C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 4
2 推奨特性及び定格············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 5
3 品質評価手順··················································································································· 6
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 6
3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 6
3.3 出荷対象ロットの成績証明書 ··························································································· 6
3.4 品質認証 ······················································································································ 6
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 11
4 試験及び測定方法············································································································ 13
4.1 特殊な前処理 ··············································································································· 13
4.2 測定条件 ····················································································································· 13
4.3 取付け ························································································································ 13
4.4 外観及び寸法検査 ········································································································· 13
4.5 電気的試験 ·················································································································· 15
4.6 静電容量の温度特性 ······································································································ 17
4.7 固着性 ························································································································ 18
4.8 耐プリント板曲げ性 ······································································································ 18
4.9 はんだ耐熱性 ··············································································································· 18
4.10 はんだ付け性 ·············································································································· 20
4.11 温度急変 ···················································································································· 20
4.12 一連耐候性 ················································································································· 21
4.13 高温高湿（定常） ········································································································ 22
4.14 耐久性 ······················································································································· 23
4.15 端子強度（板端子をもつコンデンサに適用） ···································································· 24
4.16 部品の耐溶剤性（適用する場合） ··················································································· 24
4.17 表示の耐溶剤性（適用する場合） ··················································································· 24
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011) 目次
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
4.18 加速耐湿性（定常）（適用する場合） ·············································································· 24
附属書A（規定）表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2の寸法記号及び規定に関する指針 ·········· 26
附属書B（参考）固定磁器コンデンサ種類2の静電容量エージング··············································· 27
附属書C（参考）基準温度25 ℃に対する静電容量の温度特性 ····················································· 29
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって，JIS C 5101-22:2006は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水
準EZ
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-13
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011) 目次
（4）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18
第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コン
デンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20
第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-25
第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
（5）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26
第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5101-22：2014
(IEC 60384-22：2011)
電子機器用固定コンデンサ−
第22部：品種別通則：
表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 22: Sectional specification-
Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 2
序文
この規格は，2011年に第2版として発行されたIEC 60384-22を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電子機器用の外装なし固定積層磁器コン
デンサ種類2の表面実装用コンデンサ（以下，コンデンサという。）について規定する。この規格に規定す
るコンデンサは，金属化電極又ははんだ付け用板端子をもち，プリント配線板又はハイブリッド回路用基
板に直接搭載することを意図している。
電磁障害防止固定コンデンサは，この規格を適用せず，JIS C 5101-14を適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-22:2011，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 22: Sectional specification
−Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 2（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
1.2
目的
この規格の目的は，コンデンサの推奨する定格及び特性について規定するとともに，JIS C 5101-1から
適切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般要求性能を規定することである。この品種別
通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格よりも低い水準であってはな
らず，同等又は高い水準とする。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
2
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
注記 対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）
JIS C 5063:1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors，Amendment
1:1967及びAmendment 2:1977（IDT）
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1:1988，Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
Amendment 1:1992（IDT）
JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品（SMD）のはんだ付け性，電極の
耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-58:2004，Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
mounting devices (SMD)（IDT）
JIS Z 8601:1954 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3:1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers（IDT）
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格には，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を
規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，
試験計画の中に，例えば，アステリスク（*）を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
個別規格には，次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定することが望
ましい。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格で規定する。また，全ての寸法は，ミリ
メートル（mm）で規定する。
寸法表示は，本体の長さ，幅及び高さを規定する。必要がある場合，例えば，幾つかの組合せ（寸法及
び公称静電容量と定格電圧との組合せ範囲）を個別規格に規定する場合は，寸法及び寸法許容差を図の下
に表で示す。
形状が上記のコンデンサと異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法表示を個別規格で規定する。
1.4.2
取付け
個別規格には，通常に使用する場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法（適用する
場合）は，4.3による。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
3
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1.4.3.1
公称静電容量範囲
2.2.4.1による。
注記 IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるとき，次の文章を追加する。
“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認証電子部品一覧表（QPL）による。”
なお，品質認証電子部品一覧表（QPL）は，IECオンラインサービス（http://certificates.iecq.org/）
で参照できる［JIS C 5101-1のQ.1.2.2（標準カタログ部品）参照］。
1.4.3.2
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，追加規定してもよい。
1.4.3.3
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法，厳しさ及び要求性能は，個別規格の規定によ
る。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6と異なる場合は，その事項を個別
規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1によるほか，次による。
1.5.1
表面実装用コンデンサ（surface mount capacitor）
寸法が小形で，端子の形状がハイブリッド回路及びプリント配線板の表面実装用に適したコンデンサ。
1.5.2
固定磁器コンデンサ種類2（fixed capacitors, ceramic dielectric, class 2）
電子機器の側路用及び回路の結合用のように低い損失及び静電容量の安定性があまり必要でない回路に
用いる，高誘電率の磁器を誘電体としたコンデンサ。
注記 この磁器誘電体は，カテゴリ温度範囲で，非直線の静電容量変化特性をもっている（表3参照）。
1.5.3
サブクラス（sub-class）
カテゴリ温度範囲内での20 ℃の静電容量値に対する最大変化率による種類2の下位分類。
注記 サブクラスは，記号で表現してもよい（表3参照）。
1.5.4
カテゴリ温度範囲（category temperature range）
設計上，コンデンサを連続的に使用できる周囲温度範囲。カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度とによ
って規定する［JIS C 5101-1の2.2.4（カテゴリ温度範囲）参照］。
1.5.5
定格温度，TR（rated temperature）
定格電圧を連続して印加してもよい最高周囲温度［JIS C 5101-1の2.2.24（定格温度）参照］。
1.5.6
定格電圧，UR（rated d.c. voltage）
カテゴリ下限温度と定格温度との間の任意の温度で，コンデンサに連続して印加できる最高直流電圧。
注記1 最高直流電圧は，コンデンサに印加する直流電圧と，交流電圧のピーク値又はパルス電圧の
4
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ピーク値との和である。
注記2 この規格では，対応国際規格の用語“rated d.c. voltage”を“定格電圧”とした。また，JIS C
5101-1の2.2.25.1（定格直流電圧）の定義を変更している。
1.5.7
カテゴリ電圧，UC（category voltage）
カテゴリ上限温度でコンデンサに連続して印加してもよい最高電圧［JIS C 5101-1の2.2.5（カテゴリ電
圧）参照］。
1.6
表示
1.6.1
一般事項
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
表示事項は，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順とする。
− 公称静電容量
− 定格電圧（直流電圧は，記号 又は で表してもよい。）
− 公称静電容量許容差
− 静電容量の温度特性［サブクラス記号］（2.2.5参照）
− 製造年月（又は年週）
− 製造業者名又はその商標
− 耐候性カテゴリ
− 製造業者の形名
− 引用個別規格
1.6.2
コンデンサ本体への表示
コンデンサ本体には表示しない。ただし，表示が可能な場合は，1.6.1に規定する項目から選定し，明瞭
に表示する。また，コンデンサ本体への表示の重複は避けることが望ましい。
1.6.3
表示の要求事項
全ての表示は，明瞭で，かつ，指でこすって汚れたり消えてはならない。
1.6.4
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.1の全項目を明瞭に表示する。
1.6.5
表示の追加
表示項目を追加する場合には，混乱しないように表示する。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
ここでは，推奨特性の中で推奨耐候性カテゴリだけを規定する。
この規格に規定するコンデンサは，JIS C 60068-1の附属書A（部品の耐候性カテゴリー）に規定する一
般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃，−10 ℃及び＋10 ℃
− カテゴリ上限温度：＋70 ℃，＋85 ℃，＋100 ℃，＋125 ℃及び＋150 ℃
− 高温高湿（定常）（温度40 ℃，相対湿度93 %）の試験期間：4日，10日，21日及び56日
低温及び高温試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
5
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 上記の耐候性カテゴリによる耐湿性［高温高湿（定常）］は，取付け前のコンデンサに対するも
ので，取付け後のコンデンサの耐候性能は，取付用プリント配線板，取付方法（4.3参照）及び
最終保護コーティングに大きく影響を受ける。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格温度（TR）
個別規格に規定がない場合，カテゴリ上限温度が125 ℃以下のコンデンサの定格温度は，カテゴリ上限
温度と同じとする。
2.2.2
定格電圧（UR）
定格電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR5の標準数列とする。ただし，その他の値が必要な場合
は，R10の標準数列の値から選定する。
コンデンサに印加する電圧は，直流電圧に重畳した交流電圧の波形の電圧ピーク値，又は交流電圧のピ
ーク間の電圧のいずれか大きい値で，その値は，定格電圧以下でなければならない。さらに，交流電圧の
ピーク値は，コンデンサの許容電力によって決まる値以下でなければならない。
2.2.3
カテゴリ電圧（UC）
カテゴリ上限温度が125 ℃以下のコンデンサの場合，カテゴリ電圧は，定格電圧と同じとする。
ただし，定格電圧が16 V以下で定格温度が85 ℃のコンデンサの場合，カテゴリ上限温度125 ℃のとき
の推奨カテゴリ電圧は，表1による。
カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合，又は定格電圧が500 Vを超える場合のカテゴリ電圧は，個別
規格に規定する。
表1−カテゴリ電圧の推奨値
単位 V
UR
2.5
4
6.3
10
16
UC
1.6
2.5
4
6.3
10
注記 UCは，次の式によって算出する。
UC＝0.63×UR
2.2.4
公称静電容量及びその許容差の推奨値
2.2.4.1
公称静電容量（CN）の推奨値
公称静電容量の推奨値は，JIS C 5063に規定するE3，E6及びE12の標準数列から選定する。
2.2.4.2
公称静電容量の許容差の推奨値
公称静電容量の許容差の推奨値は，表2による。
表2−公称静電容量の許容差の推奨値
標準数列
許容差
%
記号
E3及びE6
−20/＋80
Z
−20/＋50
S
E6
±20
M
E6及びE12
±10
K
2.2.5
静電容量の温度特性
直流電圧印加なしの場合及び印加ありの場合の静電容量の温度特性に対する推奨値を，表3に規定する。
また，サブクラスの記号も表に示す。例えば，電圧印加なしの場合，温度範囲−55 ℃〜＋125 ℃の静電容
6
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
量の変化±20 %のコンデンサのサブクラス記号は，2C1となる。静電容量の温度特性での温度範囲は，カ
テゴリ温度範囲と同じとする。
表3−静電容量温度特性
サブ
クラス
記号
電圧印加なしの20 ℃の静電容量
値に対するカテゴリ温度範囲内の
直流電圧印加あり・なしの静電容量
の最大変化率（%）
カテゴリ温度範囲及びその数字記号
−55〜
＋150
℃
−55〜
＋125
℃
−55〜
＋85
℃
−40〜
＋85
℃
−25〜
＋85
℃
＋10〜
＋85
℃
電圧印加
なし
直流電圧を印加し
たとき（注記1）
0
1
2
3
4
6
2B
±10
個別規格の規定に
よる。
−
−
×
×
×
−
2C
±20
−
×
×
×
−
−
2D
＋20/−30
−
×
−
−
×
−
2E
＋22/−56
−
−
×
×
×
×
2F
＋30/−80
−
−
×
×
×
×
2R
±15
×
×
×
−
×
−
注記1 直流電圧は，定格電圧又は個別規格に規定の電圧である。
注記2 表中の×は適用の推奨を示す。
注記3 カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合は，直流電圧印加あり・なしの両方について，静電容量の最大
変化率を個別規格に規定することが望ましい。
注記 基準温度25 ℃の参考情報を附属書Cに示す。
2.2.6
寸法
寸法記号及び規定に関する指針は，附属書Aによる。
寸法の詳細は，個別規格に規定する。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサは，外形寸法及び定格値が異なっていても，同じ工程及び同じ材料で製造し
たコンデンサとする。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは，JIS C 5101-1のQ.9（出荷ロット成績証明
書）によって出荷対象ロットの成績証明書を提出できるようにする。耐久性試験後の要求性能は，静電容
量の変化，誘電正接（tan δ）及び絶縁抵抗とする。
3.4
品質認証
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.1
及び3.4.2による。
3.4.1
定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は，JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証用試験手順）のb)の規定による。
試料は，認証を得ようとするコンデンサの全ての範囲を代表するものとし，個別規格に規定する全ての
範囲であっても，また，その一部でもよい。
温度特性ごとに試料は，外形寸法の最大及び最小と，定格電圧の最高及び最低との4組合せとし，それ
7
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ぞれの公称静電容量が最大のものを選定する。定格電圧が5種類以上の場合は，中間の定格電圧について
も試験をする。したがって，品質認証試験は，温度特性ごとに，4組合せ又は6組合せ（公称静電容量と
定格電圧との組合せ）の試料が必要である。
評価水準EZを適用する場合の予備試料は，次による。
予備試料は，製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個（6組合
せの場合）又は3個（4組合せの場合）としてもよい。
群0に規定する試料数は，全ての群の試験を適用する場合の試料数であり，全ての試験を適用しない場
合は，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合，群0の試料数は，追加する群に必要な個数を追加する。
品質認証試験の場合の各群又は副群の試料数及び合格判定数は，表4による。
3.4.2
試験
表4及び表5に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って実施する。
全ての試料は，群0の試験を実施した後，その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内の試験で全て又は一部の試験項目で不適合となっても，“1個の不適合
品”と数える。
判定では，各群又は副群での不適合品数が合格判定数以下であり，更に，各項目合計の合格判定数以下
の場合に，承認する。
注記 表4及び表5は，定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表4は，各試験群に対
する試験項目，試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方，表5は，箇条4に規定す
る試験の詳細と合わせて，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選
定する試験方法，試験条件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する
品質確認検査と同じとすることが望ましい。
8
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準EZ
群又は副
群の番号
試験項目
細分箇条番号
試料数
n e)
合格判定数
c
0
外観
4.4
132＋24 f)
0
寸法
4.4
静電容量
4.5.1
誘電正接
4.5.2
絶縁抵抗
4.5.3
耐電圧
4.5.4
予備試料
−
12
−
1A
端子強度g)
4.15
12
0
はんだ耐熱性
4.9
部品の耐溶剤性b)
4.16
1B
インピーダンスb)
4.5.5
12
0
等価直列抵抗（ESR）b)
4.5.6
はんだ付け性
4.10
表示の耐溶剤性b)
4.17
2
耐プリント板曲げ性d)
4.8
12
0
3 a)
取付け
4.3
84＋24 f)
0 c)
外観
4.4
静電容量
4.5.1
誘電正接
4.5.2
絶縁抵抗
4.5.3
耐電圧
4.5.4
3.1
固着性h)
4.7
24
0
温度急変
4.11
一連耐候性
4.12
3.2
高温高湿（定常）
4.13
24
0
3.3
耐久性
4.14
36
0
3.4
加速耐湿性（定常）b)
4.18
24 f)
0
4
静電容量の温度特性
4.6
12
0
注a) この測定値は，その後の副群3.1〜3.4の試験での初期値とする。
b) 個別規格に規定がある場合に適用する。
c) 取付後に不適合品が見つかったコンデンサは，続く試験の許容不適合品数の算出に用いて
はならない。これらの不適合品は予備試料と交換する。
d) 個別規格にアルミナ基板だけに取り付けると規定しているコンデンサには適用しない。
e) 定格電圧と公称静電容量との組合せで3.4.1による。
f) 副群3.4を試験する場合の追加試料。
g) 板端子をもつコンデンサに適用する。
h) 板端子をもつコンデンサには適用しない。
9
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び
試験項目
（注記1参照）
D又は
ND
試験条件
（注記1参照）
試料数（n）
及び
合格判定数
（c）
要求性能
（注記1参照）
群0
4.4 外観
ND
表4による。
4.4.2による。
表示は明瞭である。
その他は個別規格の規定
による。
4.4 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
4.5.1 静電容量
周波数： … Hz
測定電圧： … V（実効値）
規定の許容差による。
4.5.2 誘電正接
（tan δ）
周波数及び測定電圧は，4.5.1によ
る。
4.5.2.2による。
4.5.3 絶縁抵抗
方法は，個別規格の規定による。
4.5.3.3による。
4.5.4 耐電圧
方法は，個別規格の規定による。
永久破壊及びフラッシオ
ーバがない。
群1A
4.15 端子強度
（適用する場合）
D
試験Ua1 力：2.5 N
試験Ub 方法1：力：2.5 N
曲げ回数：1回
外観
表4による。
損傷がない。
4.9.2 初期測定
特殊な前処理は4.1による。
静電容量
4.9 はんだ耐熱性
方法は個別規格の規定による。
後処理時間：24 h±2 h
4.9.5 最終測定
外観
静電容量
4.9.5による。
4.9.5による。
4.16 部品の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤： …
溶剤の温度： …
方法2
後処理時間： …
個別規格の規定による。
群1B
4.5.5 インピーダンス
（適用する場合）
D
周波数：100 kHz±10 %
表4による。
個別規格の規定による。
4.5.6 等価直列抵抗
（適用する場合）
周波数：100 kHz±10 %
個別規格の規定による。
4.10 はんだ付け性
方法は，個別規格の規定による。
4.10.3 最終測定
外観
4.10.3による。
4.17 表示の耐溶剤性a)
（適用する場合）
溶剤： …
溶剤の温度： …
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理時間： …
表示は明瞭である。
群2
4.8 耐プリント板曲げ性
D
曲げ深さ： …
曲げ回数： …
表4による。
個別規格の規定による。
4.8.1 初期測定
静電容量
4.8.2 最終測定
静電容量（プリント配線板を曲げた
状態）
外観
ΔC/C≦±10 %
損傷がない。
10
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目
（注記1参照）
D又は
ND
試験条件
（注記1参照）
試料数（n）
及び
合格判定数
（c）
要求性能
（注記1参照）
群3
4.3 取付け
D
プリント配線板の材質：…b)
外観
静電容量
誘電正接
絶縁抵抗
耐電圧
表4による。
4.4.2による。
規定の許容差による。
4.5.2.2による。
4.5.3.3による。
永久破壊及びフラッシオ
ーバがない。
副群3.1
4.7 固着性
D
外観
表4による。
損傷がない。
4.11.2 初期測定
特殊な前処理は4.1による。
静電容量
4.11 温度急変
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
t1の時間＝30 min
後処理時間：24 h±2 h
4.11.5 最終測定
外観
静電容量
損傷がない。
ΔC/Cは4.11.5による。
4.12 一連耐候性
特殊な前処理は4.1による。
4.12.2 初期測定
静電容量
4.12.3 高温
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
4.12.4 温湿度サイクル
（試験Db），
最初のサイクル
4.12.5 低温
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
外観
後処理時間：24 h±2 h
損傷がない。
4.12.6 温湿度サイクル
（試験Db），
残りのサイクル
4.12.7 最終測定
外観
静電容量
誘電正接
絶縁抵抗
損傷がなく表示が明瞭で
ある。
ΔC/Cは4.12.7による。
4.12.7による。
4.12.7による。
副群3.2
4.13 高温高湿（定常）
D
特殊な前処理は4.1による。
表4による。
4.13.2 初期測定
静電容量
後処理時間：24 h±2 h
4.13.5 最終測定
外観
静電容量
誘電正接
絶縁抵抗
損傷がなく表示が明瞭で
ある。
ΔC/Cは4.13.5による。
4.13.5による。
4.13.5による。
11
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表5−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目
（注記1参照）
D又は
ND
試験条件
（注記1参照）
試料数（n）
及び
合格判定数
（c）
要求性能
（注記1参照）
副群3.3
4.14 耐久性
D
特殊な前処理は4.1による。
時間： … h
温度： … ℃
電圧： … V
表4による。
4.14.2 初期測定
静電容量
後処理時間：24 h±2 h
4.14.5 最終測定
外観
静電容量
誘電正接
絶縁抵抗
損傷がなく表示が明瞭で
ある。
ΔC/Cは4.14.5による。
4.14.5による。
4.14.5による。
副群3.4
4.18 加速耐湿性（定常）
（適用する場合）
D
時間： … h
温度：85 ℃±2 ℃
相対湿度：（85±3）%
表4による。
4.18.1 初期測定
絶縁抵抗
後処理時間：24 h±2 h
4.18.1による。
4.18.4 最終測定
絶縁抵抗
4.18.4による。
群4
4.6 静電容量の温度特性
ND
特殊な前処理は4.1による。
表4による。
ΔC/Cは4.6.3による。
注記1 試験の細分箇条番号，試験条件及び要求性能は，箇条4を参照。
注記2 この表で，Dは破壊試験，NDは非破壊試験を表す。
注記3 “...”で示す値は，この規格では規定せずに，個別規格で規定することを示す。
注a) この試験は，コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。
b) 各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は，それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規
格に規定する。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1
群A検査及び群B検査
これらの検査は，ロットごとに実施する。
製造業者は，次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
2a) 検査試料は，検査ロットに含まれる公称静電容量と定格電圧との組合せ及び外形寸法を代表するよ
うに選び，試料数に関しては1組合せ当たり5個以上とする。
2b) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，1組合せ当たりの試料数が4個以下のとき，製造業
者は，認証機関（CB）の承認が必要である。
3.5.1.2
群C検査
この検査は，定期的に実施する。
試料は，特定の期間に工程に流れている製品を代表するものとし，外形寸法を小，中及び大に分類する。
いかなる期間でも認証の範囲を対象とするために，外形寸法の分類ごとに一つの定格電圧のものを試験す
る。
12
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
その後の期間では，認証の全ての範囲を対象とするために，製造中のその他の外形寸法及び／又は定格
電圧のものを試験する。
3.5.2
試験計画
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格の箇条2の表4に
規定する。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後の出荷）に従い，はんだ付け性及び静電容量について，群A及び群B
の再検査を実施する。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表6A及び表6Bから選定することが望ましい。
表6A−ロットごとの品質確認検査
検査副群d)
評価水準 EZ
IL a)
n a)
c a)
A0
100 % b)
A1
S-4
c)
0
A2
S-3
c)
0
B1
S-3
c)
0
B2
S-2
c)
0
注a) IL＝検査水準
n＝試料数
c＝合格判定数
b) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために，抜取試料を全
て検査する。抜取水準は，製造業者が選定する。その場合，JIS C 5005-2の附属書A［信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率（ppm）で示す統計的工程品質限界（SVQL）の推定］によ
ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には，このロットは不合格とす
るが，品質水準を算出するために，不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は，JIS C
5005-2の6.2（SVQLの算出）に規定する方法によって，累積した検査データから算出する。
c) 試料数は，JIS C 5005-2の4.3.2（なみ検査による抜取検査方式）によって決定する。
d) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
表6B−定期的品質確認検査
検査副群b)
評価水準 EZ
p a)
n a)
c a)
C 1
3
12
0
C 2
3
12
0
C 3.1
6
27
0
C 3.2
6
15
0
C 3.3
3
15
0
C 3.4 c)
6
15
0
C 4
6
9
0
注a) p＝検査周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定数
b) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2に規定する。
c) 要求がある場合に実施する。
13
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
試験及び測定方法
この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。
4.1
特殊な前処理
前処理を適用する項目で，個別規格に条件の規定がない場合は，この特殊な前処理を試験前又は試験に
続いて実施する。
コンデンサをカテゴリ上限温度又は個別規格に規定する高温度に1時間放置し，その後，標準状態に24
時間±1時間放置する。
注記 コンデンサ種類2の静電容量には，時間経過とともに指数関数的に減少するエージング現象が
ある。ただし，コンデンサを誘電体のキュリー点温度を超える温度で熱すると，例えば，エー
ジングで減少した静電容量が回復し，脱エージングが起こる。コンデンサが冷やされると，そ
のときから，エージングが再度始まる。特殊な前処理の目的は，コンデンサに履歴の影響がな
い状態とすることである（詳細は，B.4参照）。
4.2
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.2.1［測定及び試験のための標準大気条件（標準状態）］による。
4.3
取付け
取付けは，JIS C 5101-1の4.33（取付け）による。
4.4
外観及び寸法検査
外観及び寸法の検査は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）によるほか，次による。
4.4.1
外観
外観は，供試品及び要求する品質水準に適切な照明及び約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
注記 検査員は，適切な測定設備に加えて直接又は間接照明の設備を用意することが望ましい。
4.4.2
要求事項
次の要求事項の数値は，個別規格又は製造業者の仕様書に規定してもよい。
4.4.2.1
磁器部についての要求事項
コンデンサの磁器部については，次による。
a) 表面の小さな損傷を除き，コンデンサの性能を損なうようなクラック又は亀裂があってはならない（例
えば，図1及び図2参照）。
図1−不適合：クラック又は亀裂
注記 一つの側面にある又は一つの面から角を越えて他の面に伸びているクラック又は亀裂を示している。
図2−不適合：クラック又は亀裂
14
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) コンデンサの層間に目に見える分離又は剝離があってはならない（図3参照）。
図3−不適合：層間の分離又は剝離
c) 二つの端子電極間に内部電極の露出があってはならない（図4参照）。
図4−不適合：内部電極の露出
d) 附属書Aの寸法L4で示す端子電極間の最短距離の磁器部に，導電性の汚れがあってはならない。
4.4.2.2
金属化部についての要求事項
コンデンサの金属化部については，次による。
a) 金属化電極面には，目に見える電極切れがなく，かつ，いかなる内部電極の露出があってはならない
（図4参照）。
b) 図5の記号A，B及びCは主要な面とし，正方形の断面をもつコンデンサの場合は，面D及び面Eも
また主要面とみなす。
各主要面上の金属化していない電極部の最大面積は，それぞれの電極面の15 %以下とする。金属化して
いない部分は，一箇所に集中してはならない。
金属化していない部分では二つの主要りょう（稜），又は正方形の断面をもつコンデンサでは四つの主要
りょう（稜）の機能に，影響を与えてはならない。めっきなどの電極表面処理層の付着していない部分は，
主要りょう（稜）の全長の25 %以下とする。
図5−主要面
15
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.5
電気的試験
4.5.1
静電容量
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。
4.5.1.1
測定条件
個別規格に規定がない場合は，表7による。
表7−測定条件
公称静電容量
定格電圧
UR
周波数
測定電圧
V（実効値）
判定に疑義が生じ
た場合の測定電圧
V（実効値）
CN＜100 pF
a)
1 MHz
1.0±0.2
1.0±0.02
100 pF≦CN≦10 μF
UR＞6.3 V
1 kHz
1.0±0.2
1.0±0.02
UR≦6.3 V
1 kHz
0.5±0.2
0.5±0.02
CN＞10 μF
a)
100 Hz又は120 Hz
0.5±0.2
0.5±0.02
注a) 全ての定格電圧（UR）
4.5.1.2
要求性能
プリント配線板に取り付けない状態で測定した静電容量値は，公称静電容量に対して，規定の許容差内
とする。
群3に規定するプリント配線板に取り付けた状態での測定値は，その後に実施する試験の初期値として
用いる。
個別規格に規定がない場合，静電容量値の判定は，1 000時間のエージング後を想定して実施する（附属
書B参照）。1 000時間以外のエージング時間を適用する場合，個別規格に規定してもよい。
4.5.2
誘電正接（tan δ）
誘電正接は，JIS C 5101-1の4.8（誘電正接）によるほか，次による。
4.5.2.1
測定条件
測定条件は，4.5.1.1による。
測定装置の確度は，1×10−3以下とする。
4.5.2.2
要求性能
プリント配線板に取り付けない状態で測定した誘電正接値は，表8に規定する値以下とする。
表8−誘電正接の許容値
定格電圧
UR
サブクラス
誘電正接
UR≧10 V
全てのサブクラス
0.035以下，又は個別規格の
規定する値以下とする。
UR＜10 V
2B，2C，2R
0.1
2D，2E
0.15
2F
0.2
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
プリント配線板取付後の群3での誘電正接の測定値は，その後に実施する試験の初期値として用いる。
4.5.3
絶縁抵抗（Ri）
絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，次による。
16
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.5.3.1
試験の準備
試験に先立って，コンデンサ表面の汚れを取り除き，入念に清浄する。試験槽の中でも，また，試験後
の測定中でも，コンデンサ表面を清浄に維持するように注意する。測定の前にコンデンサを完全に放電し，
絶縁抵抗は端子間で測定する。
4.5.3.2
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.5.2（測定条件）によるほか，次による。
定格電圧が1 kV以下の場合の測定電圧は，定格電圧以下とする。ただし，判定に疑義が生じた場合の測
定電圧は定格電圧とする。定格電圧が1 kVを超える場合，判定に疑義が生じた場合の測定電圧は1 kVと
する。
絶縁抵抗（Ri）は，電圧を60秒±5秒間印加した後に測定する。
ロットごとの品質確認検査（群A）では，絶縁抵抗の値が規定値を超えた時点で判定し，時間を短縮し
てもよい。
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は，個別規格に規定がない場合は，1秒以下とする。
充電電流は，0.05 A以下とする。また，定格電圧が1 kV以上のコンデンサの場合は，充電電流の下限値
を個別規格に規定してもよい。
4.5.3.3
要求性能
絶縁抵抗は，次の要求性能を満足しなければならない。
CN≦25 nF
Ri≧4 000 MΩ
CN＞25 nF
Ri×CN≧100 s
4.5.4
耐電圧
耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，次による。
4.5.4.1
試験条件
充電抵抗R1と公称静電容量Cxとの積は，1秒以下とする。
注記 R1は，電源の内部抵抗を含む充電抵抗器である。JIS C 5101-1の4.6.1（試験回路）参照。
充電電流は，0.05 A以下とする。また，定格電圧が1 kV以上のコンデンサの場合は，充電電流の下限値
を個別規格に規定してもよい。コンデンサをフラッシオーバから保護するため，適切な絶縁媒体の中で試
験を実施してもよい。
4.5.4.2
試験電圧
表9に規定する試験電圧を，JIS C 5101-1の4.5.3（試験箇所）及び表3（測定箇所）に規定する測定点
に印加し，品質認証試験では1分間，ロットごとの品質確認検査では1秒間の印加時間とする。
表9−試験電圧
定格電圧
V
試験電圧
V
UR≦100
2.5 UR
100＜UR≦200
1.5 UR＋100
200＜UR≦500
1.3 UR＋100
500＜UR＜1 000
1.3 UR
UR≧1 000
1.2 UR
4.5.4.3
要求性能
試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
17
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.5.5
インピーダンス（適用する場合）
インピーダンスは，JIS C 5101-1の4.10（インピーダンス）によるほか，次による。
4.5.5.1
測定条件
測定周波数：100 kHz±10 %
4.5.5.2
要求性能
個別規格による。
4.5.6
等価直列抵抗（ESR）（適用する場合）
等価直列抵抗は，JIS C 5101-1の4.8.2（等価直列抵抗）によるほか，次による。
4.5.6.1
測定条件
測定周波数：100 kHz±10 %
4.5.6.2
要求性能
個別規格による。
4.6
静電容量の温度特性
4.6.1
特殊な前処理
4.1による。
4.6.2
測定条件
JIS C 5101-1の4.24.1（静的方法）によるほか，次による。
静電容量は，プリント配線板に取付けを実施しない状態で，表10に規定する条件で測定する。
表10−測定条件の詳細
測定段階
温度
℃
直流電圧印加
1
20±2
−
2
TA a)±3
−
3
20±2
−
4
TB b)±2
−
5
TB±2
×
6
20±2
×
7
TA±3
×
8
20±2
−
注記1 “−”は，直流電圧の印加なしを表している。
“×”は，直流電圧の印加を表している（個別規格に規定がある場合）。
注記2 2.2.5に規定する要求事項を満足することを確実にするために各中間の温度で測定してもよい。
注記3 基準となる静電容量値は，段階3での測定値である。
注記4 4.1の注記に記載する事項は，段階5〜段階7での直流電圧印加時の測定値が，時間に依存す
るということである。この時間依存性は，規定する静電容量変化の許容値内に含まれる。段階
1及び段階8の最初及び最後の静電容量の変化は，経時変化に伴う値を示す。直流電圧印加時
の測定結果に疑義が生じた場合は，段階5及び段階7の保持時間を決めておくことが望ましい
［JIS C 5101-1の4.24.1.3（測定方法）参照］。
注a) TA＝カテゴリ下限温度
b) TB＝カテゴリ上限温度
4.6.3
要求性能
直流電圧を印加した場合及び印加しない場合の温度特性は，表3に示す許容値以下とする。静電容量の
変化は，JIS C 5101-1の4.24.3.1（静電容量の温度特性）によって算出する。
18
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.7
固着性
固着性は，JIS C 5101-1の4.34（固着性）によるほか，次による。
押し力は，1 N，2 N，5 N又は10 Nから選定し，個別規格に規定する。
4.8
耐プリント板曲げ性
耐プリント板曲げ性は，JIS C 5101-1の4.35（耐プリント板曲げ性）による。
個別規格に規定がない場合は，次による。
− 曲げ深さDは，1 mm，2 mm又は3 mmから選定する。
− 曲げ回数は，1回とする。
− 曲げジグの曲率半径は，5 mmとする。
注記 曲げ深さDが2 mm以下の場合，曲率半径が230 mmの曲げジグを用いてもよい。
− 曲げ状態の保持時間は，5秒間とする。
寸法記号1005Mのサイズ又はより小さいコンデンサの場合，試験基板の厚さは0.8 mmが望ましい。
4.8.1
初期測定
静電容量は，4.5.1及び個別規格の規定によって測定する。
4.8.2
最終測定
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。
プリント配線板を曲げた状態での静電容量の変化は，10 %以下とする。
4.9
はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は，JIS C 60068-2-58によるほか，次による。
4.9.1
特殊な前処理
4.1による。
4.9.2
初期測定
静電容量を4.5.1によって測定する。
4.9.3
試験条件
4.9.3.1
はんだ槽法（寸法記号1608M，2012M及び3216Mに適用する。）
注記 寸法記号は，表A.1参照。
個別規格に規定がない場合は，JIS C 60068-2-58の6.（はんだ槽法）及び8.（試験条件）によるほか，
次による。
試料は，110 ℃〜140 ℃で，30秒〜60秒間予備加熱を実施する。
はんだ合金：Sn-Pb又はSn-Ag-Cu
はんだ温度：260 ℃±5 ℃
浸せき時間：10秒±1秒間
浸せき深さ：10 mm
浸せき回数：1回
4.9.3.2
リフロー法（赤外線及び熱風方式）
JIS C 60068-2-58の7.（リフロー法）及び8.（試験条件）によるほか，次による。
a) ソルダペーストを試験基板に塗布する。
b) ソルダペーストの塗布厚さは，個別規定の規定による。
c) 試料の端子をソルダペーストの上に載せる。
d) はんだ合金：Sn-Pbはんだの場合
19
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
個別規格に規定がない場合は，試験基板上の試料を，赤外線及び熱風方式で，150 ℃±10 ℃で60
秒〜120秒間の予備加熱を実施する。
試料の温度が235 ℃±5 ℃に達するまで，速やかに上昇させ，10秒±1秒間保持する。
e) はんだ合金：Sn-Ag-Cuはんだの場合
個別規格に規定がない場合，リフロー温度プロファイルは，表11及び図6から選定する。
表11−Sn-Ag-Cuはんだのリフロー温度プロファイル
はんだ合金
T1
℃
T2
℃
t1
s
T3
℃
t2
s
T4
℃
t3
s
鉛フリーはんだ
（Sn-Ag-Cu）
試験1
150±5
180±5
120±5
220
60〜90
250
T4−5 Kで20〜40
試験2
150±5
180±5
120±5
220
≦60
255
T4−10 Kで20以下
図6−リフロー温度プロファイル
f)
試験の回数：個別規格に規定がない場合，1回とする。
g) 個別規格には，d)又はe)の温度プロファイルを規定する。
4.9.4
後処理
コンデンサは，24時間±2時間放置する。
フラックス残さ（渣）は，適切な溶剤で取り除く。
4.9.5
最終検査，測定及び要求性能
後処理後にコンデンサは，外観検査及び次の電気的性能を測定し，次の要求性能を満足しなければなら
ない。
通常の照明の下で，約10倍の拡大鏡で検査したとき，クラックなどの損傷があってはならない。
また，電極の表面処理層の付着していない部分の食われ（はんだ食われ）は，主要りょう（稜）の全長
の25 %以下とする。個別規格には，追加の要求を規定してもよい。
静電容量を4.5.1によって測定し，その変化は表12に規定する値以下とする。
表12−最大静電容量変化
サブクラス
要求性能
2B及び2C
±10 %
2D及び2R
±15 %
2E及び2F
±20 %
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
20
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.10 はんだ付け性
はんだ付け性は，JIS C 60068-2-58によるほか，次による。
4.10.1 試験条件
4.10.1.1 はんだ槽法（寸法記号1608M，2012M及び3216Mに適用する。）
注記 寸法記号は，表A.1参照。
個別規格に規定がない場合は，JIS C 60068-2-58の6.（はんだ槽法）及び8.（試験条件）によるほか，
次による。
試料は，80 ℃〜140 ℃で，30秒〜60秒間予備加熱を実施する。
はんだ合金：
Sn-Pb
Sn-Ag-Cu
はんだ温度：
235 ℃±5 ℃
245 ℃±5 ℃
浸せき時間：
2秒±0.2秒間
3秒±0.3秒間
浸せき深さ：
10 mm
10 mm
浸せき回数：
1回
1回
4.10.1.2 リフロー法（赤外線及び熱風方式）
JIS C 60068-2-58の7.（リフロー法）及び8.（試験条件）によるほか，次による。
a) ソルダペーストを試験基板に塗布する。
b) ソルダペーストの塗布厚は，個別規定の規定による。
c) 試料の端子をソルダペーストの上に載せる。
d) はんだ合金：Sn-Pbはんだの場合
個別規格に規定がない場合は，試験基板上の試料を，赤外線及び熱風方式で，150 ℃±10 ℃で60
秒〜120秒間の予備加熱を実施する。
試料の温度が215 ℃±3 ℃に達するまで，速やかに上昇させ，10秒±1秒間保持する。
e) はんだ合金：Sn-Ag-Cuはんだの場合
個別規格に規定がない場合は，試験基板上の試料を，赤外線及び熱風方式で，150 ℃±5 ℃から
180 ℃±5 ℃まで60秒〜120秒間の予備加熱を実施する。
試料の温度が235 ℃±3 ℃に達するまで，速やかに上昇させ，225 ℃以上に20秒±5秒間保持する。
f)
個別規格には，d)又はe)の温度プロファイルを規定する。
4.10.2 後処理
フラックスさ（渣）は，適切な溶剤で取り除く。
4.10.3 最終測定及び要求性能
コンデンサは，通常の照明の下で約10倍の拡大鏡で検査したとき，損傷があってはならない。端子又は
電極の表面部分は，ピンホール，ぬれ不良及びはんだはじきが少なく，はんだが良好に付着していなけれ
ばならない。これらの不完全な部分は，一箇所に集中してはならない。
それ以上の要求性能については，個別規格に規定してもよい。
4.11 温度急変
この試験は，カテゴリ温度範囲が110 ℃以上のコンデンサに適用する。
温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。
コンデンサは，4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.11.1 特殊な前処理
4.1による。
21
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.11.2 初期測定
静電容量を4.5.1によって測定する。
4.11.3 サイクル数
サイクル数は，5回とする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は，30分間とする。
4.11.4 後処理
コンデンサは24時間±2時間放置する。
4.11.5 最終測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。静電容量を4.5.1によって測定
したとき，その変化は表13に規定する値以下とする。
表13−最大静電容量変化
サブクラス
要求性能
2B及び2C
±10 %
2D及び2R
±15 %
2E及び2F
±20 %
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
4.12 一連耐候性
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。
4.12.1 特殊な前処理
特殊な前処理は，4.1による。
4.12.2 初期測定
静電容量を4.5.1によって測定する。
4.12.3 高温
高温は，JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
4.12.4 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル
JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル］による。
4.12.5 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.4（低温）によるほか，次による。
4.12.5.1 最終検査及び要求性能
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。
4.12.6 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル
JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル］によるほか，次による。
4.12.6.1 試験条件
電圧は，印加しない。
残りのサイクルは，表14による。
表14−温湿度サイクル，残りのサイクル数
カテゴリ
24時間のサイクル数
− /− / 56
5
− /− / 21
1
− /− / 10
1
− /− / 04
0
22
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.12.6.2 後処理
コンデンサは，24時間±2時間放置する。
4.12.7 最終検査，測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。
コンデンサは，電気的性能を測定し，次の要求事項を満足しなければならない。
試験後の静電容量値が，表15に規定する許容値の最低値よりも低い場合は，その他の性能を測定後に
4.1の特殊な前処理を実施し，再度静電容量値を測定したとき，表15の要求性能を満足しなければならな
い。
表15−最終測定及び要求性能
測定項目
測定条件
要求性能
サブクラス2B
及び2C
サブクラス2D
及び2R
サブクラス2E
サブクラス2F
静電容量
4.5.1による。
∆C/C≦±10 %
∆C/C≦±15 %
∆C/C≦±20 %
∆C/C≦±30 %
誘電正接
4.5.2による。
4.5.2の表8の2倍以下
絶縁抵抗
4.5.3による。 Ri≧1 000 MΩ又はRi×CN≧25 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
4.13 高温高湿（定常）
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。
コンデンサは，4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.13.1 特殊な前処理
4.1による。
4.13.2 初期測定
静電容量を4.5.1によって測定する。
4.13.3 試験条件
個別規格に規定がない場合は，電圧は印加しない。
試験の厳しさは，表16及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
試験期間は，2.1に従って選定することが望ましく，個別規格に規定する。
表16−高温高湿（定常）の試験条件
厳しさ
温度
℃
相対湿度
%
1
＋85±2
85±3
2
＋60±2
93±3
3
＋40±2
93±3
電圧印加の規定がある場合は，試料の半数は定格電圧を印加し，その他の半数は印加しない。
高温高湿（定常）試験後に槽から取り出し，15分間以内に耐電圧試験を4.5.4によって実施する。ただ
し，この場合の電圧は，定格電圧とする。
注記 安全上の理由によって，定格電圧1 kV以上のコンデンサについては，別の電圧印加条件を個別
規格に規定してもよい。
4.13.4 後処理
コンデンサは24時間±2時間放置する。
23
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.13.5 最終検査，測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。
コンデンサは，電気的性能を測定し，次の要求性能を満足しなければならない。
試験後の静電容量値が，表17に規定する許容値の最低値よりも低い場合は，その他の性能を測定後に
4.1の特殊な前処理を実施し，再度静電容量値を測定したとき，表17の要求性能を満足しなければならな
い。
表17−最終測定及び要求性能
測定項目
測定条件
要求性能
サブクラス2B
及び2C
サブクラス2D
及び2R
サブクラス2E
サブクラス2F
静電容量
4.5.1による。
∆C/C≦±10 %
∆C/C≦±15 %
∆C/C≦±20 %
∆C/C≦±30 %
誘電正接
4.5.2による。
4.5.2の表8の2倍以下
絶縁抵抗
4.5.3による。 Ri≧1 000 MΩ又はRi×CN≧25 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
4.14 耐久性
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。
コンデンサは，4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.14.1 特殊な前処理
4.1による。
4.14.2 初期測定
静電容量を4.5.1によって測定する。
4.14.3 試験条件
コンデンサは，次の条件によって試験する。
カテゴリ電圧と定格電圧とが等しい場合，表18に規定する条件で試験を実施する。
表18−耐久性の試験条件（UC＝URの場合）
項目
UR
V
UR≦200
200＜UR≦500
UR＞500
温度
カテゴリ上限温度
カテゴリ上限温度
カテゴリ上限温度
電圧
V
1.5UR
1.3UR
1.2UR
試験時間 h
1 000
1 500
2 000
カテゴリ電圧と定格電圧とが等しくない場合，表19に規定する条件で試験を実施する。
表19−耐久性の試験条件（UC＝URでない場合）
項目
UR
V
UR≦200
200＜UR≦500
UR＞500
温度
℃
TR
TB
TR
TB
TR
TB
電圧
V
1.5UR
1.5UC
1.3UR
1.3UC
1.2UR
1.2UC
時間
h
1 000
1 500
2 000
試料
2分割
2分割
2分割
注記 TR：定格温度
TB：85 ℃を超えるカテゴリ上限温度（100 ℃，125 ℃及び150 ℃）
24
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.14.4 後処理
コンデンサは24時間±2時間放置する。
4.14.5 最終検査，測定及び要求性能
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。
コンデンサは，電気的性能を測定し，次の要求性能を満足しなければならない。
試験後の静電容量値が，表20に規定する許容値の最低値よりも低い場合は，その他の性能を測定後に
4.1の特殊な前処理を実施し，再度静電容量値を測定したとき，表20の要求性能を満足しなければならな
い。
表20−最終測定及び要求性能
測定項目
測定条件
要求性能
サブクラス2B
及び2C
サブクラス2D
及び2R
サブクラス2E
サブクラス2F
静電容量
4.5.1による。
∆C/C≦±10 %
∆C/C≦±15 %
∆C/C≦±20 %
∆C/C≦±30 %
誘電正接
4.5.2による。
4.5.2の表8の2倍以下
絶縁抵抗
4.5.3による。 Ri≧2 000 MΩ又はRi×CN≧50 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
4.15 端子強度（板端子をもつコンデンサに適用）
端子電極は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）によるほか，次による。
4.15.1 試験条件
個別規格に規定がない場合は，次の試験条件による。
− 試験Ua1（引張強さ）：
力：2.5 N
− 試験Ub（曲げ強さ），方法1： 力：2.5 N
− 曲げ回数：
1回
4.15.2 最終検査及び要求性能
コンデンサは，外観検査を実施し，目に見える損傷があってはならない。
4.16 部品の耐溶剤性（適用する場合）
部品の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。
4.17 表示の耐溶剤性（適用する場合）
表示の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。
4.18 加速耐湿性（定常）（適用する場合）
加速耐湿性（定常）は，JIS C 5101-1の4.37［加速耐湿性（定常）］による。
コンデンサは，4.3によってプリント配線板に取り付ける。
コンデンサの半数は，100 kΩ±10 %の抵抗器と，残りの半数は6.8 kΩ±10 %の抵抗器と直列に接続する。
4.18.1 初期測定
コンデンサは，1.5 V±0.1 Vの電圧をコンデンサと抵抗器とを直列に接続した両端間に印加し，絶縁抵
抗を測定する。直列抵抗器を含む絶縁抵抗値は，表21による。
25
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表21−初期要求性能
測定項目
測定条件
要求性能
絶縁抵抗
1.5 V±0.1 V
100 kΩの抵抗器を接続
CN≦25 nF：Ri≧4 000 MΩ
CN＞25 nF：(Ri−100 kΩ)×CN≧100 s
6.8 kΩの抵抗器を接続
CN≦25 nF：Ri≧4 000 MΩ
CN＞25 nF：(Ri−6.8 kΩ)×CN≧100 s
4.18.2 試験条件
抵抗器と接続したコンデンサは，温度85 ℃±2 ℃，相対湿度（85±3）%の条件で表22に規定する試
験時間放置する。100 kΩ及び6.8 kΩの抵抗器を接続した各コンデンサは，表22に規定する電圧を印加す
る。いずれの場合も印加する電圧は，コンデンサと抵抗器とを直列に接続した端子間に印加する。
コンデンサ又はプリント配線板の表面が，結露しないように注意する。試験中に湿度が下がる前に扉を
開けると，このようなことが起こる場合がある。
表22−試験条件
抵抗器
印加電圧
時間
100 kΩ
1.5 V±0.1 V又は個別規格に規定する電圧
168 h，500 h又は1 000 hとし，
個別規格の規定による。
6.8 kΩ
50 V±0.1 V若しくはURのいずれか低い電
圧，又は個別規格に規定する電圧
4.18.3 後処理
電圧の印加を停止し，コンデンサ及び抵抗器を試験槽から取り出して，標準試験状態で22時間〜26時
間放置する。
4.18.4 最終測定及び要求性能
コンデンサは，4.18.1によって絶縁抵抗を測定する。直列抵抗器を含む絶縁抵抗値は，4.18.1に規定する
値の0.1倍以上でなければならない。
26
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2の
寸法記号及び規定に関する指針
コンデンサの寸法を規定するときには，図A.1に示す原則を考慮することが望ましい。
寸法は，表A.1に規定する。
寸法Wは，L1以下とすることが望ましい。
寸法Hは，W以下とすることが望ましい。
必要がある場合は，めっき厚さを規定することが望ましい。
図A.1−寸法
表A.1−寸法
単位 mm
寸法記号
長さ
L1
幅
W
L2及びL3
（最小値）
L4
（最小値）
0402M
0.4±0.02
0.2±0.02
0.05
0.1
0603M
0.6±0.03
0.3±0.03
0.1
0.2
1005M
1.0±0.05
0.5±0.05
0.1
0.3
1608M
1.6±0.1
0.8±0.1
0.2
0.5
2012M
2.0±0.1
1.25±0.1
0.2
0.7
3216M
3.2±0.2
1.6±0.15
0.3
1.4
3225M
3.2±0.2
2.5±0.2
0.3
1.4
4532M
4.5±0.3
3.2±0.2
0.3
2.0
5750M
5.7±0.4
5.0±0.4
0.3
2.5
注記 寸法記号の識別子Mは，寸法をメートル法で表すことを示す記号である。
その他の寸法記号及び寸法は，個別規格に規定してもよい。
27
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（参考）
固定磁器コンデンサ種類2の静電容量エージング
B.1
一般
磁器コンデンサ種類2の磁器誘電体は，強誘電体特性をもち，キュリー温度（Curie temperature）をもつ。
このキュリー温度を超える高温では，立方晶形構造を示し，キュリー温度未満では非対称結晶構造となる。
単結晶ではこの晶形の移行が急激であるのに対し，実際の誘電体は，ある温度範囲内では緩やかに移行す
る。この移行は，静電容量対温度カーブのピークと関連している。
熱振動の影響で結晶中のイオンは，誘電体がキュリー温度未満で冷却されてから，長時間継続的により
低いポテンシャルエネルギーに移行する。静電容量のエージング現象は，このようにして起こり，これに
よってコンデンサの静電容量が連続的に減少する。ただし，コンデンサをキュリー温度を超える温度で熱
すると，例えば，エージングで減少した静電容量が回復し，脱エージングが起こる。コンデンサが冷やさ
れると，そのときから，エージングが再度始まる。
B.2
静電容量エージングの法則
キュリー温度未満まで冷却された最初の1時間は，静電容量の減少を定義することはできないが，この
時間以降は，静電容量は対数的に減少することからこれをエージング定数として表すことができる（K.W.
Plessner, Proc. Phys. Soc., vol. 69B, p1261, 1956参照）。
エージング定数kは，対数目盛の1ディケード，例えば，1時間から10時間までと10倍の時間経過で
のエージングによる静電容量の減少を，百分率で定義する。
静電容量の減少の規則が対数的となることから，静電容量の変化率は，1時間から100時間までは2k，1
時間から1 000時間までは3kとなる。このことは次の式で表すことができる。
−
=
t
k
C
C
log
100
1
1
t
ここに，
Ct： エージング開始t時間後の静電容量
C1： エージング開始1時間後の静電容量
k： エージング定数
t： エージング経過時間
エージング定数は，それぞれの磁器誘電体について製造業者が提示するか，又はコンデンサの脱エージ
ング後の2点の経過時間での静電容量を測定することによって求めるかの，いずれでもよい。
エージング定数kは，次の式によって算出する。
(
)
1
t2
2
t1
t2
t1
log
log
100
t
C
t
C
C
C
k
−
−
=
静電容量の測定を経過時間の3点以上で行った場合は，log tに対してプロットしたCtのグラフの傾斜か
らエージング定数kを求めることができる。
エージング中のコンデンサの測定は，温度特性による静電容量の変化が測定に悪影響を与えることを避
けるために一定の温度に保持して行う。
B.3
静電容量の測定及び静電容量許容差
エージング特性があるため，静電容量許容差に標準エージング時間を規定する必要があり，1 000時間と
28
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
定めている。これは，1 000時間以上での静電容量の減少は小さいためである。
1 000時間後の静電容量C1000を算出するには，エージング定数は既知であるか，又はB.2によって求め
ておく必要があり，次の式を用いて計算できる。
(
)
−
−
=
t
k
C
C
log
3
100
1
t
1000
製造業者の検査測定時には，1 000時間後の容量減少量が計算可能なため，検査時にこの容量減少分を補
正した検査用の容量許容基準を用いることで，標準エージング時間での静電容量許容差に対応した検査を
行うことができる。例えば，静電容量の減少が5 %と既知のとき，規格値が±20 %の場合では，それに代
わって−15 %〜＋25 %で検査してもよい。
静電容量は，通常20 ℃での値を用いるため，20 ℃で測定するか，又はこの温度の値に補正する必要が
ある。手を通して伝わる温度によって誤差が生じるので，コンデンサは常にピンセットで取り扱うことが
望ましい。
B.4
特殊な前処理条件（4.1の注記参照）
この規格の中の試験の多くは，与えられた条件（例えば，一連耐候性）によって生じる静電容量変化を
測定する。エージングによる悪影響を避けるために，判定前にコンデンサはカテゴリ上限温度に1時間放
置し，引き続いて標準状態で24時間放置するという，特殊な前処理を行う。
これによって，カテゴリ上限温度未満のキュリー点をもつコンデンサに脱エージングを起こし，引き続
き24時間のエージングを行うわけである。これによってエージングによる静電容量値の変化とばらつきを
最小にできる。
熱処理の脱エージングで静電容量が回復することもあるので，その後の24時間のエージングによって，
製造後からの静電容量変化を実用上，最小限とみなすことができる。
誘電体のキュリー温度がカテゴリ上限温度よりも高い場合，この特殊な前処理条件ではコンデンサの完
全な脱エージングを行うことができないが，処理されたコンデンサの静電容量値は過去の来歴を事実上受
けない状態とすることができるため，エージングによる悪影響を避けるという目的に対して完全な脱エー
ジングと同じ効果が達成される。
このようなコンデンサを完全に脱エージングするためには最大160 ℃の放置温度が必要な場合があり，
この温度が外装樹脂に悪影響を与えることがある。したがって，コンデンサを完全に脱エージングする必
要がある場合は，個別規格に詳細事項及び必要な注意事項を考慮して規定する。
29
C 5101-22：2014 (IEC 60384-22：2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（参考）
基準温度25 ℃に対する静電容量の温度特性
基準温度25 ℃に対する静電容量の温度特性は，市場要求及びその実績からしばしば用いられている。
これらの温度特性及び記号を，表C.1に示し，静電容量の温度特性の正確な測定条件を，表C.2に示す。
表C.1−基準温度25 ℃に対する静電容量の温度特性
静電容量の温度特
性の記号
最大静電容量変化
%
温度範囲
℃
X5R
±15
−55〜＋85
X7R
±15
−55〜＋125
X8R
±15
−55〜＋150
X6S
±22
−55〜＋105
X7S
±22
−55〜＋125
Y5V
−82/＋22
−30〜＋85
表C.2−基準温度25 ℃に対する静電容量の温度特性の測定条件
測定段階
温度
℃
1
25±2
2
TA a)±3
3
25±2
4
TB b)±2
5
25±2
注記1 表C.1の要求事項を満足することを確実にするために
各中間の温度で測定してもよい。
注記2 基準となる静電容量値は，段階3での測定値である。
注a) TA＝カテゴリ下限温度
b) TB＝カテゴリ上限温度
参考文献 JIS C 5101-14 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
K.W. Plessner: Ageing of the Dielectric Properties of Barium Titanate Ceramics, Proceedings of the
Physical Society, Section B, Volume 69, Issue 12, p.1261 to 1268 (1956)