C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 3
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 4
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 5
3 品質認証 ························································································································· 5
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5
3.2 構造的に類似なコンデンサ······························································································· 5
3.3 適合宣言（基本的な要求事項）························································································· 5
3.4 初期認証のための試験計画及び要求事項 ············································································· 5
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 10
4 試験及び測定方法 ············································································································ 11
4.1 予備乾燥 ····················································································································· 11
4.2 測定条件 ····················································································································· 11
4.3 外観及び寸法 ··············································································································· 12
4.4 電気的試験 ·················································································································· 12
4.5 端子強度 ····················································································································· 12
4.6 はんだ耐熱性 ··············································································································· 13
4.7 はんだ付け性 ··············································································································· 13
4.8 温度急変 ····················································································································· 13
4.9 振動 ··························································································································· 13
4.10 耐久性 ······················································································································· 14
4.11 電圧保持 ···················································································································· 14
4.12 高温貯蔵 ···················································································································· 14
4.13 高温及び低温特性 ········································································································ 14
4.14 高温高湿（定常） ········································································································ 15
4.15 耐炎性（適用する場合） ······························································································· 15
4.16 圧力弁（適用する場合） ······························································································· 15
附属書A（参考）パワー密度算出手順 ····················································································· 16
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5160の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5160-1 第1部：品目別通則
JIS C 5160-2 第2部：品種別通則−パワー用電気二重層コンデンサ
JIS C 5160-2-1 第2-1部：ブランク個別規格−パワー用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ
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日本工業規格 JIS
C 5160-2：2009
(IEC 62391-2：2006)
電子機器用固定電気二重層コンデンサ−
第2部：品種別通則−
パワー用電気二重層コンデンサ
Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment-
Part 2 : Sectional specification-
Electric double-layer capacitors for power application
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 62391-2を基に，技術的内容及び対応国際規格の構
成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない項目又は修正した事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5160-1を品目別通則とする品種別通則で，パワー用電気二重層コンデンサについて
規定する。
パワー用電気二重層コンデンサ（以下，コンデンサという。）は，ミリアンペア (mA)〜アンペア (A) の
範囲の放電電流が要求される用途を意図している。コンデンサの特性は，JIS C 5160-1に規定するクラス
3に適用する比較的に高容量で低内部抵抗の性能をもっている。
パワー密度の定義及びその算出手順は，附属書Aによることが望ましい。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 62391-2 : 2006，Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment−Part 2 :
Sectional specification−Electric double-layer capacitors for power application (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示
す。
1.2
目的
この規格の目的は，推奨定格及び特性並びに適切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定するた
めに規定する。また，コンデンサの品種に対する一般的な性能要求を規定する。この品種別通則に関連す
る個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は，等しいか又はそれ以上は許されるが，より低い要求
水準は，許されない。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
2
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0025 : 1988 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-14 : 1984，Environmental testing−Part 2 : Tests−Test N : Change of
temperature及びAmendment 1 : 1986並びにIEC 60068-2-33 : 1971，Environmental testing−Part
2 : Tests−Guidance on change of temperature tests及びAmendment 1 : 1978（全体評価：MOD）
JIS C 5063 : 1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063 : 1963，Preferred number series for resistors and capacitors，Amendment
1 : 1967及びAmendment 2 : 1977 (IDT)
JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1 : 1982，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :
Generic specification並びにAmendment 2 : 1987，Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1992
(MOD)
なお，JIS C 5101-1 : 1998は，対応国際規格：IEC 60384-1 : 1999，Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1: Generic specificationの最新版として整合化されてなく，該当する
事項の細分箇条番号は，JIS C 5101-1 : 1998の該当事項のものと一致しない場合がある。両
者で引用する細分箇条番号に相異がある場合は，IEC 60384-1 : 1999の細分箇条番号を注記に
示す。
JIS C 5160-1 : 2009 電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 62391-1 : 2006，Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic
equipment−Part 1 : Generic specification (IDT)
JIS C 5160-2-1 : 2009 電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第2-1部：ブランク個別規格−パワー
用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ
注記 対応国際規格：IEC 62391-2-1 : 2006，Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic
equipment−Part 2-1 : Blank detail specification−Electric double-layer capacitors for power
application−Assessment level EZ (IDT)
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1 : 1988，Environmental testing−Part 1 : General and guidance及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS C 60068-2-6 : 1999，環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-6 : 1995，Environmental testing−Part 2 : Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal) (IDT)
JIS C 60068-2-20 : 1996 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-20 : 1979，Environmental testing−Part 2 : Tests−Test T : Soldering
及びAmendment 2 : 1987 (IDT)
JIS Z 8601 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3 : 1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取
検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410 : 1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
3
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格には，品目別通則，この品種別通則及びブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性
能を規定しない。より厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9（品目別通則及び／又
は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項）に記載し，更に，試験計画の中に，例えば，アステリス
ク (*) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表に示してもよい。
個別規格には，次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。
コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，すべて
の寸法は，ミリメートル (mm) で規定する。
一般的に，寸法表示は，本体の長さ，幅，高さ及び端子間距離とし，円筒形の場合は，本体の直径及び
長さ並びに端子の長さ及び直径を規定する。多数のコンデンサ（定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲）
を一つの個別規格に規定する場合など，適用する場合は，寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。
形状が上記と異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。
コンデンサが，プリント配線板用でない場合は，個別規格にそのことを明記する。
1.4.2
取付け
通常の取付方法並びに振動及びバンプ又は衝撃試験を行う場合の取付方法を，個別規格に規定する。コ
ンデンサは，その規定された方法で取り付ける。ただし，コンデンサによっては，特別な取付具を用いる
設計のものがある。この場合は，個別規格にその取付具のことを記載し，振動及びバンプ又は衝撃試験を
行う場合には，この取付具を使用する。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連する箇条によるほか，次による。
1.4.3.1
定格静電容量
2.2.1参照。
注記 IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるとき，次の文章を追加する。
“各定格電圧での定格静電容量の範囲は，品質認証書 (Qualification approval certification) によ
る。”
1.4.3.2
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，それを追加してもよい。
1.4.3.3
はんだ付け
個別規格に，はんだ付け性及びはんだ耐熱性の試験方法，厳しさ及び要求事項を規定する。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。1.6と異なる場合は，その事項を個
別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5160-1 : 2009によるほか，次による。
4
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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1.5.1
表面実装用コンデンサ (surface mount capacitor)
小さい寸法で，端子が表面実装用に適した性質又は形状のコンデンサ。
1.5.2
パワー用電気二重層コンデンサ (electric double layer capacitors for power application)
放電電流がmA〜Aの範囲で要求される用途のコンデンサ。
注記 コンデンサの特性が，JIS C 5160-1に規定する測定分類のクラス3に該当する比較的高容量で
低い内部抵抗の性能を含んでいる。
1.6
表示
表示は，JIS C 5160-1の2.4によるほか，次による。
1.6.1
コンデンサ本体及び包装への表示
コンデンサ及び包装への表示は，一般的に，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順とす
る。
a) 端子の極性（構造によって極性を示す場合を除く。）
b) 定格静電容量
c) 定格電圧（直流電圧を表す記号は，記号 又は で表してもよい。）
d) 品種（1.1による。）
e) 製造年月，又は年週
f)
製造業者名又は商標（略号を含む。）
g) 製造業者の形名
h) 端子の加工区分（適用する場合）
1.6.2
コンデンサ本体への表示
コンデンサ本体への表示は，1.6.1のa)，b) 及びc)，並びに必要な項目をできるだけ多く，明りょうに
表示することが望ましい。コンデンサの表示内容の重複は，避ける。
1.6.3
表示への要求事項
どの表示も，明りょうであり，指でこすっても，汚れたり又は消えたりしてはならない。
1.6.4
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装への表示は，1.6.1のすべての項目を明りょうに表示する。極性は，包装方法によって
適用できる場合を除き，表示しない。
1.6.5
表示の追加
1.6.1に規定する以外の表示を追加する場合は，混乱しないように行う。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する値は，次から選定する。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定する表面実装用コンデンサは，JIS C 60068-1に規定する耐候性カテゴリによって分類す
る。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の項目から選定する。
カテゴリ下限温度：−25 ℃又は−40 ℃
5
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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カテゴリ上限温度：＋60 ℃又は＋70 ℃
高温高湿（定常）の試験期間：10日
低温及び高温の試験温度は，カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
注記 この高温高湿（定常）の試験条件は，温度40 ℃，相対湿度90 %〜95 %である。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格静電容量 (CR)
定格静電容量は，ファラド (F) の単位で表し，受渡当事者間の協定による。定格静電容量の推奨値は，
JIS C 5063に規定するE24の標準数から選定する。
2.2.2
定格静電容量許容差
定格静電容量許容差は，±20 %又は＋80
−20 %とする。
2.2.3
定格電圧 (UR)
定格電圧は，受渡当事者間の協定による。
定格電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定する標準数列R20及びその倍数を用いる。
2.2.4
定格温度
定格温度は，60 ℃又は70 ℃とする。
2.2.5
内部抵抗
内部抵抗は，受渡当事者間の協定による。内部抵抗は，直流抵抗測定方法を用いて測定する。ただし，
直流抵抗測定方法と交流抵抗測定方法との間で，換算係数が入手可能な場合は，交流抵抗測定方法を用い
てもよい。
3
品質認証
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，活性炭電極の受入検査とする。ただし，事前に集電極が結合状況にある活性炭素電
極であることが前提となる。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，類似の工程及び類似の材料で
製造されたコンデンサとする。
3.3
適合宣言（基本的な要求事項）
なし
注記 対応国際規格ではここは空欄であったが，適合性評価を行うことを意図していないことを明確
にするため“なし”を追加した。
3.4
初期認証のための試験計画及び要求事項
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1の3.4による。
ロットごと及び定期的な品質確認検査を用いる品質認証試験計画は，この規格の3.5による。定数抜取
手順に基づく品質認証に用いる手順は，3.4.1及び3.4.2による。
注記 JIS C 5101-1の3.4は，IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4.1
定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は，JIS C 5101-1の3.4.2のb) の規定による。試料は，認証を得ようとするすべてのコン
デンサの範囲を代表するものとし，個別規格に規定するすべての範囲，又はその一部でもよい。
注記1 JIS C 5101-1の3.4.2は，IEC 60384-1 : 1999の3.5.3と同等である。
6
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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温度特性のそれぞれに対する試料は，最低の定格電圧及び最高の定格電圧のものと，それぞれの最小定
格静電容量と最大定格静電容量との4組合せ（定格電圧と定格静電容量との組合せ）で構成する。
注記2 対応国際規格では，“寸法”となっているが，明らかな誤記のため，“定格静電容量”に変更
した。
群0に規定する試料数は，すべての群の試験を適用する場合の試料数であり，すべての試験を適用しな
い場合には，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合は，群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料並びに合格判定数を，表1に示す。
3.4.2
試験
表1及び表2に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に配分する。
群0の試験の中で発生した不適合品は，その他の群に用いない。
1個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合となっても不適合品数は1個と数える。
品質認証は，各群又は副群での不適合数が合格判定数以下であり，かつ，不適合数の合計が総合格判定
数を超えない場合には，合格とする。
注記 表1及び表2は，定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表1は，各試験群に対
する抜取り及び合格判定数の詳細を規定している。一方，表2は，箇条4に規定する試験の詳
細と合わせて，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試験
方法，試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
7
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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表1−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数 評価水準EZ
群
試験項目
この規格の細分箇条
番号
試料数
n a)
合格判定数 c)
0 b)
外観
寸法
漏れ電流
静電容量
内部抵抗
4.3
4.3
4.4.1
4.4.2
4.4.3
56
0c)
予備試料
2
1A
端子強度
はんだ耐熱性
4.5
4.6
8
0
1B
はんだ付け性
温度急変
振動
4.7
4.8
4.9
8
0
2
耐久性
4.10
16
0
3A
電圧保持
高温貯蔵
4.11
4.12
8
0
3B
高温高湿（定常）
4.14
8
0
4
高温及び低温特性
4.13
8
0
4A
耐炎性（適用する場合）d)
4.15
4
0
4B
圧力弁（適用する場合）d)
4.16
4
0
注a) 定格電圧と定格静電容量との組合せは，3.4.1を参照する。
b) これらの測定値は，群0の測定値を初期値とする。
c) 不適合品として見つかった試料は，続く試験の許容不適合品を算出するときに採用してはならない。その不
適合品は，予備品と置き換える。
d) 適用可能な場合に試験項目を適用する。
8
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
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表2−品質認証の試験計画
細分箇条番号
及び試験項目 a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n)
及び
合格判定数
(c) b)
要求性能 a)
群0
4.3 外観検査
寸法（詳細）
4.4.1 漏れ電流
4.4.2 静電容量
4.4.3 内部抵抗
ND
保護抵抗：．．．Ω
クラス3による。
直流抵抗法d)：クラス3による。
表1による。
4.3.2による。表示は明りょうで
あり，個別規格の規定による。
個別規格の規定による。
4.4.1.2による。
4.4.2.2による。
4.4.3.2による。
群1A
4.5 端子強度
4.5.1 初期測定
4.5.2 最終測定
4.6 はんだ耐熱性c)
4.6.1 初期測定
4.6.3 最終測定
D
試験方法：
試験Ua1（引張り強さ）
試験Ub（曲げ強さ）
静電容量
外観検査
静電容量
試験Tbの方法1A
後処理：．．．
静電容量
外観検査
静電容量
表1による。
外観に損傷がなく，表示が明り
ょうである。
4.5.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
外観に損傷がなく，表示が明り
ょうで，電解液のもれがない。
4.6.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
群1B
4.7 はんだ付け性c)
4.7.1 最終測定
4.8 温度急変
4.8.1 初期測定
4.8.3 最終測定
4.9 振動
4.9.1 初期測定
4.9.3 最終測定
D
試験方法：はんだ槽法（方法1）
外観検査
TA：カテゴリ下限温度
TB：カテゴリ上限温度
5回
試験期間t1：．．．
静電容量
外観検査
静電容量
取付方法：1.4.2による。
静電容量（4.8.3の測定値を用いて
もよい。）
外観検査
静電容量
表1による。
端子に新しいはんだが75 %以
上付着している。
外観に損傷がなく，電解液のも
れがない。
4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
外観に損傷がなく，電解液のも
れがない。
4.9.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
9
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n)
及び
合格判定数
(c)b)
要求性能a)
群2
4.10 耐久性
4.10.1 初期測定
4.10.3 最終測定
ND
試験期間：
カテゴリ上限温度70 ℃等級：
1 000 h
カテゴリ上限温度60 ℃等級：
2 000 h
電圧：．．．V
後処理：16 h以上
静電容量
外観検査
静電容量
内部抵抗
表1による。
外観に損傷がなく，電解液のも
れがない。
4.10.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦ 30 %
4.4.3の規定値の4倍以下
群3A
4.11 電圧保持
4.11.2 最終測定
4.12 高温貯蔵
4.12.1 初期測定
4.12.3 最終測定
D
放電時間：．．．h
充電電圧：．．．V
充電時間：8 h
測定時間：．．．h
保持電圧
試験温度：カテゴリ上限温度
試験期間：96 h±4 h
後処理：16 h以上
静電容量
外観検査
静電容量
内部抵抗
表1による。
室温における充電後室温24 h
放置後の保持電圧は，充電電圧
の80 %以上
外観に損傷がなく，電解液のも
れがない。
4.12.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.4.3の規定値の2倍以下
群3B
4.14 高温高湿（定常）
4.14.1 初期測定
4.14.3 最終測定
D
温度：40 ℃
相対湿度：90 %〜95 %
試験期間：10日
静電容量
外観検査
静電容量
内部抵抗
表1による。
外観に損傷がなく，電解液のも
れがない。
4.14.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3の規定値の4倍以下
10
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試料数 (n)
及び
合格判定数
(c)b)
要求性能a)
群4
4.13 高温及び低温特性
D
コンデンサは，各段階温度で測定
する。
段階1：20 ℃
静電容量
段階2：カテゴリ下限温度
静電容量
内部抵抗
段階3：カテゴリ上限温度
静電容量
内部抵抗
表1による。
比較用に使用する。
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3.2の規定値の4倍以下
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3.2の規定値の4倍以下
群4A
4.15 耐炎性（適用する場
合）e)
D
耐炎性カテゴリ：．．．
表1による。
4.15.1による。
群4B
4.16 圧力弁（適用する場
合）e)
D
印加電圧：．．．V
表1による。
4.16.1による。
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は，この規格の箇条4による。
b) この表の記号は，次による。
D：破壊検査，ND：非破壊検査，n：試料数，c：合格判定数（許容不適合数）
c) ねじ端子及び個別規格で設計的にはんだ付けを意図していないことを記載しているその他の端子のコンデンサ
には，適用しない。
d) 交流抵抗法は，直流抵抗法の結果とに相関がある場合に用いる。測定方法は，JIS C 5160-1の4.6.1による。
e) 適用可能な場合に試験項目を適用する。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
これらの検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件で，製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
b) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び定格静電容量）と外形寸法との組合せを代
表とし，次の事項を考慮する。
− 1組合せ当たり5個以上
3.5.1.2
群C検査
これらの試験は，定期的に行う。
試料は，ある一定の期間に工程で流れている製品を代表し，また，小，中及び大の定格静電容量のもの
に分ける。いかなる期間でも，認証の範囲を対象とするためには，各定格静電容量から一つの電圧を試験
する。その後の期間では，その他の定格静電容量及び／又は定格電圧のものを，試験する。
11
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.5.2
試験計画
ロットごと及び定期的な品質確認検査の計画は，ブランク個別規格JIS C 5160-2-1の表4による。
3.5.3
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，次の表3a及び表3bに従うことが望ましい。
表3a−ロットごとの検査
検査
副群 d)
EZ
IL a)
n a)
c a)
A0
A1
A2
B1,B2
100 % b)
S-3
S-3
S-3
c)
c)
c)
0
0
0
注a) IL ：検査水準
n ：試料数
c ：合格判定数
b) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準
は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために，
抜取試料をすべて検査する。抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とす
るが，不適合品は，品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査データ
によって算出する。
c) 試料数 (n)：JIS Z 9015-1の付表1に規定する検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い，付
表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
d) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格JIS C 5160-2-1の箇条2による。
表3b−定期的な検査
検査
副群 b)
EZ
p a)
n a)
c a)
C1A
C1B
C2
C3A
C3B
C4
12
12
6
6
6
12
8
8
16
8
8
8
0
0
0
0
0
0
注a) p ：検査周期（月）
n ：試料数
c ：合格判定数
b) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格JIS C 5160-2-1の箇条2による。
4
試験及び測定方法
この箇条は，JIS C 5160-1の箇条4に規定する事項を補足する。
4.1
予備乾燥
個別規格に規定がある場合は，その条件は，JIS C 5160-1の4.3による。
4.2
測定条件
JIS C 5160-1の4.2.1による。
12
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.3
外観及び寸法
JIS C 5160-1の4.4によるほか，次による。
4.3.1
外観検査
外観検査は，供試品及び要求する品質水準に適切な，倍率約10倍をもつ適切な機器及び照明で行う。
注記 作業者には，適切な測定装置に加えて，直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。
4.3.2
要求事項
コンデンサは，材料，設計，構造，物理的な寸法及びでき栄え (Workmanship) が，個別規格に規定する
要求事項を満足することを証明するために検査する。
4.4
電気的試験
4.4.1
漏れ電流
JIS C 5160-1の4.7によるほか，次による。
4.4.1.1
測定条件
測定の周囲温度は，20 ℃±2 ℃とする。
コンデンサを保護抵抗と直列に接続し，その両端に定格電圧を印加する。
その保護抵抗は，1 000 Ω以下とする。
受渡当事者間の協定がない場合は，試験前に放電を，12時間以上行う。
受渡当事者間の協定がない場合には，測定は，24時間後とする。
4.4.1.2
要求事項
20 ℃±2 ℃での漏れ電流は，個別規格に規定する要求事項を満足する。
4.4.2
静電容量
JIS C 5160-1の4.5.1によるほか，次による。
4.4.2.1
測定条件
測定の周囲温度は，20 ℃±2 ℃とする。
その測定は，JIS C 5160-1の4.5.1.2のクラス3の試験条件下で行う。
4.4.2.2
要求事項
静電容量は，規定の許容差の範囲内とする。
4.4.3
内部抵抗
JIS C 5160-1の4.6.2によるほか，次による。
注記
交流抵抗法は，直流抵抗法の結果とに相関がある場合に用いる。その測定方法は，JIS C
5160-1の4.6.1による。
4.4.3.1
測定条件
測定の周囲温度は，20 ℃±2 ℃とする。
その測定は，JIS C 5160-1の4.6.2.1のクラス3の試験条件下で行う。
4.4.3.2
要求事項
内部抵抗は，個別規格に規定する要求事項を満足する。
4.5
端子強度
JIS C 5160-1の4.9によるほか，次による。
個別規格には，用いる試験方法及び厳しさを規定する。
4.5.1
初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
13
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.5.2
最終測定及び要求事項
コンデンサは，外観検査を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.6
はんだ耐熱性
注記 ねじ端子又は個別規格の規定で，はんだ付けを設計的に意図していないその他の端子のコンデ
ンサには適用しない。
JIS C 5160-1の4.10によるほか，次による。
4.6.1
初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.6.2
試験条件
予備乾燥は，行わない。
コンデンサは，JIS C 60068-2-20の試験方法Tbの方法1Aで行う。
浸せき時間は，5秒±0.5秒間とする。
4.6.3
最終測定及び要求事項
コンデンサは，外観検査及び電気的特性を測定し，表2に規定する要求性能を満足する。
4.7
はんだ付け性
JIS C 5160-1の4.11によるほか，次による。
注記 ねじ端子又は個別規格の規定ではんだ付けを設計的に意図していないその他の端子のコンデン
サには適用しない。
4.7.1
最終測定及び要求事項
コンデンサは，外観検査を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.8
温度急変
JIS C 5160-1の4.12によるほか，次による。
4.8.1
初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.8.2
試験条件
コンデンサは，JIS C 0025の試験Naを5回行う。
各温度にさら（曝）す時間は，個別規格に規定する30分間又は3時間とする。
後処理時間は，16時間とする。
4.8.3
最終測定及び要求事項
後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的特性を測定し，表2に規定する要求性能を満足する。
4.9
振動
JIS C 5160-1の4.13によるほか，次による。
4.9.1
初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.9.2
試験条件
コンデンサは，JIS C 60068-2-6の8.2.1によって，次の厳しさを適用する。
注記 対応国際規格では試験方法として試験Fcの手順B4を引用しているが，これは改定前のIEC
60068-2-6 : 1970を引用していたものであり，明らかな誤記である。改定前のこの規格では試験
方法に手順B4があったが，それがJIS C 60068-2-6 : 1999（対応国際規格IEC 60068-2-6 : 1995）
の8.2.1と同じである。
14
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
周波数範囲：10 Hz〜55 Hz
振幅：0.75 mm又は 加速度100 m/s2（いずれか小さい方）
試験総時間：6時間
4.9.3
最終測定及び要求事項
コンデンサは，外観検査及び電気的特性を測定し，表2に規定する要求性能を満足する。
4.10 耐久性
JIS C 5160-1の4.15によるほか，次による。
4.10.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.10.2 試験条件
試験期間：カテゴリ上限温度70 ℃のコンデンサに対しては，1 000時間
カテゴリ上限温度60 ℃のコンデンサに対しては，2 000時間
印加電圧：個別規格にその他の規定がない場合は，カテゴリ電圧
注記 カテゴリ電圧が，定格電圧と異なる場合は，試験試料を二つに分け，カテゴリ電圧でそれぞれ
定格電圧を印加することを示す。
4.10.3 最終測定及び要求事項
コンデンサは，16時間の後処理後に，外観検査及び電気的特性の測定を行い，表2に規定する要求性能
を満足する。
4.11 電圧保持
JIS C 5160-1の4.8によるほか，次による。
4.11.1 試験条件
受渡当事者間の協定の中に規定がない場合には，試験前の放電時間は，12時間以上とする。
充電電圧は，定格電圧とする。その他の充電電圧を用いる場合は，個別規格に規定する。
充電時間：8時間
4.11.2 最終測定及び要求事項
受渡当事者間の協定の中に規定がない場合は，測定時間は，24時間とする。
コンデンサは，外観検査及び電気的特性の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.12 高温貯蔵
JIS C 5160-1の4.16.1によるほか，次による。
4.12.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.12.2 試験条件
試験温度：カテゴリ上限温度
試験期間：96時間±4時間
4.12.3 最終測定及び要求事項
コンデンサは，16 時間以上の後処理後に，外観検査及び電気的特性の測定を行い，表2に規定する要求
性能を満足する。
4.13 高温及び低温特性
JIS C 5160-1の4.17によるほか，次による。
4.13.1 測定及び要求事項
15
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンデンサは，規定する特性の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.14 高温高湿（定常）
JIS C 5160-1の4.14によるほか，次による。
4.14.1 初期測定
静電容量は，4.4.2によって測定する。
4.14.2 試験条件
電圧は，印加しない。
4.14.3 最終測定及び要求事項
1時間〜2時間の後処理後，コンデンサは，外観検査及び電気的特性を測定し，表2に規定する要求性能
を満足する。
4.15 耐炎性（適用する場合）
JIS C 5160-1の4.20によるほか，次による。
前処理は，要求しない。
炎は，JIS C 5160-1に規定する時間，試料の本体に接炎する。また，耐炎性カテゴリを個別規格に規定
する。
個別規格にその他の規定がない場合には，耐炎性カテゴリは，JIS C 5160-1の表6のCとする。
注記 適用可能な場合に試験項目を適用する。
4.15.1 要求事項
JIS C 5160-1に規定する燃焼時間は，超えてはならない。
4.16 圧力弁（適用する場合）
JIS C 5160-1の4.21による。
注記 適用可能な場合に試験項目を適用する。
4.16.1 要求事項
圧力弁は，いかなる爆発又は炎の発生がないような状態で開弁する。
16
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
パワー密度算出手順
序文
この附属書は，本体の規定を補足するものであって，規定の一部ではない。
A.1 概要
パワー密度の算出手順を記載する。
A.2 パワー密度の定義
パワーとは，コンデンサから取り出せる電力。単位は，ワット (W) で表す。
パワー密度とは，コンデンサの1個の質量（又は体積）当たりに取り出すことができる電力。パワー密
度が高いほど，大きい電流を効率よく取り出すことができる。
A.3 パワー密度の算出手順
A.3.1 質量当たりのパワー密度の算出手順
a) JIS C 5160-1の4.6.2の規定によって内部抵抗を測定する（図A.1参照）。
b) 降下電圧U6が，充電電圧の20 %（0.2×充電電圧U）となる場合は，放電電流値Iを，次の式を用い
て算出する。
d
6
R
U
I=
ここに，
Rd： 直流抵抗法によって得られる内部抵抗
c) 質量当たりのパワー密度Pdは，次の式を用いて算出する。
m
R
U
m
I
U
U
U
P
d
2
e
6
d
12
.0
2
)
(
×
=
×
×
+
−
=
ここに，
Pd： 質量当たりのパワー密度 (W/kg)
U： 充電電圧 (V)
U6： 降下電圧 (V)，充電電圧の20 % (0.2 U)
Ue： 充電電圧 (V)の40 % (0.4 U)
I： A.3.1 b) で算出した放電電流 (A)
Rd： 直流抵抗法によって求めた内部抵抗 (Ω)
m： コンデンサの質量 (kg)
A.3.2 体積当たりのパワー密度の算出方法
パワー密度をコンデンサの体積当たりで表す場合は，A.3.1 c) に記載する式中のコンデンサの質量mを，
コンデンサの体積と置き換えて算出する。
注記 コンデンサの体積は，コンデンサの公称寸法から算出し，単位は，リットル (L) で表す。
17
C 5160-2：2009 (IEC 62391-2：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注a) 降下電圧は，放電開始時に瞬時的に降下する電圧U5ではなく，直線部分の延長線上と放電開始時の時間軸との
交点から求めた降下分の電圧U6とする。
b) 放電電流Iは，個別規格に規定する場合には，U6は必ずしも0.2×Uとは限らない。
図A.1−コンデンサ端子間の電圧特性の例