JISC5201-8:2014 電子機器用固定抵抗器－第８部：品種別通則：表面実装用固定抵抗器

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 一般事項 ························································································································· 1

1.1 適用範囲 ······················································································································ 1

1.2 目的 ···························································································································· 1

1.3 引用規格 ······················································································································ 1

1.4 個別規格に規定する事項·································································································· 2

1.5 抵抗器の用途による性能分類···························································································· 4

2 推奨特性，定格及び試験の厳しさ ························································································ 4

2.1 推奨特性 ······················································································································ 4

2.2 推奨定格値 ··················································································································· 8

2.3 推奨する試験の厳しさ ···································································································· 9

2.4 供試品の準備 ··············································································································· 12

3 品質評価手順 ·················································································································· 14

3.1 一般事項 ····················································································································· 14

3.2 定義 ··························································································································· 14

3.3 検査ロットの構成 ········································································································· 15

3.4 品質認証試験 ··············································································································· 15

3.5 品質確認検査 ··············································································································· 16

3.6 技術認証手順 ··············································································································· 16

3.7 長期保管後の出荷 ········································································································· 16

附属書A（規定）ジャンパー（0 Ω）抵抗器 ·············································································· 25

附属書B（参考）文字記号及び略語························································································· 27

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

（2）

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まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子

情報技術産業協会（JEITA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日

本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって，JIS C 5201-8:1998は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 5201の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5201-1

第1部：品目別通則

JIS C 5201-2

第2部：品種別通則：低電力非巻線固定抵抗器

JIS C 5201-2-1 第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器評価水準E

JIS C 5201-2-2 第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器評価水準F

JIS C 5201-4

第4部：品種別通則：電力形固定抵抗器

JIS C 5201-4-1 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器評価水準E

JIS C 5201-4-2 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器評価水準F

JIS C 5201-4-3 第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器，ヒートシンク付き評価水準H

JIS C 5201-5

第5部：品種別通則：精密級固定抵抗器

JIS C 5201-5-1 第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器評価水準E

JIS C 5201-5-2 第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器評価水準F

JIS C 5201-6

第6部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-6-1 第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器同一抵抗値及

び同一定格電力評価水準E

JIS C 5201-6-2 第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器異種抵抗値又

は異種定格電力評価水準E

JIS C 5201-8

第8部：品種別通則：表面実装用固定抵抗器

JIS C 5201-8-1 第8部：ブランク個別規格：チップ固定抵抗器評価水準E

JIS C 5201-9

第9部：品種別通則：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−

評価水準EZ

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日本工業規格 JIS

C 5201-8：2014

(IEC 60115-8：2009)

電子機器用固定抵抗器−

第8部：品種別通則：表面実装用固定抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment-

Part 8: Sectional specification-Fixed surface mount resistors

序文

この規格は，2009年に第2版として発行されたIEC 60115-8を基に，技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は，電子機器用表面実装用固定抵抗器について規定する。

この規格は，JIS C 5201-1を品目別通則とする電子機器用表面実装用固定抵抗器（以下，抵抗器という。）

の品種別通則である。

これらの抵抗器は，通常，品種（異なる形状）及び形式（異なる寸法）によって記述し，外部との電気

的接続を得るための電極をもち，主としてプリント配線板に直接取り付けて用いる。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60115-8:2009，Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8: Sectional specification−

Fixed surface mount resistors（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

1.2

目的

この規格の目的は，推奨定格及び推奨特性を規定し，JIS C 5201-1から適切な品質評価手順，試験及び

測定方法を選択し，この品種の抵抗器の一般的要求性能を規定することである。

この規格に基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格の要求性能と同等以上の

水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）

注記対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

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sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）

JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記対応国際規格：IEC 60062:2004，Marking codes for resistors and capacitors（MOD）

JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors，Amendment

1:1967及びAmendment 2:1977（IDT）

JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器−第1部：品目別通則

注記対応国際規格：IEC 60115-1:2008，Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification（MOD）

JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則

注記対応国際規格：IEC 60068-1:1988，Environmental testing−Part 1: General and guidance及び

Amendment 1:1992（IDT）

JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部：試験−試験T−端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-20:2008，Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads（IDT）

JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品（SMD）のはんだ付け性，電極の

はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-58:2004，Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD)（MOD）

JIS C 61340-3-1 静電気−第3-1部：静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル（HBM）

の静電気放電試験波形

注記対応国際規格：IEC 61340-3-1，Electrostatics−Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic

effects−Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms（IDT）

IEC 61760-1:2006，Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface

mounting components (SMDs)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い要求事項を規定して

はならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の項目に記載し，例えば，注記

などで試験計画の中に明示する。

個別規格には，次の事項を規定し，それぞれの規格値は，この規格の該当する項目から選択することが

望ましい。

1.4.1

外形図

識別を容易にし，その他の抵抗器との比較のために，抵抗器を図示する。

1.4.2

形式及び寸法

形式及び寸法は，2.1.1による。

互換性及び取付けに影響する，寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

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1.4.3

推奨耐候性カテゴリ

推奨耐候性カテゴリは，2.1.2による。

1.4.4

試験後の抵抗値変化の限界

試験後の抵抗値変化の限界は，2.1.4による。

1.4.5

公称抵抗値範囲

公称抵抗値範囲は，2.2.1による。

注記 IECQの品質認証制度によって個別規格で認証を受けた製品と，この規格の公称抵抗値範囲と

が異なる場合には，次の文章を追加することが望ましい。

“各形式に有効な公称抵抗値範囲は，公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数とともに，IEC

のウェブサイト（http://certificates.iecq.org/）の例に従う。”

1.4.6

公称抵抗値の許容差

公称抵抗値の許容差は，2.2.2による。

1.4.7

抵抗温度係数

抵抗温度係数は，2.1.3による。

1.4.8

定格電力

定格電力は，2.2.3による。

取付け条件は，2.4.2に示す。

個別規格には，70 ℃以外の温度での最高許容電力を，図解又は記述様式のいずれかによる軽減曲線によ

って規定する。全ての折れ点（break point）を試験によって確認する。

1.4.9

素子最高電圧

素子最高電圧は，2.2.4による。

1.4.10 絶縁電圧

絶縁形抵抗器だけに適用する。

絶縁電圧は，2.2.6及びJIS C 5201-1の2.2.10（絶縁電圧）による。

JIS C 5201-1の4.6（絶縁抵抗）に示す試験ジグの寸法が適切でない小形の抵抗器については，個別規格

で規定する。

1.4.11 絶縁抵抗

絶縁形抵抗器だけに適用する。

絶縁抵抗は，2.2.5による。

JIS C 5201-1の4.6に示す試験ジグの寸法が適切でない小形の抵抗器については，個別規格で規定する。

1.4.12 表示

一般に，表面実装用抵抗器本体表面への表示をしない。ただし，抵抗器に表示をする場合には，JIS C 5062

の箇条3（固定抵抗器の色による表示）に従って抵抗値及びJIS C 5201-1の2.4（表示）に規定する残りの

事項を表示する。抵抗器の包装容器には，要求する全ての事項を表示する。

1.4.13 発注情報

個別規格には，抵抗器を発注する場合に必要となる次の事項を規定する。

− 個別規格の番号及び形式

− JIS C 5062による公称抵抗値，公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数

1.4.14 取付け

個別規格には，IEC 61760-1の箇条5（Specification of assembly process conditions）の実装工程条件に基づ

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

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いて，通常に用いる場合の取付方法を規定する。試験及び測定を目的とする取付け（要求がある場合）は，

2.4.2及びJIS C 5201-1の4.31（表面実装用抵抗器の取付け）による。

個別規格には，個別規格を明確にするために回路図，分布曲線，図面，注記などの追加情報（検査手順

によって検証するため，通常必要でない。）を規定してもよい。

1.5

抵抗器の用途による性能分類

使用者が，意図する製品用途に応じて抵抗器の特性を選択することができるように，抵抗器の性能分類

を導入する。

この規格では，抵抗器を搭載する機器（最終製品）の要求する機能，性能及び信頼性の特性の違いを反

映するように，次の二つの水準を設定して，抵抗器の適切な検査及び試験計画を適用できるようにした。

これらの水準間で，用途が重複する可能性があることに注意する。

a) 水準G 水準Gは，一般的な電子機器用途の抵抗器が対象であり，通常，穏やかな環境条件の下で用

いる。ここでの主要な要求は機能である。適用例は，民生用機器及び電気通信ユーザ端末である。

b) 水準P 水準Pは，次に示す基準で一つ以上に該当する高性能電子機器の用途に用いる。

− 連続動作

− 厳しい環境での使用

− 長寿命

水準Pの適用例は，業務用機器，電気通信伝送装置，産業用制御装置及び測定機器並びに自動車用

機器（ほとんどが客室以外で動作）である。

水準Pは，信頼性が確立している抵抗器の品質認証を目的とする個別規格に規定することが，適切

である。

抵抗器の性能は，特に指定がない場合には，水準Gとする。

一つの個別規格で用いる水準は，一つだけでなければならない。

推奨特性，定格及び試験の厳しさ

2.1

推奨特性

個別規格に規定する数値は，次の中から選択することが望ましい。

2.1.1

形式及び寸法

推奨する形式及び寸法は，表1a及び表1bによる。

なお，形式記号は，JIS C 5201-1の附属書JA（形名及び表示）による抵抗器の種類を表す2英大文字，

外形寸法（長さと幅との組合せ，又は長さと外径との組合せ）を表す4数字の組合せ，及び寸法がメート

ル法表示であることを示す記号“M”で構成する。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

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表1a−角形抵抗器の推奨形式

単位 mm

形式

（形式記号）

寸法

長さ L

幅 W

厚さ T

RR0603M

0.6±0.03

0.3±0.03

0.23±0.03

RR1005M

1.0±0.05

0.5±0.05

0.35±0.05

RR1608M

1.6±0.1

0.8±0.1

0.45±0.1

RR2012M

2.0±0.1

1.25±0.15

0.5

.0
1.0

＋
−

RR3216M

3.2±0.2

1.6±0.15

0.55±0.1

RR3225M

3.2±0.2

2.5±0.2

0.55±0.1

RR3245M

3.2±0.2

4.6±0.2

0.55±0.1

RR4532M

4.6±0.2

3.2±0.2

0.55±0.1

RR5025M

5.0±0.2

2.5±0.2

0.55±0.2

RR6332M

6.3±0.2

3.2±0.2

0.55±0.2

角形抵抗器の形状及び寸法を，図1に示す。

図1−角形抵抗器の形状及び寸法

表1b−円筒形抵抗器の推奨形式

単位 mm

形式

（形式記号）

寸法

長さ L

外径 D

RC1610M

1.6

1.0

＋
−

1.0

＋
−

RC2012M

2.0±0.1

1.25

2.0
1.0

＋

−

RC2211M

2.2

0
3.0

−

1.1

0
1.0

−

RC3514M

3.5±0.2

1.4±0.2

RC5922M

5.9±0.2

2.2±0.2

円筒形抵抗器の形状及び寸法を，図2に示す。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

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表2−抵抗値変化の限界

抵抗温度係数

抵抗値変化（ΔR/R）の限界

カテゴリ下限温度／基準温度

℃

基準温度／カテゴリ上限温度

℃

10−6/K a), b) 記号c)

−55/

＋20

−40/

＋20

−25/

＋20

−10/

＋20

＋20/

＋85

＋20/

＋125

＋20/

＋155

＋20/

＋175

＋20/

＋200

±1000

±7.50

±6.00

±4.50

±3.00

±6.50

±10.5

±13.5

±15.5

±18.0

±500

±3.75

±3.00

±2.25

±1.50

±3.25

±5.25

±6.75

±7.75

±9.00

±250

±1.88

±1.50

±1.13

±0.75

±1.63

±2.63

±3.38

±3.88

±4.50

±100

±0.75

±0.60

±0.45

±0.30

±0.65

±1.05

±1.35

±1.55

±1.80

±50

±0.375

±0.300

±0.225

±0.150

±0.325

±0.525

±0.675

±0.775

±0.900

±25

±0.188

±0.150

±0.113

±0.075

±0.163

±0.263

±0.338

±0.388

±0.450

±15

±0.113

±0.090

±0.068

±0.045

±0.098

±0.158

±0.203

±0.233

±0.270

±10

±0.075

±0.060

±0.045

±0.030

±0.065

±0.105

±0.135

±0.155

±0.180

±5

±0.038

±0.030

±0.023

±0.015

±0.033

±0.053

±0.068

±0.078

±0.090

±2

±0.015

±0.012

±0.009

±0.006

±0.013

±0.021

±0.027

±0.031

±0.036

±1

±0.008

±0.006

±0.005

±0.003

±0.007

±0.011

±0.014

±0.016

±0.018

注a) 略号：例えば，“±50”は，“0±50×10−6/K”を示す。

b) 温度係数の追加が必要な場合には，個別規格に規定する。

c) 文字記号は，JIS C 5062の5.5（抵抗温度係数の文字記号）による。

表2の各欄は，推奨温度係数及び2.1.2のカテゴリ温度範囲に基づく抵抗温度特性の測定［JIS C 5201-1

の4.8（温度による抵抗値変化）参照］での抵抗値変化の限界を示す。

2.1.4

抵抗値変化の限界

各試験での抵抗値変化の推奨限界値は，表3a及び表3bによる。推奨限界値は，それぞれの安定性クラ

スに対応して規定している。

表3a−抵抗値変化の限界

安定性
クラス

長期試験

短期試験

JIS C 5201-1 a)
4.23 一連耐候性
4.24 高温高湿（定常）
4.25.3

カテゴリ上限
温度での耐久
性

JIS C 5201-1 a)
4.25.1

70 ℃での耐久性

JIS C 5201-1 a)
4.13 短時間過負荷b)
4.18 はんだ耐熱性
4.19 温度急変（5サイクル）
4.21 衝撃c)
4.22 振動d)
4.33 耐プリント板曲げ性

1 000時間

延長8 000時間d)

±(5 %R＋0.1 Ω)

±(10 %R＋0.1 Ω)

±(1 %R＋0.05 Ω)

±(2 %R＋0.1 Ω)

±(5 %R＋0.1 Ω)

±(0.5 %R＋0.05 Ω)

±(1 %R＋0.05 Ω)

±(2 %R＋0.05 Ω)

±(0.25 %R＋0.05 Ω)

0.5

±(0.5 %R＋0.05 Ω)

±(1 %R＋0.05 Ω)

±(0.1 %R＋0.01 Ω)

0.25

±(0.25 %R＋0.05 Ω)

±(0.5 %R＋0.05 Ω)

±(0.05 %R＋0.01 Ω)

0.1

±(0.1 %R＋0.02 Ω)

±(0.25 %R＋0.02 Ω)

±(0.05 %R＋0.01 Ω)

0.05

±(0.05 %R＋0.01 Ω)

±(0.1 %R＋0.01 Ω)

±(0.025 %R＋0.01 Ω)

0.025

±(0.025 %R＋0.01 Ω)

±(0.05 %R＋0.01 Ω)

±(0.01 %R＋0.01 Ω)

注a) JIS C 5201-1による。

b) この試験は，水準Gに分類する抵抗器に適用する。

c) この試験は，角形又は円筒形以外の形式に適用する。

d) この試験は，水準Pに分類する抵抗器に適用する。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

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表3b−抵抗値変化の限界

安定性
クラス

JIS C 5201-1 a)
4.19 温度急変

100サイクル以上c)

JIS C 5201-1 a)
4.27 単パルス高電圧過

負荷試験c)

JIS C 5201-1 a)
4.38 静電気放電b)

JIS C 5201-1 a)
4.39 断続過負荷試験c)

±(1 %R＋0.05 Ω)

±(2 %R＋0.05 Ω)

±(0.5 %R＋0.05 Ω)

±(1 %R＋0.05 Ω)

0.5

0.25

±(0.25 %R＋0.05 Ω)

0.1

0.05

0.025

注a) JIS C 5201-1による。

b) JIS C 61340-3-1の人体モデル（HBM）を適用する。水準Pに分類する抵抗器は，正極性3回及び負極性3回

の放電を，水準Gに分類する抵抗器は，正極性1回及び負極性1回の放電を適用する。

c) この試験は，水準Pに分類する抵抗器に適用する。

2.2

推奨定格値

2.2.1

公称抵抗値

JIS C 5201-1の2.3.2（公称抵抗値の推奨値）による。

推奨値は，JIS C 5063に規定するE標準数列とする。

2.2.2

公称抵抗値の許容差

抵抗値の推奨許容差は，次による。

±10 %，±5 %，±2 %，±1 %，±0.5 %，±0.25 %，±0.1 %，±0.05 %，±0.02 %，±0.01 %，

0/−30 %，0/−20 %及び0/−10 %

注記非対称の許容差（例えば，0/−20 %）は，レーザトリマブル抵抗器に用いている。

2.2.3

定格電力P70

抵抗器を基板に取り付けた状態の周囲温度70 ℃での定格電力の推奨値は，次による。

0.016 W，0.032 W，0.05 W，0.063 W，0.1 W，0.125 W，0.25 W，0.33 W，0.4 W，0.5 W，0.75 W，1 W，

2 W及び3 W

個別規格には，定格電力を負荷する条件を規定する。

負荷軽減情報を提供するために用いる軽減曲線の例を，図3に示す。

定

格

電

力

比

（

）

カテゴリ下限温度

70 ℃

カテゴリ上限温度

図3−軽減曲線

推奨動作領域

100

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

曲線上の全ての折れ点（break point）を試験によって確認する。

2.2.4

素子最高電圧Umax

素子最高電圧Umaxの推奨値は，次による。

12.5 V，15 V，25 V，50 V，75 V，100 V，150 V，200 V，300 V及び500 V（直流電圧又は交流電圧の実

効値）

2.2.5

絶縁抵抗

絶縁形抵抗器に対する絶縁抵抗は，高温（耐熱性）試験後で1 GΩ以上，耐候性試験後で100 MΩ以上

とする。

2.2.6

絶縁電圧

絶縁形抵抗器に対する絶縁電圧の推奨値は，次による。

75 V，100 V，200 V，300 V及び500 V（直流電圧又は交流電圧のピーク値）

2.3

推奨する試験の厳しさ

2.3.1

短時間過負荷

JIS C 5201-1の4.13（短時間過負荷）によるほか，次による。

印加電圧：個別規格に印加電圧を規定する。推奨値は，定格電圧の2.5倍又は素子最高電圧の2倍の

いずれか小さい方とする。

印加時間：個別規格に印加時間を規定する。

推奨値は，0.5秒，1秒，2秒，5秒及び10秒とする。

印加時間は，素子温度の最大値がカテゴリ上限温度より30 ℃以上高くなるように規定す

る。

取付け：

2.4.2による。個々の抵抗器の間隔は，これらの抵抗器の最大寸法以上とする。

試験基板は，水平に取り付け，周囲温度15 ℃〜35 ℃の自由空間に置く。

2.3.2

はんだ付け性

JIS C 5201-1の4.17（はんだ付け性）によるほか，次による。

はんだ付け性試験は，加速エージングによる前処理を行う。関連する個別規格に規定がない場合は，JIS

C 60068-2-20の4.1.1（試験Ta：試験方法）に規定するエージング3a（155 ℃の乾燥加熱4時間）を適用

する。加速エージングの後，試料を標準試験状態に2時間〜24時間放置する。

抵抗器のはんだ付け可能な電極表面は，関連する個別規格に規定がない場合には，SnPbはんだ合金及び

鉛フリーはんだの両方に適合する。したがって，はんだ付け性試験は，両方のはんだ合金に対して必要で

ある。

SnPbはんだ合金によるはんだ付け性は，次の厳しさを用いて，JIS C 60068-2-58の8.2.1（鉛入りはんだ：

はんだ槽法）のはんだ槽法によって試験を行う。

− はんだ合金

：Sn60Pb40又はSn63Pb37

− 槽の温度

：235 ℃±5 ℃

− 浸せき（漬）時間：2秒間±0.2秒間

鉛フリーはんだ合金は，代表的なはんだ付け工程温度によって分類する［JIS C 60068-2-58の4.（鉛フ

リーはんだを使用したはんだ付け工程の分類）参照］。最も一般的なSnAg，SnAgCu及びSnAgBiのはんだ

合金は，群3の“中−高温”に含まれる。鉛フリーはんだによるはんだ付け性は，次の群3の代表的な厳

しさで，JIS C 60068-2-58の8.1.1（鉛フリーはんだ：はんだ槽法）のはんだ槽法によって試験を行う。

− はんだ合金

：Sn96.5Ag3.0Cu0.5

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 槽の温度

：245 ℃±5 ℃

− 浸せき（漬）時間：3秒間±0.3秒間

2.3.3

はんだ耐熱性

JIS C 5201-1の4.18（はんだ耐熱性）によるほか，次による。

抵抗器は，関連する個別規格に規定がない場合には，IEC 61760-1に規定する全てのはんだ付けプロセ

スに耐えることができなければならない。

− SnPbはんだ気相ソルダリング

− 鉛フリーはんだ気相ソルダリング

− SnPbはんだ遠赤外線又は熱風（forced gas convection）ソルダリング

− 鉛フリーはんだ遠赤外線又は熱風（forced gas convection）ソルダリング

− SnPbはんだフローソルダリング

− 鉛フリーはんだフローソルダリング

全てのはんだ付け法に対応するはんだ耐熱性は，JIS C 60068-2-58の8.2.1及びJIS C 60068-2-58の8.1.1

の最も厳しい条件で試験を行う。

− 試験方法

：はんだ槽法

− はんだ合金

：SnPb，SnCu，SnAgCu又はSnAgのいずれかの合金

− 槽の温度

：260 ℃±5 ℃

− 浸せき（漬）時間：10秒間±1秒間

− 試験回数

：1回

関連する個別規格で，フローソルダリングを適用除外している抵抗器の場合には，はんだ耐熱性は，JIS

C 60068-2-58の8.2.4（はんだ耐熱性試験のリフロー）及びIEC 61760-1の箇条6（Typical process conditions）

の最も厳しいリフロー条件で試験を行う。

− 試験方法

：気相ソルダリング

− 槽の温度

：230 ℃±5 ℃

− 浸せき（漬）時間：40秒間±1秒間

− 試験回数

：3回。2回連続する場合の回復時間は，試料の温度が50 ℃未満に低下するまで

の時間とする。

関連する個別規格で，フローソルダリング及び気相ソルダリングの適用を除外している抵抗器の場合に

は，はんだ耐熱性は，JIS C 60068-2-58の8.2.4及びJIS C 60068-2-58の8.1.2.2（はんだ耐熱試験のリフロ

ー温度プロファイル）の最も厳しいリフロー条件で試験を行う。

− 試験方法

：遠赤外線及び熱風（forced gas convection）ソルダリング

− 予備加熱

：150 ℃〜180 ℃で，120秒±5秒

− ピーク温度

：255 ℃±5 ℃

− 保持時間

：40秒間±1秒間 245 ℃以上

60秒間〜90秒間 220 ℃以上

− 試験回数

：3回。2回連続する場合の回復時間は，試料の温度が50 ℃未満に低下するまで

の時間とする。

2.3.4

固着性

JIS C 5201-1の4.32.2（固着性：厳しさ）b)によるほか，次による。

関連する個別規格に規定がない場合，抵抗器の本体に加える加圧力は，表4による。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表4−固着性

形式（形式記号）

加圧力a)

角形

円筒形

RR0603M

−

RR1005M

−

RR1608M

RC1610M

RR2012M

RC2012M
RC2211M

RR3216M
RR3225M

RC3514M

RR3245M
RR4532M
RR5025M
RR6332M

−

RC5922M

注記加圧力は，それぞれの形式の抵抗器の代表的な質量を基に，“加速度

981 m/s2（100 G）”を用いた衝撃試験又はバンプ試験での結果による。

注a) 固着力の許容差は，0/＋10 %とする。

2.3.5

周期的パルス過負荷試験

JIS C 5201-1の4.39（断続過負荷試験）によるほか，次による。

− パルス電圧

：推奨パルス電圧Uは，次の式による。ただし，最高試験電圧は，2Umaxを超えて

はならない。

ここに， P70：定格電力

Rn：公称抵抗値

Umax：素子最高電圧

− パルスサイクル数：0.1秒間印加及び2.5秒間停止を1サイクルとして，1 000サイクル

− 取付け

：2.4.2による。個々の抵抗器の間隔は，これらの抵抗器の最大寸法以上とする。

試験基板は，水平に取り付け，周囲温度15 ℃〜35 ℃の自由空間に置く。

2.3.6

静電気放電（ESD）

JIS C 5201-1の4.38（静電気放電）によるほか，次による。

− 放電回数：正極性及び負極性放電の回数は，次とし，個別規格に規定しなければならない。

正極性放電：1回（水準Gの抵抗器の場合）又は3回（水準Pの抵抗器の場合）。

負極性放電：1回（水準Gの抵抗器の場合）又は3回（水準Pの抵抗器の場合）。

注記対応国際規格では“放電回数：正極性3回及び負極性3回，極性を換えて印加する。”と規定

されているが，これは水準Pの抵抗器の場合である。水準Gの抵抗器の場合はそれぞれ1回

の印加であり，対応国際規格の誤記である。

− 印加電圧：推奨値は，300 V，500 V，800 V，1 000 V，1 500 V，2 000 V，3 000 V及び4 000 Vとする。

HBMのESD感度区分は，適用しない。

2.3.7

部品の耐溶剤性

JIS C 5201-1の4.29（部品の耐溶剤性）によるほか，次による。

溶剤の温度：23 ℃±5 ℃（推奨値）又は50

−℃

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

2.3.8

表示の耐溶剤性

JIS C 5201-1の4.30（表示の耐溶剤性）によるほか，次による。

溶剤の温度：23 ℃±5 ℃（推奨値）又は50

−℃

2.4

供試品の準備

2.4.1

乾燥

JIS C 5201-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。

2.4.2

部品の取付け

抵抗器は，図4に示す基本レイアウトの試験基板に取り付ける。

試験基板は，厚さが（1.6±0.1）mmで，公称値35 μmの厚さの銅はく（箔）からなる導体のガラス布基

材エポキシ樹脂プリント配線板とする。形式記号RR1005M，又はより小さい寸法の抵抗器については，代

替の基板の厚さ（0.8±0.1）mmを用いてもよい。必要がある場合は，個別規格に異なった材料仕様及びレ

イアウト寸法を含む基本レイアウトを規定する。

規定する領域の裏面及び内部には，ケルビン接続のための0.3 mm幅の配線以外の金属領域は認めない。

はんだ付け領域

非はんだ付け領域（ソルダーレジストで覆う。）

注記1 寸法は，表5による。
注記2 100 mΩよりも低い公称抵抗値の試料の場合には，図5に示すはんだ付け領域にセンス

端子を付加する。

図4−機械的，環境的及び電気的試験用の基本レイアウト−ケルビン（4端子）接続

超

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

はんだ付け領域

非はんだ付け領域（ソルダーレジストで覆う。）

図5−ケルビン（4端子）接続用センス端子の取付け

（100 mΩよりも低い公称抵抗値の試料の場合）

表5−はんだ付けランド寸法

形式

（形式記号）

RR0603M

検討中

RR1005M

0.7

0.6

0.5

0.3

0.15

5.0

M＝P

RR1608M

1.0

1.1

0.6

0.5

0.2

5.0

RR2012M，RC2211M

1.5

1.3

0.6

2.0

0.2

5.0

RR3216M，RC3514M

2.0

1.6

1.5

2.0

0.2

5.0

RR3225M

2.9

1.6

1.5

2.0

0.2

10.0

RR3245M

5.0

1.6

1.5

5.0

0.2

10.0

RR4532M

3.6

1.8

2.3

5.0

0.2

10.0

RR5025M，RC5922M

2.9

1.8

2.7

5.0

0.2

10.0

RR6332M

3.6

1.8

3.8

5.0

0.2

10.0

注記寸法許容差： RR1608Mの形状寸法を超える形式の場合，±0.1 mm

RR1608Mの形状寸法以下の形式の場合，±0.05 mm

公称抵抗値が100 Ω以上で安定性クラス0.1 %又はより厳しい試験，又は抵抗値測定が必要でない試験

の場合には，図6に示す試験基板を用いる。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

はんだ付け領域

非はんだ付け領域（ソルダーレジストで覆う。）

注記寸法は，表5による。

図6−機械的，環境的及び電気的試験用の基本的なレイアウト

品質評価手順

3.1

一般事項

JIS C 5201-1の附属書Q［IEC電子部品品質認証制度（IECQ）に用いる場合の品質評価手順］による。

3.2

定義

3.2.1

製造の初期工程

抵抗器の製造の初期工程は，次による。

− 皮膜抵抗器：基板への抵抗皮膜の形成

− 巻線抵抗器：巻芯への抵抗線又は帯線（リボン）の巻付け

− 金属箔抵抗器：基板上への金属はく（箔）の接着

3.2.2

構造的に類似な部品

抵抗器の構造的に類似な部品は，次による。

a) 一つ又は幾つかの製造工場で生産している場合は，次による。

− 同じ原材料，製造方法及び品質検査手順を用いる。

− 特定の一つの製造工場が，他の工場での製造分も含めて，製品及び品質に責任をもつ。

多くの製造工場がある場合，製造業者は，主要製造工場及び内部管理責任者（DMR）を指定する。

b) 全ての製造工場が同一の国内監督検査機関（NSI）によって監督されている場合，その機関は，主要

製造工場のある国の国内監督検査機関（NSI）とすることが望ましい。

c) 安定性クラス及び耐候性カテゴリが同じ場合

d) 寸法だけが異なる場合

超

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

e) 同様の電極形式である場合

上記c)，d)及びe)の場合には，安定性クラス及び／又は耐候性カテゴリの異なる要求を最終測定で別々

に判断するとき，c)だけにおいて異なる抵抗器は，構造的類似とみなす。

構造的に類似な抵抗器は，評価及び故障率の決定だけに用いる。

3.2.3

評価水準EZ

評価水準EZは，“ゼロデフェクト”の導入に関する要求を満足する。不適合品の許容数（合格判定数）

は，c＝0によって規定する評価手順及び現状の製造業務の水準を合わせるために導入する。

したがって，ロットごとに試験するためのサンプルサイズは，JIS C 5005-2の表2（サンプル文字）によ

って決定する。

評価水準EZは，この規格の個別規格における抵抗器の品質評価に適用する。

3.3

検査ロットの構成

検査ロットは，同じ形式の抵抗器で構成する。

抵抗器のある範囲で認証を受ける場合には，抵抗値の内訳は，次に示す試料とする。

− 1/3は，抵抗器範囲の最低抵抗値

− 1/3は，臨界抵抗値

− 1/3は，抵抗器範囲の最高抵抗値

認証を受ける範囲は，個別規格によってカバーする全種類でもよい。臨界抵抗値が認証を受ける範囲外

の場合は，範囲の中央の値（最低抵抗値と最高抵抗値との等比平均値，例えば，1 Ω〜1 MΩの範囲では1 kΩ）

をもつ抵抗器を代替に用いる。

一つ以上の抵抗温度係数で認証を受ける場合には，供試品は，異なった温度係数を代表している供試品

を含まなければならない。一般に，低い温度係数は，高い温度係数も代表すると考える。同じように，認

証を受ける最も狭い許容差をもつ異なった抵抗値の供試品を含まなければならない。異なった特性をもっ

ている供試品の割合は，国内監督検査機関（NSI）の承認が必要である。

定期検査が必要な場合には，検査ロットは，期間中に生産した抵抗範囲の極端なもので代表するのが望

ましい。その期間に製造し，同じ公称寸法にもかかわらず，異なった抵抗温度特性をもつ形式は，抵抗温

度特性のための試験を含む副群の場合を除き，集めてもよい。

品質認証で認めた高低の極端な値，又は抵抗値範囲の臨界抵抗値及び抵抗温度特性は，国内監督検査機

関（NSI）によって認証期間中に検査する。

低い値は，現在の最低認証抵抗値（又は認証範囲の中で最も低い値）の100 %〜200 %とする。

臨界値は，計算値の80 %〜100 %とする。

高い値は，現在の最高認証抵抗値（又は認証範囲の中で最も高い値）の70 %〜100 %とする。

供試品は，検査期間の最後の13週にわたって集める。

3.4

品質認証試験

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

品質認証試験手順は，JIS C 5201-1のQ.5（品質認証手順）による。定数抜取手順は，JIS C 5201-1の

Q.5.3（品質認証用試験手順）b)による。

試料は，3.3による。必要となる全試料数は，表6の品質認証試験計画にある全ての試料数の合計である。

予備の供試品は，次の場合に用いる。

製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換えは，抵抗値ごとに1個，各抵抗温度係数又は温度

特性ごとに1個とする。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には，追加した試験群に必要な試料を追加する。

水準G及び水準Pに分類する抵抗器の品質認証試験計画は，表6による。各群の試験は，記載の順に従

って実施する。

群4に必要となる全体の供試品は，群1及び群2の試験を行った後に，その他の群に分割する。群1又

は群2の試験での不適合品は，その他の群に用いない。

1個の抵抗器が一つの群の全て又は一部の項目で不適合になっても，1個の不適合品として数える。

不適合数が，各群又は各副群ごとに規定する合格判定数及び総合格判定数以下の場合に，認証は合格と

する。

注記表6に定数抜取試験計画を示す。これは，各試験群の抜取方法及び許容不適合数の個別規格を

含み，JIS C 5201-1の箇条4（試験及び測定手順）及びこの規格の箇条2に規定する個々の試験

とともに，試験条件の全体及び要求性能を示す。

試験が特定の形式だけに，又は特定の製品分類水準だけに適切である場合は，その箇所を表

6に示す。それぞれの個別規格は，適切な選択をしなければならない。

さらに，表6には，試験方法，試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選

択内容を示す。

定数抜取試験計画のための試験条件及び要求性能は，品質確認検査について個別規格に規定

する内容と同一とする。

3.4.2

ロットごとの試験及び定期試験による品質認証

品質認証試験の手順は，JIS C 5201-1のQ.5による。ロットごとの試験及び定期試験の手順は，JIS C

5201-1のQ.5.3 b)による。

ロットごとの試験及び定期試験による品質認証に用いる計画は，3.5による。

3.5

品質確認検査

水準G及び水準Pに分類する抵抗器の品質確認検査のためのロットごとの試験及び定期試験の計画は，

表7a及び表7bによる。

取り付けた供試品で，取付け後に不適合が見つかった供試品は，一連の試験での許容不適合数を計算す

る場合には，数えない。それらは，予備の供試品と取り替える。

3.6

技術認証手順

JIS C 5201-1のQ.14（技術認証手順）を適用する。

表6，表7a及び表7bの試験計画を用いる。

3.7

長期保管後の出荷

検査水準をS-2に低減する場合を除いて，JIS C 5201-1のQ.10（長期保管後の出荷）を適用する。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6−品質認証試験計画

試験a)

試験条件

D b) 又

はND b)

n b)

c b)

要求性能a)

群1
4.5

抵抗値

…

4.5.2による。

群2
4.4.1

外観検査

表示（個別規格に規定がある場合）

…

4.4.1による。

4.4.2

寸法（ゲージ法）適切なジグを用いる。

（試料

中の

20個）

個別規格の規定による。

群3
4.6

絶縁抵抗

JIS C 5201-1の4.6.1.4又は4.6.1.5
による。

R≧… GΩ

4.7

耐電圧

JIS C 5201-1の4.6.1.4又は4.6.1.5
による。
電圧：U＝1.42Uins
時間：1分間

4.7.3による。

4.13 短時間過負荷
（水準Gに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
2.3.1による。
電圧：…

形式

時間

…

外観
抵抗値

（試料

中の

20個）

4.13.3による。
個別規格の規定による。

群4

4.17 はんだ付け性e)
（SnPbはんだ）

2.3.2による。
エージング：155 ℃で4時間の乾燥
SnPbはんだ（はんだ槽法）で235 ℃
で2秒間
外観

（半分

の

試料）

4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。

4.17 はんだ付け性e), f)
（鉛フリーはんだ）

2.3.2による。
エージング：155 ℃で4時間の乾燥
SnAgCuはんだ（はんだ槽法）で
245 ℃で3秒間
外観

（残り

の半
分の

試料）

4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。

群5
4.8

温度による抵抗値
変化

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
測定順序：
20 ℃/LCT/20 ℃/UCT/20 ℃
抵抗値

個別規格の規定による。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6−品質認証試験計画（続き）

試験a)

試験条件

D b) 又

はND b)

n b)

c b)

要求性能a)

群6

4.33 耐プリント板曲げ

性

取付け：2.4.2による。
曲げ深さ：… mm
回数
外観
抵抗値

（半分

の

試料）

試験基板が曲げ状態にある
とき，電気的接続があり，
回路オープンがない。
4.33.4による。
個別規格の規定による。

4.19 温度急変

取付け：2.4.2による。
5サイクル

TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度

外観
抵抗値

（残り

の半
分の

試料）

4.19.3による。
個別規格の規定による。

4.21 衝撃
（角形及び円筒形以外の
抵抗器に適用する。）

加速
パルス時間
波形：正弦半波
厳しさ：3方向全てに衝撃を与える。
外観
抵抗値

4.21.5による。
個別規格の規定による。

4.32 固着性
（角形及び円筒形の抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2による。
2.3.4による。

形式

加圧力

…

外観

4.32.3による。

4.23 一連耐候性
− 高温
− 温湿度サイクル（試験

Db），最初のサイクル

− 低温
− 減圧
− 温湿度サイクル（試験

Db），残りのサイクル

− 直流負荷

− 最終測定

取付け：2.4.2による。
UCT：16時間
温度55 ℃で1サイクル

LCT：2時間
… kPa，温度15 ℃〜35 ℃で1時間
温度55 ℃で残りのサイクル

電圧：定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方，1分間
外観
抵抗値

（全部

の

試料）

4.23.8による。
個別規格の規定による。

群7
4.25.1

70 ℃での耐久性

取付け：2.4.2による。
電圧：定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方
1.5時間ON／0.5時間OFF
試験時間：1 000時間
外観
抵抗値

4.25.1.7による。
個別規格の規定による。

4.25.1.8 延長試験
（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

延長時間は8 000時間
検査は4 000時間（参考）
抵抗値

個別規格の規定による。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6−品質認証試験計画（続き）

試験a)

試験条件

D b) 又

はND b)

n b)

c b)

要求性能a)

群8
4.24 高温高湿（定常）

取付け：2.4.2による。
温度：40 ℃±2 ℃
湿度：（93±3）%
試験時間：…時間
外観
抵抗値

4.24.4による。
個別規格の規定による。

群9
4.18 はんだ耐熱性h)

2.3.3による。
260 ℃で10秒間
外観
抵抗値

4.18.4による。
個別規格の規定による。

4.35 耐炎性

ニードルフレーム試験
接炎時間ta：10秒間

（サン

プル中

5個）

許容燃焼時間：＜30秒間

群10
4.4.3

寸法（詳細）

個別規格の規定による。

4.25.3

カテゴリ上限温
度での耐久性

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
試験時間：1 000時間
外観
抵抗値

4.25.3.7による。
個別規格の規定による。

4.14 温度上昇
（0 Ωジャンパー及び臨界
抵抗値以下の抵抗器に適
用する。）

取付け：2.4.2による。

（サン

プル中

6個）

個別規格の規定による。

群11
4.38 静電気放電

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
水準Gに分類する抵抗器：正極性
1回及び負極性1回
水準Pに分類する抵抗器：正極性
3回及び負極性3回

形式

印加電圧

…

外観
抵抗値

4.38.4による。
個別規格の規定による。

4.29 部品の耐溶剤性
（個別規格に規定がある
場合）

溶剤：イソプロピルアルコール
温度：… ℃
処理時間：5分間±0.5分間
外観

（半分

の

試料）

4.4.1による。

4.30 表示の耐溶剤性
（個別規格に規定がある
場合）

溶剤：イソプロピルアルコール
温度：… ℃
処理時間：5分間±0.5分間
ラビング材質：脱脂綿
外観

（残り

の半
分の

試料）

4.4.1による。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6−品質認証試験計画（続き）

試験a)

試験条件

D b) 又

はND b)

n b)

c b)

要求性能a)

群12
4.22 振動
（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2による。
掃引による耐久性
試料が共振しないような取付け
周波数範囲：…
振幅：…
外観
抵抗値

4.22.4による。
個別規格の規定による。

4.39 断続過負荷試験
（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2による。
2.3.5による。
電圧：定格電圧の2.5倍又は最高素
子電圧の2倍のいずれか小さい方
0.1秒間ON／2.5秒間OFF
1 000サイクル
外観
抵抗値

4.4.1による。
個別規格の規定による。

群13
4.19 温度急変
≧100サイクル
（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。

TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度

形式

サイクル

…

外観
抵抗値

4.19.3による。
個別規格の規定による。

群14
4.27 単パルス高電圧過

負荷試験

（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
厳しさ：
外観
抵抗値

4.27.3.7による。
個別規格の規定による。

注a) JIS C 5201-1による細分箇条番号

b) 略語の一覧については，附属書B参照

c) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。検査ロッ

トの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために，抜取試料を全て検査する。抜取水準は，
JIS C 5005-2の附属書Aに従って，部品製造業者が設定することが望ましい。

抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質水

準を算出するために全て数える。ppmで示す出荷品質水準は，JIS C 5005-2の6.2（SVQLの算出）に規定する
方法によって，累積した検査データから算出する。

d) 製造業者が，管理限界を超える部品を取り除くため，寸法測定に統計的工程管理（SPC）又はその他の仕組みを

取り入れる場合は，この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

e) この試験を受ける抵抗器は，群1，群2，群3，副群A1，副群A2又は副群B1の中で測定しないで，群1又は

群2の試料の数に含めない。

f) 試験は，関連する個別規格が鉛フリーはんだとの両立を明白に除外している場合は，適用しない。

g) 全ての副群の試験は，1個以上の不適合品があった場合に繰り返す。繰返し試験で，不適合品がないことを確認

する。繰返し試験中，製品の出荷は継続する。

h) この試験の条件は，2.3.3から関連する選択肢によって置き換えてもよい。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表7a−品質確認検査のための試験計画：ロットごとの試験

試験a)

試験条件

D b)

又は

ND b)

IL b)

c b)

要求性能a)

副群A1
4.5

抵抗値c)

100 %

（個別規格の

規定による。）

4.5.2による。

副群A2
4.4.1

外観検査d)

表示（個別規格に規定がある場合）

S-4

4.4.1による。

4.4.2

寸法（ゲージ法）d) 適切なジグを用いる。

個別規格の規定による。

副群B1
4.7

耐電圧

JIS C 5201-1の4.6.1.4又は4.6.1.5
による。
電圧：U＝1.42Uins
時間：1分間

S-3

4.7.3による。

4.13 短時間過負荷
（水準Gに分類する抵抗器
に適用する。）

取付け：2.4.2による，
又は取付けしない。
2.3.1による。
電圧：…

形式

時間

…

外観
抵抗値

4.13.3による。
個別規格の規定による。

副群B2

4.17 はんだ付け性e)
（SnPbはんだ）

2.3.2による。
エージング：155 ℃で4時間の乾燥
SnPbはんだ（はんだ槽法）
235 ℃で2秒間
外観

S-3

4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。

4.17 はんだ付け性e), f)
（鉛フリーはんだ）

2.3.2による。
エージング：155 ℃で4時間の乾燥
SnAgCuはんだ（はんだ槽法）
245 ℃で3秒間
外観

S-3

4.17.3による。
端子表面の95 %以上が新し
いはんだで覆われている。

副群B3
4.8

温度による抵抗値変
化

（抵抗温度係数±50×10−6
/Kより優れた抵抗器に適用
する。）

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
測定順序：
20 ℃/LCT/20 ℃/UCT/20 ℃
抵抗値

S-3

個別規格の規定による。

注記表の注は，表6の最後に示す。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表7b−品質確認検査のための試験計画：定期試験

試験a)

試験条件

D b)

又は

ND b)

p b)

n b)

c b)

要求性能a)

副群C1 g)

4.33 耐プリント板曲げ

性

取付け：2.4.2による。
曲げ深さ：… mm
回数：…回
外観
抵抗値

（半分

の

試料）

試験基板が曲げ状態にあ
るとき，電気的導通があっ
て，回路オープンがない。
4.33.4による。
個別規格の規定による。

4.19 温度急変

取付け：2.4.2による。
5サイクル

TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度

外観
抵抗値

（残り

の半
分の

試料）

4.19.3による。
個別規格の規定による。

4.21 衝撃
（角形及び円筒形以外の
抵抗器に適用する。）

加速度：…
パルス時間：…
波形：正弦半波
厳しさ：3方向全てに各…回の衝
撃を与える。（合計…回の衝撃）
外観
抵抗値

4.21.5による。
個別規格の規定による。

4.22 振動
（水準Pに分類する角形
及び円筒形以外の抵抗器
に適用する。）

取付け：2.4.2による。
掃引による耐久性
試料が共振しないような取付け
周波数範囲：…
振幅：…
外観
抵抗値

4.22.4による。
個別規格の規定による。

4.32 固着性
（角形及び円筒形の抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2による。
2.3.4による。

形式

加圧力

…

外観

4.32.3による。

4.23 一連耐候性
− 高温
− 温湿度サイクル（試験

Db），最初のサイクル

− 低温
− 減圧

− 温湿度サイクル（試験

Db），残りのサイクル

− 直流負荷

− 最終測定

取付け：2.4.2による。
UCT：16時間
温度55 ℃で1サイクル

LCT：2時間
… kPa，温度15 ℃〜35 ℃で1時
間
温度55 ℃で残りのサイクル

電圧：定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方，1分間
外観
抵抗値

（全部

の

試料）

4.23.8による。
個別規格の規定による。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表7b−品質確認検査のための試験計画：定期試験（続き）

試験a)

試験条件

D b)

又は

ND b)

p b)

n b)

c b)

要求性能a)

副群C2 g)
4.25.1

70 ℃での耐久性

取付け：2.4.2による。
電圧：定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方
1.5 時間ON／0.5 時間OFF
試験時間：1 000時間
外観
抵抗値

4.25.1.7による。
個別規格の規定による。

4.25.1.8 延長試験
（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

延長時間は，8 000時間
検査は，4 000時間（参考）
抵抗値

個別規格の規定による。

副群C3 g)
4.18 はんだ耐熱性h)

2.3.3による。
260 ℃で10秒間
外観
抵抗値

4.18.4による。
個別規格の規定による。

4.35 耐炎性

ニードルフレーム試験
接炎時間：10秒間

36 （サン

プル中

5個）

許容燃焼時間：＜30秒間

副群D1 g)
4.8

温度による抵抗値
変化

取付け：2.4.2による，又は取付け
しない。
測定順序：
20 ℃/LCT/20 ℃/UCT/20 ℃
抵抗値

個別規格の規定による。

副群D2 g)
4.24 高温高湿（定常）

取付け：2.4.2による。
温度：40 ℃±2 ℃
湿度：（93±3）%
試験時間：…時間
外観
抵抗値

4.24.4による。
個別規格の規定による。

副群D3 g)
4.4.3

寸法（詳細）

個別規格の規定による。

4.25.3

カテゴリ上限温
度での耐久性

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
試験時間：1 000時間
外観
抵抗値

4.25.3.7による。
個別規格の規定による。

4.14 温度上昇
（0 Ωジャンパー及び臨界
抵抗値以下の抵抗器に適
用する。）

取付け：2.4.2による。

（サン

プル中

6個）

個別規格の規定による。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表7b−品質確認検査のための試験計画：定期試験（続き）

試験a)

試験条件

D b)

又は

ND b)

p b)

n b)

c b)

要求性能a)

群E g)
4.38 静電気放電

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
水準Gに分類する抵抗器：正極性
1回及び負極性1回
水準Pに分類する抵抗器：正極性
3回及び負極性3回

形式

印加電圧

…

外観
抵抗値

4.38.4による。
個別規格の規定による。

4.29 部品の耐溶剤性
（個別規格に規定がある
場合）

2.3.7による。
溶剤：イソプロピルアルコール
温度：… ℃
処理時間：5分間±0.5分間
外観

（半分

の

試料）

4.4.1による。

4.30 表示の耐溶剤性
（個別規格に規定がある
場合）

2.3.8による。
溶剤：イソプロピルアルコール
温度：… ℃
処理時間：5分間±0.5分間
ラビング材質：脱脂綿
外観

（残り

の半
分の

試料）

4.4.1による。

群F g)
4.19 温度急変
≧100サイクル
（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。

TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度

形式

サイクル

…

外観
抵抗値

4.19.3による。
個別規格の規定による。

群G g)
4.27 単パルス高電圧過

負荷試験

（水準Pに分類する抵抗
器に適用する。）

取付け：2.4.2によるか又は取付け
しない。
厳しさ：…（10/700）
外観
抵抗値

4.27.3.7による。
個別規格の規定による。

注記表の注は，表6の最後に示す。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A

（規定）

ジャンパー（0 Ω）抵抗器

A.1 個別規格に規定する事項

ジャンパー（0 Ω）抵抗器（以下，ジャンパー抵抗器という。）について，1.4を次のように変更して適用

する。

1.4.7 抵抗温度特性は，ジャンパー抵抗器に適用しない。

1.4.9 素子最高電圧は，最大許容電流Imaxに置き換える。

A.2 推奨特性

ジャンパー抵抗器について，2.1を次のように変更して適用する。

2.1.3 温度による抵抗値変化は，ジャンパー抵抗器に適用しない。

2.1.4 各試験での抵抗値変化の限界を，最大許容残留抵抗値Rres maxに置き換える。

A.3 推奨定格

ジャンパー抵抗器について，2.2を次のように変更して適用する。

2.2.1 ジャンパー抵抗器の公称抵抗値は，0 Ωである。

2.2.2 公称抵抗値の許容差を，最大許容残留抵抗値Rres maxに置き換え，その推奨値は，次の中から選定

する。

10 mΩ，20 mΩ及び50 mΩ

2.2.4 素子最高電圧は，ジャンパー抵抗器に適用しない。代わりに最大許容電流Imaxを用いる。

A.4 推奨する厳しさ

ジャンパー抵抗器について，2.3を次のように変更して適用する。

2.3.1 印加電圧を，次に定義する印加電流に置き換える。

印加電流：個別規格に印加電流を規定する。推奨値は，最大許容電流Imaxの2.5倍とする。

A.5 品質認証のための試験計画

ジャンパー抵抗器の品質認証について，表6の試験計画を次のように変更して適用する。

試験条件の欄の定格電圧及び最高素子電圧を，最大許容電流Imaxに置き換える。

試験条件の欄の抵抗値の要求事項を，最大許容残留抵抗値Rres maxに置き換える。

次の試験は，ジャンパー抵抗器に適用しない。

4.8

温度による抵抗値変化

4.27 単パルス高電圧過負荷試験

4.38 静電気放電（人体モデル）

A.6 品質確認検査のための試験計画

ジャンパー抵抗器の品質確認検査について，表7a及び表7bの試験計画を次のように変更して適用する。

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書B

（参考）

文字記号及び略語

この規格で使用する文字記号及び略語は，次による。

B.1

文字記号

文字記号の説明

単位

合格判定数（許容不適合品数）

外径

Imax

最大許容電流

電極から電極への軸方向に沿って測定した長さ

試料数

試験周期

月

P70

周囲温度70 ℃での定格電力

実測抵抗値

Rins

絶縁抵抗

公称抵抗値

Rres

残留抵抗値

Rres max

最大許容残留抵抗値

∆R

抵抗値変化

∆R/R

事前の測定値に対する抵抗値変化

電圧，例えば試験電圧など

Uins

絶縁電圧

Umax

素子最高電圧，最大許容電圧

定格電圧

U =

耐炎試験のさらし時間

耐炎試験のさらし後の燃焼時間

高さ（厚さ）

カテゴリ下限温度

℃

カテゴリ上限温度

℃

幅

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

B.2

略語

略語の説明

破壊試験

DMR

管理責任者（品質システム管理者）

ESD

静電気放電

HBM

人体モデル，静電気放電試験において静電容量と抵抗値とによって表す。

検査水準

LCT

カテゴリ下限温度

非破壊試験

NSI

国内監督検査機関

円筒形抵抗器の形式，一般的に皮膜抵抗器に用いる。

角形抵抗器の形式，一般的に皮膜抵抗器に用いる。

SPC

統計的工程管理

技術認証

TADD

技術認証申告書

TAS

技術認証スケジュール

温度係数

TCR

抵抗温度係数

UCT

カテゴリ上限温度

参考文献 JIS C 0806-3 自動実装部品の包装−第3部：表面実装部品の連続テープによる包装

注記対応国際規格：IEC 60286-3:2007，Packaging of components for automatic handling−Part 3:

Packaging of surface mount components on continuous tapes（IDT）

JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：

A）

C 5201-8：2014 (IEC 60115-8：2009)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

注記対応国際規格：IEC 60068-2-1:2007，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold

（IDT）

JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：

B）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-2:2007，Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry

heat（IDT）

JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-6:2007，Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc:

Vibration (sinusoidal)（IDT）

JIS C 60068-2-13 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-13:1983，Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air

pressure（IDT）

JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部：温度変化試験方法（試験記号：N）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-14:1984，Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N:

Change of temperature及びAmendment 1:1986（IDT）

JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-21:2006，Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U:

Robustness of terminations and integral mounting devices（IDT）

JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部：温湿度サイクル（12＋12時間サイ

クル）試験方法（試験記号：Db）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-30:2005，Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db:

Damp heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)（IDT）

JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-45:1980，Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and

guidance: Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993（IDT）

JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部：高温高湿（定常）試験方法

注記対応国際規格：IEC 60068-2-78:2001，Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab:

Damp heat, steady state（IDT）

JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部：試験炎−ニードルフレーム（注射針

バーナ）試験方法−装置，試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記対応国際規格：IEC 60695-11-5:2004，Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−

Needle-flame test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance（IDT）

IEC 60027-1，Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General

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