C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

（1） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 一般事項 ························································································································· 2 

1.0 適用範囲 ······················································································································ 2 

1.1 推奨する取付方法（挿入用）···························································································· 2 

1.2 寸法 ···························································································································· 2 

1.3 定格及び性能 ················································································································ 3 

1.4 引用規格 ······················································································································ 3 

1.5 表示 ···························································································································· 3 

1.6 発注情報 ······················································································································ 4 

1.7 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 4 

1.8 追加情報（非検査目的） ································································································· 4 

1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項 ··································· 4 

2 検査要求事項 ··················································································································· 4 

2.1 手順 ···························································································································· 4 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

（2） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業

標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。 

これによって，JIS C 5101-2-1 : 1998は改正され，この規格に置き換えられた。 

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責

任はもたない。 

JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。 

JIS C 5101-1 

第1部：品目別通則 

JIS C 5101-2 

第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ 

JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-3 

第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ 

JIS C 5101-3-1 第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-4 

第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-4-1 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-4-2 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-8 

第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1 

JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ 

JIS C 5101-9 

第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2 

JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ 

JIS C 5101-11 

第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ 

JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-13 

第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 

JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-14 

第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 

JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D 

JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求

する試験 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

（3） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ 

JIS C 5101-15 

第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価

水準E 

JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準

E 

JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-16 

第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 

JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-17 

第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ 

JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-18 

第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデ

ンサ 

JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ 

評価水準E 

JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価

水準E 

JIS C 5101-20 

第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ 

JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-21 

第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 

JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ 

JIS C 5101-22 

第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 

JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ 

JIS C 5101-23 

第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ 

JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-24 

第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン

サ（予定） 

JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解

コンデンサ 評価水準EZ（予定） 

JIS C 5101-25 

第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン

デンサ（予定） 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

（4） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）

電解コンデンサ 評価水準EZ（予定） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 5101-2-1：2009 

(IEC 60384-2-1：2005) 

電子機器用固定コンデンサ− 

第2-1部：ブランク個別規格： 

固定メタライズドポリエチレンテレフタレート 

フィルム直流コンデンサ 

評価水準E及びEZ 

Fixed capacitors for use in electronic equipment- 

Part 2-1 : Blank detail specification :  

Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric  

d.c. capacitors- 

Assessment levels E and EZ 

序文 

この規格は，2005年に第2版として発行されたIEC 60384-2-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項である。 

ブランク個別規格 

この規格は，品種別通則JIS C 5101-2の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要な要求事項を規定

したものである。これらの要求を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみなし，

そのことを個別規格に記載する。 

個別規格は，JIS C 5101-2の1.4に基づいて作成する。 

個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の

事項と対応している。 

個別規格の識別 

[1] 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称 

[2] 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号，版及び西暦

年 

[3] 品目別通則の国内規格番号及び西暦年又はIEC規格番号，版及び西暦年 

[4] ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号 

コンデンサの識別 

[5] コンデンサの品種についての要約説明 

[6] 代表的な構造の説明（適用する場合） 

2 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

注記 コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのこと

を明記することが望ましい。 

[7] 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外径図及び／又は外形に関する国内規格若しくは国際規格の

引用。この図は，個別規格の附属書としてもよい。 

[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び／又は評価水準。 

注記 個別規格に規定する評価水準は，品種別通則JIS C 5101-2の3.5.4から選定する。このブラン

ク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。 

[9] 重要な特性に関する参照データ 

例 社団法人電子情報技術産業協会 

[1] 個別規格番号 

[2] 

例 電子機器用固定コンデンサ 

[3] 

第1部：品目別通則 
JIS C 5101-1 : 1998 

例 JIS C 5101-2-1（ブランク個別規格番号） 

[4] 

個別規格の名称 

[5] 

例 固定メタライズドポリエチレンテレフタレート 

フィルム直流コンデンサ 

外形図（表1参照） 

[7] 

（第三角法） 
 
 
（規定寸法内であれば，外形は異なってもよい。） 

構造の説明 

[6] 

評価水準（複数も可）： 

[8] 

例 E及びEZ 
性能等級：1 

注記 [1]〜[9]は前述の識別による。 

 この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は，品質認証電
子部品一覧法 (QPL) に示されている。* 

[9] 

注* この記載は，IEC 品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。 

1 

一般事項 

1.0 

適用範囲 

この規格は，JIS C 5101-2を品種別通則とするブランク個別規格で，電子機器用固定メタライズドポリ

エチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ（以下，コンデンサという。）の評価水準E及びEZにつ

いて適用する。 

注記 

この規格の対応国際規格及びその程度を表す記号を，次に示す。 

IEC 60384-2-1 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2-1 : Blank detail 

specification : Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors−

Assessment levels E and EZ (IDT) 

なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを

示す。 

1.1 

推奨する取付方法（挿入用） 

推奨する取付方法は，JIS C 5101-2の1.4.2による。 

1.2 

寸法 

寸法は，表1による。 

3 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表1−外形寸法記号及び寸法 

外形寸法記号 

寸法 (mm) 

φ 

L 

H 

d 

… 

注記 1 外形寸法記号がない場合は，この表1は削除し，寸法を表2に記載してそれを表1とする。 
注記 2 寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。 

1.3 

定格及び性能 

定格及び特性は，次による。 

定格静電容量範囲       （表2による。） 

定格静電容量許容差 

定格電圧           （表2による。） 

カテゴリ電圧（適用する場合） （表2による。） 

耐候性カテゴリ 

定格温度 

最大交流電圧（適用する場合） 

最大パルス負荷 

誘電正接（tanδ） 

絶縁抵抗 

表2−外形寸法に組み合わせた定格電圧及び定格静電容量 

定格電圧 

カテゴリ電圧* 

定格静電容量 
nF 及び／又はµF 

外形寸法 

外形寸法 

外形寸法 

外形寸法 

注* 定格電圧と異なる場合。 

1.4 

引用規格 

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格はその最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS C 5101-2 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレ

ンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 

注記 対応国際規格：IEC 60384-2 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2 : 

Sectional specification : Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. 

capacitors (IDT) 

JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜

取検査方式 

注記 対応国際規格：IEC 60410 : 1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes 

(MOD) 

1.5 

表示 

適用する場合，コンデンサ及び包装の表示は，品種別通則 JIS C 5101-2の1.6（表示）による。 

4 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

注記 コンデンサ及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定する。 

1.6 

発注情報 

この規格のコンデンサの発注情報には，少なくとも次の事項を，明りょうな文字又は記号によって示す。 

a) 定格静電容量 

b) 定格静電容量許容差 

c) 定格直流電圧 

d) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名 

1.7 出荷対象ロットの成績証明書 

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。 

注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。 

1.8 

追加情報（非検査目的） 

注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。 

1.9 

品目別通則及び／又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項 

追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合にだけ規定し，表3による。 

表3−その他の特性 

 この表は，品種別通則JIS C 5101-2の規定内容に対して，追加又はより厳しい特性
を規定するために，使用する。 

2 

検査要求事項 

2.1 

手順 

2.1.1 

品質認証の手順 

品質認証の手順は，JIS C 5101-2の3.4による。 

2.1.2 

品質確認検査の試験計画 

品質確認検査の試験計画（表4及び表5）は，抜取方法，周期，厳しさ及び要求性能を示す。検査ロッ

トの構成は，品種別通則JIS C 5101-2の3.5.1による。 

5 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表4−ロットごとの品質確認検査の試験計画（群A及び群B検査） 評価水準E及びEZ 

細分箇条番号及び試験項目 

a) 

D 

又は

ND c) 

試験条件a) 

 
 

IL c) 

評価
水準 

E 

評価水準

EZ 

要求性能a) 

AQL c) 

n c) 

c c) 

群A（ロットごと） 
副群A0 
4.2.2 静電容量 
4.2.3 誘電正接 (tan δ) 
 
4.2.1 耐電圧（試験A） 
 
 
 
4.2.4 絶縁抵抗（試験A） 

ND 

 
 
 
測定周波数：1 kHz 
すべての容量範囲 
方法：… 
測定点1a 
 
 
測定点1a 

 
 

100 %d) 

 
 
規定の許容差による。 
4.2.3.2による。 
 
絶縁破壊又はフラッシ

オーバがない。ただし
一時的瞬間破壊があ
ってもよい。 

4.2.4.2による。 

副群A1 
4.1 外観 
 
 
 
4.1 寸法（ゲージ法） 

ND 

S-3 

2.5% 

b) 

0 

 
4.1による。 
表示は明りょうとする。 
この規格の1.5の規定に

よる。 

この規格の表1による。 

副群A2 
4.2.2 静電容量 
4.2.3 誘電正接 (tan δ) 
4.2.1 耐電圧（試験A） 
 
4.2.4 絶縁抵抗（試験A） 

ND 

S-3 

1.0% 

 
規定の許容差による。 
4.2.3.2による。 
絶縁破壊又はフラッシ

オーバがない。 

4.2.4.2による。 

群B（ロットごと） 
副群B1 
4.5 はんだ付け性 
 
 
 
4.15 表示の耐溶剤性 
（適用する場合） 

ND  

 
 
エージングなし。 
方法：… 
 
 
溶剤：… 
溶剤の温度：… 
方法1 
ラビングの材料 
後処理時間 

S-3 

2.5% 

b) 

0 

 
端子にはんだが良好に

付着しているか又は
はんだ小球法の場合
は...s以内にはんだが
流れる。 

表示は明りょうとする。 
 

注a) この細分箇条番号及び要求性能は，箇条1及び品種別通則JIS C 5101-2による。 

b) 試料数 (n) は，JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い，

付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数。 

c) この表の記号は，次による。 

p：周期（月），n：試料数，c：合格判定数， 

D：破壊試験，ND：非破壊試験， 
IL：検査水準，AQL：合格品質限界 

d) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準は

部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために抜取試料
をすべて検査する。 
 抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質水準
を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査データによって算出する。 

6 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査） 評価水準E及びEZ 

細分箇条番号及び試験 

項目 

a) 

D 

又は

ND 

試験条件a) 

試料数及び合格判定数b) 

要求性能a) 

E 

EZ 

p 

n 

c 

c) 

p 

n 

c 

c) 

群C 検査（定期的） 

6 

5 

0 

 
 
 
個別規格の規定による。 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。 
 
4.3.1の測定値に対して 

ΔC/C≦2 % 

tan δの4.3.1の値からの

増加量 

等級1 (CR≦1 µF) : ≦0.003 
等級1 (CR＞1 µF) : ≦0.002 
等級2 (CR≦1 µF) : ≦0.005 
等級2 (CR＞1 µF) : ≦0.003 

副群C1 A 
副群C1の試料の一部 
4.1 寸法（詳細） 
 
4.3.1 初期測定 
 
 
 
4.3 端子強度 
4.4 はんだ耐熱性 
4.14 部品の耐溶剤性 
（適用する場合） 
 
 
4.4.2 最終測定 

D 

 
 
 
 
静電容量 
誘電正接 (tan δ) 

CR＞1 µF : 1 kHz 
CR≦1 µF : 10 kHz 

外観 
方法：... 
溶剤：... 
溶剤の温度：... 
方法2：... 
後処理時間：... 
外観 
 
 
静電容量 
 
誘電正接 (tan δ) 
 

6 

9 

1 

7 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査） 評価水準E及びEZ（続き） 

細分箇条番号及び試験 

項目a) 

D 

又は

ND 

試験条件a) 

試料数及び合格判定数b) 

要求性能a) 

E 

EZ 

p 

n 

c 

c) 

p 

n 

c 

c) 

副群C1 B 
副群C1の残りの試料 
4.6.1 初期測定 
 
 
 
4.6 温度急変 
 
 
 
 
4.7 振動 
 
 
 
 
 
 
 
4.7.2 最終測定 
 
 
4.8 バンプ（又は4.9

衝撃） 

 
4.9 衝撃（又は4.8 バ

ンプ） 

D 

 
 
静電容量 
誘電正接 (tan δ) 

CR＞1 µF : 1 kHz 
CR≦1 µF : 10 kHz 

TA＝カテゴリ下限温度 
TB＝カテゴリ上限温度 

5サイクル 
時間t1＝30 min 
外観 
取付方法： 

1.1を参照 

周波数範囲： 

...Hz〜...Hz 

振幅0.75 mm又は加速

度100 m/s2（どちらか
緩い方） 

試験時間の合計：6 h 
外観 
取付方法：この規格の

1.1による。 

バンプ回数：... 
ピーク速度：... m/s2 
作用時間：... ms 
取付方法：この規格の

1.1による。 

ピーク速度：...m/s2 
作用時間：...ms 

6 

18 

1 

6 

5 

0 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 
 

8 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査） 評価水準E及びEZ（続き） 

細分箇条番号及び試験 

項目a) 

D 

又は

ND 

試験条件a) 

試料数及び合格判定数b) 

要求性能a) 

E 

EZ 

p 

n 

c 

c) 

p 

n 

c 

c) 

4.8.3又は4.9.3 最終測

定 

外観 
静電容量 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗 

外観に損傷がない。 
4.6.1の測定値の 
 ΔC/C≦5 % 
tan δの4.6.1の値からの

増加量 

等級1 (CR≦1 µF) : ≦0.003 
等級1 (CR＞1 µF) : ≦0.002 
等級2 (CR≦1 µF) : ≦0.005 
等級2 (CR＞1 µF) : ≦0.003 
4.2.4.2の規定値の50 %以

上 

副群C1 
副群C1AとC1Bとを合

わせた試料 

4.10 一連耐候性 
4.10.2 高温 
 
4.10.3 温湿度サイクル

（12+12時間サイク
ル）試験Db最初のサ
イクル 

4.10.4 低温 
 
4.10.5 減圧（個別規格

に要求がある場合） 

 
 
4.10.5.3 中間検査 
 
4.10.6 温湿度サイクル

（12+12時間サイク
ル）試験Db残りのサ
イクル 

4.10.6.2 最終測定 

D 

 
 
 
 
温度：カテゴリ上限温度 
時間：16 h 
 
 
 
 
温度：カテゴリ下限温度 
時間：2 h 
圧力：8 kPa 
 
 
 
外観 
 
 
 
 
 
外観 
 

6 

27 

2 

6  10 

0 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
永久短絡，フラッシオー

バ又はケースの有害な
変形がない。 

 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。 

静電容量 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗 
 

4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測

定値に対して 

 ΔC/C≦5 % 
tan δの4.3.1又は4.6.1の

値からの増加量 

等級1 (CR≦1 µF) : ≦0.005 
等級1 (CR＞1 µF) : ≦0.003 
等級2 (CR≦1 µF) : ≦0.008 
等級2 (CR＞1 µF) : ≦0.005 
4.2.4.2の規定値の50 %以

上 

9 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査） 評価水準E及びEZ（続き） 

細分箇条番号及び試験 

項目a) 

D 

又は

ND 

試験条件 a) 

試料数及び合格判定数 b) 

要求性能 a) 

E 

EZ 

p 

n 

c 

c) 

p 

n 

c 

c) 

副群C2 
4.11 高温高湿（定常） 
4.11.1 初期測定 
 
 
4.11.3 最終測定 

D 

 
 
静電容量 
誘電正接 (tan δ) 

1 kHz 

外観 
 
静電容量 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
絶縁抵抗 

6 

15 

1 

6  10 

0 

 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。 
4.11.1の測定値に対して 
 ΔC/C≦5 % 
tan δの4.11.1の値からの

増加量は0.005以下 

4.2.4.2の規定値の50 %以

上 

副群C3 
4.12 耐久性 
 
 
4.12.1 初期測定 
 
 
 
4.12.5 最終測定 

D 

 
試験時間 
等級1：2 000 h 
等級2：1 000 h 
静電容量 
誘電正接 (tan δ) 

CR＞1 µF : 1 kHz 
CR≦1 µF : 10 kHz 

外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗 

3 

21 

1 

6 

 
 

10 

 
 

0 

 
 

 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。 
4.12.1の測定値に対して
性能等級1の場合 
 ΔC/C≦5 %， 
性能等級2の場合 
 ΔC/C≦8 % 
tan δの4.12.1の値からの

増加量 

等級1 CR≦1 µFは≦0.003 
等級1 CR＞1 µFは≦0.002 
等級2 CR≦1 µFは≦0.005 
等級2 CR＞1 µFは≦0.003 
4.2.4.2の規定値50 %以上 

10 

C 5101-2-1：2009 (IEC 60384-2-1：2005) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表5−定期的品質確認検査の試験計画（群C検査） 評価水準E及びEZ（続き） 

細分箇条番号及び試験 

項目a) 

D 

又は

ND 

試験条件 a) 

試料数及び合格判定数 b) 

要求性能 a) 

E 

EZ 

p 

n 

c 

c) 

p 

n 

c 

c)  

副群C4 
4.13 充放電 
4.13.1 初期測定 
 
 
 
 
 
4.13.3 最終測定 

D 

 
 
静電容量 
誘電正接 (tan δ) 

CR＞1 µF :  1 kHz 
CR≦1 µF : 10 kHz 

充電時間：...ｓ 
放電時間：...ｓ 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗 

3 

9 

1 

6  10 

0 

 
 
 
 
 
 
 
 
4.13.1の測定値に対して

性能等級1の場合 

 ΔC/C≦3 %， 
性能等級2の場合 

 ΔC/C≦5 % 

tan δの4.13.1の値からの

増加量 

等級1 (CR≦1µF) : ≦0.003 
等級1 (CR＞1µF) : ≦0.002 
等級2 (CR≦1µF) : ≦0.005 
等級2 (CR＞1µF) : ≦0.003 
4.2.4.2の規定値の50 %以

上 

注a) この細分箇条番号及び要求性能は，箇条1及び品種別通則JIS C 5101-2による。 

b) この表の記号は，次による。 

p：周期（月），n：試料数，c：合格判定数， 

D：破壊試験，ND：非破壊試験 

c) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。