格電圧の3 %以下とし，測定周波数50 Hz
〜120 Hzにおけるピーク値は，定格電圧の20 %又は100 V（70 V r.m.s.）のいずれか小さい方の値以下と
する。
4.2.2.2
要求性能
静電容量は，規定する許容差の範囲内とする。
4.2.3
誘電正接（tan δ）
誘電正接（tan δ）は，JIS C 5101-1の4.8［誘電正接（損失角の正接）及び等価直列抵抗（ESR）］によ
るほか，次による。
4.2.3.1
測定周波数1 kHzにおける測定条件
誘電正接（tan δ）は，次の方法で測定する。
− 測定周波数： 1 kHz
− ピーク電圧： 定格電圧の3 %以下
− 確度：
10×10−4以下（絶対値）
測定周波数は，4.2.2.1の静電容量測定と同じとする。
測定器の確度は，10−4以下とする。
4.2.3.2
測定周波数1 kHzにおける要求性能
誘電正接（tan δ）は，10×10−4以下とする。
4.2.4
絶縁抵抗
絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，次による。
4.2.4.1
前処理
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗値とコンデンサの公称静電容量との積は，0.01
秒以上又は個別規格の規定による。
4.2.4.2
測定電圧
測定電圧は，JIS C 5101-1の4.5.2（測定条件）による。
電圧は，電源の内部抵抗を通じて規定値を直接印加する。
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は，1秒未満又は個別規格の規定による。
13
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
絶縁抵抗は，表6に示す要求性能を満足する。
表6−絶縁抵抗の要求性能
JIS C 5101-1の表3によ
る測定箇所
要求性能
RC積の最小値
（R＝端子間絶縁抵抗
CN＝公称静電容量）
s
端子間
絶縁抵抗の最小値
MΩ
端子・外装間
絶縁抵抗の最小値
MΩ
CN＞0.33 µF
CN≦0.33 µF
1a
10 000
30 000
−
1b及び1c
−
−
3 000
4.2.4.3
温度補正
20 ℃以外の温度で測定した場合は，必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑義が生じた場合は，20 ℃で測定する。表7に示す補正係数は，ポリエチレンテレフタレートフィ
ルム金属はくコンデンサの平均値を示す。
表7−試験温度に対する補正係数
温度
℃
補正係数
温度
℃
補正係数
温度
℃
補正係数
15
16
17
18
19
20
21
0.79
0.83
0.87
0.91
0.95
1.00
1.05
22
23
24
25
26
27
28
1.10
1.15
1.20
1.26
1.32
1.38
1.45
29
30
31
32
33
34
35
1.52
1.59
1.66
1.74
1.82
1.91
2.00
4.2.5
温度による静電容量変化（個別規格に規定がある場合）
温度による静電容量変化は，JIS C 5101-1の4.24.1（静的方法）によるほか，次による。
静電容量の測定は，b) 及びf) の温度で行い，表8及び表9に規定する要求性能を満足する。
表8−カテゴリ下限温度における温度特性
b) の試験温度
静電容量変化率
−10 ℃及び−25 ℃
−5 %≦CC
Δ
≦0 %
−40 ℃
−7 %≦CC
Δ
≦0 %
−55 ℃
−10 %≦CC
Δ
≦0 %
14
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表9−カテゴリ上限温度における温度特性
f) の試験温度
静電容量変化率
85 ℃
0 %≦CC
Δ
≦＋5 %
100 ℃
0 %≦CC
Δ
≦＋10 %
105 ℃
0 %≦CC
Δ
≦＋13 %
125 ℃
0 %≦CC
Δ
≦＋20 %
4.3
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
4.3.1
初期測定
静電容量は，4.2.2によって測定する。誘電正接は，4.2.3.1によって測定する。
4.4
はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。
4.4.1
試験条件
初期乾燥は，行わない。
4.4.2
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.5
はんだ付け性
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。
4.5.1
試験条件
エージングは，行わない。
はんだ小球法の要求事項は，個別規格による。はんだ槽法又ははんだ小球法のいずれも適用できない場
合は，はんだこて法のはんだこて先Aを用いて試験する。
4.5.2
要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.6
温度急変
温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
4.6.1
初期測定
初期測定は，4.3.1による。
4.6.2
試験サイクル数
試験のサイクル数は，5回とする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度での放置時間は，30分間とする。
4.7
振動
振動は，JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，次による。
4.7.1
試験条件
次の厳しさを適用する。10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz又は10 Hz〜2 000 Hzのうちの一つの周波数範囲
で，振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方の振幅とする。総試験時間は，6時間とする。
15
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
個別規格には，周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端
子）のコンデンサをリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2
最終測定及び要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.8
バンプ
バンプは，JIS C 5101-1の4.18（バンプ）によるほか，次による。
バンプ又は衝撃のいずれかを適用するかは，個別規格に規定する。
4.8.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.8.2
試験条件
次に示す試験条件のいずれかを適用するかは，個別規格に規定する。
バンプの回数は，1 000回又は4 000回のいずれかを選択し，かつ，ピーク加速度400 m/s2及び作用時間
6 ms又はピーク加速度100 m/s2及び作用時間16 msのいずれかと組み合わせた試験条件を用いる。
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サをリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.9
衝撃
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，次による。
バンプ又は衝撃のいずれかを適用するかは，個別規格に規定する。
4.9.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.9.2
試験条件
表10に規定する試験条件のいずれかを適用するかは，個別規格に規定する。
パルス波形：正弦半波
表10−ピーク加速度及び作用時間
ピーク加速度
m/s2
作用時間
ms
300
500
1 000
18
11
6
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）コンデンサ
をリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3
最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.10 一連耐候性
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.10.1 初期測定
初期測定は行わないで，4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測定値を適用する。
16
C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.10.2 高温
JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
4.10.3 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル
JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル］による。
4.10.4 低温
JIS C 5101-1の4.21.4（低温）による。
4.10.5 減圧
JIS C 5101-1の4.21.5（減圧）によるほか，次による。
4.10.5.1 試験条件
この試験は，個別規格に規定がある場合に適用し，温度15 ℃〜35 ℃，気圧8 kPaの条件下で試験を行
う。試験時間は，1時間とする。
4.10.5.2 試験方法
規定する圧力に達した後，1時間の試験時間の最後の5分間，定格電圧を印加する。この試験を適用す
る必要がある場合には，試料は，2分割又は3分割し，それぞれJIS C 5101-1の表3（測定箇所）に規定
する測定箇所Aに電圧を印加する。
4.10.5.3 中間測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.10.6 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル
JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル］によるほか，次による。
4.10.6.1 試験方法
試験槽からコンデンサを取り出し，15分間以内に4.2.1に規定する試験回路及び条件によって測定箇所
Aに定格電圧を1分間印加する。
注記 測定箇所A：端子相互間［JIS C 5101-1の表3（測定箇所）参照］
4.10.6.2 最終測定及び要求性能
後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.11 高温高湿（定常）
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
4.11.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.11.2 試験方法
試験槽からコンデンサを取り出し，15分間以内に4.2.1の規定によって耐電圧試験を行う。ただし，印
加電圧は，定格電圧とする。
4.11.3 最終測定及び要求性能
後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.12 耐久性
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
4.12.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.12.2 試験方法
コンデンサは，試験を1 000時間行う。個別規格に規定がない場合は，表11による。
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C 5101-11：2014 (IEC 60384-11：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表11−試験条件
カテゴリ
-/85/-
-/100/-
-/105/-
-/125/-
温度
85 ℃
100 ℃
85 ℃
105 ℃
85 ℃
125 ℃
85 ℃
電圧（d.c.）
1.5 UR
1.5 UC
1.5 UR
1.5 UC
1.5 UR
1.5 UC
1.5 UR
試料の分割
分割しない
2分割
2分割
2分割
4.12.3 保護抵抗器
試験電圧は，それぞれコンデンサに抵抗値が印加電圧1 V当たり1 Ωの直列保護抵抗器Rを通じて印加
する。
4.12.4 後処理
規定の時間後，コンデンサに後処理を行い，4.12.3と同じ抵抗器Rを通じて放電する。
4.12.5 最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.13 部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）
部品の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。
4.14 表示の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）
表示の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。