C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

（1） 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人 電子情報技術産業協会(JEITA)か

ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 61076-4:1995，Connectors with 

assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue and in digital high-speed data applications - Part 4: 

Sectional specification - Printed board connectorsを基礎として用いた。 

この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。 

JIS C 5401の規格群には，次に示す部編成がある。 

JIS C 5401-1 第1部：品目別通則−能力認証 

JIS C 5401-2 第2部：品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付 

JIS C 5401-2-001 第2-001部：丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格 

JIS C 5401-3 第3部：品種別通則−角形コネクタ−品質評価付 

JIS C 5401-3-001 第3-001部：角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格 

JIS C 5401-4 第4部：品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付 

JIS C 5401-4-001 第4-001部：プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1. 一般 ······························································································································ 1 

1.1 適用範囲 ······················································································································ 1 

1.2 引用規格 ······················································································································ 2 

2. 技術情報 ························································································································ 2 

2.1 定義 ···························································································································· 2 

2.2 耐候性カテゴリーによる分類 ··························································································· 2 

2.3 沿面及び空間距離 ·········································································································· 3 

2.4 電流容量 ······················································································································ 3 

2.5 形名 ···························································································································· 3 

2.6 表示 ···························································································································· 4 

3. 品質評価の手順 ··············································································································· 4 

4. 試験及び試験計画 ············································································································ 4 

4.1 一般事項 ······················································································································ 4 

4.2 試験手順及び測定方法 ···································································································· 4 

4.3 前処理 ························································································································· 4 

4.4 試料の配線及び取付け ···································································································· 4 

4.5 試験計画 ······················································································································ 4 

5. ブランク個別規格，一般事項 ···························································································· 15 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

C 5401-4：2005 

(IEC 61076-4：1995) 

電子機器用コネクタ― 

第4部：品種別通則― 

プリント配線板用コネクタ― 

品質評価付 

Connectors for electronic equipment− 

Part 4: Printed board connectors with assessed quality− 

Sectional specification 

序文 この規格は，1995年に第1版として発行されたIEC 61076-4，Connectors with assessed quality, for use 

in d.c., low-frequency analogue and in digital high-speed data applications - Part 4: Sectional specification - Printed 

board connectorsを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 

1. 一般  

1.1 

適用範囲 この規格は，プリント配線板用コネクタの品種（Sub-family）に関する統一した規格，形

式試験要求事項及び品質評価手順について規定する。 

この規格は，寸法及び性能に対するすべての試験方法及び試験順序，厳しさ及び推奨値の選択肢を含む。 

この規格は，電気機器及び電子機器に使用する品質評価付プリント配線板用コネクタの個別規格作成規

則に関する指針を記述する。 

この規格は，品目別通則JIS C 5401-1 及び関連個別規格と共に使用する。 

この規格と個別規格との間に規定の相違がある場合には，個別規格の要求事項を優先する。 

備考1. 高周波用コネクタは，この規格に含まない。 

2. プリント配線板用コネクタがJIS C 6010-1に従った機械的構造物に使用するのに適している

とき，指針をブランク個別規格JIS C 5401-4-001に規定する。 

3. この規格の対応国際規格を，次に示す。 

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。 

IEC 61076-4:1995，Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue and in 

digital high-speed data applications - Part 4: Sectional specification - Printed board connectors 

(IDT) 

2 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

1.2 

引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を

構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は，そ

の最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則 

備考 IEC 61076-1:1995, Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue and 

in digital high speed data applications - Part 1: Generic specification - Capability approval 

Amendment 1:1996, Amendment 2:2001 が，この規格と一致している。 

JIS C 5402-1-100 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部：一般−試験一覧 

備考 IEC 60512-1-100:2001, Connectors for electronic equipment - Test and measurements - Part 1-100: 

General - Applicable publications が，この規格と一致している。 

JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則 

備考 IEC 60068-1:1988, Environmental testing - Part 1: General and guidanceが，この規格と一致し

ている。 

JIS C 6010-1 電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ−第1部：通則 モジュラオー

ダ概念 

備考 IEC 60917-1:1998, Modular order for the development of mechanical structures for electronic 

equipment practices - Part 1: Genelic standardが，この規格と一致している。 

JIS C 6010-2 電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ−第2部：25 mm実装のイン

タフェイス整合寸法 

備考 IEC 60917-2-2：1994, Modular order for the development of mechanical structures for electronic 

equipment practices - Part 2: Sectional specification - Interface co-ordination dimensions for 25 

mm equipment practice - Section 2: Detail specefication - Dimensions for subracks, backplanes, 

and plug-in unitsが，この規格と一致している。 

IEC 60352-1:1983 Solderless connections - Part 1: Solderless wrapped connections - General requirements, 

test method and practical guidance 

IEC 60352-2:1990 Solderless connections - Part 2: Solderless crimped connections - General requirements, 

test method and practical guidance 

IEC 60352-3:1993 Solderless connections - Part 3: Solderless accessible insulation displacement connections 

- General requirements, test method and practical guidance 

IEC 60352-4:1994 Solderless connections - Part 4: Solderless non-accessible insulation displacement 

connections - General requirements, test method and practical guidance 

IEC 60352-5:1995 Solderless connections - Part 5: Solderless press-in connections - General requirements, 

test method and practical guidance 

2. 技術情報  

2.1 

定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS C 5401-1の2.1（定義）による。 

2.2 

耐候性カテゴリーによる分類 高温高湿（定常）の低温及び高温並びに試験期間は，実用的でない

場合を除いてJIS C 5401-1の 2.2（耐候性カテゴリによる分類）に規定する推奨値から選ぶことが望まし

い。 

3 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

2.3 

沿面及び空間距離 個別規格にはJIS C 5401-1の 2.3（沿面及び空間距離）の要求事項に従って沿面

及び空間距離を規定する。 

2.4 

電流容量 個別規格にはJIS C 5401-1の 2.4（電流容量）の要求事項に従ってコネクタの電流容量を

規定する。 

2.5 

形名 この規格を適用するコネクタは，次の表示及びその順序で形名を付ける。 

a) “JIS”の文字 

b) 個別規格番号（スペース及びダッシュを除く。），（例 C54014101） 

c) コネクタの形状を表す文字（その方式は，個別規格に規定する。） 

d) コネクタのコンタクト数又はコネクタボディのコンタクトキャビティ数，使用するけた数は，可能な

最大コンタクト数又はキャビティ数による。 

e) ツーパートコネクタのコンタクトの形式（タイプ）を示す文字，又はエッジソケットコネクタの電気

的に独立したコンタクト列の数を示す文字。 

次の文字を用いる。 

― ツーパート コネクタ 

F 

めすコンタクト 

   

H 

おす・めす同形コンタクト 

   

M 

おすコンタクト 

― エッジソケットコネクタ 

D 

2列（分離形） 

   

S 

1列 

f) 

コンタクトアレンジメントを表す3けたの数字の組合せ番号。これには，次の事項を含めてもよい。 

― 結合前のコンタクトの高さ 

― 装着されたコンタクトの列 

― 装着されたコンタクトの配列  

g) ターミネーションの基本の形式を示す文字，（文字によってその違いを特徴づける。） 

次の文字を用いる。 

 A ねじ 

S はんだ 

 C 圧着 

T タブ 

 I 

圧接／インシュレーションピアシング 

U プラグアップ＋ラッピング 

 M 表面実装  

W ラッピング 

 P プレスイン 

Z ターミネーションなし 

 R プレスイン＋リアプラグアップ 

h) 形名は，個別規格に規定している場合，耐候性カテゴリによる分類，プリント配線板寸法，コンタク

ト仕上げなど更に多くの情報を含めるために任意に広げてよい。 

i) 

個別規格に性能水準及び評価水準の違いを規定する場合には，単一の数字と文字を性能水準（PL）及

び評価水準（AL）各々を表すために用いる。数字と文字は個別規格に規定し，形名の最後の文字とし

て含める。 

コンタクト仕上げなど更に多くの情報を含むために任意に広げてよい。 

j) 

情報の群分け 表示a) 〜 i) は，既存の形式を明確にするために分類する。 

基本的な事項 

a)，b)，c)，d) 及び e) 

― コンタクト アレンジメント 

f) 

― ターミネーション 

g) 

4 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

― 性能 

h) 及び i) 

2.6 

表示 個々のコネクタ及びそれらの包装には，JIS C 5401-1の 2.6（表示）に規定する要求事項に従

って表示する。 

3. 品質評価の手順 JIS C 5401-1の3.（品質評価の手順）による。 

4. 試験及び試験計画  

4.1 

一般事項 JIS C 5401-1の4.（試験及び試験計画）による。 

個別規格には，試験順序（この規格に従う）及び各試験順序に対応する試料数（4個以上）について規

定する。 

個々の類似品（Variant）は，それらの中で著しく異なった部分につき，認証のために形式試験に提出す

る。 

認証が必要なすべての範囲（個別規格に規定する範囲より小さい）を代表して選択した試料に合わせて

試験する場合には，類似品の数を制限することは可能であるが，各々の特徴及び特性を立証しなければな

らない。 

コネクタは，現在実施している最良の方法に従って慎重，かつ，出来栄えのよい方法で製造されていな

ければならない。 

4.2 

試験手順及び測定方法 関連規格に規定する試験方法は，優先的に使用するが，必ずしもこれにこ

だわらない。 

しかし，両者に疑義を生じた場合には，規定する方法をその裁定方法として使用する。 

すべての試験は，他に規定がない場合には，JIS C 60068-1に規定する標準大気条件のもとで実施する。 

認定手順の中で代替の方法を採用する場合には，代替の方法が規定する方法で得られるのと同等の結果

をもたらすことを認定機関に納得させることは，製造業者の責任である。 

4.3 

前処理 コネクタは，個別規格に規定がない場合には，試験する前にJIS C 60068-1に規定する試験

のための標準大気条件で24時間前処理する。 

4.4 

試料の配線及び取付け  

4.4.1 

配線 試験試料の配線が必要な場合には，個別規格には選択された試験方法の配線に必要な事項を

規定する。 

4.4.2 

取付け 試験において取付けが必要で，他に規定がない場合には，コネクタは金属板，プリント配

線板，又は規定するアクセサリに，個別規格に規定する通常の取付方法，固定ジグ及びパネルカットアウ

トのどちらか適用可能な方法でしっかりと取り付ける。 

4.5 

試験計画 コネクタの種々のアプリケーションに対応するため，試験計画の範囲は，各々の個別規

格において異なってもよい。 

基本（最少）試験計画を4.5.1に規定する。 

個別規格は，実施すべき試験及び満足すべき要求事項を規定する。 

この規格の要求事項は，“個別規格に規定する試験が4.5.1に規定した試験より少なくてはならない。”と

いうことである。 

全項目試験計画を4.5.2に規定する。 

多くの形式に対しては，中間試験計画が適切である。そのような中間試験計画は，全項目試験計画から

不必要な群全部，試験，及び／又は供試条件を削除して作成する。 

5 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

試験段階番号は，4.5.2のとおり用い，修正してはならない。 

試験群において，試験段階の順序が特定の形式又は形状に全く適切でない場合も同様である。 

その場合には，試験順序は（試験後に行う測定ではない。）それらの個別規格に対応して変更してもよい。 

試験段階の引用は，順序の変更が行われても試験段階番号を変更しないことによって，各試験に対して

明確になる。 

個別規格に試験及び／又は特別な試験順序を要求する追加特性を含む場合には，適切な既存の試験又は

新しい試験（個別規格の附属書の形式で）が試験計画表の適切な場所にあるものとする。 

これらの特性は，追加試験群に規定してもよい（試験群HP参照）。 

備考1. コネクタのターミネーションが，無はんだ接続方法の使用を必要とする場合には，適切な試

験を試験群GPに規定する。 

2. 適切な基本，中間，又は全項目試験計画を選択するために，個別規格が必要である。 

4.5.1 

基本試験計画 基本試験計画が適切な場合には，個別規格は，表1に示す次の試験を呼び出し，試

験すべき特性及び満足すべき要求事項を明記する。 

表 1 基本試験 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

1 

一般試験 

外観 
 
寸法及び質量 

1a 

1b 

× 

 
 

× 

2.1 
 
 
 
2.2 

結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 

13a 

又は 

13b 

× 

 
 

× 

3 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

4 

絶縁抵抗 

3a 

× 

5 

耐 電 圧 

3b 

× 

6.1 
 
 
 
 
6.2 

はんだ付け 
 
 
又は 
 
他の適切な 
接続方法 

12 

 
 
 
 

* 

× 

 
 
 
 

× 

ターミネーション
を含む 
接触抵抗 

2a又は2b 

× 

* 

適用する場合，他の適切な接続試験は，全項目試験計画の副群GPのように，例えば，JIS C 5402-1-100の試験
又はIEC 60352の適用可能な部分の試験を追加するか，規定する試験と置き換える。 

 
× 個別規格に規定する。 

4.5.2 

全項目試験計画 全項目試験計画が適切な場合には，個別規格は次の試験（表2）を呼び出し，試

験すべき特性及び満足すべき要求事項を規定する。 

無はんだターミネーションに対して，IEC 60352の適用可能な部分の試験順序は，全項目試験計画の一

部を形成する（試験群GP参照）。 

6 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.1 

試験群 P−予備試験 すべての試料は，次の試験を受ける。 

表 2 試験群 P  

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

P1 

一般試験 

外観 
 
寸法及び質量検査** 

1a 

1b 

× 

× 

P2* 
 

極性試験 

13e 

× 

P3 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

P4 
 

絶縁抵抗 

3a 

× 

P5 

耐 電 圧 

4a 

× 

* 

適用する場合 

** 部品生産時の検査記録は，国内監督検査機関［NSI（National Supervising Inspectorate）］が認める場合，この要

求事項のすべて又は一部と置き換えてもよい。 

× 個別規格に規定する。 

予備試験に合格した試料は，適切な群数に分ける。 

各群におけるすべてのコネクタは，個別規格が追加の特性を検証するために試験順序の代替（又は新し

い試験の追加）を要求しない場合，個別規格及び与えられた手順で要求するとおり次の試験（表3〜8）を

受ける（4.5参照）。 

4.5.2.2 

試験群 AP−動的／耐候性  

表 3 試験群 AP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

AP1.1 
 
 
 
AP1.2 

結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜力 

13a 

又は 

13b 

× 

AP2  * プローブ 

 ダメージ 

16a 

× 

ゲージ保持力 
（弾性コンタクト） 

16e 

× 

AP3.1 
 
AP3.2 
 
AP3.3 
** 

はんだ付け性 
 
はんだ耐熱性 
 
継続審議 

12a又は12b 

12d又は12e 

× 

× 

外観 

1a 

× 

AP4 
*** 

耐電圧 

4a 

× 

AP5 

インサート内のコ
ンタクト保持 

15a 

× 

 
 

× 

外観 

1a 

× 

7 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 3 試験群 AP（続き） 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

バンプ 

6b 

× 

コンタクト 
ディスターバンス 

2e 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP7 

正弦波振動 

6d 

× 

コンタクト 
ディスターバンス 

2e 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP8 

衝撃 

6c 

× 

コンタクト 
ディスターバンス 

2e 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP9 * 

 加速度（定常） 

6a 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP10 

温度急変 

11d 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

外観 

1a 

× 

AP11 

一連耐候性 

11a 

× 

AP11.1 

高温 

11I 

× 

高温時の 
絶縁抵抗 

3a 

× 

AP11.2 

温湿度サイクル 
 
最初の1サイクル 

11m 

 
 

11j 

× 

外観 

1a 

× 

AP11.3 

低温 

11k 

× 

外観 

1a 

× 

AP11.4 

減圧 

× 

耐電圧 

4a 

× 

11m 

AP11.5 

温湿度サイクル 
 
残りのサイクル 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

AP12.1 
 
 
 
AP12.2 
 

結合力及び 
離脱力 
又は 
挿入力及び 
引抜き力 

13a 

又は 

13b 

× 

 
 

× 

AP13 

外観 

1a 

× 

* 

適用する場合 

** 他の適用可能なターミネーション試験は，他の試験順序で包含してもよい。 
*** はんだ試験は，コンタクトを装着した状態でだけ実施する。 
× 個別規格に規定する。 

8 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性  

表 4 試験群 BP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

BP1 
 

ゲージ保持力 

16e 

× 

BP2 

機械的動作 
（規定の半分の 
 回数） 

9a 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

極性試験* 

13e 

× 

BP3 
BP3.1 
 
BP3.2 
 
BP3.3 
 
BP3.4 
 
BP3.5 
 
 
BP3.6 

一連耐候性 
腐食，塩水噴霧 
  又は 
混合ガス流腐食 
  又は 
一連耐候性 
  又は 
高温高湿（定常） 
  又は 
温湿度サイクル 
 
  又は 
高温 

11f 

11g 

11a 

11c 

11m 

 
 

11i 

× 

× 

× 

× 

× 

 
 

× 

 
 
接触抵抗 

 
 

2a又は2b 

 
 

× 

BP4 

機械的動作 
（規定の残りの 
 半分の回数） 

9a 

× 

外観 

1a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

極性試験* 

13e 

× 

BP5* 

プローブダメージ 

16a 

× 

ゲージ保持力 

16e 

× 

BP6 

静的な力，軸方向 

8b 

× 

外観 

1a 

× 

* 

適用する場合 

× 個別規格に規定する。 

4.5.2.4 

試験群 CP−耐湿性  

表 5 試験群 CP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

CP1 

高温高湿（定常） 

11c 

× 

絶縁抵抗 
 

3a 

× 

接触抵抗 

2a又は2b 

× 

耐電圧 

4a 

× 

結合力及び離脱力 
又は 
挿入力及び引抜力 
外観 

13a 

又は 

13b 

1a 

× 

× 
× 

× 個別規格に規定する。 

9 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.5 

試験群 DP−電気的負荷  

表 6 試験群 DP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

DP1 

機械的動作 
（BP2に規定の 
 動作回数） 

9a 

× 

DP2 

電気的負荷及び 
温度 

9b 

× 

接触抵抗 
 

2a又は2b 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

耐電圧 

4a 

× 

外観 

1a 

× 

× 個別規格に規定する。 
 

4.5.2.6 

試験群 EP−機械的特性  

表 7 試験群 EP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

EP1.1 
 
EP1.2* 

ターミネーション強度 
 
無はんだ接続の 
機械的試験 

16f 

審議中 

× 

外観 

1a 

× 

 
 

× 

EP2 

インサート内の 
コンタクト保持 

15a 

× 

外観 

1a 

× 

EP3 ** 
EP4 

プローブダメージ 

16a 

× 

ゲージ保持力 
絶縁抵抗 

16e 

3a 

× 
× 

EP5***  かびの成長 

11e 

× 

絶縁抵抗 

3a 

× 

外観 

1a 

× 

EP6 

ニードルフレーム
（注射針バーナ）， 
ニードルフレーム 

20a 

× 

EP7 

外観 

1a 

× 

* 

機械的試験 例えば，JIS C 5402-16-20  試験 16 t：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション） 

** 適用する場合 
*** コネクタの製造に使用する材料が，規定の試験をあらかじめ受け合格したという証明を国内監督検査機関に提

示可能な場合には，試験段階 EP5，EP6及びEP7を省略してもよい。 

× 個別規格に規定する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 

10 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.2.7 

試験群 FP−耐薬品性  

表 8 試験群 FP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

FP1 

耐薬品性 

審議中 

× 

FP2.1 
 
FP2.2 
FP3 

結合力及び離脱力 
又は 
挿入力及び引抜力 
接触抵抗 

13a 

又は 

13b 

2a又は2b 

× 

× 
× 

FP4 

絶縁抵抗 

3a 

× 

FP5 

外観 

1a 

× 

× 個別規格に規定する。 

4.5.2.8 

試験群 GP−接続  

表 9 試験群 GP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

GP1 

IEC 60352-1による結線方法の適切な試験 

× 

及び/又は 

GPX 

IEC 60352-Xによる結線方法の適切な試験 

× 

× 個別規格に規定する。 

備考 コネクタに使用する結線方法が，IEC 60352に規定の試験を既に実施し合格したという証明を国内監督検査機関

に提示可能な場合は，試験段階GP1-GP“X”を省略してもよい。 

4.5.2.9 

試験群 HP−追加  

表 10 試験群 HP 

試験 
段階 

試  験 

測  定 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件 

名称 

C 5402-1-100

の試験番号 

個別規格の 

要求事項 

HP1 

新しい試験の場合，詳細を記述した附属書（規定）を準備する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

11 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.3 

品質認証試験計画  表11は4.5.1及び4.5.2に規定の試験計画を包含する。 

試験する最少試料数，また，各副群における最大許容不良品数及び合計の最大許容不良品数は，要求す

る評価水準が得られるように選択する［（JIS C 5401-1の 3.3（品質認証）参照）］。 

個別規格には，コネクタの意図した用途にふさわしい最小基準を規定する。 

いかなる場合も，個別規格には表11に示すより低い水準の合格判定基準を規定しない［（JIS C 5401-1

の3.4.1（能力の文書化）参照）」。 

表 11 品質認証試験 

試験群 

試験 
段階 

基本試験計画 

試験 
段階 

中間試験計画 

試験 
段階 

全項目試験計画 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

P 

P1 

P2* 

P3 
P4 
P5 

20 

0 

P1 

P2* 

P3 
P4 
P5 

20 

× 

P1 

P2* 

P3 
P4 
P5 

20 

× 

試料は，それぞれ試料数が4個の適切な試験群数及び試験群FPとGPに要求する。 
追加試料に配分する。 
各群のすべての試料は，個別規格に従って1群の試験用として提出する。 

AP 

AP1.1 

又は

AP1.2 

4 

0 

AP1.1 

又は

AP1.2 

4.5によって 
形成する中間 
試験計画 

AP1.1 

又は

AP1.2 

4 

× 

AP2 
AP3 

NA 

NA 

AP2 
AP3 

AP2 
AP3 

AP4 

AP5* 

4 

0 

AP4 

AP5* 

AP4 

AP5* 

AP6 
AP7 
AP8 

AP10 
AP11 

AP12.1 

又は 

AP12.2 

NA 

NA 

AP6 
AP7 
AP8 

AP10 
AP11 

AP12.1 

又は 

AP12.2 

AP6 
AP7 
AP8 

AP10 
AP11 

AP12.1 

又は 

AP12.2 

BP 

BP1 
BP2 
BP3 
BP4 

BP5* 

BP6 

BP1 
BP2 
BP3 
BP4 

BP5* 

BP6 

BP1 
BP2 
BP3 
BP4 

BP5* 

BP6 

CP 

CP1 

CP1 

CP1 

DP 

DP1 
DP2 

DP1 
DP2 

DP1 
DP2 

 
 
 
 
 
 

12 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 11 品質認証試験（続き） 

試験群 

試験 
段階 

基本試験計画 

試験 
段階 

中間試験計画 

試験 
段階 

全項目試験計画 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

最少 

試料数 

最大許容
不良品数 

EP 

EP1.1 

又は 

EP1.2 

EP2 

EP3* 

EP4 
EP5 
EP6 
EP7 

NA 

NA 

EP1.1 

又は 

EP1.2 

EP2 

EP3* 

EP4 
EP5 
EP6 
EP7 

4.5によって 
形成する中間 
試験計画 

EP1.1 

又は 

EP1.2 

EP2 

EP3* 

EP4 
EP5 
EP6 
EP7 

4 

× 

FP 

FP1 

FP2.1 

又は 

FP2.2 

FP3 
FP4 
FP5 

FP1 

FP2.1 

又は 

FP2.2 

FP3 
FP4 
FP5 

FP1 

FP2.1 

又は 

FP2.2 

FP3 
FP4 
FP5 

** 

× 

GP 

 
 無はんだ接続は，IEC 60352の関連する規格群の要求事項を満足しなければならない。 
 

HP 

 
 追加試験（群AP-GP以外） 

許容不良品数の合計 

 基本試験計画 

  最大     0 

 中間試験計画 

  最大     × 

 全項目試験計画 

  最大     × 

* 

適用する場合 

** 適用する場合，各液体ごとにそれぞれの試料を使用する。 
NA 適用しない。 
× 個別規格に規定する。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

13 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.4 

品質確認試験，ロットごと試験 次の表12は，各検査ロットで実施するロットごと試験を含む。 

規定する評価水準は，最低水準であり，より厳しい水準を個別規格に規定してもよい。 

表 12 ロットごと試験 

検査群 

特性 

C 5402-1-100

の試験番号 

試験 
段階 

評価水準 

（A） 

評価水準 

（B..G） 

評価水準 

（H） 

IL 

AQL 

IL 

AQL 

IL 

AQL 

A1 

外観 

1a 

P1 

S-3 

1.0 

 
 

Ⅱ 

0.1 

A2* 

寸法 

1b 

P1 

A3 

追加A試験 
（個別規格に規定 
 する場合） 

B1 

電気的試験 
 
絶縁抵抗 
 
耐電圧 
 

 
 

3a 

4a 

 
 

P4 

P5 

B2 

機械的試験 
 
コンタクトのゲージ 
保持力 
結合力及び 
離脱力 
 又は 
挿入力及び 
引抜力 

 
 

16e 

13a 

又は 

13b 

 
 

AP2** 

AP1.1 

AP1.2 

 
 

S-3 

 
 

1.0 

 
 
個別規格の 
規定による 

 
 

S-3 

 
 

0.1 

B3 

 
追加B試験 
（個別規格に規定する場合） 

記録 

 
 B1，B2からの結果及び適用可能な場合，B3からの結果 

* 

別規格に規定する結合及び取付けの重要寸法は，国内監督検査機関が認める場合生産の検査記録をこの要求事
項のすべて又は一部と置き換えてもよい。 

** 適用する場合 
IL 

検査水準（JIS Z 9015-1 参照） 

AQL  合格品質水準 （JIS Z 9015-1参照） 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

14 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

4.5.5 

品質確認試験，定期試験 次の表13は，ロットごと試験で合格したロットから抜き取ったサンプ

ルに対して実施する定期試験を含む。 

選択された試験順序及び期間は，指針のために与えられ，それらは個別規格に要求する評価水準によっ

て変更してもよい（JIS C 5401-1の3.5.4.2 参照）。 

表 13 定期試験 

検査群 

特性 

C 5402-1-100

の試験番号 

試験 
段階 

評価水準 

（A） 

評価水準 

（B..G） 

評価水準 

（H） 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

C1 

はんだ付け性，ぬれ 
（ウェッディング），は
んだ槽法 
 又は 
はんだ付け性，はん
だはじき（デウェッ
ティング） 

12a 

 
 
 

12c 

1 

* 

× 

個別規格の 
規定による 

1 

* 

× 

C2 

接触抵抗 

2a 

又は 

2b 

P3 

3 

4 

× 

3 

4 

× 

C3 

C3試験 
（個別規格で規定 
 する場合） 

C4 

はんだ耐熱性 
はんだ槽法 
  BP1 ..BP6 
 
CP1 

12d 

12 

NA 

NA 

4 

NA 

NA 

× 

NA 

NA 

12 

4 

× 

記録 

 C1，C2，C3及びC4の結果 

D1 

品質認証維持 
 
結合力及び 
離脱力 
 又は 
挿入力及び 
引抜力 
 
耐電圧 
 
AP1 
AP11...AP13 
CP1 
 
 

 
 

13a 

 
 

13b 

 
 

4a 

 
 

AP1.1 

 
 

AP1.2 

 
 

AP5 

 
 
 
 
 
 

** 

 
 

 
 

4 

 
 

4 

 
 

4 

 
 
 
 
 
 

× 

 
 

 
 
 
 
 
 

** 

 
 

 
 

4 

 
 

4 

 
 

4 

 
 
 
 
 
 

× 

 
 

記録 

 全群の結果 

 
 
 
 
 
 

15 

C 5401-4：2005 (IEC 61076-4：1995) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表 13 定期試験（続き） 

検査群 

特性 

C 5402-1-100

の試験番号 

試験 
段階 

評価水準 

（A） 

評価水準 

（B..G） 

評価水準 

（H） 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

p 

n 

c 

D2 

JIS C 5401-1  3.6.2 
（設計検証又は形式
試験）を適用する場合
の初期品質試験 
 
AP1 .. AP13**** 
DP1 .. DP2 
EP1 .. EP7 
FP1 .. FP5 
GP1 .. 
HP1 . 

** 

*** 

 
 

個別規格の 
規定による 

** 

*** 

 
 

記録 

 品質認証記録 

* 

20ターミネーション又は，20ターミネーションの試験が可能な最少コネクタ数 

** JIS C 5401-1 3.5.4.2.2（群D検査）参照 
*** 各液体ごとにそれぞれの試料を使用する。 
**** 評価水準Aは，AP1及びAP4だけを実施する。試験群APの他の試験には適用しない。 
× 個別規格に規定する。 
p 

周期（月） 

n 

最少試料数 

c 

許容不良品数 

NA 適用しない 

5. ブランク個別規格，一般事項 ブランク個別規格は，品種別通則に対する補足をなし，そして個別規

格の書式，レイアウト及び最少の構成要素の要求事項を含み，統一した表現を確保する。 

その内容は，品目別通則又は品種別通則に基づき，そして当該コネクタ品種の品質を評価するために必

要な技術基準の選択肢を規定する。 

これらの要求事項を満足しない個別規格は，JISに従ったものとみなされないし，JISに従っていると記

述してはならない。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。